一种超声波综合检测试块的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测试块，尤其是一种超声波综合检测试块。
【背景技术】
[0002]在超声波检测技术中，探头与探伤仪的组合性能好坏直接影响到超声波检测结果。常用的标准超声波检测试块有CSK-1 A、CSK-1I A、CSK-1IIA、WGT-l、WGT-2、WGT-3等，不同的标准试块有不同的检测功能。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型要解决的技术问题是提供一种超声波综合检测试块，可以通过此试块同时检测单晶直探头和双晶直探头的底面分辨力、近表面分辨力、灵敏度，探测仪的垂直性能、水平性能。
[0004]为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案为:
[0005]—种超声波综合检测试块，长105mm，宽40mm，高60mm，包括6个直径1mm的平底孔，分别为第一平底孔、第二平底孔、第三平底孔、第四平底孔、第五平底孔、第六平底孔，其中第一平底孔埋藏深度为2.5mm，第二平底孔埋藏深度为5mm，第三平底孔埋藏深度为10mm，第四平底孔埋藏深度为15mm，第五平底孔埋藏深度为20mm，第六平底孔埋藏深度为100mmo
[0006]所述的第一、第二、第三、第四、第五平底孔处于同一水平线上，两两相隔20mm，位于试块下部，开孔方向垂直于主视面向内。
[0007]所述的第六平底孔位于试块上部，开孔方向垂直于左视面向内。
[0008]沿试块主视面下105mm边线去除一个长105mm，高20mm，宽15mm的长方体，形成一个厚度25mm的台阶面和一个厚度40mm的台阶面。
[0009]本实用新型整合6种不同埋藏深度的平底孔，并包含多个不同厚度的台阶面，使得本试块可以同时检测单晶直探头和双晶直探头的底面分辨力、近表面分辨力、灵敏度，探测仪的垂直性能、水平性能，且体积小、携带方便。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型主视图。
[0011]图2为本实用新型俯视图。
[0012]图3为本实用新型左视图。
[0013]图4、图5、图6、图7为本实用新型【具体实施方式】图例。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细的说明。
[0015]一种超声波综合检测试块，如图1、图2、图3所示，长105mm，宽40mm，高60mm，包括6个直径1mm的平底孔，分别为第一平底孔K1、第二平底孔K2、第三平底孔K3、第四平底孔K4、第五平底孔K5、第六平底孔K6，其中第一平底孔K1埋藏深度为2.5mm，第二平底孔K2埋藏深度为5mm，第三平底孔K3埋藏深度为10mm，第四平底孔K4埋藏深度为15mm，第五平底孔K5埋藏深度为20mm，第六平底孔K6埋藏深度为100mm ;所述的第一平底孔K1、第二平底孔K2、第三平底孔K3、第四平底孔K4、第五平底孔K5处于同一水平线上，两两相隔20mm，位于试块下部，开孔方向垂直于主视面向内；所述的第六平底孔K6位于试块上部，开孔方向垂直于左视面向内。沿试块主视面下105mm边线去除一个长105mm，高20mm，宽15mm的长方体，形成一个25_的台阶面和一个40_的台阶面。
[0016]测定单晶直探头的底面分辨力:将待测单晶直探头与探伤仪连接，耦合在试块右侦牝声束朝向Φ l-100mm第六平底孔K6，如图4所示，找到平底孔最大回波并调整其高度达到50%垂直满意度，然后提高探伤仪增益，使平底孔最大回波后沿与底波前沿之间的波谷上升到50%垂直满意度所需的分贝值即为待测单晶直探头的底面分辨力。这是一种相对比较，分贝值越大，则该单晶直探头的底面分辨力越好。
[0017]测定单晶直探头的灵敏度:探头位置不变，将探伤仪的灵敏度开到最大(以电噪声不超过10%满刻度为限)，然后降低探伤仪增益，使平底孔最大回波高度下降到50%垂直满刻度所需的分贝值即为探伤灵敏度余量。测得分贝值越大，则该单晶直探头的灵敏度余量越大，也就是说灵敏度越高。
[0018]测定双晶直探头的底面分辨力:把双晶直探头耦合在试块厚度25_的台阶面上，声束对准Φ l-20mm第五平底孔K5，如图5所示，找到平底孔最大回波并调整其高度达到50%垂直满刻度，测定该回波后沿与底波前沿之间的波谷上升到50%垂直满刻度所需的分贝值，该分贝值即为底面分辨力。这是一种相对比较，分贝值越大，则该双晶直探头的底面分辨力越好。
[0019]测定单晶直探头的近表面分辨力:单晶直探头耦合在试块右侧，声束朝向Φ l-100mm第六平底孔K6，如图4所示，找到平底孔最大回波并调整其高度达到50%垂直满刻度，然后把探头耦合到试块厚度25_的台阶面上，逐个探测第一平底孔K1、第二平底孔K2、第三平底孔K3、第四平底孔K4、第五平底孔K5，以最近的可分辨平底孔回波的埋藏深度作为近表面分辨力，此时该平底孔回波前沿与始波后沿之间的波谷应至少低至20%垂直满刻度。
[0020]测定双晶直探头的近表面分辨力:把双晶直探头耦合到试块厚度25_的台阶面上，声束对准Φ l-20mm第五平底孔K5，找到平底孔最大回波并调整其高度达到50%垂直满刻度，然后移动探头逐个探测第四平底孔K4、第三平底孔K3、第二平底孔K2、第一平底孔K1，以最近的可分辨平底孔回波的埋藏深度作为近表面分辨力，此时该平底孔回波前沿与始波后沿之间的波谷应至少低至20%垂直满刻度。
[0021]简易测定探伤仪的垂直线性:将直探头耦合在试块顶面，声束指向试块底面，首先将直探头移动至厚度60_—侧，如图6所示，注意避开平底孔的干扰，使第一次底波下降到50%垂直满刻度，然后移动探头至厚度40mm—侧，如图7所示，同样注意避开平底孔的干扰。根据理论计算，其底波高度应升高3.5D，测试实际升高值并与理论值比较，作为相对比较，可以简易评定超声波探伤仪的垂直线性好坏。
[0022]简易测定探伤仪的水平线性:把直探头耦合在试块厚度40mm的平面上，从试块上的40mm厚度按一般通用方法(五次底波法、六次底波法等)校验仪器的水平线性。
[0023]此外，利用本实用新型试块也可以测定仪器的动态范围、组合双晶直探头的灵敏度等，其方法与一般情况相同。
【主权项】
1.一种超声波综合检测试块，长105mm，宽40mm，高60mm，其特征在于:包括6个直径1mm的平底孔，分别为第一平底孔(K1)、第二平底孔(K2)、第三平底孔(K3)、第四平底孔(K4)、第五平底孔(K5)、第六平底孔(K6)，其中第一平底孔(K1)埋藏深度为2.5mm，第二平底孔(K2)埋藏深度为5mm，第三平底孔(K3)埋藏深度为10mm，第四平底孔(K4)埋藏深度为15mm，第五平底孔(K5)埋藏深度为20mm，第六平底孔(K6)埋藏深度为100mm ;所述的第一平底孔(K1)、第二平底孔(K2)、第三平底孔(K3)、第四平底孔(K4)、第五平底孔(K5)处于同一水平线上，两两相隔20mm，位于试块下部，开孔方向垂直于主视面向内；所述的第六平底孔(K6)位于试块上部，开孔方向垂直于左视面向内。2.根据权利要求1所述的超声波综合检测试块，其特征在于:沿试块主视面下105_边线去除一个长105mm，高20mm，宽15mm的长方体，形成一个25mm的台阶面和一个40mm的台阶面。
【专利摘要】本实用新型涉及一种超声波综合检测试块，长105mm，宽40mm，高60mm，包括6个直径1mm的平底孔，分别为第一至第六平底孔，其中第一平底孔埋藏深度为2.5mm，第二平底孔埋藏深度为5mm，第三平底孔埋藏深度为10mm，第四平底孔埋藏深度为15mm，第五平底孔埋藏深度为20mm，第六平底孔埋藏深度为100mm；所述的第一平底孔、第二平底孔、第三平底孔、第四平底孔、第五平底孔处于同一水平线上，两两相隔20mm，位于试块下部，开孔方向垂直于主视面向内；所述的第六平底孔位于试块上部，开孔方向垂直于左视面向内。本实用新型可以同时检测单晶直探头和双晶直探头的底面分辨力、近表面分辨力、灵敏度，探测仪的垂直性能、水平性能，且体积小、携带方便。
【IPC分类】G01N29/30
【公开号】CN205015314
【申请号】CN201520485820
【发明人】金世贵, 许蒙
【申请人】金世贵
【公开日】2016年2月3日
【申请日】2015年7月7日