1.一种信息处理方法，应用于电子设备中，其特征在于，所述方法包括：
获取到针对操作对象的第一图像；所述第一图像中包括有M个像素点；
确定所述第一图像的所述M个像素点中各个像素点对应的检测参数值；所述检测参数值为所述像素点与标准值之间的差异值；
根据所述检测参数值从所述M个像素点中选取符合第一条件的N个目标像素点；所述第一条件为像素点对应的检测参数值大于第一阈值；M为大于1的正整数，N为小于等于M且大于等于0的整数；
提取所述N个目标像素点的特征信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测参数值从所述M个像素点中选取符合第一条件的N个目标像素点，包括：
获取所述M-N个像素点的检测参数值，选取所述检测参数值中最大值对应的像素点作为目标像素点；
当所述最大值小于等于所述第一阈值时，停止所述获取过程。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将选取的所述检测参数值中最大值对应的像素点作为目标像素点之后，所述方法还包括：
以所述目标像素点为中心，删除预设范围内的至少一个像素点对应的检测参数值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一图像的所述M个像素点中各个像素点对应的检测参数值，包括：
对所述第一图像的所述M个像素点中各个像素点进行标量计算得到每个像素点对应的梯度；
对所述每个像素点对应的梯度进行一致性计算，得到每个像素点对应的一致性参数；
将每个像素点对应的一致性参数与标准值进行差值运算，得到每个像素点对应的检测参数值。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测参数值从所述M个像素点中选取符合第一条件的N个目标像素点，包括：
剔除所述M个像素点的检测参数值中小于第二阈值的检测参数值；所述第二阈值小于所述第一阈值；
根据剩余的检测参数值从所述M个像素点中选取符合第一条件的N个目标像素点。
6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括获取模块、确定模块、选取模块和提取模块；
所述获取模块，用于获取到针对操作对象的第一图像；所述第一图像中包括有M个像素点；
所述确定模块，用于确定所述第一图像的所述M个像素点中各个像素点对应的检测参数值；所述检测参数值为所述像素点与标准值之间的差异值；
所述选取模块，用于根据所述检测参数值从所述M个像素点中选取符合第一条件的N个目标像素点；所述第一条件为像素点对应的检测参数值大于第一阈值；M为大于1的正整数，N为小于等于M且大于等于0的整数；
所述提取模块，用于提取所述N个目标像素点的特征信息。
7.根据权利要求6所述的电子设备，其特征在于，所述选取模块包括第一选取单元和控制单元；其中，
所述第一选取单元，用于获取所述M-N个像素点的检测参数值，选取所述检测参数值中最大值对应的像素点作为目标像素点；
所述控制单元，用于当所述最大值小于等于所述第一阈值时，停止所述获取过程。
8.根据权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述选取模块还包括第一删除单元；其中，
所述第一删除单元，用于以所述目标像素点为中心，删除预设范围内的至少一个像素点对应的检测参数值。
9.根据权利要求6所述的电子设备，其特征在于，所述确定模块包括标量 计算单元、一致性计算单元和差值运算单元；其中，
所述标量计算单元，用于对所述第一图像的所述M个像素点中各个像素点进行标量计算得到每个像素点对应的梯度；
所述一致性计算单元，用于对所述每个像素点对应的梯度进行一致性计算，得到每个像素点对应的一致性参数；
所述差值运算单元，用于将每个像素点对应的一致性参数与标准值进行差值运算，得到每个像素点对应的检测参数值。
10.根据权利要求6所述的电子设备，其特征在于，所述选取模块包括第二剔除单元和第二选取单元；其中，
所述第二删除单元，用于剔除所述M个像素点的检测参数值中小于第二阈值的检测参数值；所述第二阈值小于所述第一阈值；
所述第二选取单元，用于根据剩余的检测参数值从所述M个像素点中选取符合第一条件的N个目标像素点。