专利名称：一种新型薄膜式测位仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量固体料位置的仪器，具体涉及适用于固体料测位的新型薄膜式测位仪。
背景技术：
固体料位测量一直是个难题，很难有一个准确可靠的最佳测量方式。过去以重锤式为主，这种机械式仪表故障多，寿命短。近年来，射频导纳、超声波、雷达、激光式物位仪在测量固体物料上显示出各自特点，使固体物料料位的测量水平有一定的提高，但由于造价较高，产品的性能比较低。固体的料位测量，目前主要是以阻旋式居多，其次是音叉式和电容式。但由于阻旋式物位测位仪处在不断的旋转中，物位测量的准确性和可靠性较低；音叉式和电容式在温度较高和粉尘较大的环境下也不能得到很好的应用和发挥。
现有物位仪表种类繁多，但仍有些物位测量无法解决。伴随着工业的不断发展，还会对物位仪表提出更新更高的要求，因此，不断提高。现有物位仪表技术水平和开发新型固体物位测量仪将是适应市场需要的主要课题。
发明内容本实用新型要解决的技术问题，是提供一种能适应各种恶劣的生产环境、准确性和安全性能非常高、安装简便、易于操作和维护、使用寿命长及价格便宜的新型薄膜式测位仪。
采用的技术方案是一种新型薄膜式测位仪，包括壳体、电子控制器、薄膜，壳体固设有壳体盖、薄膜衬板与壳体支撑的弹簧、航空插头安装座、电子控制器支架，航空插头安装座固设有航空插头，薄膜经法兰与壳体连接，航空插头经电缆与电子控制器连接，电子控制器经螺栓与电子控制器支架连接，薄膜与壳体之间固设有薄膜衬板，电子控制器固设有触头和连接销。
本实用新型的优点为不仅能够适应各种恶劣的生产环境，而且准确性和安全性能非常高，特别适应不同粉尘及颗状物料的测量可对开口料仓、密闭料仓、及提升设备中的粉状、颗粒状、快状物料(≤50mm)进行检测、报警及自动控制。可在-40-280℃温度范围内正常工作，不受粉尘浓度大小的影响，平时免维护且使用寿命长，安装简便，易于操作，广泛应用于钢铁、耐火、水泥、橡胶、化纤、电力等工业行业。
本实用新型属接触式检测方式，由于不锈钢薄膜内有一铝制衬板，它可以起到杠杆作用，所以在165mm范围内的任何一点都能有灵敏的信号发出，从而实现报警及自动控制本实用新型采用圆形法兰式安装，外接线采用了航空插头，安装简便。电源为50HZ，AC110V/220或380V均可，最大电流为15A。
图1为本实用新型一种实施例的结构示意图(五)具体实施例一种新型薄膜式测位仪，包括壳体1、电子控制器4、薄膜9，壳体1固设有壳体盖2、薄膜衬板与壳体支撑的弹簧12、航空插头安装座14、电子控制器支架8，航空插头安装座14固设有航空插头3上，薄膜9经法兰11与壳体1连接，航空插头3经电缆13与电子控制器4连接，电子控制器4经螺栓7与电子控制器支架8连接，薄膜9与壳体1之间固设有薄膜衬板10，电子控制器4固设有触头5和连接销6。
权利要求1.一种新型薄膜式测位仪，包括壳体(1)、电子控制器(4)、薄膜(9)，壳体(1)固设有壳体盖(2)、薄膜衬板与壳体支撑的弹簧(12)、航空插头安装座(14)、电子控制器支架(8)，其特征在于航空插头安装座(14)固设有航空插头(3)上，薄膜(9)经法兰(11)与壳体(1)连接，航空插头(3)经电缆(13)与电子控制器(4)连接，电子控制器(4)经螺栓(7)与电子控制器支架(8)连接，薄膜(9)与壳体(1)之间固设有薄膜衬板(10)，电子控制器(4)固设有触头(5)和连接销(6)。
专利摘要一种新型薄膜式测位仪，包括壳体、电子控制器、薄膜，壳体固设有壳体盖、薄膜衬板与壳体支撑的弹簧、航空插头安装座、电子控制器支架，航空插头安装座固设有航空插头，薄膜经法兰与壳体连接，航空插头经电缆与电子控制器连接，电子控制器经螺栓与电子控制器支架连接，薄膜与壳体之间固设有薄膜衬板，电子控制器固设有触头和连接销。本实用新型的优点为不仅能够适应各种恶劣的生产环境，而且准确性和安全性能非常高，可在－40～ 280℃温度范围内正常工作，不受粉尘浓度大小的影响，平时免维护且使用寿命长，安装简便，易于操作，广泛应用于钢铁、耐火、水泥、橡胶、化纤、电力等工业行业。
文档编号G01F23/00GK2893666SQ20062009033
公开日2007年4月25日 申请日期2006年4月11日 优先权日2006年4月11日
发明者刘福彦 申请人:刘福彦