热插拔测试装置和系统的制作方法

本申请涉及测试技术，具体地，涉及用于对电子设备的热插拔功能进行测试的测试装置和系统。

背景技术：

计算机系统中的多种电子设备支持热插拔功能。例如，连接到计算机USB (Universal Serial Bus，通用串行总线)端口的诸如鼠标、U盘等设备，连接到PCIe(Peripheral Component Interconnect Express,PCIe，高速外围组件互联)总线的板卡等，支持热插拔功能。连接到PCIe总线的固态硬盘，也提供热插拔功能。

在支持热插拔功能的设备的研发及生产过程中，需要对其热插拔功能进行测试。以检验热插拔功能是否正确。为确保可靠性，热插拔测试要进行数百乃至上千次。需要专用的测试装置来实施热插拔测试。

技术实现要素：

根据本申请的第一方面，提供了根据本申请第一方面的第一热插拔测试装置，其中包括框架、控制器、被测试设备托架和电机；所述被测试设备托架用于承载待测试设备；所述被测试设备托架与所述电机的动端连接；所述电机的定端与所述框架连接；所述控制器控制所述电机驱动所述被测试设备托架沿直线方向伸出或缩回。

根据本申请的第一方面的第一热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第二热插拔测试装置，其中，所述电机是直线电机。

根据本申请的第一方面的第一或第二热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第三热插拔测试装置，其中设置至少一个所述电机。

根据本申请的第一方面的第一至第三热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第四热插拔测试装置，其中一个或多个所述电机在控制器控制下同时伸出或缩回。

根据本申请的第一方面的第一至第四热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第五热插拔测试装置，其中每个电机在控制器控制下独立地伸出或缩回。

根据本申请的第一方面的第一至第四热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第六热插拔测试装置，其中每个电机的动端均连接一个被测试设备托架。

根据本申请的第一方面的第一至第六热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第七热插拔测试装置，其中所述框架由一条边框以及在该边框两端垂直延伸的两条边框组成。

根据本申请的第一方面的第七热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第八热插拔测试装置，其中在两条边框的边缘设置连接装置。

根据本申请的第一方面的第八热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第九热插拔测试装置，其中所述连接装置用于将所述热插拔测试装置通过螺丝或卡扣可旋转地固定在服务器的外壳上。

根据本申请的第一方面的第七至第九热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第十热插拔测试装置，其中所述框架的一条边框上设置有滑轨。

根据本申请的第一方面的第十热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第十一热插拔测试装置，其中电机的定端与所述滑轨滑动连接。

根据本申请的第一方面的第十热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第十二热插拔测试装置，其中电机的定端固定连接电机座，所述电机座与所述滑轨滑动连接。

根据本申请的第一方面的第一至第十二热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第十三热插拔测试装置，其中所述控制器控制所述电机沿直线方向伸出，推动与电机连接的被测试设备托架上的被测试设备插入服务器上的被测试设备插槽中。

根据本申请的第一方面的第一至第十三热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第十四热插拔测试装置，其中所述控制器控制所述电机沿直线方向缩回，拉动与电机连接的被测试设备托架上的被测试设备从服务器上的被测试设备插槽中拔出。

根据本申请的第一方面的第一至第十四热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第十五热插拔测试装置，其中所述被测试设备托架由一条边框以及在该边框两端垂直延伸的两条平行边框组成。

根据本申请的第一方面的第十五热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第十六热插拔测试装置，其中所述被测试设备托架的所述两条平行边框用于夹持被测试设备。

根据本申请的第一方面的第十六热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第十七热插拔测试装置，其中所述控制器控制所述电机沿直线方向伸出，电机带动所述被测试设备托架，使得被测试设备托架推动被测试设备进入被测试设备插槽。

根据本申请的第一方面的第十六或第十七热插拔测试装置，提供了根据本申请第一方面的第十八热插拔测试装置，其中所述控制器控制所述电机沿直线方向缩回，电机带动所述被测试设备托架，将被测试设备从被测试设备插槽中拉出。

根据本申请的第一方面的第十五至第十八热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第十九热插拔测试装置，其中所述被测试设备托架的垂直延伸的两条边框具有不同长度，用于插入待测试设备时限位。

根据本申请的第一方面的第一至第十八热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第二十热插拔测试装置，其中控制器通过有线或无线的方式向电机提供驱动信号。

根据本申请的第一方面的第一至第十九热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第二十一热插拔测试装置，其中控制器获取电机的位置信号。

根据本申请的第一方面的第一至第二十热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第二十二热插拔测试装置，其中控制器控制电机伸出或缩回的速度和/或长度，以模拟热插拔过程的动作或抖动。

根据本申请的第一方面的第一至第二十二热插拔测试装置之一，提供了根据本申请第一方面的第二十三热插拔测试装置，其中控制器耦合到计算机，接收计算机提供的对热插拔测试的控制信号，和/或向计算机提供热插拔测试的实施情况。

根据本申请的第二方面，提供了根据本申请第二方面的第一热插拔测试系统，其中包括热插拔测试装置，还包括服务器和被测试设备。

根据本申请的第二方面的第一热插拔测试系统，提供了根据本申请第二方面的第二热插拔测试系统，其中被测试设备设置一个或多个。

根据本申请的第二方面的第一热插拔测试系统，提供了根据本申请第二方面的第三热插拔测试系统，其中服务器设置有被测试设备插槽，被测试设备被设置在服务器的被测试设备插槽中。

根据本申请的第二方面的第一热插拔测试系统，提供了根据本申请第二方面的第四热插拔测试系统，其中所述被测试设备为固态硬盘、网卡、机械硬盘、 U盘或USB连接器。

根据本申请的第二方面的第一热插拔测试系统，提供了根据本申请第二方面的第五热插拔测试系统，其中所述热插拔测试装置固定或可旋转地连接在服务器上。

采用本申请提供的热插拔测试装置，能够实现全自动的多次热插拔测试操作，更加方便快捷的完成热插拔测试。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型提供的热插拔测试系统的示意图；

图2是本实用新型提供的热插拔测试装置的示意图。

具体实施方式

下面结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

图1展示了根据本申请实施例的热插拔测试系统的示意图。

以固态硬盘为例，作为被测试设备。一块或多块固态硬盘(未示出)被设置在服务器110的固态硬盘插槽中。图1的箭头方向指示了固态硬盘被从服务器110拔出的方向，而箭头方向的反方向是固态硬盘被插入服务器110的方向。在热插拔测试中，通过反复将固态硬盘从服务器110拔出并插入服务器110，以测试固态硬盘的热插拔功能。可以理解地，除了将固态硬盘作为测试设备，根据本申请实施例的热插拔测试装置也用于测试诸如网卡、机械硬盘、U盘、USB连接器等电子设备。

根据本申请的实施例的热插拔测试装置可被固定到服务器110，以对固态硬盘实施热插拔测试。热插拔测试装置包括框架120。框架120用于承载控制器122、一个或多个直线电机124以及一个或多个固态硬盘托架126。框架120 还包括连接装置，用于将框架120连接和/或固定到服务器120的外壳。图1 中，框架120大体呈矩形，包括3个边，矩形的第四边由服务器110的外壳提供。控制器122被设置在框架120上，控制器向一个或多个直线电机124 提供控制信号，以驱动直线电机124伸出(Extend)或缩回(Retract)，可选地，控制器还获取直线电机124的当前位置。

热插拔测试装置包括一个或多个直线电机124。直线电机124被固定到框架120。可选地，直线电机被固定到框架120提供的滑轨128。直线电机124 可沿着滑轨128移动。一个例子中，服务器110包括多个固态硬盘插槽，通过沿滑轨128移动，使得一个或多个直线电机的124改变所操作的固态硬盘。直线电机通过可选地电机座固定到滑轨128。电机座上可设置一个或多个直线电机124。电机座还可沿滑轨128移动。

在控制器122控制下，多个直线电机124可同时伸出或缩回，以简化控制过程。在另一个例子中，多个直线电机124的每个独立地伸出或缩回，以各自控制对应的固态硬盘的插入或拔出。

直线电机124的每个连接到对应的固态硬盘托架126，并驱动固态硬盘托架126沿直线运动。响应于直线电机124伸出，对应的固态硬盘托架126被推向服务器110，从而使得固态硬盘托架所承载的驱动器被插入服务器110；响应于直线电机124缩回，固态硬盘托架126被拉向远离服务器110的方向，从而使得固态硬盘托架所承载的驱动器被从服务器110拉出。通过使固态硬盘从服务器110拉出和/或插入服务器110，重现了对固态硬盘的插拔过程。当服务器110处于开机状态下，通过对固态硬盘插拔过程的重现来测试固态硬盘的热插拔功能是否正确。

固态硬盘托架126用于持有固态硬盘，从而通过移动固态硬盘托架126，对应的固态硬盘随之移动。固态硬盘托架126由3个边框构成。其中2个边框彼此平行，用于沿固态硬盘的高边与长边持有固态硬盘，另一个边框用于连接直线电机124。固态硬盘托架126有一个或多个，图1的例子中，每个固态硬盘托架126用于持有一个固态硬盘。在可选的实施方式中，每个固态硬盘托架126持有多个固态硬盘，而每个直线电机124用于驱动单一的固态硬盘托架126。

在图1的例子中，固态硬盘托架126的边框开口沿竖直方向。在可选的实施方式中，例如，以服务器110的长宽方向为水平方向，固态硬盘被插入服务器110时，固态硬盘的长宽边构成的平面沿水平方向，相应地，固态硬盘托架126的边框开口方向也沿水平方向，以便于持有并插拔固态硬盘。以及可选地，在框架120上，沿竖直方向设置滑轨，使得直线电机124根据滑轨沿竖直方向移动。

在依然可选的实施方式中，服务器110的固态硬盘插槽朝向竖直方向或同竖直方向呈一定角度的方向开口。相应地，设置热插拔测试装置的框架、直线电机以及固态硬盘托架126，使得固态硬盘托架126的边框开口方向朝向固态硬盘插槽的开口方向，从而通过驱动直线电机，使得固态硬盘托架推动固态硬盘进入固态硬盘插槽或将固态硬盘从固态硬盘插槽中拉出。例如，框架 120同服务器110的壳体可旋转地连接，通过绕框架120与服务器110的壳体的连接点的轴旋转而使得固态硬盘托架126的开头朝向固态硬盘插槽的开头方向。

图2展示了根据本申请实施例的热插拔测试装置的示意图。

热插拔测试装置包括框架(图2未示出)、滑轨128、通过电机座固定到滑轨的一个或多个直线电机124，同直线电机124耦合并由直线电机124驱动的固态硬盘托架126，以及控制器122。

控制器122驱动直线电机124伸出或缩回。控制器122通过有线或无线的方式向直线电机124提供驱动信号，并可选地获取直线电机124的位置信号。可选地控制器122还控制直线电机124伸出或缩回的速度和/或长度，以更精确地模拟热插拔过程的动作或抖动。依然可选地，控制器122耦合到计算机，以接收计算机提供的对热插拔测试的控制信号，和/或向计算机提供热插拔测试的实施情况。

固态硬盘框架126包括例如3个边框，用于持有固态硬盘的两个彼此平行的边框具有可选地不同长度。从而较长的边框起到限位作用，较长的边框在被推动到固态硬盘插槽内部一定距离后，将接触固态硬盘插槽的底部，并阻止固态硬盘框架与固态硬盘被进一步推进固态硬盘插槽，从而避免在插入固态硬盘过程中因施加的力量过大而损坏固态硬盘插槽和/或固态硬盘本身。

在根据本申请的又一实施例中，使用传统的旋转电机作为驱动器，并通过传动机构在直线方向上驱动固态硬盘托架126。

虽然当前实用新型参考的示例被描述，其只是为了解释的目的而不是对本申请的限制，对实施方式的改变，增加和/或删除可以被做出而不脱离本申请的范围。

这些实施方式所涉及的、从上面描述和相关联的附图中呈现的教导获益的领域中的技术人员将认识到这里记载的本申请的很多修改和其他实施方式。因此，应该理解，本申请不限于公开的具体实施方式，旨在将修改和其他实施方式包括在所附权利要求书的范围内。尽管在这里采用了特定的术语，但是仅在一般意义和描述意义上使用它们并且不是为了限制的目的而使用。