一种功耗测试电路及微处理芯片的制作方法

本技术涉及功耗测试，尤其涉及一种功耗测试电路及微处理芯片。

背景技术：

1、传统的功耗测试电路需要额外的供电电路，功耗测试电路与供电电路的共地情况则会影响测试结果；此外，功耗测试电路的电压电阻等更换不便，无法自动采集，对动态电源变化下的功耗需要手动调整电源。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的是提供一种功耗测试电路及微处理芯片，用于至少解决其中一个技术问题。

2、根据本实用新型的第一个方面，提供了功耗测试电路，包括：

3、采样电阻，所述采样电阻用于与待测模块电连接；

4、电压模块，所述电压模块与所述采样电阻电连接，所述电压模块用于在接收到第一控制信号时输出供电电压；

5、采样电路，所述采样电路与所述采样电阻电连接，所述采样电路用于采集所述采样电阻的功耗数据；

6、处理模块，所述处理模块分别与所述电压模块、所述采样电路电连接，所述处理模块用于发送所述第一控制信号，以及接收所述功耗数据。

7、本实用新型的功耗测试电路，通过在采样电阻与处理模块之间电连接电压模块来由功耗测试电路向待测模块供电，解决传统的功耗测试电路与供电电路共地情况对测试结果的影响，以此来提高功耗测试的准确度。

8、在一些实施方式中，所述采样电阻为可调节电阻。由此，可以不用频繁的更换采样电阻，提高测试效率。

9、在一些实施方式中，所述可调节电阻与所述处理模块电连接，所述处理模块还用于发送第二控制信号，所述可调节电阻在接收到所述第二控制信号时调节自身的阻值。

10、在一些实施方式中，所述可调节电阻包括：

11、多个电阻，每个所述电阻的第一端与至少一个所述电阻并联，和/或每个所述电阻的第二端与至少一个所述电阻串联，其中一个所述电阻的第一端用于与所述待测模块电连接；

12、选择开关，所述选择开关分别与多个所述电阻的第二端、所述电压模块、所述处理模块电连接，所述选择开关用于在接收到所述第二控制信号时选择导通所述电压模块与其中一个所述电阻的第二端。

13、在一些实施方式中，多个所述电阻并联连接，或多个所述电阻串联连接，或多个所述电阻中的部分所述电阻串联连接后与其他所述电阻并联连接。

14、在一些实施方式中，所述采样电路为模数转换器。

15、在一些实施方式中，所述电压模块包括：

16、dc-dc模块，所述dc-dc模块与所述采样电阻电连接；

17、数模转换器，所述数模转换器电连接于所述dc-dc模块、所述处理模块之间，所述数模转换器在接收到所述第一控制信号时控制所述dc-dc模块输出对应电压值的所述供电电压。

18、在一些实施方式中，所述采样电路还电连接有电压基准电路，所述电压基准电路用于给所述采样电路提供基准电压。

19、在一些实施方式中，所述处理模块还用于将所述功耗数据发送给pc。由此，可以使技术人员可视化操作，方便技术人员操作与调整。

20、根据本实用新型的第二个方面，提供了微处理芯片，包括多个管脚，多个所述管脚分别与电压模块、采样电阻、采样电路电连接；

21、所述微处理芯片用于发送第一控制信号来控制所述电压模块输出的供电电压；

22、所述微处理芯片用于发送第二控制信号来调节所述采样电阻的阻值；

23、所述微处理芯片用于接收所述采样电路采集的所述采样电阻的功耗数据。

24、与现有技术相比，本实用新型的功耗测试电路及微处理芯片，通过在采样电阻与处理模块之间电连接电压模块来由功耗测试电路向待测模块供电，解决传统的功耗测试电路与供电电路共地情况对测试结果的影响，以此来提高功耗测试的准确度；以及通过控制电压模块的供电电压和改变采样电阻的阻值，来实现自动化控制，从而简化了功耗测试的操作步骤。

技术特征：

1.一种功耗测试电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的功耗测试电路，其特征在于，所述采样电阻为可调节电阻。

3.根据权利要求2所述的功耗测试电路，其特征在于，所述可调节电阻与所述处理模块电连接，所述处理模块还用于发送第二控制信号，所述可调节电阻在接收到所述第二控制信号时调节自身的阻值。

4.根据权利要求3所述的功耗测试电路，其特征在于，所述可调节电阻包括：

5.根据权利要求4所述的功耗测试电路，其特征在于，多个所述电阻并联连接，或多个所述电阻串联连接，或多个所述电阻中的部分所述电阻串联连接后与其他所述电阻并联连接。

6.根据权利要求1-5任一项所述的功耗测试电路，其特征在于，所述采样电路为模数转换器。

7.根据权利要求1-5任一项所述的功耗测试电路，其特征在于，所述电压模块包括：

8.根据权利要求1-5任一项所述的功耗测试电路，其特征在于，所述采样电路还电连接有电压基准电路，所述电压基准电路用于给所述采样电路提供基准电压。

9.根据权利要求1-5任一项所述的功耗测试电路，其特征在于，所述处理模块还用于将所述功耗数据发送给pc。

10.一种微处理芯片，其特征在于，包括多个管脚，多个所述管脚分别与电压模块、采样电阻、采样电路电连接；

技术总结
本技术公开一种功耗测试电路及微处理芯片，该功耗测试电路包括采样电阻、电压模块、采样电路和处理模块，所述采样电阻用于与待测模块电连接；所述电压模块与所述采样电阻电连接，所述电压模块用于在接收到第一控制信号时输出供电电压；所述采样电路与所述采样电阻电连接，所述采样电路用于采集所述采样电阻的功耗数据；所述处理模块分别与所述电压模块、所述采样电路电连接，所述处理模块用于发送所述第一控制信号，以及接收所述功耗数据。本技术通过在采样电阻与处理模块之间电连接电压模块来由功耗测试电路向待测模块供电，解决传统的功耗测试电路与供电电路共地情况对测试结果的影响，以此来提高功耗测试的准确度。

技术研发人员：陈致源,胡立超,谭莲子,胡以宸,陈康,刘智力
受保护的技术使用者：杭州朔天科技有限公司
技术研发日：20230925
技术公布日：2024/5/10