一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备与流程

文档序号:24158850发布日期:2021-03-05 13:57阅读:130来源:国知局
一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备与流程

[0001]
本发明涉及温控技术领域,更具体地说,涉及一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备。


背景技术:

[0002]
当前温控技术领域,尤其是通过控制继电器进行温控过程控制的过程,其一般通过继电器控温都是在超过目标温度时,开始启动温控,在达到目标温度时,其开始结束温控,这里由于在结束温控过程时,由于温度传递的滞后性,其温控过程可能出现在结束温控后,其温度继续变化,然后进行下一次的温控流程,因此会出现温控过程中,温度的整体波动比较大,影响整个温控过程的精度。


技术实现要素:

[0003]
本发明要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述现有技术缺陷,提供一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备。
[0004]
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种高精度温控方法,包括:
[0005]
s1、实时监测当前温度,以预设时刻的当前温度为初始温度;
[0006]
s2、在所述初始温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控,并在所述当前温度满足所述预设目标温度时关闭所述温控开关,记录所述温控开关从启动到关闭所持续的第一时长;
[0007]
s3、获取在所述温控开关关闭后所述当前温度的变化拐点,以所述变化拐点对应的温度为极限温度,获取所述极限温度与所述预设目标温度的温度差值或时间差值;
[0008]
s4、根据所述第一时长与所述温度差值或所述时间差值获取第二时长,以使所述第二时长与所述第一时长和所述温度差值或所述时间差值满足预设关系;
[0009]
s5、在所述当前温度不满足预设目标温度时启动所述温控开关进行温控,并在持续所述第二时长后关闭所述温控开关,以所述第二时长为新的第一时长,返回执行所述步骤s3。
[0010]
优选地,在所述步骤s4中,所述第二时长与所述第一时长和所述温度差值满足预设关系包括:
[0011]
t2=t1-k1*δc,其中,t2为所述第二时长,t1为所述第一时长,δc为所述温度差值,k1为第一预设系数。
[0012]
优选地,所述第一预设系数的取值范围为0.5至1。
[0013]
所述方法还包括:根据所述极限温度与所述预设目标温度的关系判断温控过程是否为过调节;
[0014]
若是,则在所述步骤s4中,所述第二时长与所述第一时长和所述时间差值满足预设关系包括:t2=t1-k2*δt;
[0015]
若否,则在所述步骤s4中,所述第二时长与所述第一时长和所述时间差值满足预
设关系包括:t2=t1+k2*δt;
[0016]
其中,t2为所述第二时长,t1为所述第一时长,δt为所述时间差值,k2为第二预设系数;
[0017]
优选地,所述温控开关为继电器。
[0018]
所述方法还包括:
[0019]
s41、判断所述第二时长是否满足预设值,若是,则执行所述步骤s5,若否,则执行所述步骤s42;
[0020]
s42、在所述当前温度不满足预设目标温度时启动所述温控开关进行温控,并在持续所述预设值后关闭所述温控开关,以所述预设值为新的第一时长,返回执行所述步骤s3。
[0021]
优选地,所述步骤s2中,所述初始温度不满足预设目标温度包括:
[0022]
在降温温控过程中,所述初始温度高于所述预设目标温度;或
[0023]
在升温温控过程中,所述初始温度低于所述预设目标温度;
[0024]
所述步骤s5中,所述当前温度不满足预设目标温度包括:
[0025]
在降温温控过程中,所述当前温度高于所述预设目标温度;或
[0026]
在升温温控过程中,所述当前温度低于所述预设目标温度。
[0027]
本发明还构造一种高精度温控装置,包括:
[0028]
监测单元,用于实时监测当前温度;
[0029]
第一获取单元,用于获取预设时刻的当前温度为初始温度;
[0030]
第一执行单元,用于在所述初始温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控,并在所述当前温度满足所述预设目标温度时关闭所述温控开关,记录所述温控开关从启动到关闭所持续的第一时长;
[0031]
第二获取单元,用于获取在所述温控开关关闭后所述当前温度的变化拐点,以所述变化拐点对应的温度为极限温度,获取所述极限温度与所述预设目标温度的温度差值或时间差值;
[0032]
第二执行单元,用于根据所述第一时长与所述温度差值或所述时间差值获取第二时长,以使所述第二时长与所述第一时长和所述温度差值或所述时间差值满足预设关系;
[0033]
第三执行单元,用于在所述当前温度不满足预设目标温度时启动所述温控开关进行温控,并在持续所述第二时长后关闭所述温控开关;
[0034]
第四执行单元,用于设定所述第二时长为新的第一时长,并控制所述第二获取单元、所述第二执行单元和所述第三执行单元依次工作。
[0035]
本发明还构造一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上面任意一项所述的高精度温控方法。
[0036]
本发明还构造一种电子设备,包括存储器和处理器;
[0037]
所述存储器用于存储计算机程序;
[0038]
所述处理器用于执行所述计算机程序实现如上面任一项所述的高精度温控方法。
[0039]
实施本发明的一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备,具有以下有益效果:能够实现高精度的温度控制。
附图说明
[0040]
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
[0041]
图1是本发明一种高精度温控方法一实施例的程序流程图;
[0042]
图2是本发明一种高精度温控方法另一实施例的程序流程图;
[0043]
图3是本发明一种高精度温控的结构示意图。
具体实施方式
[0044]
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解,现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。
[0045]
如图1所示,在本发明的一种高精度温控方法第一实施例中,包括:s1、实时监测当前温度,以预设时刻的当前温度为初始温度;s2、在初始温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控,并在当前温度满足预设目标温度时关闭温控开关,记录温控开关从启动到关闭所持续的第一时长;s3、获取在温控开关关闭后当前温度的变化拐点,以变化拐点对应的温度为极限温度,获取极限温度与预设目标温度的温度差值或时间差值;s4、根据第一时长和温度差值或时间差值获取第二时长,以使第二时长与第一时长和温度差值或时间差值满足预设关系;s5、在当前温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控,并在持续第二时长后关闭温控开关,以第二时长为新的第一时长,返回执行步骤s3。
[0046]
具体的,在进行温度控制过程中,实时监测温控环境的当前温度,在启动温控过程时,获取某一预设时刻的当前温度为初始温度,在该温度不满足目标温度时,以该初始温度为起点开始进行温控过程,开启温控开关使温控电路工作进行温度调节。这里预设时刻也可以理解为启动温控过程的起始时刻。在启动温控时,对当前温度进行向目标温度的方向调节,并在温度调节到为目标温度时,关闭温控开关,结束该阶段的温度调节,并记录该阶段从温控开关开启到温控开关关闭持续的时间,也可以理解为在该阶段,温控电路在将从初始温度调节到目标温度所工作的持续时间即即为第一时长。由于温控开关关闭后,其温度传递过程的滞后性,其会继续沿着调节方向产生变化,并在该滞后性结束后,由于正常工作电路的工作,其又开始了与温控方向相反的温度变化,即此时会出现一个温度变化的拐点,此时记录该拐点对应的温度为极限温度,获取目标温度与该极限温度的温度差值或者时间差值,即可以理解此时能过获取到,在温控开关关闭温控电路停止工作时,温度传递过程的滞后性对整个工作电路或者工作设备的影响程度,由于工作电路或者工作设备继续工作,其当前温度出现不满足预设目标温度即达到触发温控开关启动的条件,此时再次启动温控开关进行温控,同时对温控开关的启动时长进行设置,即设置温控开关的启动时长为第二时长,该第二时长根据第一时长和上面获取的温度差值或者时间差值相关,其事先设定对应的关系即预设关系,在上面获取了第一时长和温度差值或时间差值后,第二时长也为一个确定的值,在第二时长后,关闭温控开关,并获取参照上面的步骤,获取温控开关关闭后的温度变化拐点,获取对应的极限温度与目标温度的温度差值或者时间差值,这里温度差值为获取的极限温度减去目标温度得到的差值,时间差值为极限温度对应的时间点到达到预设目标温度的时间点的时间差,也可以理解为在温控开关关闭后,温度到达极限温度所持续的时长。同时将第二时长设置为新的第一时长,按照预设关系获取新的第二时长来设置温控开关工作,如此循环下去,维持整个温控过程。可以理解,在这里随着温控过程
的延续,其温度差值会越来越小,以使实际温度与目标温度极为接近,形成一个波动小,精度高的温控过程。同时该时间差值也会越来越小,即实际温度和目标温度也越来越接近,同样形成一个波动小,精度高的温控过程。
[0047]
可选的,在步骤s4中,第二时长与第一时长和温度差值满足预设关系包括:t2=t1-k1*δc,其中,t2为第二时长,t1为第一时长,δc为温度差值,k1为第一预设系数。
[0048]
具体的,在进行温控开关的工作时长的设置时,其在获取初始时长即第一时长t1后,同时获取在第一时长工作后,其温度差值δc,通过t2=t1-k1*δc进行第二时长的获取以设置温控开关,k1这里可以理解为常数,可以根据工作电路进行预设设置。
[0049]
可选的,第一预设系数的取值范围为0.5至1。具体的,在一些常用的温控环境中,其预设系数k1的取值为0.5至1即可实现高精度的温控控制。这里单位为秒。
[0050]
可选的,在本发明的一种高精度温控方法还包括:根据所述极限温度与所述预设目标温度的关系判断温控过程是否为过调节;
[0051]
若是,则在所述步骤s4中,所述第二时长与所述第一时长和所述时间差值满足预设关系包括:t2=t1-k2*δt;
[0052]
若否,则在所述步骤s4中,所述第二时长与所述第一时长和所述时间差值满足预设关系包括:t2=t1+k2*δt;
[0053]
其中,t2为所述第二时长,t1为所述第一时长,δt为所述时间差值,k2为第二预设系数。
[0054]
具体的,在根据极限温度与预设目标温度的时间差值计算第二时长时,先可以对极限温度与预设目标温度的关系进行判断,以判定温度调节过程是过调节还是未完全调节,其在过调节的时候,对第二时长的设置可以进行反向补偿,即采用公式t2=t1-k2*δt进行获取第二时长,而在未完全调节的状态时,其第二时长的设置可以进行正向补偿,即采用t2=t1+k2*δt公式进行获取第二时长,可以理解这里第二预设系数k2取正数。过调节可以理解为,在升温温控过程中,极限温度大于预设目标温度,在降温温控过程中,极限温度小于预设目标温度。而与过调节对应的未完全调节可以理解为,在升温温控过程中,极限温度小于预设目标温度,在降温温控过程中,极限温度大于预设目标温度,可选的,如图2所示,在本发明的一种高精度温控方法还包括:
[0055]
s41、判断第二时长是否满足预设值,若是,则执行步骤s5,若否,则执行步骤s42;
[0056]
s42、在当前温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控,并在持续预设值后关闭温控开关,以预设值为新的第一时长,返回执行步骤s3。
[0057]
具体的,在一些温控开关器件的使用中,频繁操作可影响其使用寿命,这里,可以设置温控开关的开关频率,即设置其开关间隔一预设值,当在温控过程中,温控开关的需要开启的时间间隔比较短小于预设值时,则直接按照温控开关的最小开启时间进行开启温控开关。
[0058]
可选的,温控开关为继电器。具体的,在温控过程中,对温控开关为继电器的温控工作电路其温控精度控制更高。
[0059]
可选的,步骤s2中,初始温度不满足预设目标温度包括:在降温温控过程中,初始温度高于预设目标温度;或在升温温控过程中,初始温度低于预设目标温度;步骤s5中,当前温度不满足预设目标温度包括:在降温温控过程中,当前温度高于预设目标温度;或在升
温温控过程中,当前温度低于预设目标温度。具体的,温控过程可以包括降温过程或升温过程,在降温过程中,当初始温度高于预设目标温度时,开始启动温控开关进行温度控制,并在降温过程中,当前温度高于预设目标温度时再次启动温控开关进行新一轮的温控。在升温温控过程中,当初始温度低于预设目标温度时,开始启动温控开关进行温度控制,并在升温过程中,当前温度低于预设目标时,再次启动温控开关进行新一轮的温控。
[0060]
以一个制冷控制系统为例进行详细说明,其温度控制启动时,即温控开关开启时,其当前对应的初始温度为30℃,其温控的目标温度为16℃,在温度从30℃到16℃,其过程时间为30s,在温控开关关闭后,其温度继续下降直至出现拐点,该拐点温度为14℃,此时获取该温度差值为16℃-14℃=2℃,该设备继续工作,温度继续上升,至该当前温度超过16℃,触发温控开关启动的条件,此时温控开关启动,这个时候对温控开关的启动时间进行设置,其时长为30s-1*(16℃-14℃)=28s,此时的预设系数取值为1,其单位对应为s。依次类推。还有一实施例中,在对温度时长的设置过程中,温度调节不到位,例如在第二时长设置中,当温度开关28s的控制时间中,其调节温度为17摄氏度,高于预设目标温度,那么在第三次温控开关开启时长其时间会延长,其时长为28s-1*((16℃-17℃)=29s。以此类推。同时,还可以设置温控开关的动作频率的最小值为10s,在温度控制中,当温控开关计算的开启时间小于10s时,则直接控制温控开关开启10s,并进行对应的操作。
[0061]
另,如图3所示,本发明的一种高精度温控装置,包括:
[0062]
监测单元110,用于实时监测当前温度;
[0063]
第一获取单元120,用于获取预设时刻的当前温度为初始温度;
[0064]
第一执行单元130,用于在初始温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控,并在当前温度满足预设目标温度时关闭温控开关,记录温控开关从启动到关闭所持续的第一时长;
[0065]
第二获取单元140,用于获取在温控开关关闭后当前温度的变化拐点,以变化拐点对应的温度为极限温度,获取极限温度与预设目标温度的温度差值或时间差值;
[0066]
第二执行单元150,用于根据第一时长与温度差值或时间差值获取第二时长,以使第二时长与第一时长和温度差值或时间差值满足预设关系;
[0067]
第三执行单元160,用于在当前温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控,并在持续第二时长后关闭温控开关;
[0068]
第四执行单元170,用于设定第二时长为新的第一时长,并控制第二获取单元140、第二执行单元150和第三执行单元160依次工作。
[0069]
具体的,在进行温度控制过程中,通过监测单元110实时监测温控环境的当前温度,在启动温控过程时,通过第一获取单元120获取某一预设时刻的当前温度为初始温度,在该温度不满足目标温度时,第一执行单元130以该初始温度为起点开始进行温控过程,开启温控开关使温控电路工作进行温度调节。这里预设时刻也可以理解为启动温控过程的起始时刻。在启动温控时,对当前温度进行向目标温度的方向调节,并在温度调节到为目标温度时,关闭温控开关,结束该阶段的温度调节,并记录该阶段从温控开关开启到温控开关关闭持续的时间,也可以理解为在该阶段,温控电路在将从初始温度调节到目标温度所工作的持续时间即即为第一时长。由于温控开关关闭后,其温度传递的滞后性,其会继续沿着调节方向产生变化,并在该滞后性结束后,由于正常工作电路的工作,其又开始了与温控方向
相反的温度变化,即此时会出现一个温度变化的拐点,此时通过第二获取单元140记录该拐点对应的温度为极限温度,获取目标温度与该极限温度的温度差值或时间差值,即可以理解此时能过获取到,在温控开关关闭温控电路停止工作时,温控电路的滞后性对整个工作电路或者工作设备的影响程度,由于工作电路或者工作设备继续工作,其当前温度出现不满足预设目标温度即达到触发温控开关启动的条件,此时通过第三执行单元160再次启动温控开关进行温控,同时对温控开关的启动时长进行设置,即设置温控开关的启动时长为第二时长,该第二时长通过第二执行单元150根据第一时长和上面获取的温度差值或者时间差值设置,其事先设定对应的关系即预设关系,在上面获取了第一时长和温度差值或时间差值后,第二时长也为一个确定的值,在第二时长后,关闭温控开关,并获取参照上面的步骤,获取温控开关关闭后的温度变化拐点,获取对应的极限温度以及与目标温度的温度差值或时间差值,同时通过第四执行单元170将第二时长设置为新的第一时长,并按照预设关系获取新的第二时长来设置第二获取单元140、第二执行单元150、第四执行单元170继续工作,如此循环下去,维持整个温控过程。。
[0070]
另,本发明的一种电子设备,包括存储器和处理器;存储器用于存储计算机程序;处理器用于执行计算机程序实现如上面任意的高精度温控方法。具体的,根据本发明的实施例,上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本发明的实施例包括一种计算机程序产品,其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序,该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过电子设备下载和安装并且执行时,执行本发明实施例的方法中限定的上述功能。本发明中的电子设备可为笔记本、台式机、平板电脑、智能手机等终端,也可为服务器。
[0071]
另,本发明的一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上面任意一项的高精度温控方法。具体的,需要说明的是,本发明上述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本发明中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本发明中,计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读信号介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:电线、光缆、rf(射频)等等,或者上述的任意合适的组合。
[0072]
上述计算机可读介质可以是上述电子设备中所包含的;也可以是单独存在,而未装配入该电子设备中。
[0073]
可以理解的,以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式,其描述较为具体和详
细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制;应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,可以对上述技术特点进行自由组合,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围;因此,凡跟本发明权利要求范围所做的等同变换与修饰,均应属于本发明权利要求的涵盖范围。
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