圆柱度测量仪立柱微调装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及精密测量仪器技术领域，特别是属于一种圆柱度测量仪立柱微调
目.0
【背景技术】
[0002]圆柱度测量仪的立柱与主轴回转轴心台面的垂直度大小直接影响该仪器的测量精度，因此在圆柱度测量仪的装配中必须要保证立柱与主轴回转轴心台面的垂直度达到所需技术要求。但是由于加工及装配精度的原因，其装配时立柱与主轴回转轴心台面的垂直度要求不易被保证。因此，在现有的立柱结构设计中增加了附图1所示的立柱调整装置。通过调整螺钉组件4和5实现立柱左右及上下位置的移动。但是由于调整弹簧片I的弹性受到弹簧材料、簧片厚度、弹性变形等因素的影响，难以长时间保证其精度且容易变形，所以该调整装置无法保证立柱与主轴回转轴心台面的垂直度要求。
【发明内容】
[0003]本实用新型就是要提供一种圆柱度测量仪立柱微调装置，以达到立柱与主轴回转轴心台面的垂直度要求，保证圆柱度测量仪的测量精度，使用寿命长，结构稳定的目的。
[0004]本实用新型圆柱度测量仪立柱微调装置，包括立柱，其特征为，立柱固定在方形立柱底座上;所述的方形立柱底座下端四角处设有方形台阶，方形台阶处设有微调组件;所述的微调组件包括调整螺钉及与其相配合的锁紧螺母，以及与调整螺钉连接的调整定位平头。
[0005]所述的调整螺钉2底端开有孔槽，所述的调整定位平头I为一T型台阶轴，该台阶轴小端插入调整螺钉2底端的孔槽中。
[0006]本实用新型圆柱度测量仪立柱微调装置，通过旋转调整螺钉，将调整定位平头顶起或落下，从而调整立柱底座各点的高度，实现立柱与主轴回转轴心台面的垂直度的微调。本实用新型结构稳定，使用寿命长，能够达到立柱与主轴回转轴心台面的垂直度技术要求，确保了圆柱度测量仪的测量精度。
【附图说明】
[0007]图1是现有立柱调整装置工作示意图；
[0008]图2是本实用新型主视及微调组件的局部剖视示意图；
[0009]图3是本实用新型方形立柱底座的仰视不意图。
【具体实施方式】
[0010]如图1所示，现有立柱调整装置，包括立柱2、调整弹簧片I及装在调整弹簧片I上的弹簧片固定螺钉3、调整螺钉组件4和5。通过旋转调整螺钉组件4和5可以推动立柱向调整弹簧片I方向移动，从而调整立柱左右及上下方向的位置，进而实现立柱垂直度的调整。但是由于调整弹簧片I的弹性受到弹簧材料、簧片厚度、弹性变形等因素的影响，难以长时间保证其精度，且容易变形，无法保证立柱2与主轴回转轴心台面的垂直度要求。
[0011]如图2图3所示，本实用新型圆柱度测量仪立柱微调装置，包括立柱5，立柱5固定在方形立柱底座4上。所述的方形立柱底座4下端四角处设有方形台阶，方形台阶中心开有螺纹孔，螺纹孔内装有微调组件。所述的微调组件包括与螺纹孔配合的调整螺钉2及与调整螺钉2螺纹连接的锁紧螺母3，以及插入调整螺钉2的调整定位平头I。所述的调整螺钉2底端为一平端面，平端面上开有孔槽。所述的调整定位平头I为一 T型台阶轴，该台阶轴小端插入调整螺钉2底端的孔槽中，该台阶轴大端底面为一平端面，调整定位平头I随调整螺钉2上下移动。
[0012]本实用新型圆柱度测量仪立柱微调装置在使用时，首先松开锁紧螺母3，让调整螺钉2处于可调整状态，然后用钣手转动调整螺钉2，调整螺钉2沿螺纹孔上下移动，带动调整定位平头I顶起或下降，从而改变方形立柱底座4各点的高度，从而实现对立柱5垂直度的微调。当调整到所需位置后，旋转锁紧螺母3锁紧调整组件，固定立柱底座4的位置。该装置通过调整方形立柱底座4上的各组调整组件，达到装配立柱5时所需的垂直度技术要求。在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，本实用新型也同样适用于其它需要微调的精密仪器装配工序。
【主权项】
1.一种圆柱度测量仪立柱微调装置，包括立柱(5)，其特征为，立柱(5)固定在方形立柱底座(4)上;所述的方形立柱底座(4)下端四角处设有方形台阶，方形台阶处设有微调组件；所述的微调组件包括调整螺钉(2)及与其相配合的锁紧螺母(3)，以及与调整螺钉(2)连接的调整定位平头(I)。2.根据权利要求1所述的圆柱度测量仪立柱微调装置，其特征为，所述的调整螺钉(2)底端开有孔槽，所述的调整定位平头(I)为一 T型台阶轴，该台阶轴小端插入调整螺钉(2)底端的孔槽中。3.根据权利要求1所述的圆柱度测量仪立柱微调装置，其特征为，所述调整定位平头(I)台阶轴大端底面为一平端面。
【专利摘要】一种圆柱度测量仪立柱微调装置，涉及精密测量仪器技术领域。包括立柱（5），其特征为，立柱（5）固定在方形立柱底座（4）上；所述的方形立柱底座（4）下端四角处设有方形台阶，方形台阶处设有微调组件；所述的微调组件包括调整螺钉（2）及与其相配合的锁紧螺母（3），以及与调整螺钉（2）连接的调整定位平头（1）。本实用新型结构稳定，使用寿命长，能够达到立柱与主轴回转轴心台面的垂直度技术要求，确保了圆柱度测量仪的测量精度。
【IPC分类】G01B21/20
【公开号】CN205228422
【申请号】CN201520992919
【发明人】苏同翠, 王科峰, 杨妮, 牛英勃, 宋江湖
【申请人】日照瑞沃德精密科技有限公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月4日