一种ic附着力测试机构的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种IC附着力测试机构，用于测试IC (集成电路)的附着力是否合乎工业要求，属于IC (集成电路)测试领域。
【背景技术】
[0002]集成电路(integrated circuit,简称IC)是一种微型电子器件或部件，其采用一定的工艺，将一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。以上所述元件通常通过焊接的方式制作在介质基片上。由于具备集成电路的电子产品(如手机)在使用过程中常会遭受摔落、受压等破坏性活动，因而很可能导致电子产品中的集成电路发生损坏，特别是元件与介质基片发生脱离的现象，故而元件在介质基片上的附着力大小很大程度上影响到电子产品的品质。
[0003]目前，常见的测试集成电路的附着力大小的方法是:购买专用的自动测试机台、夹具、推刀，首先将待测试产品固定夹具上，再通过推刀推晶体管、电阻、电容和电感等元件，使之与介质基片发生脱离，并通过自动测试机台测试待测试产品的附着力的大小。然而现有的测试方式存在以下缺陷:
[0004]I)使用专用的测试机台，无法做到小型及机动的测试产品；
[0005]2)自动测试机台的购置费用较高，增加了企业的生产成本；
[0006]3)夹具只能适应用于一种规格的产品，当更换测试产品时，需购置另一种夹具，因而夹具的共用性差，如此，不仅延长了工时，同时也增加了企业的生产成本。
【实用新型内容】
[0007]为了解决上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种结构简单的IC附着力测试机构，其不仅制作成本低廉，且共用性高。
[0008]为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下:
[0009]一种IC附着力测试机构，包括一底座，所述底座上开设有产品放置槽，所述产品放置槽的两侧分别设置有一用于固定产品的活动压块，所述产品放置槽的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件，所述可移动推块组件与一推拉计相适配，并在所述推拉计的推动下作直线运动。
[0010]优选的，所述可移动推块组件包括移动横杆、推块以及轨道支架，一对所述轨道支架分别固设于所述底座的两侧，所述移动横杆的两端分别与所述轨道支架的内侧面上的轨道滑动配合，所述推块固设于所述移动横杆的下方。
[0011]进一步的，至少所述推块的底端部伸出两根筋条而形成与产品的边缘相匹配的半封闭结构。
[0012]进一步的，所述推块通过调节块固定于所述移动横杆上，所述调节块上开设有腰型孔一，所述推块与所述调节块通过穿设于所述腰型孔一中的螺钉固定连接。
[0013]进一步的，所述推拉计的推杆固定一推板，所述推板的一端伸出两凸块，所述移动横杆通过搭置于所述凸块上而实现与所述推拉计的配合。
[0014]优选的，所述活动压块上设置有一腰型孔二，所述活动压块与所述底座通过穿设于所述腰型孔二中的螺钉固定连接。
[0015]与现有技术相比，本实用新型提供的IC附着力测试机构至少具有以下优点:
[0016]I)本实用新型结构简单，制作成本低廉；
[0017]2)通过活动压块固定产品，能够适应不同规格的产品，因而共有性强，且降低了生产成本；
[0018]3)机动性强，随时可投入使用。
【附图说明】
[0019]为了更清楚地说明本实用新型结构特征和技术要点，下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进行详细说明。
[0020]图1为集成电路的结构示意图；
[0021]图2为本实用新型实施例所公开的IC附着力测试机构的结构示意图；
[0022]图3为图2在A处的局部放大图；
[0023]图4为本实用新型实施例所公开的IC附着力测试机构的工作状态示意图；
[0024]图5为本实用新型实施例所公开的IC附着力测试机构的又一结构示意图；
[0025]图6为本实用新型实施例所公开的推拉计与推板组装的结构示意图。
[0026]附图标记说明:10_可移动推块组，11-底座，111-产品放置槽，12-活动压块，121-腰型孔二，122-螺钉，13-推拉计，131-推杆，14-移动横杆，15-推块，151-筋条，16-轨道支架，161-轨道，17-调节块，171-腰型孔一，172-螺钉，18-推板，100-集成电路，1001-元件，1002-介质基片。
【具体实施方式】
[0027]下面将结合本实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行具体、清楚、完整地描述。
[0028]参见图1所示的集成电路的结构示意图，集成电路100包括元件1001 (晶体管、电阻、电容和电感等)和介质基片1002，元件1001附着于介质基片1002上，当然，集成电路100或介质基片1002的结构并不仅限于图1显示的形状，其可能是方形、圆形或者各种不规则形状，换而言之，图1仅仅是对集成电路的形状的一种示意。参见图2-6所示，本实用新型实施例所提供的IC附着力测试机构适用于前述集成电路100，其目的在于测试元件1001在介质基片1002上的附着力的大小，该测试机构包括一底座11，底座11上开设有产品放置槽111，产品放置槽111可以根据集成电路100的具体形状进行设计，能够适应集成电路100的具体形状即可，产品放置槽111的两侧分别设置有一用于固定产品(集成电路100)的活动压块12，具体的，在作业时，活动压块12压于介质基片1002上，产品放置槽111的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件10，可移动推块组件10与一推拉计13相适配，并在推拉计13的推动下作直线运动。
[0029]其中，可移动推块组件10包括移动横杆14、推块15以及轨道支架16，一对轨道支架16分别固设于底座11的两侧，移动横杆14的两端分别与轨道支架16的内侧面上的轨道161滑动配合，推块15固设于移动横杆14的下方。
[0030]参见图3所示，至少推块15的底端部伸出两根筋条151而形成与产品的边缘相匹配的半封闭结构，具体的，参见图4所示，当推块15的底端部与元件1001的边缘接触时，筋条151形成的半封闭结构将元件1001的垂直相交的三条边围于其中，如此，推块15可以有效的将推力作用于元件1001。
[0031]参见图3所示，推块15通过调节块17固定于移动横杆14上，调节块17上开设有腰型孔一 171，推块15与调节块17通过穿设于腰型孔一 171中的螺钉172固定连接。通过调节块17可以调整推块15的高度，从而能够适用于不同厚度的产品，扩大了测试机构使用范围。
[0032]参见图6所示，推拉计13的推杆131固定一推板18，推板18的一端伸出两凸块181，测试机构在工作时，移动横杆14通过搭设于凸块181上而实现与推拉计13的配合。
[0033]参见图3所示，活动压块12上设置有一腰型孔二 121，活动压块12与底座11通过穿设于腰型孔二 121中的螺钉122固定连接。通过腰型孔二 121能够调节两块活动压块12之间的距离，从而能够适应不同规格的产品，同样扩大了测试机构的使用范围。
[0034]本实用新型在使用时，将集成电路100放置在产品放置槽111中，推动推拉计13，移动横杆14在推拉计13的带动下沿轨道161向集成电路100的方向移动，当推块15接触到集成电路100时，推块15的半封闭结构卡在集成电路100的元件1001的边缘，推拉计13继续动作，推块15对元件1001产生推力，并且推拉计13上显示作用力的大小，当元件1001恰好从介质基片1002上脱落时，此时推拉计13上显示的力值刚好为元件1001的最大附着力值。
[0035]综上所述，本实用新型结构简单合理，其以低成本的制作代替了高成本的专业测试机台设备，因而很好地降低了成本；此外，本实用新型可以根据产品的规格进行调整，因而机动性更大，适用范围更广，使用更方便。
[0036]上述【具体实施方式】，仅为说明本实用新型的技术构思和结构特征，目的在于让熟悉此项技术的相关人士能够据以实施，但以上所述内容并不限制本实用新型的保护范围，凡是依据本实用新型的精神实质所作的任何等效变化或修饰，均应落入本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种IC附着力测试机构，其特征在于，包括一底座，所述底座上开设有产品放置槽，所述产品放置槽的两侧分别设置有一用于固定产品的活动压块，所述产品放置槽的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件，所述可移动推块组件与一推拉计相适配，并在所述推拉计的推动下作直线运动。
2.根据权利要求1所述的一种IC附着力测试机构，其特征在于，所述可移动推块组件包括移动横杆、推块以及轨道支架，一对所述轨道支架分别固设于所述底座的两侧，所述移动横杆的两端分别与所述轨道支架的内侧面上的轨道滑动配合，所述推块固设于所述移动横杆的下方。
3.根据权利要求2所述的一种IC附着力测试机构，其特征在于，至少所述推块的底端部伸出两根筋条而形成与产品的边缘相匹配的半封闭结构。
4.根据权利要求2或3所述的一种IC附着力测试机构，其特征在于，所述推块通过调节块固定于所述移动横杆上，所述调节块上开设有腰型孔一，所述推块与所述调节块通过穿设于所述腰型孔一中的螺钉固定连接。
5.根据权利要求2或3所述的一种IC附着力测试机构，其特征在于，所述推拉计的推杆固定一推板，所述推板的一端伸出两凸块，所述移动横杆通过搭置于所述凸块上而实现与所述推拉计的配合。
6.根据权利要求1-3中任一项所述的一种IC附着力测试机构，其特征在于，所述活动压块上设置有一腰型孔二，所述活动压块与所述底座通过穿设于所述腰型孔二中的螺钉固定连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种IC附着力测试机构，包括一底座，所述底座上开设有产品放置槽，所述产品放置槽的两侧分别设置有一用于固定产品的活动压块，所述产品放置槽的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件，所述可移动推块组件与一推拉计相适配，并在所述推拉计的推动下作直线运动。本实用新型结构简单合理，其以低成本的制作代替了高成本的专业测试机台设备，因而很好地降低了成本；此外，本实用新型可以根据产品的规格进行调整，因而机动性更大，适用范围更广，使用更方便。
【IPC分类】G01N19-04
【公开号】CN204575515
【申请号】CN201520334540
【发明人】陈德钧
【申请人】京隆科技(苏州)有限公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2015年5月22日