1.一种温度传感芯片测试用高低温控制器，包括机柜(1)、固定设置在所述机柜(1)底部四角处的脚架(2)、固定设置在所述机柜(1)内部中端的第一隔板(3)、固定设置在所述机柜(1)右端面的控制器(6)、固定设置在所述机柜(1)顶部右前方的工作指示灯(7)；
2.根据权利要求1所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述自动控温装置(4)包括：
3.根据权利要求2所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述自动控温装置(4)还包括：
4.根据权利要求2所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述自动控温装置(4)还包括：
5.根据权利要求2所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述自动控温装置(4)还包括：
6.根据权利要求2所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述自动控温装置(4)还包括：
7.根据权利要求1所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述封闭控温装置(5)包括：
8.根据权利要求7所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述所述封闭控温装置(5)还包括：
9.根据权利要求7所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述移动侧板(53)呈上下镂空的长方体形状，且所述移动侧板(53)滑动连接在所述固定箱(47)外表面上。
10.根据权利要求5所述一种温度传感芯片测试用高低温控制器，其特征在于：所述双向螺杆(419)中端对称设置有限位块用于限制所述移动块(421)位移过量。