屏蔽箱的夹具上后，由PC和检测控制模块合作完成屏蔽箱的关闭、校准软件的启动、屏蔽箱的打开等操作，在测试校准完成后，测试人员只需将待校准设备从屏蔽箱中取出，从而实现了用自动化的方式执行关闭屏蔽箱、启动校准软件、打开屏蔽箱等操作。
[0060]以下结合具体实施例对本发明的实现进行详细描述:
[0061]实施例一
[0062]图3示出了本发明实施例一提供的射频测试校准的方法的实现流程，详述如下:
[0063]在步骤S301中，测试人员将待校准设备放入屏蔽箱中。
[0064]在步骤S302中，检测控制模块检测所述屏蔽箱和所述待校准设备的状态。
[0065]在本发明实施例中，检测控制模块包括传感器，还包括单片机或其他可编程芯片，其中，所述检测控制模块通过所述传感器检测屏蔽箱或待校准设备的状态。通过单片机或其他可编程芯片可以与PC通信的，发送屏蔽箱和待校准设备的状态至PC，还可以接收PC发送的关闭屏蔽箱的指令和打开屏蔽箱的指令，并根据接收到的关闭屏蔽箱的指令和打开屏蔽箱的指令控制屏蔽箱的关闭和打开。
[0066]具体的，所述检测控制模块安装在所述屏蔽箱上或者安装在所述屏蔽箱内部的夹具上。也可以将所述检测控制模块做成一个小设备，单独放置在工作台上，与屏蔽箱和PC均相连，构成一个射频测试校准的系统。
[0067]具体的，所述检测控制模块包括一个或者多个测试探针，所述测试探针安装在所述夹具上，通过所述测试探针检测所述待校准设备是否安装到位。
[0068]具体的，所述屏蔽箱的状态包括屏蔽箱关闭、屏蔽箱打开；所述待校准设备的状态包括待校准设备安装到位和待校准设备没有安装到位。
[0069]其中，所述待校准设备安装到位具体是指待校准设备正常安装在屏蔽箱内的夹具上。
[0070]在步骤S303中，当检测到所述待校准设备安装到位时，所述检测控制模块发送所述待校准设备安装到位的消息至PC。
[0071]在本发明实施例中，当通过检测控制模块的测试探针检测到待校准设备安装到位时，检测控制模块发送待校准设备安装到位的消息至PC。
[0072]其中，检测控制模块与PC和屏蔽箱均相连，检测控制模块与PC通过屏蔽箱的外部接口连接，所述外部接口可以是USB接口、串口(RS232)或者其它方式的通信接口，在此不做具体限制。
[0073]在步骤S304中，所述PC发送关闭屏蔽箱的指令至所述检测控制模块。
[0074]在本发明实施例中，PC接收到检测控制模块发送的待校准设备安装到位的消息后，发送关闭屏蔽箱的指令至检测控制模块。
[0075]在步骤S305中，所述检测控制模块根据所述关闭屏蔽箱的指令关闭所述屏蔽箱。
[0076]在本发明实施例中，检测控制模块接收到PC发送的关闭屏蔽箱的指令后，根据所述关闭屏蔽箱的指令关闭屏蔽箱。
[0077]在步骤S306中，当检测到所述屏蔽箱关闭后，所述检测控制模块发送所述屏蔽箱关闭的消息至所述PC。
[0078]在本发明实施例中，检测控制模块对屏蔽箱的状态进行检测，当检测到屏蔽箱关闭后，发送所述屏蔽箱关闭的消息至PC。
[0079]在步骤S307中，所述PC启动校准软件。
[0080]在本发明实施例中，PC接收到检测控制模块发送的所述屏蔽箱关闭的消息后，启动内置于所述PC中的校准软件，由校准软件发送校准命令，自动对待校准设备进行校准。
[0081]在步骤S308中，当所述校准软件停止运行时，所述PC发送打开屏蔽箱的指令至所述检测控制模块。
[0082]在本发明实施例中，校准完成后，校准软件会自动停止，当PC检测到校准软件停止运行时，PC发送打开屏蔽箱的指令至检测控制模块。
[0083]在步骤S309中，所述检测控制模块根据所述打开屏蔽箱的指令打开所述屏蔽箱。
[0084]在本发明实施例中，检测控制模块接收到PC发送的打开屏蔽箱的指令后，根据所述打开屏蔽箱的指令打开所述屏蔽箱。
[0085]在步骤S310中，测试人员从所述屏蔽箱中取出所述待校准设备。
[0086]本实施例，提供的射频测试校准的方法相比现有的射频测试校准的方法，只需要测试人员将待校准设备放入屏蔽箱的夹具上，在测试校准完成后，将待校准设备从屏蔽箱中取出，关闭屏蔽箱、启动校准软件、打开屏蔽箱等操作均可通过PC和检测控制模块完成，从而实现了用自动化的方式执行关闭屏蔽箱、启动校准软件、打开屏蔽箱等操作，可以减少人工操作量，实现了一个工人可以同时操作多个测试校准系统，可以显著提高射频校准效率。解决了现有技术提供的射频测试校准的方法，人工操作步骤太多，效率很低的问题。
[0087]应理解，在本发明实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
[0088]本领域普通技术人员可以理解实现上述各实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，相应的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如R0M/RAM、磁盘或光盘等。
[0089]实施例二
[0090]图4示出了本发明实施例二提供的射频测试校准的系统的具体结构框图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。该射频测试校准的系统4包括测试仪器41，PC42和屏蔽箱43，所述系统还包括与所述PC42和所述屏蔽箱43均相连的检测控制模块44 ；
[0091]其中，所述检测控制模块44包括:检测单元441、第一状态发送单元442、第二状态发送单元443、屏蔽箱关闭单元444和屏蔽箱打开单元445 ；
[0092]所述PC42包括:第一指令发送单元421、软件启动单元422和第二指令发送单元423 ；
[0093]所述检测单元441，用于在测试人员将待校准设备放入屏蔽箱中后，检测所述屏蔽箱和所述待校准设备的状态；
[0094]所述第一状态发送单元442，用于当所述检测单元441检测到所述待校准设备安装到位时，发送所述待校准设备安装到位的消息至所述PC42 ;
[0095]所述第一指令发送单元421，用于当接收到所述第一状态发送单元442发送的所述待校准设备安装到位的消息后，发送关闭屏蔽箱的指令至所述检测控制模块44 ;
[0096]所述屏蔽箱关闭单元444，用于根据所述第一指令发送单元421发送的关闭屏蔽箱的指令关闭所述屏蔽箱；
[0097]所述第二状态发送单元443，用于当所述检测单元441检测到所述屏蔽箱关闭后，发送所述屏蔽箱关闭的消息至所述PC42 ;
[0098]所述软件启动单元422，用于在接收到所述第二状态发送单元443发送的所述屏蔽箱关闭的消息后，启动校准软件；
[0099]所述第二指令发送单元423，用于当所述软件启动单元422启动的所述校准软件停止运行时，发送打开屏蔽箱的指令至所述检测控制模块44 ;
[0100]所述屏蔽箱打开单元445，用于根据所述第二指令发送单元423发送的打开屏蔽箱的指令打开所述屏蔽箱。
[0101]具体的，所述检测控制模块44包括传感器，所述检测单元441通过所述传感器检测所述屏蔽箱或所述待校准设备的状态。
[0102]具体的，所述检测控制模块44安装在所述屏蔽箱43上或者安装在所述屏蔽箱43内部的夹具上。也可以将所述检测控制模块做成一个小设备，单独放置在工作台上，与屏蔽箱和PC均相连，构成一个射频测试校准的系统。
[0103]具体的，所述检测控制模块44包括测试探针，所述测试探针安装在所述夹具上，所述检测单元441通过所述测试探针检测所述待校准设备是否安装到位。
[0104]本发明实施例提供的射频测试校准的系统可以应用在前述对应的方法实施例一中，详情参见上述实施例一的描述，在此不再赘述。
[0105]本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每