专利名称：改良电子零件测试建议报告的方法
技术领域：
本发明涉及一种改良电子零件测试建议报告的方法，特别涉及一种能提供测试点权重值信息，以改良电子零件测试建议报告的方法。
背景技术：
目前电子零件测试工程师撰写电子零件组件测试治具的测试程序，会再外加产生一针对电路板或主机板上测试点需求的建议报告(Suggestion Report)给设计或布线人员，以当电路板或主机板重新设计时，作为设计或布线人员参考之用，主要是能提供设计或布线人员将测试点加入于重新设计的电路板或主机板上，以提升电路板或主机板的电子零件组件测试时，能取得更高的测试涵盖率(电子零件T Coverage Rate)。
然而，现有电子零件测试工程师对于测试点需求所提供的建议报告，此建议报告将所有的测试点都列表出来，再交由设计或布线人员判别是否将测试点放置于电路板或主机板上，但现有的测试点的建议报告无法显示出各测试点的权重值，当然无法辅助设计或布线人员判别各测试点的权重值高低，进而使得设计或布线人员无法判别应先加入哪一测试点，因此有可能造成设计或布线人员加入大量电子零件组件的测试点，但是却无法提升电子零件组件的测试涵盖率效果，且因加入大量电子零件组件的测试点使得测试效率也无法提升，另外，现今电路板或主机板的电子零件组件设计朝向愈趋密集，因此在既有的板面空间有限且愈趋减小状况下，电子零件组件的测试点的设置分布愈加困难。
因此，现有电路板或主机板上测试点需求的建议报告，有着无法显示出各测试点的权重值劣势，所以如何重新设计一种改良电子零件测试建议报告的方法，其是一种能提供测试点权重值信息以测试涵盖率，即为业者研发的目的。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种改良电子零件测试建议报告的方法，用以解决现有的测试点的建议报告无法显示出各测试点的权重值缺失，同时也克服设计或布线人员加入大量电子零件组件，却无法提升电子零件组件的测试涵盖率的缺点。
为实现上述目的，本发明所提供的改良电子零件测试建议报告的方法，包含提供一测试数据库步骤，此电子零件测试数据库储存有电子零件型号数据、电子零件测试类型数据及测试点的权重值高低数据；提供一电路板，此电路板具有多个电子零件；提供电路板的电子零件数据表，电子零件数据表依据电路板提供多个电子零件组件数据；提供一建议报告作业，由电子零件数据表与电子零件测试数据库对比，取得电子零件数据表的多个电子零件组件数据对应的测试点及其权重值数据，以提高上述电路板的测试涵盖率。
通过本发明的实施，至少可达下列的功效1.本发明是一种改良电子零件测试建议报告的方法，通过此方法能在电路板或主机板重新设计时，设计人员将依据测试点的权重值高低加入于重新设计的电路板或主机板上，以提升电路板或主机板的电子零件组件测试涵盖率。
2.本发明是一种改良电子零件测试建议报告的方法，通过此方法能在电路板或主机板重新设计时，设计人员将依据测试点的权重值高低加入于重新设计的电路板或主机板上，避免加入大量电子零件组件的测试点，进而使得测试效率也无法提升，以及电路板或主机板的板面面积过于拥挤。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
图1为本发明的测试数据库示意图；及图2为本发明一种改良电子零件测试建议报告的方法流程图。
其中，附图标记10测试数据库11电子零件型号数据12电子零件测试类型数据 13测试点的权重值高低数据S1改良电子零件测试建议报告的方法步骤S10提供一测试数据库步骤S20提供一电路板步骤S30提供电路板的电子零件数据表步骤S40提供一建议报告作业步骤S50进行电子零件的测试点加入作业具体实施方式
首先，如图2所示，本发明是一种改良电子零件测试建议报告的方法，此改良电子零件测试建议报告的方法S1，包含提供一测试数据库(步骤S10)、提供一电路板(步骤S20)、提供电路板的电子零件数据表(步骤S30)、提供一建议报告作业(步骤S40)及进行电子零件的测试点加入作业(步骤S50)。
如图1及图2所示，本发明是一种改良电子零件测试建议报告的方法，此改良电子零件测试建议报告的方法S1，是先进行提供一测试数据库(步骤S10)，此测试数据库10储存有电子零件型号数据11、电子零件测试类型数据12及测试点的权重值高低数据13，当然此测试点的权重值高低数据13，会以不同颜色注明以辅助分辨各个测试点的权重值高低数据；另外，提供一电路板(步骤S20)，此电路板具有多电子零件，又，提供电路板的电子零件数据表(步骤S30)，此电子零件数据表依据前述电路板，提供此已设置电路板的电子零件数据，更具体而言，此多个电子零件数据包含此电路板的电子零件型号数据11，以进行如后述电子零件数据表与电子零件测试数据库10对比；然后，再提供一建议报告作业(步骤S40)，由电子零件数据表与电子零件测试数据库10对比，取得电子零件数据表的多个电子零件组件数据对应的测试点及其权重值数据，最后，进行电子零件组件的测试点加入作业(步骤S50)，由前述测试点的权重值高低数据13，作为优先加入权重值高的测试点于电路板，以提高电路板的测试涵盖率，且能解决1次增加过多的测试点，进而避免电路板的板面空间有限且愈趋减小状况下，且电子零件的测试点的设置分布愈加困难。
本发明是一种改良电子零件测试建议报告的方法，此提升电子零件测试涵盖率的方法S1，上述测试数据库10为关系型数据库，另外，上述电路板为软式电路板或硬式电路板。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种改良电子零件测试建议报告的方法，其特征在于，包含下列步骤提供一测试数据库，该测试数据库储存有电子零件型号数据、电子零件测试类型数据及测试点的权重值高低数据；提供一电路板，该电路板具有多个电子零件；提供电路板的电子零件数据表，该电子零件数据表依据该电路板提供该电子零件数据；及提供一建议报告作业，由该电子零件数据表与该测试数据库对比，取得该电子零件数据表的该电子零件数据对应的测试点及其权重值数据，以提高该电路板的测试涵盖率。
2.根据权利要求1所述的改良电子零件测试建议报告的方法，其特征在于，该方法进一步包含，进行电子零件的测试点加入作业，通过该建议报告提供该电子零件数据的测试点的权重值高低数据，优先加入权重值高的测试点于该电路板。
3.根据权利要求1所述的改良电子零件测试建议报告的方法，其特征在于，该测试数据库为关系型数据库。
4.根据权利要求1所述的改良电子零件测试建议报告的方法，其特征在于，该电路板为软式电路板。
5.根据权利要求1所述的改良电子零件测试建议报告的方法，其特征在于，该电路板为硬式电路板。
全文摘要
本发明公开了一种改良电子零件测试建议报告的方法，包含提供一测试数据库步骤，此测试数据库储存有电子零件型号数据、电子零件测试类型数据及测试点的权重值高低数据；提供一电路板步骤；提供该电路板的电子零件数据表步骤，此电子零件测试数据表依据电路板提供多电子零件数据；提供一建议报告作业，藉由电子零件数据表与测试数据库比对，取得其多电子零件组件数据对应的测试点及其权重值数据，以提升电路板或主机板的电子零件组件测试涵盖率，避免加入大量电子零件组件的测试点，进而使得测试效率也无法提升。
文档编号G06Q10/00GK1991883SQ20051013768
公开日2007年7月4日 申请日期2005年12月31日 优先权日2005年12月31日
发明者王宏圣, 曹惠国, 何其烨, 游棋辉, 马定国 申请人:英业达股份有限公司