智能检测平台及其工作方法与流程

本发明涉及一种智能检测平台及其工作方法。

背景技术：

随着信息时代的到来，IT产品与技术已成为人们生活中不可或缺的一部分。由于计算机及其应用技术的快速普及，致使专业级维修——芯片级检测与维修人才出现短缺。售后服务人才的需求将是国民就业新的增长点与亮点。

目前，电脑台式机与笔记本维修培训一直发展火热，这也间接反映出电脑维修人才需求紧缺的状况，已日益引起业界和相关领域的密切关注，如何提高从业人员的素质，职业持续、稳定、健康地发展，有很重要的现实意义。

因此，高职院校作为国家培养技术应用型高级人才的重要阵地，应该紧跟社会人才市场脉搏，电子产品芯片级检测与维修平台的设计与研究迫在眉睫。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种智能检测平台及其工作方法，以实现对测试板进行有效测试。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种智能检测平台，包括：测试板、测试板数据采集及控制单元；其中所述测试板数据采集及控制单元适于产生测试控制信号传输至测试板，且采集该测试板的输出信号，以获得测试板的测试数据。

进一步，所述测试板数据采集及控制单元与上位机相连；所述上位机内设有测试板数据库，且适于根据测试板的型号控制测试板数据采集及控制单元发送相应的测试控制信号至测试板；以及将测试数据反馈至上位机与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对，以判断测试板的工作状况。

进一步，所述测试板数据采集及控制单元包括：处理器模块，该处理器模块与上位机通讯；所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号；以及所述测试板数据采集及控制单元还包括：多路接线端，且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连，且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连，所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。

进一步，所述测试板包括处理芯片，且该处理芯片用于控制若干故障点，且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态；当对测试板进行排故检测时，所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化，以及记录测试板的排故时间，获得排故效率。

又一方面，本发明还提供了一种所述智能检测平台的工作方法，

所述智能检测平台的工作方法包括如下步骤：

步骤S1，将测试控制信号传输至测试板；

步骤S2，采集该测试板的输出信号，以获得测试板的测试数据。

进一步，所述步骤S1中将测试控制信号传输至测试板的方法包括：

步骤S11，在一上位机内构建测试板数据库；

步骤S12，从测试板数据库调用测试板的型号，并发送与该型号相匹配的测试控制信号。

进一步，所述智能检测平台的工作方法还包括：

步骤S3，将测试数据反馈至上位机，即

将测试数据反馈至上位机，且与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对，以判断测试板的工作状况。

进一步，所述测试板数据采集及控制单元包括：处理器模块，该处理器模块与上位机通讯；

所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号；以及

所述测试板数据采集及控制单元还包括：多路接线端，且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连，且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连，所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。

进一步，所述测试板包括处理芯片，且该处理芯片用于控制若干故障点，且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态；

当对测试板进行排故检测时，所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化，以及记录测试板的排故时间，获得排故效率。

本发明的有益效果是，本发明的智能检测平台及其工作方法可以根据测试板的型号有针对性的发送与该型号相匹配的测试控制信号，使测试板产生相应输出数据，并经过测试板数据采集及控制单元采集后反馈至上位机进行精确对比，能够准确的判断操作该测试板的学员的练习或者考核情况，并且通过上位机可以提供维修排故引导提示，适合各类电子类学校及培训机构进行批量学员训练。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的智能检测平台的原理框图；

图2是本发明的智能检测平台的工作方法流程图。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。

实施例1

如图1所示，本实施例1提供了一种智能检测平台，包括：测试板、测试板数据采集及控制单元；其中所述测试板数据采集及控制单元适于产生测试控制信号传输至测试板，且采集该测试板的输出信号，以获得测试板的测试数据。

具体的，所述测试板数据采集及控制单元与上位机相连；所述上位机内设有测试板数据库，且适于根据测试板的型号控制测试板数据采集及控制单元发送相应的测试控制信号至测试板；以及将测试数据反馈至上位机与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对，以判断测试板的工作状况。

所述测试板数据库例如但不限于包括：与测试板相对于的电路原理图，该电路原理图对应的各故障点的测试数据(标准测试数据)。

作为测试板数据采集及控制单元一种优选的实施方式，所述测试板数据采集及控制单元包括：处理器模块，该处理器模块与上位机通讯；所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号；以及所述测试板数据采集及控制单元还包括：多路接线端，且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连，且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连，所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。

可选的，所述测试板包括处理芯片，且该处理芯片用于控制若干故障点，且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态；当对测试板进行排故检测时，所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化，以及记录测试板的排故时间，获得排故效率。其中，处理芯片控制各故障点，各故障点例如但不限于通过晶闸管或者三极管的通断方式显示故障的短路或者断路控制，实时获得测试数据；例如测试板设置5个故障点，学员在20分钟排故完毕，则排故效率可以得出0.25个/分。通过设定排故效率阈值，可以判定该学员练习或者考核是否达标。

实施例2

如图1和图2所示，在实施例1基础上，本实施例2提供了一种如实施例1所述的智能检测平台的工作方法。

本工作方法包括如下步骤：

步骤S1，将测试控制信号传输至测试板；以及

步骤S2，采集该测试板的输出信号，以获得测试板的测试数据。

具体的，所述步骤S1中将测试控制信号传输至测试板的方法包括：

步骤S11，在一上位机内构建测试板数据库；

步骤S12，从测试板数据库调用测试板的型号，并发送与该型号相匹配的测试控制信号。

并且，所述智能检测平台的工作方法还包括：

步骤S3，将测试数据反馈至上位机，即

将测试数据反馈至上位机，且与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对，以判断测试板的工作状况。

进一步，所述测试板数据采集及控制单元包括：处理器模块，该处理器模块与上位机通讯；所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号；以及所述测试板数据采集及控制单元还包括：多路接线端，且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连，且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连，所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。

具体的，所述测试板包括处理芯片，且该处理芯片用于控制若干故障点，且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态；当对测试板进行排故检测时，所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化，以及记录测试板的排故时间，获得排故效率。

在上述实施例1和实施例2中，所述多路复用模块例如但不限于采用CD74HC4067芯片，该CD74HC4067芯片为高速CMOS 16通道模拟多路复用器Analog/Digital模拟/数字MUX模块，其内部开关接地和VCC之间的双向，支持电压，低“的”性和低“关”泄漏，并防止串扰。

所述隔离模块例如但不限于采用OP07芯片，由OP07芯片构成的电压跟随器具有很高的输入阻抗和很低的输出阻抗，该电压跟随器用作电路的输入缓冲级和输出缓冲级，当作为整个电路的高阻抗输入级时，可以减轻对信号源的影响。

所述处理器模块与上位机适于采用USB、串口等通讯方式，其中，所述处理器模块例如但不限于采用STC12C5A60S2芯片，所述USB转接芯片例如但不限于采用CH340。

优选的，所述处理器模块还连接有存储模块，且通过该存储模块存储测试数据，待与上位机相连时，再将存储的测试数据发送至上位机。

进一步，上位机内可以设定考核模式和练习模式，方便学员根据自己的情况进行设置，并且方便教师对学员的训练情况进行有效考核。

以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。