数据存储的制作方法

本公开涉及数据存储。

背景技术：

在一些数据存储布置中，存在将测试地址与参考地址进行比较的需求，该测试地址是诸如基地址和偏移地址之类的两个地址操作数的组合。例如，参考地址可以是由数据存储设备保持或缓存的数据项的地址。

对这样的布置进行改进是持续不变的目标。

技术实现要素：

在示例布置中，提供了一种数据存储装置，包括：

检测电路，被配置为检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，该检测电路包括：

比较器，被配置为作为第一比较，将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较；比较器被配置为作为第二比较，将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；

检测器，被配置为当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测；以及

控制电路，被配置为当匹配被检测器检测到时，依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

在另一示例布置中，提供了一种数据存储装置，包括：

用于检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配的检测装置，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测装置被配置为：

用于作为第一比较将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较的装置；

用于作为第二比较将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较的装置；

用于当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测的装置；以及

用于当匹配被检测到时依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作的装置。

在另一示例布置中，提供了一种数据存储操作的方法，该方法包括：

检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测步骤包括：

作为第一比较，将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较；

作为第二比较，将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；

当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测；以及

当匹配被检测到时，依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

附图说明

仅通过示例的方式，本技术将参照其在附图中示出的实施例进行进一步描述，其中：

图1和图2示意性地示出了基地址和偏移地址的使用；

图3示意性地示出了缓存存储器；

图4示意性地示出了检测电路的示例；

图5是示出缓存存储器的操作的示意流程图；

图6示意性地示出了旁路转换缓冲器；

图7示意性地示出了分区式存储器设备；以及

图8是示出数据存储操作的方法的示意流程图。

具体实施方式

在参考附图论述实施例之前，提供了实施例的以下描述。

示例实施例提供了一种数据存储装置，包括：

检测电路，被配置为检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测电路包括：

比较器，被配置为作为第一比较，将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较；比较器被配置为作为第二比较，将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；

检测器，被配置为当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测；以及

控制电路，被配置为当匹配被检测器检测到时，依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

示例实施例提供了一种布置，该布置通过执行基地址、偏移地址、和参考地址在多个位的第一子集上的全组合-比较操作但在执行基地址和参考地址在多个位的另一子集上的简单比较来逼近如上所述的比较的结果。该布置认识到在实践中偏移地址可能是很小的(根据具体应用)，从而为了获得结果的有用逼近不需要进行全组合-比较操作。

在示例中，多个位中的第一子集包括更低有效位的连续集合；并且多个位中的第二子集包括比第一子集中的那些位更高的所有剩余位。

在一些情形中，伪阳性检测或伪阴性检测可能不是问题。在其它示例情形中，伪阳性检测可导致操作问题。在那些示例中，装置可包括中止检测器，中止检测器被配置为当预定条件适用于地址偏移的第二子集中的一个或多个位时，向控制电路提供中止指示。例如，在组合是加法的情形中，中止检测器可被配置为当来自加法的进位量不同于地址偏移的第二子集中的一个或多个位的群组时，向控制电路提供中止指示。中止信号可以多种方式使用。例如，控制器可被配置为响应于中止指示而取消由数据存储访问进行的数据访问。在其它示例中，控制器可被配置为：响应于中止指示，改变由数据存储装置用于数据访问的操作的模式。

该技术的使用的示例是在诸如缓存或类似存储器之类的数据存储装置中，该数据存储装置包括第一存储布置，第一存储布置被配置为存储与第二存储布置中的一个或多个近期访问的数据项相关的信息；并且其中：参考地址是在第一存储布置中保持有信息的数据项中的一个数据项的存储器地址；并且测试地址是当前要求的数据项的地址。(对匹配的)检测可被用于控制第二存储布置是否被上电，从而提供潜在的净功率节省。在这样的示例中，控制电路被配置为依据参考存储器地址与测试地址之间的匹配是否被检测到，选择性地启用或禁止对第二存储布置的访问。例如，控制电路可被配置为当参考存储器地址与测试地址之间的匹配被检测到时，禁止对第二存储布置的访问。

尽管参考存储器地址、基地址、和地址偏移可容纳不同数量的位，但在示例中参考存储器地址、基地址、和地址偏移各自具有相同数量的位。

另一示例实施例提供了一种数据存储装置，包括：

用于检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配的检测装置，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测装置被配置为：

用于作为第一比较将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较的装置；

用于作为第二比较将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较的装置；

用于当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测的装置；以及

用于当匹配被检测到时依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作的装置。

另一示例实施例提供了一种数据存储操作的方法，方法包括：

检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测步骤包括：

作为第一比较，将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较；

作为第二比较，将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；

当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测；以及

当匹配被检测到时，依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

图1和图2示意性地示出了基地址和偏移地址的使用。这里的示例涉及作为由诸如微处理器或中央处理单元(cpu)之类的数据处理器执行数据处理指令的结果的这样的地址的生成和使用。然而，无论何时根据基分量和偏移分量生成(例如，用于访问数据存储布置的)地址时，可适用相同的原理。

参考图1，数据处理指令10的执行定义了分别保持有基存储器地址和偏移存储器地址的寄存器20和30。例如，寄存器20可以是程序计数器(pc)寄存器，而偏移可被保持在(用作寄存器30的)寄存器中，该寄存器例如是处理器寄存器。

在这些布置中，作为基地址和偏移地址的组合的测试地址与参考存储器地址40进行比较。可适合于进行这样的比较的各种应用和示例操作将在下文进行说明。

基地址和偏移地址的组合可以是加法组合，以使得偏移地址被相加至基地址。然而，其它类型的组合是可能的，例如从基地址中减去偏移地址或者偏移地址的相应位与基地址的相应位进行逐位的逻辑组合。因此，这里论述的加法组合仅作为这样的组合的示例。

在一些情形中，参考地址与基地址和偏移地址的组合之间的比较可以是时序关键操作，或者至少是当被更快速地执行时更好或更有用的操作。在一些示例中，加法和比较操作被归合到单个逻辑操作中，从而在时序关键路径中节省一些逻辑门(以及潜在的节省时间)。这样的布置被用于图1，其中单个逻辑电路50提供基地址和偏移地址的加法以及与参考地址40的比较，进而提供指示匹配的输出60，并且该输出60控制控制函数70(例如，数据存储装置的控制函数)。这样的控制函数的示例将在下文进行说明。

注意，如下文所述，逻辑50对匹配的检测可以是所谓的推测性结果，其可以是正确的，也可以是不正确的。换而言之，检测是对测试变量(参考40与基20和偏移30的组合)之间的同一性的断言(assertion)，但是在推测性结果的情形中，此断言仍然是“对匹配的检测”并且可能被发现是不正确的。

在图2中提供了另一示例，其中指令100具有指示偏移110的数据作为指令代码自身的一部分。如上所述，由加法器-比较器50将此偏移110与基地址寄存器20中存储的基地址相加，在此阶段基地址和偏移的加法组合与参考地址40相比较以提供控制控制函数70的输出60。

然而，在一些实例中，完整的比较器结果可能对于所需目的来说被生成地太晚。现在将描述减轻这一潜在问题的布置。

图3示意性示出了作为可在其中使用本技术的数据存储装置的示例的缓存存储器。

缓存存储器利用所谓的缓存路跟踪器布置。这提供了缓存存储器中对于近期访问的条目的存储设备200，实质上提供了与那些近期访问项有关的标签的缓存。对于新要求的访问，如果能够检测到新要求的访问实际与作为存储设备200中存储的近期访问项中的一者相同的地址有关，那么系统可访问存储设备200中存储的标签，而不启用(例如，上电)全标签ram210。这可通过选择性地避免上电标签ram210的需求来提供功率节省。

为了这样的系统更高效地操作，要求关于新要求的地址是否确实与存储设备200中存储的一个项有关的检测。如果检测到命中或匹配，那么控制器220可从存储设备200获得要求的标签信息(来允许保持实际的缓存条目230的数据ram被访问)。如果检测到未命中或者缺少匹配，那么控制器220可上电并且启用标签ram210，并从标签ram210获得所要求的标签。因此，这呈现了被配置为存储与第二存储布置(例如，标签ram210)中的一个或多个近期访问的数据项相关的信息的第一存储布置(例如，存储设备200)的示例；并且参考地址是在第一存储布置中保持有信息的数据项中的一个数据项的存储器地址。例如，测试地址可以是当前要求的数据项的地址。在这些方面，控制器220提供了被配置为依据是否在参考存储器地址和测试地址之间检测到匹配来选择性地使能或禁止到第二存储布置(例如，标签ram)的访问的控制电路的示例，例如，控制电路被配置为在参考存储器地址和测试地址之间检测到匹配时禁止到第二存储布置的访问。

一般地说，控制器220提供了被配置为依据当检测器检测到匹配时的参考存储器地址来控制数据存储装置的操作的控制电路的示例。

检测器240处置此检测并且用作被配置为检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配的检测电路，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合。检测器240对基地址和偏移地址做出响应，该基地址和偏移地址例如是从如参考图1和图2所述的指令的执行中接收到的或者由指令的执行规定。检测器240将诸如基地址和偏移地址的加法组合之类的组合与表示在存储设备200中存储有信息的存储器地址的一个或多个参考地址进行比较。

在本文的示例中，检测器240提供了关于基地址和偏移地址的和是否与存储设备200提供的参考地址中的一个参考地址相同的早期“推测性”结果。推测性结果是按如下方式推导出来的：在许多或者甚至大多数实例中，它被预期是正确的。然而，在实例的子集中，该推测性结果可能不正确。为此，检测器240被配置为提供中止信号250，该中止信号250可在对缓存存储器的访问期间以与针对任何其它原因(例如，地址转换错误、未在缓存存储器中找到项等等)生成的错误信号相同的方式被提供给请求来自缓存存储器的信息的设备。

在示例实施例中，标签ram未被上电并且缓存存储器依靠存储设备200中存储的标签来允许保持有缓存条目230的正确数据ram被访问。假使检测器240获得伪命中，那么错误的数据ram(或者数据ram的错误组(bank)或分区)将会被访问。因此在一些示例中，中止信号250指示检测器240的推测性检测是不正确的并且访问应当被简单地中止并且作为访问的另一实例进行重试。这提供了被配置为响应于中止指示而取消由数据存储访问进行的数据访问的控制器的示例。

在其它示例中，中止信号(简单地指示推测性结果实际是错的)可被用于使得缓存存储器对标签ram进行上电(相反，如果推测性结果是正确的，它们将不会被上电)。所以在这些示例中，当中止信号被断言时，访问仍然继续进行，但是以不同的形式继续进行。在此上下文中，中止信号因此并非必须指示整个访问应当被中止，而是指示：基于(现在被发现是不正确的)推测性结果而原始发起的访问不应当按照原始发起的那样继续进行，但应当以不同的形式(可能更慢和/或更加费电)继续进行。这提供了被配置为响应于中止指示而改变数据存储装置针对数据访问的操作模式的控制器的示例。

推测性检测具有比完全检测更快的潜在优点。因此，推测性检测可被快速地执行，并且中止信号的生成可花费更长时间，从而使得中止信号仅需要被适时提供以取消对缓存存储器的访问。

在其它示例中，中止信号250不由检测器240生成，而是替代地由控制器220提供，该控制器220咨询标签ram210以检查由存储设备200提供的结果(基于来自检测器240的快速获得的推测性结果)确实是不正确的。如果不正确，那么访问可被中止或者它可以被继续但是以不同的形式继续，如上文所述。尽管这意味着即使在推测性结果由检测器240获得时对标签ram210上电，它保留了在可用的时候通过使用推测性结果带来的潜在速度提升的优点。

如果由检测器240进行的检测一直是正确的，那么对于具有在存储设备200中存储有标签的任何项，控制器220将取回此标签、访问数据ram250、并且不启用标签ram210。对于被正确检测到在存储设备200中没有存储标签的任何项，控制器220将启用并访问标签ram210以获得标签，并使用此标签来访问数据ram250。然而，如果检测器240的推测性检测值是错误的并且检测到伪未命中(从而，即使所要求的地址在存储设备200中存储有标签，但这个事实未被检测器240检测到)，那么系统仍然正确地操作，因为控制器220从标签ram210而非从存储设备200获得标签。所以，伪未命中仍然提供了正确的功能性，只是具有轻微的功率代价。然而，如果检测器240检测到伪命中，这将不会提供所要求的结果，因为控制器220将尝试从存储设备200获得标签但是该标签将不存在。所以，在示例实施例中，检测器240可被允许生成伪未命中结果但不被允许生成伪命中结果。检测器240的示例将在下文参考图4进行描述。

图3的缓存存储器的最后一方面是：响应于对缓存存储器的访问，控制器220在近期访问项的存储设备200中存储与此访问相关的标签信息，置换存储设备200中近期最少使用的条目。

图4示意性示出了被配置为检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配的检测电路的示例，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合。注意，为了简化图示，示出了可应用于一个这样的参考地址的处理。如果(例如，由存储设备200)提供了与不止一个参考地址的比较，那么可提供图4的电路的至少部分的多个实例。

图4的检测电路被布置为提供两个输出：命中(或者匹配)输出300和如上所述的中止输出250。命中输出被提供给图3的控制器220从而指示：至少在推测性的基础上，已经在与存储设备200中存储的多个项中的一项相对应的参考地址与基地址和偏移地址的总和之间检测到匹配。中止输出250被例如更晚地(例如，在时钟信号的一个周期以后)被提供以指示推测性命中实际上是不正确的。

检测电路包括比较器，比较器在此示例中被形成为两个比较器电路310和320，该比较器被配置为：作为(由电路320进行的)第一比较，把参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些而不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的相应第一子集的组合进行比较。在所示示例中，参考地址的第一子集包括参考地址的位6、...、15。基地址的对应子集(位6、...、15)340与偏移地址的对应子集(位6、...、15)350相加并且与参考地址的第一子集360相比较。如果由电路320检测到匹配，那么第一匹配信号325被提供至and(与)门370。

分离地，电路310提供参考地址的剩余的更高有效位(位16、...、48)与基地址的对应位(16、...、48)的比较，来提供被供应至and门370的第二匹配信号400。

在这些示例中，第一匹配信号325和第二匹配信号400自身不是推测性的，但是在当前布置中它们的组合可能出现涉及参考地址是否与基地址和偏移地址的组合相同的推测性结果。

这里，在诸如具有相同数量的位的存储器地址之类的多位变量的上下文中，术语“对应”指示多位变量中的相同位位置。还可以设想到，多位变量可具有不同数量的位。在这样的上下文中，术语“对应”可被理解为指示多位变量中的相同位位置，如果这样的位位置存在的话。

这两个比较操作提供了以下比较器的操作的示例：该比较器被配置为作为第一比较，把参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些而不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的相应第一子集的组合进行比较；比较器被配置为作为第二比较，把参考存储器地址的多个位中的第二不同子集与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较。

因此，如上所述，关于以下各项的第一匹配信号和第二匹配信号被生成：多个位中的第一子集包括较低有效位的连续集合；并且多个位中的第二子集包括比第一子集中的那些位更高的所有剩余位。

如果被供应至and门370的第一和第二信号400二者均指示相应的匹配，则and门断言命中输出300，因而提供了当第一比较和第二比较二者均检测到相应匹配时被配置为检测参考存储器地址和测试地址(在此示例中，被形成为基地址和偏移地址的组合)之间的匹配的检测器的示例。

因此，目前描述的图4的电路通过以下方式提供推测性匹配的指示：执行基地址、偏移地址和参考地址的更低或更弱有效位的子集的全加法-比较，并提供参考地址的更高有效位与基地址的对应更高有效位的简单比较。

在许多实例中，以这种方式检测到的推测性命中或匹配将是正确的，这是鉴于偏移地址在实际实现中经常是零或者接近于零，所以偏移地址和基地址的组合常常不会影响到基地址的更高或更强有效位。在伪命中不是由输出300控制的控制电路的功能性问题的示例情形中，目前描述的图4的电路是足够的。然而，在诸如图3的缓存路跟踪器布置之类的示例中，装置可初始基于推测性命中检测进行执行，但是也使用了诸如信号250之类的中止信号从而在推测性命中稍后被发现不正确时取消存储器访问事务。

中止信号250的生成可花费比推测性命中信号的生成更长的时间，并且在当前示例中中止信号是在输出触发器410的控制下晚于一个时钟周期被供应至存储器访问事务，或者大约比提供命中信号300晚一时钟周期。

中止信号被生成如下：在由电路320执行的加法-比较中，进位输出值420被生成，该进位输出值指示由电路320执行的组合操作中的算术进位输出。另一比较器430将进位输出值与偏移地址的第二子集(位16、...、48)进行比较，尽管在其它示例中可使用比整个第二子集中的位更少的位(例如，偏移部分440的一个或多个较低有效位)。

如果比较器430检测到进位输出位与偏移的部分440相同，那么这可以指示推测性检测是正确的并且中止信号不被断言。然而，如果比较器430检测到进位输出位420和偏移的部分440之间缺少匹配，那么比较器430的输出450与命中信号300相组合以生成中止信号250，该中止信号如上所述在下一时钟周期处由触发器410输出。通过and门450与命中信号的组合提供了以下特性：如果命中信号自身尚未被断言，则中止信号不被生成。

电路提供了中止检测器的示例，该中止检测器被配置为当预定条件适用于地址偏移的第二子集中的一个或多个位时，向控制电路提供中止指示。例如，在组合是加法的实例中，中止检测器可被配置为：当来自加法的进位量不同于地址偏移的第二子集中的一个或多个位的群组时，向控制电路提供中止指示。

在一些实施例中，参考存储器地址、基地址、和地址偏移各自包括相同数量的位，例如48位。在使用的布置中，有可能最低有效位的群组(例如，位0、...、5)未被用于参考地址和测试地址的比较，因为那些位实际上提供到单个存储区域中的一组多个(例如，32个)条目(例如，缓存行保持有多个分离寻址的数据项)的索引。

图5是示出参考图3和图4描述的缓存存储器类型的操作的示意流程图。

在步骤500处，推测性命中被检测到并且命中信号300被断言。检测中止信号250的处理始于步骤510。注意，步骤510可在步骤500的终止之前开始，但是在当前示例中步骤510在步骤500的结束之后一些时间完成。

响应于检测到命中，控制器220(在步骤520处)执行存储设备200的推测性读取并且使用从存储设备200获得的信息执行对数据ram230的推测性读取。在这些情况中，控制器220并不启用标签ram210。此过程可被来自步骤510的中止信号250中止，但是若未被中止则在步骤530处生成输出(例如，数据ram中的地址或者数据ram中存储的信息的内容)。

目前描述的示例涉及缓存存储器。图6和图7提供了可使用本技术的其它示例。

图6示意性示出了在虚拟存储器系统中用于存储并且在需要时提供虚拟存储器地址和物理存储器地址之间的存储器转换的旁路转换缓冲器。为了实现这一点，旁路转换缓冲器(tlb)在缓冲器600中存储存储器地址转换。如果特定要求的虚拟存储器地址未被(作为转换)存储在缓冲器600中，那么tlb参考地址转换器610以获得此转换并然后把它存储在缓冲器600中。否则，如果要求的转换被存储在缓冲器600中，它被简单地作为输出转换620进行输出。这些操作由控制电路604监督，控制电路604被配置为当检测器检测到匹配时依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

检测器630接收基虚拟存储器地址和偏移虚拟存储器地址并且如上文所述的那样操作以把基地址和偏移地址的组合与指示缓冲器600中存储的转换的参考存储器地址相比较。这允许对缓冲器600的推测性访问被快速地发起。然而，如果中止信号250被检测器630断言，则推测性访问被中止并且由缓冲器600参考地址转换器610以获得要求的转换。

图7是示出分区式存储器设备的另一示例。这里，基存储器地址和偏移存储器地址被提供至检测器700，该检测器700检测基地址和偏移地址与指示数据存储设备的多个分区710中的存储器位置的参考地址之间的可能匹配。在此示例中，不需要中止电路。对于针对其检测到命中的任何(一个或多个)分区，此分区被上电并且被访问。因此，在此示例中，伪命中不一定是问题，但是图4的电路的其它优点(特别是推测性命中信号的更快生成)能够提供对存储设备的多个分区的更快访问。这些操作由控制电路705监督，控制电路705被配置为当检测器检测到匹配时依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

图8是示出数据存储操作的方法的示意流程图，该方法包括检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，该检测包括：

(在步骤800处)作为第一比较，把参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些而不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的相应第一子集的组合进行比较；以及作为第二比较，把参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些而不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；

(在步骤810处)当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时，检测参考存储器地址和测试地址之间的匹配；以及

(在步骤820处)当检测到匹配时，依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

在本申请中，词语“被配置为...”被用于表示装置中的元件具有能够执行定义的操作的配置。在此上下文中，“配置”意味着硬件或软件的互连的布置或方式。例如，装置可具有提供所定义的操作的专用硬件，或者处理器或其它处理设备可被编程以执行功能。“被配置为”并不暗示装置元件需要以任何方式被改变从而提供所定义的操作。

尽管本文已参照附图详细描述本技术的说明性实施例，但要理解，本技术不限于那些精确实施例，且本领域技术人员可在不脱离由所附权利要求定义的技术的范围和精神的情况下实行各种变化、添加及修改。举例而言，可在不脱离本技术的范畴的情况下利用独立权利要求的特征进行从属权利要求的特征的各种组合。