一种螺旋式测试探针的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试探针，具体是一种用于孵化机控制柜电路测试的螺旋式测试探针。
【背景技术】
[0002]公知的，测试探针被广泛用于各种电路的测试设备中，主要由针杆、针筒与压簧构成，采用胶合或压铆方式组装成一体，测试探针在使用时经常会出现压簧或针杆损坏的情况，此时必须更换整根测试探针；对于一些特殊行业，尤其是对孵化机控制柜的电路进行测试时，测试探针需焊接在印制板上，在更换损坏的测试探针时，必须熔解焊盘进行二次焊接，如果某一个位置的测试探针发生多次损坏，焊盘就必须多次熔焊，而印制板的焊盘一般只能承受2?3次熔焊，极易导致印制板电路的损坏，损坏后很难修复，维护成本较高。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种螺旋式测试探针，该测试探针可进行拆解，仅仅对损坏的针杆或压簧进行更换，无需熔解焊盘，避免损坏测试印制板电路。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]—种螺旋式测试探针，包括针筒、针杆与压簧，针杆上设有凸台，所述针筒一端封闭、另一端开口 ；所述测试探针还包括导套，导套的一端与针筒的开口端螺纹连接，另一端设有卡挡部；针筒内腔与导套内腔共同形成容纳针杆与压簧的容腔，压簧设于针杆的凸台上方；所述卡挡部与针杆的凸台形成配合。
[0006]本实用新型的有益效果是，设置与针筒螺纹配合的导套，针筒内腔与导套内腔共同形成容纳针杆与压簧的容腔，当针杆或压簧损坏时，只需拧出导套，将针筒与导套分离，更换损坏的针杆或压簧后再装配针筒与导套即可，无需熔解焊盘，避免损坏测试印制板电路，操作简单，维护成本低，能够延长整个测试电路的使用寿命。
【附图说明】
[0007]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明:
[0008]图1是本实用新型的结构示意图；
[0009]图2是本实用新型的爆炸示意图。
【具体实施方式】
[0010]结合图1与图2所示，本实用新型提供一种螺旋式测试探针，包括针筒1、针杆2与压簧3，针杆2上设有凸台2a，所述针筒1 一端封闭、另一端开口，针筒1的封闭端设有用于与印制板焊接的凸头la ;所述测试探针还包括导套4，导套4的一端与针筒1的开口端螺纹连接，另一端设有卡挡部4a，可在导套4外壁设置外螺纹，针筒1内壁设置与外螺纹相配合的内螺纹实现螺纹连接；针筒内腔与导套内腔共同形成容纳针杆2与压簧3的容腔，针杆2与压簧3设于所述容腔内，压簧3设于针杆的凸台2a上方；所述卡挡部4a与针杆2的凸台2a形成配合，对针杆2伸出导套后起到限位作用。
[0011]使用时，针筒1上的凸头la与印制板焊接，压簧3压缩抵压针杆2，使针杆2抵触在被测的器件上，导通电路即可开始测试工作；当针杆2或压簧3损坏时，只需拧出导套4，将针筒1与导套4分离，更换损坏的针杆或压簧后再装配针筒与导套即可，无需熔解焊盘，避免损坏测试印制板电路，操作简单，维护成本低，能够延长整个测试电路的使用寿命。
[0012]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本实用新型技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰，均仍属于本实用新型技术方案保护的范围内。
【主权项】
1.一种螺旋式测试探针，包括针筒(1)、针杆(2)与压簧(3)，针杆(2)上设有凸台(2a)，其特征在于，所述针筒(1) 一端封闭、另一端开口 ；所述测试探针还包括导套(4)，导套(4)的一端与针筒(1)的开口端螺纹连接，另一端设有卡挡部(4a);针筒内腔与导套内腔共同形成容纳针杆(2)与压簧(3)的容腔，压簧(3)设于针杆的凸台(2a)上方；所述卡挡部(4a)与针杆的凸台(2a)形成配合。
【专利摘要】本实用新型公开一种螺旋式测试探针，包括针筒、针杆与压簧，针杆上设有凸台，所述针筒一端封闭、另一端开口；所述测试探针还包括导套，导套的一端与针筒的开口端螺纹连接，另一端设有卡挡部；针筒内腔与导套内腔共同形成容纳针杆与压簧的容腔，压簧设于针杆的凸台上方；所述卡挡部与针杆的凸台形成配合；当针杆或压簧损坏时，只需拧出导套，将针筒与导套分离，更换损坏的针杆或压簧后再装配针筒与导套即可，无需熔解焊盘，避免损坏测试印制板电路，操作简单，维护成本低，能够延长整个测试电路的使用寿命。
【IPC分类】G01R1/067
【公开号】CN204989254
【申请号】CN201520564277
【发明人】朱元龙, 刘曼, 陆振华
【申请人】蚌埠依爱电子科技有限责任公司
【公开日】2016年1月20日
【申请日】2015年7月29日