附带控制器输出约束的PI控制回路性能评估方法与流程

文档序号:11948435阅读:来源:国知局
技术总结
本发明公开了一种附带控制器输出约束的PI控制回路性能评估方法,在控制回路中,引入了控制器输出方差约束,限制被控对象的变化,通过约束控制器的输出方差从而限制被控对象的波动频率与范围,从而保证一方面被控对象不会剧烈的波动,同时回路的输出方差尽可能小,从而降低外在扰动对回路的干扰。本发明通过逐步扩大PI参数的寻优范围,逐步地扩大区域,在限定区域中寻找最小输出方差,这样既能够保证所寻找的PI参数在最小输出方差性能评估中有着良好的应用,同时保证了寻优结果不至于使得控制器输出变化过大,这样可以兼顾两个优化目标,从而为企业高效绿色低能耗生产提供有力的保障。

技术研发人员:谢磊;陈明;吴杭天;张志铭;苏宏业
受保护的技术使用者:浙江大学
文档号码:201610669833
技术研发日:2016.08.15
技术公布日:2016.12.07

当前第3页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1