Lcd的开路不良在线监测结构的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及IXD技术领域，尤其涉及一种IXD的开路不良在线监测结构。
【背景技术】
[0002]现有LCD厂对LCD的开路进行检测时，都是在电测工序由测试人员将半成品逐一放在测试架上进行测试，挑选出不良品。
[0003]该测试方法存在的问题是不能够及时发现由Ho来料或产线异常导致的批量性异常，比如由Ho来料问题导致的微断路宽度在1-2微米，如果依靠在前工程酸刻工序用传统的显微镜进行大面积人工检查，几乎是不可能发现此类不良的，如果在电测工序即使能够发现，也已经造成批量报废；而且由于此种不良属于可靠性问题，良品实际也是做报废处理，无法出货，如此会给工厂造成高额的不良质量成本和交期延误。
[0004]针对上述技术中存在的不足之处，本实用新型提供一种使用方便、简单通用、节省材料、成本低及适用范围广的LCD的开路不良在线监测结构。
[0005]为实现上述目的，本实用新型提供一种IXD的开路不良在线监测结构，包括IXD掩膜版和万用表，所述LCD掩膜版的留边区域设有多组测试线路，每组测试线路均包括多个沿xy两个方向的S形线路单元，每组测试线路的首尾两端及每相邻两个S形线路单元之间均连接有测试点电极，且每个测试点电极均电连接至万用表。
[0006]其中，所述S形线路单元包括纵向排布式S形线路和横向排布式S形线路两种；且每组测试线路中的纵向排布式S形线路和横向排布式S形线路间隔分布；且纵向排布式S形线路和横向排布式S形线路之间通过测试点电极连接。
[0007]其中，所述纵向排布式S形线路包括位于两端的两个第一 L形连接线和位于两个第一 L形连接线之间的多个纵向排布的第一方形连接线，多个第一方形连接线平行分布且首尾依次相连；且所述第一方形连接线的X方向长度小于I方向长度。
[0008]其中，所述横向排布式S形线路包括位于两端的两个第二 L形连接线和位于两个第二 L形连接线之间的多个纵向排布的第二方形连接线，多个第二方形连接线平行分布且首尾依次相连；且所述第二方形连接线的X方向长度大于I方向长度。
[0009]其中，所述LCD掩膜版为四边形LCD掩膜版，且每边留边区域上测试线路的数量为两组；且每组测试线路的S形线路单元的数量为五个。
[0010]本实用新型的有益效果是:与现有技术相比，本实用新型提供的IXD的开路不良在线监测结构，在LCD掩膜版的留边区域设有多组测试线路，每组测试线路均包括多个沿xy两个方向的S形线路单元，每组测试线路的首尾两端及每相邻两个S形线路单元之间均连接有测试点电极，该结构的改进，加大检测面积，方便生产线QC进行检测，且使得测试线路的精度、密度和线路长度都远远高于LCD产品本身的设计要求，可以覆盖产品的所有线路设计方向，就能够在前工程酸刻工序快速检测出产品是否存在批量性开路隐患，而且此设计不会残留在产品上面，对成品完全没有任何影响。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型的IXD的开路不良在线监测结构的立体图；
[0012]图2为本实用新型中测试线路的结构图；
[0013]图3为本实用新型中纵向排布式S形线路的结构图；
[0014]图4为本实用新型中横向排布式S形线路的结构图。
[0015]主要元件符号说明如下:
[0016]1、LCD掩膜版2、测试线路
[0017]3、万用表21、S形线路单元
[0018]22、测试点电极211、纵向排布式S形线路
[0019]212、横向排布式S形线路2111、第一 L形连接线
[0020]2112、第一方形连接线2121、第二 L形连接线
[0021]2122、第二方形连接线。
【具体实施方式】
[0022]为了更清楚地表述本实用新型，下面结合附图对本实用新型作进一步地描述。
[0023]请参阅图1-2，本实用新型的IXD的开路不良在线监测结构，包括IXD掩膜版I和万用表3，IXD掩膜版I的留边区域设有多组测试线路2，每组测试线路2均包括多个沿xy两个方向的S形线路单元21，每组测试线路2的首尾两端及每相邻两个S形线路单元21之间均连接有测试点电极22，且每个测试点电极22均电连接至万用表3。
[0024]相较于现有技术的情况，本实用新型提供的LCD的开路不良在线监测结构，在LCD掩膜版I的留边区域设有多组测试线路2，每组测试线路2均包括多个沿xy两个方向的S形线路单元21，每组测试线路2的首尾两端及每相邻两个S形线路单元之间均连接有测试点电极22，该结构的改进，加大检测面积，方便生产线QC进行检测，且使得测试线路的精度、密度和线路长度都远远高于LCD产品本身的设计要求，可以覆盖产品的所有线路设计方向，就能够在前工程酸刻工序快速检测出产品是否存在批量性开路隐患，而且此设计不会残留在产品上面，对成品完全没有任何影响。
[0025]请进一步参阅图3-4，S形线路单元21包括纵向排布式S形线路211和横向排布式S形线路212两种；且每组测试线路2中的纵向排布式S形线路211和横向排布式S形线路212间隔分布；且纵向排布式S形线路211和横向排布式S形线路212之间通过测试点电极22连接。纵向排布式S形线路211包括位于两端的两个第一 L形连接线2111和位于两个第一 L形连接线之间的多个纵向排布的第一方形连接线2112，多个第一方形连接线2112平行分布且首尾依次相连；且第一方形连接线2112的X方向长度小于y方向长度；两个第一 L形连接线2111和位于两个第一 L形连接线之间的多个纵向排布的第一方形连接线2112之间形成了 S形。横向排布式S形线路212包括位于两端的两个第二 L形连接线2121和位于两个第二 L形连接线2121之间的多个纵向排布的第二方形连接线2122，多个第二方形连接线2122平行分布且首尾依次相连；且第二方形连接线2122的x方向长度大于y方向长度。
[0026]在本实施例中，IXD掩膜版I为四边形IXD掩膜版，且每边留边区域上测试线路2的数量为两组；且每组测试线路2的S形线路单元21的数量为五个。当然，本案中并不局限于上述测试线路2和S形线路单元21的数量；可根据LCD掩膜版I面积的大小及形状选择不同的测试线路2的数量。
[0027]本案中IXD掩膜版设计成四方形，且四周设计8组测试线路，每组测试线路有5小组沿xy两个方向的S形线路单元，这些线路首尾相连，连接处设置测试点电极，方便生产线QC进行检测。这8组测试线路的精度、密度和线路长度都远远高于LCD产品本身的设计要求，这40个覆盖了沿xy两的方向的线路排布，可以覆盖产品的所有线路设计方向情况。那么，如果因生产原材料、设备或工艺等原因导致变异，产生高比例开路，则这40个S形线路单元会先出现异常，由于设计的一致性和规律性，开路异常会很及时的被发现。本案提供一种通用性的、结构简单的、使用方便的、节省测试时间的掩膜版设计方案，利用这种设计和一台普通万用表，就能够在前工程酸刻工序快速检测出产品是否存在批量性开路隐患，从而达到提前、快速、及时的发现问题，控制问题并立即改善问题的品质控制效果；而且此设计不会残留在产品上面，对成品完全没有任何影响。且本案具有结构简单、使用方便、简单通用、节省材料、成本低及适用范围广等特点。
[0028]以上公开的仅为本实用新型的几个具体实施例，但是本实用新型并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种LCD的开路不良在线监测结构，其特征在于，包括LCD掩膜版和万用表，所述LCD掩膜版的留边区域设有多组测试线路，每组测试线路均包括多个沿xy两个方向的S形线路单元，每组测试线路的首尾两端及每相邻两个S形线路单元之间均连接有测试点电极，且每个测试点电极均电连接至万用表。2.根据权利要求1所述的LCD的开路不良在线监测结构，其特征在于，所述S形线路单元包括纵向排布式S形线路和横向排布式S形线路两种；且每组测试线路中的纵向排布式S形线路和横向排布式S形线路间隔分布；且纵向排布式S形线路和横向排布式S形线路之间通过测试点电极连接。3.根据权利要求2所述的LCD的开路不良在线监测结构，其特征在于，所述纵向排布式S形线路包括位于两端的两个第一 L形连接线和位于两个第一 L形连接线之间的多个纵向排布的第一方形连接线，多个第一方形连接线平行分布且首尾依次相连；且所述第一方形连接线的X方向长度小于I方向长度。4.根据权利要求2所述的LCD的开路不良在线监测结构，其特征在于，所述横向排布式S形线路包括位于两端的两个第二 L形连接线和位于两个第二 L形连接线之间的多个纵向排布的第二方形连接线，多个第二方形连接线平行分布且首尾依次相连；且所述第二方形连接线的X方向长度大于I方向长度。5.根据权利要求1所述的LCD的开路不良在线监测结构，其特征在于，所述LCD掩膜版为四边形LCD掩膜版，且每边留边区域上测试线路的数量为两组；且每组测试线路的S形线路单元的数量为五个。
【专利摘要】本实用新型公开了一种LCD的开路不良在线监测结构，该结构包括LCD掩膜版和万用表，LCD掩膜版的留边区域设有多组测试线路，每组测试线路均包括多个沿xy两个方向的S形线路单元，每组测试线路的首尾两端及每相邻两个S形线路单元之间均连接有测试点电极，且每个测试点电极均电连接至万用表。本实用新型加大检测面积，方便生产线QC进行检测，且使得测试线路的精度、密度和线路长度都远远高于LCD产品本身的设计要求，可以覆盖产品的所有线路设计方向，就能够在前工程酸刻工序快速检测出产品是否存在批量性开路隐患，而且此设计不会残留在产品上面，对成品完全没有任何影响。
【IPC分类】G01R31/02
【公开号】CN204925296
【申请号】CN201520591534
【发明人】杨锦喜
【申请人】龙川耀宇科技有限公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2015年8月8日