成像盒芯片、成像盒及数据处理方法与流程

本发明涉及打印成像技术领域，具体涉及一种成像盒芯片、成像盒及数据处理方法。

背景技术：

诸如热转印成像设备、喷墨成像设备及电子照相成像设备(例如激光打印机和发光二极管(lightemittingdiode，简称led)打印机等成像设备中安装有存储了着色剂的成像盒，成像设备在使用过程中需要消耗着色剂，因此，在着色剂耗尽或成像盒损坏后需要及时补充着色剂或更换成像盒。为了方便的管理成像盒，通常在成像盒上设置一个信息存储装置，即成像盒芯片，用于存储与成像盒相关的原始数据和成像过程中产生的使用数据。其中，与成像盒相关的原始数据可以是：成像盒厂家代码、生产日期、型号和特性参数等；成像过程中产生的使用数据可以是：成像页数、色剂剩余量或者消耗量等信息。

基于多色打印的需求，在单个成像设备中通常安装有多个成像盒，各成像盒分别存储不同类型/颜色的着色剂，相应的，为了使得成像设备能够对这些成像盒进行很好地识别和操作，每个成像盒上均设置有对应的成像盒芯片，这些成像盒芯片通常采用共总线的方式与成像设备进行通讯，即每个成像盒芯片中存储有对应的成像盒的识别码(identification，简称id)，当成像设备要访问总线上某一成像盒(以下简称目标成像盒)时，成像设备向总线上发送目标成像盒的id和指令，总线上的成像盒芯片接收来自成像设备的id和指令，将接收到的id与自身非易失性存储器中存储的id信息比较是否相同，如果相同，则响应成像设备的读/写指令，如果不同，则不做任何响应。

现有的这种成像设备与目标成像盒之间通过id呼叫响应的通信模式，在id不匹配时芯片不参与总线上的数据通信，然而，当参与通信的目标成像盒芯片异常时，没有监视总线上数据通信的话，是难以根据总线上的数据来判断是否是由于目标成像盒芯片内部的数据处理模块异常所引发的问题。

技术实现要素：

本发明提供了一种成像盒芯片、成像盒及数据处理方法，可以有效地缩短数据处理的时间，提高芯片的工作效率，并在id不匹配时监视总线上的数据通信。

本发明的一方面是提供了一种成像盒芯片，包括：通讯模块、id识别模块、指令判断模块、处理模块、非易失性存储模块以及与所述非易失性存储模块电连接的易失性存储模块，所述非易失性存储模块中存储有芯片的id，所述易失性存储模块包括：id匹配存储区和id不匹配存储区；

所述通讯模块，通过总线与所述成像设备连接，用于接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

所述id识别模块，与所述通讯模块连接，用于判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配；

所述指令判断模块，与所述通讯模块连接，用于判断访问指令为读指令还是写指令；

所述处理模块，分别与所述通讯模块、id识别模块、指令判断模块、非易失性存储模块以及易失性存储模块连接，用于根据所述id识别模块的输出结果和/或所述指令判断模块的输出结果，对所述id匹配存储区和/或所述id不匹配存储区进行访问处理。

本发明的另一方面提供了一种成像盒，包括上述的成像盒芯片。本发明的又一方面是为了提供一种数据处理方法，该数据处理方法用于对通过总线连接至成像设备的成像盒芯片进行数据处理，所述芯片包括：非易失性存储模块以及与所述非易失性存储模块电连接的易失性存储模块，所述非易失性存储模块中存储有芯片的id，所述易失性存储模块包括：id匹配存储区和id不匹配存储区；所述方法包括：

接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配；

判断访问指令为读指令还是写指令；

根据判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配的判断结果和/或判断访问指令为读指令还是写指令的判断结果，对所述id匹配存储区和/或所述id不匹配存储区进行访问处理。

本发明提供的成像盒芯片、成像盒及数据处理方法，通过设置的易失性存储模块，具体的，易失性存储模块包括：id匹配存储区和id不匹配存储区，在id不匹配时调用id不匹配存储区，在访问指令为写指令时直接将总线上的数据写入至id不匹配存储区，用于监视总线上的数据，为判断目标成像盒芯片异常提供了有效地数据监控通道。

附图说明

图1为本发明实施例所给出的成像盒芯片的结构示意图；

图2为本发明实施例所给出的成像盒芯片中的处理模块的结构示意图；

图3为本发明实施例所给出的访问指令的数据结构示意图一；

图4为本发明实施例所给出的访问指令的数据结构示意图二；

图5为本发明一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；

图6为本发明另一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；

图7为本发明又一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；

图8为本发明再一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；

图9为本发明再一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；

图10为本发明又一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图。

图中：

2、成像盒芯片；21、通讯模块；

22、id识别模块；23、指令判断模块；

24、处理模块；241、执行单元；

242、调用单元；243、转存控制单元；

25、非易失性存储模块；26、易失性存储模块；

261、id匹配存储区；262、id不匹配存储区。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。给予本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

图1为本发明实施例所给出的成像盒芯片的结构示意图；图3为本发明实施例所给出的访问指令的数据结构示意图一；图4为本发明实施例所给出的访问指令的数据结构示意图二；参考附图1、3-4可知，本实施例提供了一种成像盒芯片，该成像盒芯片用于安装在成像盒上，以监测成像盒的使用状态，并且通过总线与成像设备进行数据通信，具体的，该成像盒芯片2包括：通讯模块21、id识别模块22、指令判断模块23、处理模块24、非易失性存储模块25以及与非易失性存储模块25连接的易失性存储模块26，易失性存储模块26包括：id匹配存储区261和id不匹配存储区262，其中，易失性存储模块26用于对从成像设备的总线接收的数据内容进行暂存，非易失性存储模块25存储有成像材料的消耗量或余量等可改写数据，以及芯片的识别码(id)信息和其它与成像盒相关的只读数据等；另外，对于上述易失性存储模块26中的id匹配存储区261用于存储id匹配时的访问数据内容，id不匹配存储区262用于存储id不匹配时的访问数据内容。

具体的，成像盒芯片2包括：

通讯模块21，在具有成像盒芯片的成像盒安装至成像设备时连接至成像设备的总线，用于接收成像设备发送的访问指令，访问指令中携带有目标id；

其中，通讯模块通过总线与成像设备相连接，以实现与成像设备进行数据通信，例如：接收成像设备发送的访问指令，而对于访问指令的具体内容、格式不做限定，例如，可以将访问指令设置为包括：id、读/写指令的呼叫信息以及要写入芯片的数据信息或将芯片存储的数据发送至总线的指令信息等；较为优选的，可以将访问指令的具体内容格式设置为如图3所示，包括：id信息部分a1和指令部分a2，其中，id信息部分a1为总线上的成像设备要求访问的成像盒识别码id，指令部分a2为总线上的成像设备对目标成像盒下达的指令，一般为读指令或写指令；具体的指令所包含的数据位数此处不做限定；或者，还可以将访问指令的具体格式内容设置为如图4所示，包括：id信息部分a1、指令部分a2以及待写数据a3，其中，待写数据a3为成像设备待写入目标芯片中的数据，id信息部分a1为总线上的成像设备要求访问的成像盒识别码id，指令部分a2为总线上的成像设备对目标成像盒下达的指令，一般为读指令或写指令；具体的指令所包含的数据位数此处不做限定，例如：可以将id信息部分a1、指令部分a2和/或待写数据a3的数据位数均设置为四位、五位或者六位等等。

id识别模块22，与通讯模块21连接，用于判断目标id与芯片的id是否匹配；

本实施例中的匹配可以为目标id与芯片的id完全相同或者目标id与芯片的id的相似度大于或等于预设阈值(预设阈值的具体范围根据具体的设计需求进行设置)，为了提高对比的精确可靠性，较为优选的，将该实施例中的匹配设置为完全相同，即id识别模块22判断目标id与芯片的id是否完全相同，若目标id与芯片的id完全相同，则匹配；若目标id与芯片的id不相同，则为不匹配。

指令判断模块23，与通讯模块21连接，用于判断访问指令为读指令还是写指令；

其中，对于指令判断模块23分析访问指令的具体方式不做限定，例如，可以将访问指令中设置有特征标识位，通过对访问指令中的特征标识位的分析即可确认是读指令或者是写指令。

处理模块24，分别与通讯模块21、id识别模块22、指令判断模块23、非易失性存储模块25以及易失性存储模块26连接，用于根据id识别模块22的输出结果和/或指令判断模块23的输出结果，对易失性存储模块26中的id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262进行访问处理。

其中，对于处理模块24的具体结构不做限定，例如：处理模块24可以是单独设置的单片机控制器，也可以是与存储模块集成于一体的多个控制电路组合等；另外，由于指令判断模块23和id识别模块22会输出不同的判断结果，例如：指令判断模块23的输出结果包括：判断访问指令是读指令或者判断访问指令是写指令，同样的，id识别模块22的输出结果包括：目标id与芯片的id相匹配或者目标id与芯片的id不匹配，而在对id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262进行控制时，会根据上述输出结果的不同组合而执行不同的操作，执行不同的操作包括：对id匹配存储区261进行访问处理和/或对id不匹配存储区262进行访问处理，其中，访问操作包括读取操作和写入操作，即读取id匹配存储区261或id不匹配存储区262内的数据内容，或者向id匹配存储区261或id不匹配存储区262写入数据内容，进而实现了芯片上的易失性存储模块26与成像设备实时进行数据通信，实现了对芯片上数据流的监测。

其中，在芯片上电时(有电能供给)，处理模块24将非易失性存储模块25的至少一部分数据加载至易失性存储模块26的id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262，以便芯片直接通过id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262执行数据的读取，以及，当易失性存储模块26的数据更新后或芯片断电时(切断电能供给)，处理模块24将id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262的至少一部分数据转存至非易失性存储模块25，以便写入芯片的数据能够稳定存储。

上述至少一部分数据是指，非易失性存储模块25和id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262的数据加载和转存可以是仅将非易失性存储模块25所存储的成像材料的消耗量或余量等成像设备经常读写的可改写数据加载至id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262，并由id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262全部转存至非易失性存储模块25，也可以是将非易失性存储模块25所存储的成像设备所有可能会读写的可改写数据和只读数据加载至id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262，并由id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262仅转存所更新的部分数据或将全部转存至非易失性存储模块25。而且，该转存操作可以是更新非易失性存储模块25中所存储的相应的数据，也可以是选取新的存储地址加以重新存储。

对于非易失性存储模块25和易失性存储模块26的具体结构不做限定，非易失性存储模块25可以采用eeprom，易失性存储模块26可以采用sram来实现，当然，也可以采用其他合理的元器件或电路组合来实现，例如，非易失性存储模块25还可以采用eprom、flash、铁电存储器或相变存储器等其它类型的非易失性存储器件来实现，或sram和电池/电容的供电装置的组合电路来实现，易失性存储模块26还可以采用寄存器、暂存器以及ram中的一种或几种来实现，只要能够实现数据暂存和稳定存储即可。

可选的，在接收到成像设备发送的访问指令后，成像盒芯片可以设置为先由id识别模块判断目标id与芯片的id是否匹配，处理模块依据id匹配结果调用id匹配存储区或依据id不匹配结果调用id不匹配存储区准备执行操作，再根据指令判断模块判断访问指令为读指令还是写指令来指定处理模块对已调用的易失性存储区执行相应的读写操作。成像盒芯片设置为这种分析判断模式有助于处理模块提前调用相应的易失性存储区以准备对应的指令操作。

当然也可以的，成像盒芯片也可以设置为先由指令判断模块判断访问指令为读指令还是写指令指定处理模块所需要执行的读写操作类型，再根据id识别模块判断目标id与芯片的id是否匹配来调用相应的易失性存储区执行操作。成像盒芯片设置为这种分析判断模式有助于处理模块提前准备相对于数据总线的数据接收或数据发送方向。实施例一

图2为本发明实施例所给出的成像盒芯片中的处理模块24的结构示意图；继续参考附图1-2可知，本实施例对于处理模块24的具体结构不做限定，其中，较为优选的，将处理模块24，设置为包括：调用单元242；

调用单元242，用于在判断结果为目标id与芯片的id相匹配时，则调用id匹配存储区261。

并且，该调用单元242，还用于在判断结果为目标id与芯片的id不匹配时，则调用id不匹配存储区262。

其中，“调用”具体是指将从总线接收的数据写入至id匹配存储区261(或id不匹配存储区262)，或者将id匹配存储区261中的数据传输到总线上；对于调用单元242根据id识别模块22的输出结果执行相应操作的具体实现过程不做限定，例如：可以将调用模块设置为用于调用地址指针，当id识别模块22的输出结果为目标id与芯片的id相匹配时，说明当前的芯片即为成像设备需要访问的目标芯片，则会控制地址指针指向当前芯片(即为目标芯片)的id匹配存储区261，以使得对当前芯片(即为目标芯片)的id匹配存储区261执行访问处理；当id识别模块22的输出结果为目标id与芯片的id不匹配时，说明当前的芯片不是成像设备需要访问的目标芯片，则会控制地址指针指向当前芯片的id不匹配存储区262，以使得对当前芯片的id不匹配存储区262执行访问处理；通过调用单元242在不同情况下调用易失性存储模块26中的不同数据存储区，实现了处理模块24与易失性存储模块26中的数据交互过程，有效地提高了数据处理的速度和效率。

当调用id匹配存储区261之后，本实施例将处理模块24设置为还包括：执行单元241；

执行单元241，用于在调用id匹配存储区261之后，若判断访问指令为读指令，则读取id匹配存储区261内存储的数据内容。

并且还可以将处理模块24设置为包括与执行单元241电连接的转存控制单元；

并将执行单元241设置为：用于在调用id匹配存储区261之后，若判断访问指令为写指令，则将访问指令中的数据内容写入到id匹配存储区261。

将转存控制单元243设置为：用于在id匹配存储区261数据发生更新后或者在芯片断电时，将id匹配存储区261的数据转存至非易失性存储模块25。

由于id匹配存储区261和id不匹配存储区262均为芯片中的易失性存储模块26中的一部分，当数据内容写入到id匹配存储区261时，并不能够保证数据内容存储的稳定可靠性；为了提高对数据内容存储的稳定可靠性，通过转存控制单元243将id匹配存储区261的数据转存至非易失性存储模块25，由于非易失性存储模块25具有稳定存储数据内容的使用特征，这样使得访问指令中的数据内容最终会转存到非易失性存储模块25中，进而有效地实现了在将访问指令中的数据内容写入到芯片中，同时通过非易失性存储模块25进行稳定存储的效果，提高了成像盒芯片的使用的稳定可靠性。

其中，在调用id匹配存储区261之后，则说明此时id识别模块22的输出结果为目标id与芯片的id相匹配，则说明当前芯片为目标芯片，并且调用单元242已经根据上述输出结果调用了id匹配存储区261，在上述情况的基础上，进一步的，当判断访问指令为读指令时，则说明成像设备的需求为读取目标芯片的数据信息，即可以使得成像设备读取该芯片id匹配存储区261中的数据内容，其中，在芯片上电后，可以预先将非易失性存储模块25中存储的至少部分数据加载到易失性存储模块26中的id匹配存储区261；这样使得成像设备可以直接读取id匹配存储区261中存储的内容信息，可以有效地减少数据读取的时间，提高了数据处理的速度和效率，并且保证了该芯片使用的稳定可靠性。

此外，在调用id不匹配存储区262之后，本实施例可以将执行单元241设置为还用于：

在调用id不匹配存储区262之后，若判断访问指令为读指令，则不执行任何读取操作。

虽然本实施例可以将执行单元241在调用id不匹配存储区262之后，若判断访问指令为读指令时设置为并不执行读取操作，优选的是，执行单元241不执行读出操作，同时也不执行写入操作，以缩减芯片的工作量，但是，基于其它数据监视目的的需要，则可以使得将执行单元241设置为还用于：

在调用id不匹配存储区262之后，若判断访问指令为读指令，则等待接收总线上的数据内容，并将数据内容写入至id不匹配存储区262。

当执行单元241设置为上述操作时，进一步还可以监控其它芯片发送至总线的数据，并将该数据接收并写入到id不匹配存储区262中，以用来分析其它芯片所发送的数据是否异常。

当访问指令的判断结果为写指令时，本实施例将执行单元241设置为还用于：

在调用id不匹配存储区262之后，若判断访问指令为写指令，则将访问指令中的数据内容写入到id不匹配存储区262。

当调用单元242已经调用id不匹配存储区262时，则说明id识别模块22的输出结果为目标id与芯片的id不匹配，那么也就是说，成像设备所要写入数据内容的芯片并不是当前的芯片，此时，若访问指令为写指令，则说明成像设备存在有写入其他芯片的数据内容，为了确定芯片通信工作是否发生异常，需要监测成像设备与其他芯片的交互数据，使得将访问指令中的数据内容写入到当前芯片的id不匹配存储区262，进而，实现了即使在目标id与芯片的id不匹配，即当前芯片并不是目标芯片时，当前芯片内部仍然存在数据通信，即访问指令中的数据内容写入到当前芯片的id不匹配存储区262，并且通过当前芯片上的id不匹配存储区262内存储的数据内容，可以获得成像设备与其他芯片之间的交互数据，扩展了该芯片的功能，同时可以有效地确定其它芯片的工作状态是否为正常工作状态，克服了现有技术中存在的不能够监控总线上的数据来判断芯片通信异常的原因的问题，有效地保证芯片使用的稳定可靠性，进一步提高了该芯片的实用性。

基于本发明的技术方案，针对现有技术中存在的问题：由于成像设备与目标成像盒之间采用id呼叫响应的通信模式，在id不匹配时，芯片不参与总线上的数据通信；同时也存在另一种情况，当目标成像盒芯片出现异常时，其它芯片仍然不参与总线上的数据通信，此时，由于没有监视总线上的通信数据，是难以根据总线上的数据来判断目标成像盒芯片的异常是由于通信数据错误引起的还是由于目标成像盒芯片内部的通信模块引起的。

本实施例所提供的芯片在id不匹配时调用id不匹配存储区，在访问指令为写指令时直接将总线上成像设备发送给其它目标芯片的数据写入至id不匹配存储区，用于监视总线上的数据，还可以在访问指令为读指令时监视其它目标芯片发送给成像设备的数据并写入至id不匹配存储区，该存储至id不匹配存储区的监视数据可以直接转存至非易失性存储模块，也可以在成像设备与目标芯片正常通讯时仅存储在id不匹配存储区中而不转存至非易失性存储模块，在通讯异常时再转存至非易失性存储模块，也可以从不转存至非易失性存储模块，而是由附加至成像设备上的或独立的附属设备通过芯片的后门直接从id不匹配存储区中读取数据进行异常分析，针对监视数据的处理方式不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，只要能够实现上述监控功能效果即可。

实施例二

图5为本发明一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图，参考附图1、5可知，本实施例的另一方面提供了一种数据处理方法，该数据处理方法的执行主体为上述实施例一所提供的成像盒芯片，芯片包括：非易失性存储模块25以及与非易失性存储模块25连接的易失性存储模块26，易失性存储模块26包括：id匹配存储区261和id不匹配存储区262，其中，易失性存储模块26用于对从成像设备的总线接收的数据内容进行暂存，非易失性存储模块25存储有成像材料的消耗量或余量等可改写数据，以及芯片的识别码(id)信息和其它与成像盒相关的只读数据等；另外，对于上述易失性存储模块26中的id匹配存储区261用于存储id匹配时的访问数据内容，id不匹配存储区262用于存储id不匹配时的访问数据内容等；

具体的，该数据处理方法包括：

s101：接收成像设备发送的访问指令，访问指令中携带有目标id；

其中，对于访问指令的具体内容、格式不做限定，例如，可以将访问指令设置为包括：id、读/写指令的呼叫信息以及要写入芯片的数据信息或将芯片存储的数据发送至总线的指令信息等；较为优选的，可以将访问指令的具体内容格式设置为如图3所示，包括：id信息部分a1和指令部分a2，其中，id信息部分a1为总线上的成像设备要求访问的成像盒识别码id，指令部分a2为总线上的成像设备对目标成像盒下达的指令，一般为读指令或写指令；具体的指令所包含的数据位数此处不做限定；或者，还可以将访问指令的具体格式内容设置为如图4所示，包括：id信息部分a1、指令部分a2以及待写数据a3，其中，待写数据a3为成像设备待写入目标芯片中的数据，id信息部分a1为总线上的成像设备要求访问的成像盒识别码id，指令部分a2为总线上的成像设备对目标成像盒下达的指令，一般为读指令或写指令；具体的指令所包含的数据位数此处不做限定，例如：可以将id信息部分a1、指令部分a2和/或待写数据a3的数据位数均设置为四位、五位或者六位等等。

s102：判断目标id与芯片的id是否匹配；

本实施例中的匹配可以为目标id与芯片的id完全相同或者目标id与芯片的id的相似度大于或等于预设阈值(预设阈值的具体范围根据具体的设计需求进行设置)，为了提高对比的精确可靠性，较为优选的，将该实施例中的匹配设置为完全相同，即判断目标id与芯片的id是否完全相同，若目标id与芯片的id完全相同，则匹配；若目标id与芯片的id不相同，则为不匹配。

s103：判断访问指令为读指令还是写指令；

其中，对于分析访问指令的具体方式不做限定，例如，可以将访问指令中设置有特征标识位，通过对访问指令中的特征标识位的分析即可确认是读指令或者是写指令。

s104：根据判断目标id与芯片的id是否匹配的判断结果和/或判断访问指令为读指令还是写指令的判断结果，对id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262进行访问处理。

由于判断输出不同的判断结果，例如：判断结果为：访问指令是读指令或者访问指令是写指令，目标id与芯片的id相匹配或者目标id与芯片的id不匹配，而在对id匹配存储区261和/或id不匹配存储区262进行控制时，会根据上述输出结果的不同组合而执行不同的操作，执行不同的操作包括：对id匹配存储区261进行访问处理和/或对id不匹配存储区262进行访问处理，其中，访问操作包括读取操作和写入操作，即读取id匹配存储区261或id不匹配存储区262内的数据内容，或者向id匹配存储区261或id不匹配存储区262写入数据内容，进而实现了芯片上的易失性存储模块26与成像设备实时进行数据通信，实现了对芯片上数据流的监测。

上述至少一部分数据的具体含义与上述实施例中的“至少一部分数据”的具体含义相同，具体可参考上述实施例中的陈述内容，在此不再赘述。

此外，本实施例中非易失性存储模块23和易失性存储模块24的具体结构与上述实施例中非易失性存储模块23和易失性存储模块24的具体结构的具体结构相同，具体结构内容可参考上述实施例中非易失性存储模块23和易失性存储模块24的具体描述，在此不再赘述。

另外，对于上述步骤102、步骤103和步骤104虽然在描述和标号上设置为步骤102至104的先后顺序，但此顺序仅是为了描述清楚整个数据处理流程所做出的排序，本领域普通技术人员应当理解的是，由于步骤102中由id识别模块22所执行的指令分析动作和步骤103中由指令判断模块23所执行的id判断动作是相互独立的，两者可以同时执行，也可以分别先后执行，只需在依据指令分析结果和/或id判断结果对易失性存储模块操作之前完成相应的动作即可；同样的，当步骤104中设置为仅需要单独根据步骤103中分析的访问指令的分析结果，或者，单独根据步骤102中判断目标id与芯片的id是否匹配的判断结果来对易失性存储模块操作时，步骤104的执行顺序也可以优先于其不需要根据的动作来执行，例如：在步骤102的id判断动作后直接执行步骤104中的根据分析的id是否匹配的分析结果来对易失性存储模块操作，然后才执行步骤103的访问指令判断动作以及后续的操作。

实施例三

图6为本发明另一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图，图7为本发明又一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图，图10为本发明又一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；在实施例二的基础上，继续参考附图6-7、10，步骤s201、s202、s204/s208分别与实施例二中的步骤s101、s102、s103相同，在此不再赘述，当在步骤s202中判断id是否匹配时，该方法进一步设置为包括：

s203：在判断结果为目标id与芯片的id相匹配时，则调用id匹配存储区261；或者，

s207：在判断结果为目标id与芯片的id不匹配时，则调用id不匹配存储区262。

其中，“调用”具体是指将从总线接收的数据写入至id匹配存储区261(或id不匹配存储区262)，或者将id匹配存储区261中的数据传输到总线上；对于根据目标id与芯片的id是否匹配的输出结果执行相应操作的具体实现过程不做限定，例如：可以将实现方法设置为用于调用地址指针，当输出结果为目标id与芯片的id相匹配时，说明当前的芯片即为成像设备需要访问的目标芯片，则会控制地址指针指向当前芯片(即为目标芯片)的id匹配存储区261，以使得对当前芯片(即为目标芯片)的id匹配存储区261执行访问处理；当输出结果为目标id与芯片的id不匹配时，说明当前的芯片不是成像设备需要访问的目标芯片，则会控制地址指针指向当前芯片的id不匹配存储区262，以使得对当前芯片的id不匹配存储区262执行访问处理；通过在不同情况下调用易失性存储模块26中的不同数据存储区，实现了成像设备与易失性存储模块26中的数据交互过程，有效地提高了数据处理的速度和效率。

在步骤s203中调用id匹配存储区之后，在步骤s204中判断访问指令为读指令还是写指令时，该方法进一步设置为还包括：

s205：若判断访问指令为读指令，则读取id匹配存储区内存储的数据内容。

s206：若判断访问指令为写指令，则将访问指令中的数据内容写入到id匹配存储区261。

此时还可以将该方法设置为包括：

s105：在id匹配存储区数据发生更新后或者在芯片断电时，将id匹配存储区的数据转存至非易失性存储模块。

当判断访问指令为写指令时，则说明需要向目标芯片的写入数据信息，即可以向该芯片中的id匹配存储区261写入数据内容，在将访问指令中的数据内容写入到id匹配存储区261中之后，由于id匹配存储区261只用于对数据进行暂存，因此，为了实现对欲写入芯片2的数据内容进行稳定存储，具体的，将方法设置为，当id匹配存储区261的数据更新后或芯片断电时，触发id匹配存储区261将至少一部分本地存储的内容转存到非易失性存储模块25，其中，id匹配存储区261内存储的数据内容包括访问指令中的数据内容，当id匹配存储区261将本地存储的内容转存到非易失性存储模块25中后，实现了非易失性存储模块25对数据的稳定存储，在保证对数据处理效率的同时，提高了数据存储的稳定可靠性。

此外，在步骤s207中调用id不匹配存储区之后，在步骤s208中判断访问指令为读指令还是写指令时，该方法进一步设置为还包括：

s209：若判断访问指令为读指令，则等待接收总线上的数据内容，并将数据内容写入至id不匹配存储区；或者，

s211：不执行任何操作。

其中，对于上述步骤s209和s211为相互并列的两个执行操作，本领域技术人员可以根据具体的设计需求来执行任意一个操作步骤，由于在已经调用id不匹配存储区262时，则说明目标id与芯片的id不匹配，此时，成像设备所要读取数据内容的芯片并不是当前的芯片，此时，为了监控其它芯片发送至总线的数据，以用来分析其它芯片所发送的数据是否异常，较为优选的，执行步骤s209的操作，等待接收总线上的数据内容，并将数据内容写入至id不匹配存储区262，进而，实现了即使在目标id与芯片的id不匹配，即当前芯片并不是目标芯片时，当前芯片内部仍然能够将成像设备总线上的数据内容写入至当前芯片的id不匹配存储区262，进而可以监测成像设备与其他芯片的数据通信内容，有效地保证芯片使用的功能效果，进一步提高了该方法的实用性。

另外，在步骤s207中调用id不匹配存储区之后，在步骤s208中判断访问指令为读指令还是写指令时，该方法进一步设置为还包括：

s210：若判断访问指令为写指令，则将访问指令中的数据内容写入到id不匹配存储区262。

当已经调用id不匹配存储区262时，则说明目标id与芯片的id不匹配，那么也就是说，成像设备所要写入数据内容的芯片并不是当前的芯片，此时，若访问指令为写指令，则说明成像设备存在有写入其他芯片的数据内容，为了确定芯片通信工作是否发生异常，需要监测成像设备与其他芯片的交互数据，使得将访问指令中的数据内容写入到当前芯片的id不匹配存储区262，进而，实现了即使在目标id与芯片的id不匹配，即当前芯片并不是目标芯片时，当前芯片内部仍然存在数据通信，即访问指令中的数据内容写入到当前芯片的id不匹配存储区262，并且通过当前芯片上的id不匹配存储区262内存储的数据内容，可以获得成像设备与其他芯片之间的交互数据，扩展了该芯片的功能，同时可以有效地确定其它芯片的工作状态是否为正常工作状态，克服了现有技术中存在的不能够监控总线上的数据来判断芯片通信异常的原因的问题，有效地保证芯片使用的稳定可靠性。

基于本发明的技术方案，针对现有技术中存在的问题：由于成像设备与目标成像盒之间采用id呼叫响应的通信模式，在id不匹配时，芯片不参与总线上的数据通信；同时也存在另一种情况，当目标成像盒芯片出现异常时，其它芯片仍然不参与总线上的数据通信，此时，由于没有监视总线上的通信数据，是难以根据总线上的数据来判断目标成像盒芯片的异常是由于通信数据错误引起的还是由于目标成像盒芯片内部的通信模块引起的。

本实施例所提供的芯片在id不匹配时调用id不匹配存储区，在访问指令为写指令时直接将总线上成像设备发送给其它目标芯片的数据写入至id不匹配存储区，用于监视总线上的数据，还可以在访问指令为读指令时监视其它目标芯片发送给成像设备的数据并写入至id不匹配存储区，该存储至id不匹配存储区的监视数据可以直接转存至非易失性存储模块，也可以在成像设备与目标芯片正常通讯时仅存储在id不匹配存储区中而不转存至非易失性存储模块，在通讯异常时再转存至非易失性存储模块，也可以从不转存至非易失性存储模块，而是由附加至成像设备上的或独立的附属设备通过芯片的后门直接从id不匹配存储区中读取数据进行异常分析，针对监视数据的处理方式不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，只要能够实现上述监控功能效果即可。实施例四

与实施例三相类似的，实施例四提供了另一种可行的数据处理方法。

图8为本发明再一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；图9为本发明再一实施例所给出的数据处理方法的流程示意图；在实施例二的基础上，继续参考附图8-9、10，步骤s301、s302、s303/s306分别与实施例二中的步骤s101、s103、s102相同，在此不再赘述，在本实施例，先执行步骤s302判断访问指令是读指令还是写指令，再执行步骤s303/s306判断目标id与芯片的id是否匹配，当在步骤s302中判断访问指令是读指令且在步骤s306中判断id是否匹配时，该方法进一步设置为包括：

s307：若判断访问指令为读指令，且目标id与芯片的id相匹配，则读取id匹配存储区内存储的数据内容。

并且，还可以将方法设置为还包括：

s308：若判断访问指令为读指令，且目标id与芯片的id不匹配，则等待接收总线上的数据内容，并将数据内容写入至id不匹配存储区262；或者，

s309：不执行任何操作。

当判断访问指令为读指令，目标id与芯片的id相匹配时，则说明此时成像设备的需求为读取目标芯片中的数据内容，则说明当前芯片为目标芯片，因此，可以通过调用当前芯片的id匹配存储区261，即可以使得成像设备读取该芯片的id匹配存储区261中的数据内容，其中，为了提高数据读取的速度和效率，在芯片上电后，可以预先将非易失性存储模块25中存储的至少部分数据加载到易失性存储模块26中的id匹配存储区261；这样使得成像设备可以直接读取id匹配存储区261中存储的内容信息；可以有效地减少数据读取的时间，提高了数据处理的速度和效率，并且保证了该芯片使用的稳定可靠性。

其中，对于上述步骤s308和s309为相互并列的两个执行操作，本领域技术人员可以根据具体的设计需求来执行任意一个操作步骤，而当指令判断模块23的输出结果为访问指令为读指令时，则说明此时成像设备需要读取目标芯片的数据内容，而当目标id与芯片的id不匹配时，则说明当前芯片不是成像设备需要读取数据内容的目标芯片，为了避免现有技术中存在的难以判断芯片不参与数据通信的原因是否是由于目标成像盒芯片内部发生异常所引发的问题，首先，调用当前芯片的id不匹配存储区262，将等待接收总线上的数据内容，并将数据内容写入至id不匹配存储区262，从而监测成像设备与其他芯片的数据通信内容，并可以根据该数据通信内容确认是否是目标成像盒芯片内部发生了异常。

当在步骤s302中判断访问指令是写指令且在步骤s303中判断id是否匹配时，该方法进一步设置为包括：

s304：若判断访问指令为写指令，且目标id与芯片的id相匹配，则将访问指令中的数据内容写入到id匹配存储区261。

并且还可以将方法设置为还包括：

s305：若判断访问指令为写指令，且目标id与芯片的id不匹配，则将访问指令中的数据内容写入到id不匹配存储区262。

当判断访问指令为写指令时，则说明此时成像设备需要向目标芯片写入数据内容，而当目标id与芯片的id相匹配时，则说明当前芯片即为成像设备需要写入数据内容的目标芯片，因此，会调用当前芯片(即为目标芯片)的id匹配存储区261，并将访问指令中的数据内容写入到id匹配存储区261，实现了成像设备向目标芯片中写入数据内容的操作，同时，由于成像设备与易失性存储模块26中的id匹配存储区261进行数据通信，有效地缩短了数据写入的时间，提高了数据处理的速度和效率，进而提高了成像盒芯片整体的市场竞争力。

当目标id与芯片的id不匹配时，则说明当前芯片不是成像设备需要写入数据内容的目标芯片，为了避免现有技术中存在的难以判断芯片不参与数据通信的原因是否是由于目标成像盒芯片内部发生异常所引发的问题，调用当前芯片的id不匹配存储区262，并将访问指令中的数据内容写入到id不匹配存储区262，实现了在当前芯片不是目标芯片时，当前芯片内部仍然存在数据通信，并且通过当前芯片上的id不匹配存储区262内存储的数据内容，可以获得成像设备与其他芯片之间的交互数据，可以有效地确定其它芯片的工作状态是否为正常工作状态，克服了现有技术中存在的不能够监控总线上的数据来判断芯片通信异常的原因的问题。

本实施例还提供了一种成像盒，包括上述任意实施例所提供的成像盒芯片，当该成像盒安装至成像设备时设置于该成像盒上的成像盒芯片通过总线连接至成像设备用于数据通信。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。