一种薄膜测厚仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于测量装置技术领域，尤其是涉及一种薄膜测厚仪。
【背景技术】
[0002]薄膜测厚仪，又称为薄膜厚度检测仪，主要适用于塑料薄膜、薄片。纸张、箔片等各种材料的厚度精确测量，广泛的应用于对薄膜厚度有严格要求的薄膜生产企业、使用单位及质检机构。薄膜的厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。薄膜的厚度在很大的程度上决定了薄膜的力学性能和光学性能，因此需要精确的测量薄膜的厚度。测厚仪主要由发射单元和接收单元两部分组成，薄膜从发射单元与接收单元之间通过，即可精确测量出薄膜的厚度;但是当薄膜测厚仪在运转一定时间后，仪器中的驱动装置会有一定的损耗，导致发射头与接收器不处于同一中心线上，导致无法准确的测量，使得测量结果达不到要求，需要重新调整设备才能正常的进行测量工作，费时费力;并且在测量一些重量较轻的薄膜时，薄膜待测的表面不能平整的放置在工作台上，使得测量产生偏差，导致测量精度降低。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种结构简单、操作简单、测量精度高、上下发射头与接收器处于同一中心线上、生产效率高的薄膜测厚仪。
[0004]本实用新型的技术方案是:一种薄膜测厚仪，包括工作台、转动杆，所述转动杆设置在工作台的一端，所述工作台的正上方设有发射装置，所述发射装置包括升降装置、微调器、第一中心线监测器、发射探头，所述升降装置的上端连接微调器，所述升降装置的两侧固定连接夹紧块，所述升降装置的下端连接第一中心线监测器及发射探头，所述工作台的内部设有驱动滑轨，所述驱动滑轨上设有相配合的滑块，所述滑块的上端设有接收器及第二中心线监测器，所述滑块上设有定位调节器，所述定位调节器上设有卡槽及固定孔，所述驱动滑轨与工作台的内壁接触的一侧设有匀速控制器，所述工作台与转动杆相对的一端设有固定装置，所述固定装置的底部一侧设有角度调节块，另一侧设有固定压块，所述固定装置的前端设有薄膜感应器，所述工作台的外侧设有报警装置。
[0005]进一步，所述第一中心线检测器、第二中心线检测器与报警装置通过电线相连。
[0006]进一步，所述固定压块的底部与工作台贴紧。
[0007]进一步，所述微调器上设有微调螺栓与相配合的微调螺母。
[0008]本实用新型具有的优点和积极效果是:由于采用上述技术方案，在发射探头与接收器上均设置的中心线监测器，当不处于相同中心线时会将信号发送到报警装置中，提醒实验人员调整发射探头与接收器的中心线位置，同时在工作台的一端设置的固定装置可以固定住薄膜，平整的固定薄膜位置，便于精确的测量薄膜的厚度。
【附图说明】
[0009]图1是本实用新型的结构示意图。
[0010]图中:
[0011]1、工作台2、转动杆3、发射装置
[0012]4、升降装置5、微调器6、第一中心线监测器
[0013]7、发射探头8、夹紧块9、驱动滑轨
[0014]10、滑块11、接收器12、第二中心线监测器
[0015]13、定位调节器1301、卡槽1302、固定孔
[0016]14、匀速控制器15、固定装置16、角度调节块
[0017]17、固定压块18、薄膜感应器19、报警装置
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图对本实用新型做详细说明。
[0019]如图1所示，本实用新型一种薄膜测厚仪，包括工作台1、转动杆2，所述转动杆2设置在工作台I的一端，所述工作台I的正上方设有发射装置3，所述发射装置3包括升降装置
4、微调器5、第一中心线监测器6、发射探头7，所述升降装置4的上端连接微调器5，所述升降装置4的两侧固定连接夹紧块8，所述升降装置4的下端连接第一中心线监测器6及发射探头7，所述工作台I的内部设有驱动滑轨9，所述驱动滑轨9上设有相配合的滑块10，所述滑块10的上端设有接收器11及第二中心线监测器12，所述滑块10上设有定位调节器13，所述定位调节器13上设有卡槽1301及固定孔1302，所述驱动滑轨9与工作台I的内壁接触的一侧设有匀速控制器14，所述工作台I与转动杆2相对的一端设有固定装置15，所述固定装置15的底部一侧设有角度调节块16，另一侧设有固定压块17，所述固定装置15的前端设有薄膜感应器16，所述工作台I的外侧设有报警装置19。
[0020]所述第一中心线检测器6、第二中心线检测器12与报警装置19通过电线相连。
[0021]所述固定压块17的底部与工作台I贴紧。
[0022]所述微调器5上设有微调螺栓与相配合的微调螺母。
[0023]本实例的工作过程:当薄膜放置在工作台I上时，固定装置15前端设置的薄膜感应器18感应薄膜的位置，角度调节块16调节位置，使得固定压块17压住薄膜，进行薄膜测厚时，发射探头7与接收器11上设置的第一中心线监测器6及第二中心线监测器12监测两个发射接收器的中心线位置，当不处于相同中心线时会将信号发送到报警装置19中，提醒实验人员调整发射探头7与接收器11的中心线位置，可以通过微调器5及定位调节器13中相应的卡槽1301与微调螺栓的位置，以确保发射探头7与接收器11的中心线位置一致，直至报警器19不再发出声响，调节到合适的位置再进行薄膜的厚度测量。
[0024]以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
【主权项】
1.一种薄膜测厚仪，包括工作台(I)、转动杆(2)，所述转动杆(2)设置在工作台(I)的一端，其特征在于:所述工作台(I)的正上方设有发射装置(3)，所述发射装置(3)包括升降装置(4)、微调器(5)、第一中心线监测器(6)、发射探头(7)，所述升降装置(4)的上端连接微调器(5)，所述升降装置(4)的两侧固定连接夹紧块(8)，所述升降装置(4)的下端连接第一中心线监测器(6)及发射探头(7)，所述工作台(I)的内部设有驱动滑轨(9)，所述驱动滑轨(9)上设有相配合的滑块(10)，所述滑块(10)的上端设有接收器(11)及第二中心线监测器(12)，所述滑块(10)上设有定位调节器(13)，所述定位调节器(13)上设有卡槽(1301)及固定孔(1302)，所述驱动滑轨(9)与工作台(I)的内壁接触的一侧设有匀速控制器(14)，所述工作台(I)与转动杆(2)相对的一端设有固定装置(15)，所述固定装置(15)的底部一侧设有角度调节块(16)，另一侧设有固定压块(17)，所述固定装置(15)的前端设有薄膜感应器(18)，所述工作台(I)的外侧设有报警装置(19)。2.根据权利要求1所述的薄膜测厚仪，其特征在于:所述第一中心线检测器(6)、第二中心线检测器(12)与报警装置(19)通过电线相连。3.根据权利要求2所述的薄膜测厚仪，其特征在于:所述固定压块(17)的底部与工作台(I)贴紧。4.根据权利要求2所述的薄膜测厚仪，其特征在于:所述微调器(5)上设有微调螺栓与相配合的微调螺母。
【专利摘要】本实用新型提供一种薄膜测厚仪，工作台的正上方设有发射装置，升降装置的两侧固定连接夹紧块，升降装置的下端连接第一中心线监测器及发射探头，工作台的内部设有驱动滑轨，滑块的上端设有接收器及第二中心线监测器，滑块上设有定位调节器，定位调节器上设有卡槽及固定孔，固定装置的底部一侧设有角度调节块，另一侧设有固定压块，工作台的外侧设有报警装置。本实用新型的有益效果是在发射探头与接收器上均设置的中心线监测器，当不处于相同中心线时会将信号发送到报警装置中，提醒实验人员调整发射探头与接收器的中心线位置，同时在工作台的一端设置的固定装置可以固定住薄膜，平整的固定薄膜位置，便于精确的测量薄膜的厚度。
【IPC分类】G01B21/08
【公开号】CN205373683
【申请号】CN201521076218
【发明人】李让峰
【申请人】天津良益科技有限公司
【公开日】2016年7月6日
【申请日】2015年12月18日