1.一种应用于CMOS电阻阵的离线测试系统，其特征在于，包括依次相连接的对抗态势想订模块(1)、红外目标模型加载模块(2)、仿真控制及数据获取模块(3)、三维场景实时渲染模块(4)、传感器采样模块(5)和传感器图像量化模块(6)；所述对抗态势想订模块(1)的输入端用于与参数输入装置相连接，所述传感器图像量化模块(6)用于与电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(8)相连接；
所述对抗态势想订模块(1)用于接收由参数输入装置输入的对抗态势想订数据，并传输给红外目标模型加载模块(2)，所述红外目标模型加载模块(2)根据对抗态势想订数据加载目标模型；
所述仿真控制及数据获取模块(3)读取红外目标模型加载模块(2)中的目标模型，接收所述主仿真机(8)发送的仿真控制命令和仿真数据后，将目标模型和仿真数据传输至三维场景实时渲染模块(4)，经实时渲染，将三维场景数据传输至传感器采样模块(5)，所述传感器采样模块(5)将三维场景数据进行光电信号转换，将电信号传输至传感器图像量化模块(6)，将电信号转换为图像数据，传输至电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)，根据CMOS电阻阵的非均匀性数据修正图像数据，将修正的图像数据传输至CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)。
2.按照权利要求1所述的一种应用于CMOS电阻阵的离线测试系统，其特征在于，还包括器件测试系统(10)、遥测驱动系统(11)、图像采集系统(12)和系统硬件检测系统(13)；还包括电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(8)，所述器件测试系统(10)、遥测驱动系统(11)、图像采集系统(12)和系统硬件检测系统(13)均与电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)的输入端相连接，所述电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)的输出端用于与CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)相连接；所述离线测试系统(1)、离线测试系统(2)及单机测试系统(3)与CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)间均通过电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)相连接；
所述器件测试系统(10)用于调取数据库中的第一数据参数，并将第一数据参数传输至电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)，将修正的第一数据参数传输至CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)；
所述遥测驱动系统(11)用于调取数据库中的第二数据参数，并将第二数据参数传输至电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(8)，将修正的第二数据参数传输至CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)；
所述图像采集系统(12)用于采集图像数据，并将图像数据传输至电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)，将修正的图像数据传输至CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)；
所述硬件测试系统(13)用于接收系统参数数值，并将系统参数数值传输至电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)，将修正的参数数值传输至CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)。
3.按照权利要求1～2中任一项所述的一种应用于CMOS电阻阵的离线测试系统的工作方法，其特征在于，该工作方法如下：
所述对抗态势想订模块(1)接收由参数输入装置输入的对抗态势想订数据，并传输给红外目标模型加载模块(2)，所述红外目标模型加载模块(2)根据对抗态势想订数据加载目标模型；所述仿真控制及数据获取模块(3)读取红外目标模型加载模块(2)中的目标模型，接收所述主仿真机(8)发送的仿真控制命令和仿真数据后，将目标模型和仿真数据传输至三维场景实时渲染模块(4)，经实时渲染，将三维场景数据传输至传感器采样模块(5)，所述传感器采样模块(5)将三维场景数据进行光电信号转换，将电信号传输至传感器图像量化模块(6)，将电信号转换为图像数据，传输至电阻阵非均匀性修正及传输驱动模块(7)，根据CMOS电阻阵的非均匀性数据修正图像数据，将修正的图像数据传输至CMOS电阻阵红外场景模拟器(9)。