技术总结
本发明提供了一种触控基板消影检测方法、触控基板制造方法、触控基板以及触控装置，该触控基板消影检测方法包括：使用光学测试设备测试位于触控基板的触控区域之外的区域中的具有不同结构的测试块的光反射率的差异；以及根据所述差异判定所述触控基板的消影效果；其中，所述具有不同结构的测试块中的每个测试块包括与触控区域中的不同结构分别相同的结构。
技术研发人员：范文金;张雷;郭总杰;刘洋;吕奎
受保护的技术使用者：合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
文档号码：201610868054
技术研发日：2016.09.30
技术公布日：2016.11.30