一种快速筛检金属件平面度缺陷的装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型是涉及一种快速筛检金属件平面度缺陷的装置，属于质量控制技术领域。
【背景技术】
[0002]平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差，属于形位误差中的形状误差。由于金属件都是通过多道成型工序加工而成，在加工成型中，容易形成向外的凸起或向内的凹陷等表面变形情况，以致会影响金属件的装配性能和使用性能，因此，为了避免影响金属件的装配性能和使用性能，需要对所加工的金属件的平面度缺陷进行筛检，以及时剔除不良产品。
[0003]目前，关于金属件平面度的检测通常采用如下方法:
[0004]1、平台塞尺法:将零件平放于平台上，使用零件平面度要求规格数值的塞尺塞于零件与平台之间的间隙处，通过塞尺能否塞入间隙来判断零件的平面度是否合格。此方法操作繁琐，效率低，检测过程中的主观误差比较大，结果不可靠，并且当零件的周缘平面度合格而中间部位平面度不合格时，使用该方法无法检测到；
[0005]2、三次元量测仪，其基本原理就是通过探测传感器(探头)与测量空间轴线运动的配合，对被测几何元素进行离散的空间点位置的获取，然后通过一定的数学计算，完成对所测的点(点群)的分析拟合，最终还原出被测的几何元素，并在此基础上计算其与理论值之间的偏差。虽然这种检测方法的精度非常高，但存在检测效率低、检测成本高等缺陷，不适用于批量化检测，只适用于抽检，以致不能保证所出售的金属件的品质一致性，不符合具有高精度装配要求领域(例如:汽车零部件)的使用要求；
[0006]3、采用激光感应器检测，通过探针组件的多次移动以检测产品各点的平面度，这种检测方法不仅存在效率低、检测精度不能调节等缺陷，而且结构复杂、成本高、稳定度不足、容易受环境因素影响，因此，此检测方法也不适用于工业化批量检测金属件的平面度。
【实用新型内容】
[0007]针对现有技术存在的上述问题，本实用新型的目的是提供一种快速筛检金属件平面度缺陷的装置，以实现对所加工金属件的平面度缺陷进行批量化筛检，保证所出售的金属件的品质能满足尚精度装配要求。
[0008]为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0009]—种快速筛检金属件平面度缺陷的装置，包括底座和导电金属平台，在所述导电金属平台上设有检测区，在所述检测区内设有若干金属浮动触头，在位于检测区外周的导电金属平台上设有若干指示灯;所述金属浮动触头均绝缘穿设在检测区内的导电金属平台上，且均在位于导电金属平台下方的金属浮动触头上套设有弹簧，所述弹簧的底端均与设在底座表面上的导电金属片相抵触，所述导电金属片通过金属导线分别与一个指示灯电连接，所有指示灯均通过金属导线与电源的正极电连接，所述电源的负极通过金属导线与导电金属平台电连接。
[0010]作为一种实施方案，在自然状态下，所述金属浮动触头的最高点位于待检金属件平面度的上限位置，所述金属浮动触头的下端距离导电金属片的间距值为待检金属件平面度的最大允许误差值。
[0011]作为进一步实施方案，所述金属浮动触头包括上部、中部和下部，位于上部与下部之间的中部形成凸台。
[0012]作为一种实施方案，在所述上部与导电金属平台的接触面间间设有绝缘套，在所述中部与导电金属平台的接触面间设有绝缘垫。
[0013]作为一种实施方案，所述指示灯为LED灯。
[0014]相较于现有技术，本实用新型的有益技术效果在于:
[0015]使用本实用新型所述装置，只需将待检金属件放置在检测区，通过观察指示灯是否全亮，即可直观判断待检金属件的平面度是否存在缺陷，不仅操作简单、快速，而且结构简单、受外界因素影响小、检测结果准确可靠；因此，本实用新型所述装置可用于对大批量金属件的平面度缺陷进行快速筛检，以保证所出售金属件的品质能满足高精度装配要求，具有明显的工业应用价值。
【附图说明】
[0016]图1为实施例提供的一种快速筛检金属件平面度缺陷的装置结构示意图；
[0017]图2为图1的局部放大图。
[0018]图中标号示意如下:1、底座;2、导电金属平台；21、检测区；3、金属浮动触头;31、上部;32、中部;33、下部;4、指示灯;5、弹簧;6、导电金属片;7、电源;8、绝缘套;9、绝缘垫。
【具体实施方式】
[0019]以下结合附图和具体实施例，对本实用新型的技术方案做进一步清楚、完整地描述。
[0020]实施例
[0021]结合图1和图2所示:本实施例提供的一种快速筛检金属件平面度缺陷的装置，包括底座I和导电金属平台2，在所述导电金属平台2上设有检测区21，在所述检测区21内设有若干金属浮动触头3，在位于检测区21外周的导电金属平台2上设有若干指示灯4;所述金属浮动触头3均绝缘穿设在检测区21内的导电金属平台2上，且在位于导电金属平台2下方的金属浮动触头3上均套设有弹簧5，所述弹簧5的底端均与设在底座I表面上的导电金属片6相抵触，所述导电金属片6通过金属导线分别与一个指示灯4电连接，所有指示灯4均通过金属导线与电源7的正极电连接，所述电源7的负极通过金属导线与导电金属平台2电连接。
[0022]在自然状态下，所述金属浮动触头3的最高点位于待检金属件平面度的上限位置，即:所述金属浮动触头3的上端高于检测区21内的导电金属平台2，且两者之间的高度差值Ah为待检金属件平面度的最大允许误差值;所述金属浮动触头3的下端距离导电金属片6的间距值d为待检金属件平面度的最大允许误差值。
[0023]作为优选方案:所述金属浮动触头3包括上部31、中部32和下部33，位于上部31与下部33之间的中部32形成凸台，从而达到对所述弹簧5的限位。在所述上部31与导电金属平台2的接触面间设有绝缘套8，在所述中部32与导电金属平台2的接触面间设有绝缘垫9，以避免形成短路，影响测试准确性。所述指示灯4为LED灯，以实现节能和延长使用寿命。
[0024]本实用新型所述装置的工作原理如下:
[0025]由于在自然状态下，所述金属浮动触头3的最高点位于待检金属件平面度的上限位置，即:所述金属浮动触头3的上端高于检测区21内的导电金属平台2，且两者之间的高度差值Ah为待检金属件平面度的最大允许误差值;所述金属浮动触头3的下端距离导电金属片6的间距值d为待检金属件平面度的最大允许误差值；因此，如果待测面平面度在规定的误差范围内，则当将待检金属件放置在检测区21上时，待测面会与其相应位置的金属浮动触头3相接触，从而使金属件与金属浮动触头3、弹簧5、导电金属片6、指不灯4、电源7及导电金属平台2之间构成导通回路，使指示灯4点亮，表示所检测面的平面度符合要求;相反，如果待测面平面度超出了规定的最大允许误差值，则当将待检金属件放置在检测区21上时，待测面不能触碰到对应位置的金属浮动触头3的最高点，从而也就不能导通金属件与金属浮动触头3、弹簧5、导电金属片6、指示灯4、电源7及导电金属平台2之间的电路回路，使得指示灯4不亮，表示所检测面的平面度不符合要求。
[0026]实际使用时，可以根据待检金属件的大小调整金属浮动触头3的数量及截面积，也可以将这些金属浮动触头3替换为一个具有较大检测平面的金属浮动触头3。另外，在检测过程中，可在检测区上轻移待检金属件以检测其不同位置处的平面度。
[0027]综上所述可见:使用本实用新型所述装置，只需将待检金属件放置在检测区，通过观察指示灯是否全亮，即可直观判断待检金属件的平面度是否存在缺陷，不仅操作简单、快速;而且结构简单、受外界因素影响小、检测结果准确可靠；因此，本实用新型所述装置可用于对大批量金属件的平面度缺陷进行快速筛检，以保证所出售金属件的品质能满足高精度装配要求，具有明显的工业应用价值。
[0028]最后有必要在此指出的是:以上所述仅为本实用新型较佳的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种快速筛检金属件平面度缺陷的装置，其特征在于:包括底座和导电金属平台，在所述导电金属平台上设有检测区，在所述检测区内设有若干金属浮动触头，在位于检测区外周的导电金属平台上设有若干指示灯;所述金属浮动触头均绝缘穿设在检测区内的导电金属平台上，且均在位于导电金属平台下方的部位上套设有弹簧，所述弹簧的底端均与设在底座表面上的导电金属片相抵触，所述导电金属片通过金属导线分别与一个指示灯电连接，所有指示灯均通过金属导线与电源的正极电连接，所述电源的负极通过金属导线与导电金属平台电连接。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于:在自然状态下，所述金属浮动触头的最高点位于待检金属件平面度的上限位置，所述金属浮动触头的下端距离导电金属片的间距值为待检金属件平面度的最大允许误差值。3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于:所述金属浮动触头包括上部、中部和下部，位于上部与下部之间的中部形成凸台。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于:在所述上部与导电金属平台的接触面间设有绝缘套，在所述中部与导电金属平台的接触面间设有绝缘垫。5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于:所述指示灯为LED灯。
【专利摘要】本实用新型公开了一种快速筛检金属件平面度缺陷的装置，其包括底座和导电金属平台，在所述导电金属平台上设有检测区，在所述检测区内设有若干金属浮动触头，在位于检测区外周的导电金属平台上设有若干指示灯；所述金属浮动触头均绝缘穿设在检测区内的导电金属平台上，且均在位于导电金属平台下方的部位上套设有弹簧，所述弹簧的底端均与设在底座表面上的导电金属片相抵触，所述导电金属片通过金属导线分别与一个指示灯电连接，所有指示灯均通过金属导线与电源的正极电连接，所述电源的负极通过金属导线与导电金属平台电连接。本实用新型可直观判断待检金属件的平面度是否存在缺陷，可用于对大批量金属件的平面度缺陷进行快速筛检。
【IPC分类】G01B21/30
【公开号】CN205228430
【申请号】CN201521104404
【发明人】沈超, 吴宝根, 王勇, 戴艳, 黄博丞
【申请人】上海五腾金属制品有限公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月25日