专利名称：接口测试辅助装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种接口测试辅助装置，特别涉及一种串行连接小型计算机系统接口 (Serial Attached Small Computer SystemInterface ；简称 SAS接口)的接口测试辅助装置。
背景技术：
现今主机板的硬盘接口已渐渐从并行式ATA (AdvancedTechnology Attachment, 高阶配置)接口演变成传输速度较快的SAS接口，以提高计算机的效能。主机板在装配完成之后，需经过全面的功能测试，其中包括对主机板上各种接口的测试。在对主机板的SAS接口进行测试时，通常是通过连接SAS硬盘至主机板的SAS接口来进行测试。但由于硬盘的价格一般较高，而且在受到震动时也容易损坏硬盘，从而影响测试结果。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种能够替代SAS硬盘来测试主机板的接口测试辅助装置。一种接口测试辅助装置，该接口测试辅助装置用于辅助测试一待测板上的SAS接口。所述接口测试辅助装置包括一内存、一供电单元、一处理器以及至少一用于连接所述待测板上的SAS接口的测试SAS接口。所述供电单元为所述内存及所述处理器供电，所述内存与所述处理器相连，所述处理器与所述测试SAS接口相连，所述处理器用于通过所述测试SAS接口与待测板上的SAS接口接收来自待测板的串行数据并转换成并行数据写入所述内存，以及读出内存内的数据并转换成串行数据从所述测试SAS接口与待测板上的SAS接口输出给待测板。本发明提供的接口测试辅助装置通过利用不会受震动影响的内存来代替测试用 SAS硬盘，从而能够避免因震动而影响测试效果的情况发生，并可降低测试成本。
图1为本发明实施方式的接口测试辅助装置与待测板连接的示意图。主要元件符号说明接口测试辅助装置100承载体10内存20内存插槽30处理器40供电单元50电源接口51
第一输入端510第二输入端511第一输出端512第二输出端513电压转换器52测试SAS 接口60待测板200
待测板SAS 接口210数据线8电源线9第一电压源Vl第二电压源V具体实施例方式请参阅图1，为本发明提供的接口测试辅助装置100。该接口测试辅助装置100用于代替SAS硬盘来测试一待测板200上的待测板SAS接口 210。本实施方式中，所述待测板 200是计算机的主机板。所述待测板200内装载有一测试程序。所述待测板200上包括第一电压源Vl及第二电压源V2。本实施方式中，所述第一电压源Vl提供5V的电压，所述第二电压源V2提供3. 3V的电压。所述接口测试辅助装置100包括承载体10、内存20、内存插槽30、处理器40、供电单元50以及一用于连接所述待测板SAS接口 210的测试SAS接口
60。所述测试SAS接口 60数量还可以为多个，以同时测试待测板200上多个待测板SAS接□。所述内存20插于所述内存插槽30上，所述内存插槽30与所述处理器40连接，所述处理器40与所述测试SAS接口 60连接。所述供电单元50分别与所述内存插槽30及处理器40连接，从而为处理器40及插于所述内存插槽30上的内存20供电。本实施方式中，所述承载体10是一电路板。所述内存插槽30、处理器40、供电单元50及测试SAS接口 60集成于所述承载体10上。所述内存20具有一定的存储容量，用于模拟硬盘的存储功能。本实施方式中， 所述内存20是第二代双倍速率同步动态随机存储器(double-data-rate synchronous dynamic random accessmemory generation 2，■禾尔 DDR2)。当M，内# 20 iii^T 以ill 一代DDR、第三代DDR3或其他型号的内存条。本实施方式中，所述内存插槽30用于方便内存20的更换及容量的扩充。当然，也可以不采用内存插槽30，而直接将内存20固定在承载体10上，并在承载体10上铺设用于连接内存20与处理器40及供电单元50的印刷电路。所述处理器40用于通过所述测试SAS接口 60与待测板200上的待测板SAS接口 210接收来自待测板200的串行数据并转换成并行数据写入所述内存20，以及读出内存20 内的数据并转换成串行数据从所述测试SAS接口 60与待测板SAS接口 210输出给待测板 200。本实施方式中，所述处理器40采用赛灵思公司生产的Spartan系列的XC3S1400A型号芯片。当所述内存20采用DDR3时，所述处理器40采用赛灵思公司生产的Spartan系列的XC6SLX150T型号芯片。所述测试SAS接口 60通过数据线8连接至待测板200上的待测板 SAS 接口 210。所述供电单元50可以是承载体10上的电压源，或是一将外部电源引入的连接电路。本实施方式中，为了无需额外设置电压源，所述供电单元50是一将第一电压源Vl及第二电压源V2引入的连接电路。所述供电单元50包括电源接口 51及电压转换器52。所述电源接口 51包括第一输入端510、第二输入端511、第一输出端512及第二输出端513。在测试时第一输入端 510、第二输入端511分别通过电源线9连接至待测板200上的第一电压源Vl及第二电压源V2。所述第一输出端512输出第一电压源Vl提供的电压，所述第二输出端513输出第二电压源V2提供的电压。所述第一输出端512通过所述电压转换器52与所述内存插槽30相连。所述第二输出端513与所述处理器40相连。由于主机板上一般都具有3. 3V、5V、12V三种类型的电压源，而所述DDR2的工作电压是1. 8V，无法直接采用主机板上的电压源。所以通过所述电压转换器52将所述第一电压源Vl提供的电压转化为内存 20的工作电压。若所述内存20是DDR3，则所述电压转换器52将5V转化为DDR3的工作电压 1. 5V。由于本实施方式中，所述处理器40采用XC3S1400A型号的芯片，而XC3S1400A型号芯片的工作电压是3. 3V，与所述第二输出端513输出的电压相同，中间无需设置电压转换器。测试开始之前，将内存20插入所述内存插槽30，通过数据线8将所述测试SAS接口 60连接至待测板200上的待测板SAS接口 210，通过电源线9将所述电源接口 51连接至待测板200上的第一电压源Vl及第二电压源V2。测试时，所述待测板200内的测试程序先向所述接口测试辅助装置100的测试SAS 接口 60发送串行数据，所述处理器40将所述测试SAS接口 60接收的串行数据转换为并行数据后传输至所述内存20，向所述内存20写入数据。尔后，所述待测板200的测试程序向所述内存20发出一读出命令。所述内存20通过所述处理器40将内存20内的数据输出给待测板200。所述所述待测板200的测试程序通过比较写入的数据及读出的数据是否相同， 从而实现对待测板200的测试板SAS接口的测试。本发明提供的SAS接口测试辅助装置通过利用不会受震动影响的内存来代替测试用SAS硬盘，从而能够避免因震动而影响测试效果的情况发生，并可降低测试成本。可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种接口测试辅助装置，该接口测试辅助装置用于辅助测试一待测板上的SAS接口，所述接口测试辅助装置包括一内存、一供电单元、一处理器以及至少一用于连接所述待测板上的SAS接口的测试SAS接口，所述供电单元为所述内存及所述处理器供电，所述内存与所述处理器相连，所述处理器与所述测试SAS接口相连，所述处理器用于通过所述测试 SAS接口与待测板上的SAS接口接收来自待测板的串行数据并转换成并行数据写入所述内存，以及读出内存内的数据并转换成串行数据从所述测试SAS接口与待测板上的SAS接口输出给待测板。
2.如权利要求1所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述内存为双倍速率同步动态随机存储器。
3.如权利要求1所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述供电单元采用电压源为所述内存及所述处理器供电。
4.如权利要求1所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述供电单元采用电源接口与外部电源连接。
5.如权利要求4所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述外部电源为所述待测板上的电压源。
6.如权利要求4所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述供电单元还包括电压转换器，用于为所述内存或处理器提供工作电压。
7.如权利要求6所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述电压转换器连接于电源接口及内存之间，用于将电源接口上的电压转换成所述内存工作的电压。
8.如权利要求1所述的接口测试辅助装置，其特征在于，接口测试辅助装置还包括一与内存相适配的内存插槽，所述内存通过所述内存插槽与所述供电单元及所述处理器相连接。
9.如权利要求1所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述接口测试辅助装置还包括承载体，所述内存、处理器、供电单元及测试SAS接口集成于所述承载体上。
10.如权利要求8所述的接口测试辅助装置，其特征在于，所述接口测试辅助装置还包括承载体，所述内存插槽、处理器、供电单元及测试SAS接口集成于所述承载体上。
全文摘要
本发明提供一种接口测试辅助装置，该接口测试辅助装置用于辅助测试一待测板上的SAS接口。接口测试辅助装置包括一内存、一供电单元、一处理器以及至少一用于连接待测板上的SAS接口的测试SAS接口。供电单元为内存及处理器供电，内存与处理器相连，处理器与测试SAS接口相连。处理器用于通过测试SAS接口与待测板上的SAS接口接收来自待测板的串行数据并转换成并行数据写入内存，以及读出内存内的数据并转换成串行数据从测试SAS接口与待测板上的SAS接口输出给待测板。本发明提供的接口测试辅助装置通过利用不会受震动影响的内存来代替测试用SAS硬盘，从而能够避免因震动而影响测试效果的情况发生，并可降低测试成本。
文档编号G06F11/26GK102222030SQ201010147729
公开日2011年10月19日 申请日期2010年4月15日 优先权日2010年4月15日
发明者范朝宗, 黄立人 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司