Ip功能模块的替换方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及集成电路制造设备技术领域，尤其是一种IP功能模块的替换方法。
【背景技术】
[0002]在半导体集成电路(Integrated Circuit，IC)的制造过程中，需要对IP功能模块在不同工艺制程的芯片上进行转换和对接，现有技术中，主要是依靠人工目视对比及手工逐层画版图来实现。
[0003]利用人工目视的方式实现IP功能模块的转换和对接，耗费大量的人工和时间，一般情况下，可能需要三个版图工程师全职工作三个月才能完成一次，效率低下。而且错误率高，良率低，不能及时并正确有效的实现芯片上IP功能模块的更换。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提供一种IP功能模块的替换方法，以解决现有技术中人工操作而造成的效率低、良率低的问题。
[0005]为了达到上述目的，本发明提供了一种IP功能模块的替换方法，包括以下步骤:
[0006]将一芯片上的第一 IP功能模块的基本单元图形按照所述基本单元图形的形状和功能属性进行分类，并建立所述第一 IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第一映射表；
[0007]将第二 IP功能模块的基本单元图形按照所述第一 IP功能模块的基本单元图形的形状和功能属性进行分类，并建立所述第二 IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第二映射表；
[0008]用所述第二映射表替换所述第一映射表，实现用所述第二IP功能模块替换所述芯片上的所述第一 IP功能模块。
[0009]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，将一芯片上的第一 IP功能模块的基本单元图形按照所述基本单元图形的功能属性进行分类，并建立所述第一 IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第一映射表的步骤包括:
[0010]将所述第一 IP功能模块分解为基本单元图形；
[0011]提取所述第一 IP功能模块的所有基本单元图形边框的尺寸；
[0012]根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类；
[0013]对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类。
[0014]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类的步骤包括:
[0015]将尺寸相同的所述基本单元图形归为一类。
[0016]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类的步骤包括:
[0017]对同一类型中的所有基本单元图形进行一一比对，将形状完全相同的基本单元图形归为一类；
[0018]根据每一类基本单元图形的功能属性直至所述第二次分类的每一类别中所包含的基本单元都具有相同的尺寸和功能属性为止，并建立该类基本单元图形和该类基本单元图形的功能名称的第一映射表。
[0019]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，将第二 IP功能模块的基本单元图形按照所述第一 IP功能模块的基本单元图形的功能属性进行分类，并建立所述第二 IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第二映射表的步骤包括:
[0020]将所述第二 IP功能模块分解为基本单元图形；
[0021]提取所述第二 IP功能模块的所有基本单元图形边框的尺寸；
[0022]根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类；
[0023]对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类。
[0024]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类的步骤包括:
[0025]将尺寸相同的所述基本单元图形归为一类。
[0026]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类的步骤包括:
[0027]对同一类型中的所有基本单元图形进行一一比对，将形状完全相同的基本单元图形归为一类；
[0028]根据每一类基本单元图形的功能属性，直至所述第二次分类的每一类别中所包含的基本单元都具有相同的尺寸和功能属性为止，并建立该类基本单元图形和该类基本单元图形的功能名称的第二映射表。
[0029]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，所述IP功能模块的替换方法还包括:
[0030]优化所述芯片上的所述第二 IP功能模块接口的金属互连线。
[0031]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，所述IP功能模块的替换方法还包括:
[0032]对所述芯片进行检查和修复。
[0033]优选的，在上述的IP功能模块的替换方法中，对所述芯片进行检查和修复的步骤包括:
[0034]对所述芯片进行设计规则的检查和修复；
[0035]对所述芯片进行连接关系的检查和修复。
[0036]在本发明提供的一种IP功能模块的替换方法中，根据IP功能模块的基本单元图形的形状和功能属性，建立两个不同工艺制程的IP功能模块的基本单元图形和与所述基本单元图形对应的功能名称的映射表，即第一 IP功能模块的第一映射表，和第二 IP功能模块的第二映射表，然后用所述第二映射表替换所述第一映射表，从而可以实现用所述第二IP功能模块替换所述第一 IP功能模块的目的。此方法自动化程度高，可重复使用，提高了效率，并减少了人工误差，从而拓宽了 IP功能模块的应用范围。
【附图说明】
[0037]图1为本发明实施例提供的IP功能模块的替换方法的流程图；
[0038]图2为图1中步骤SI的流程图；
[0039]图3为图1中步骤S2的流程图。
【具体实施方式】
[0040]申请人研宄发现，对于相同功能的IP功能模块，不同工艺制程的IP功能模块所要实现的功能是相同的，仅仅是由于工艺不同而造成不同工艺制程的IP功能模块的基本单元图形不同，进一步的，申请人还发现，用于存储器上的IP功能模块的基本单元图形的形状种类很少，基于此，申请人提出可以根据所述IP功能模块的基本单元图形和功能不同对所述IP功能模块的基本单元图形进行分类，然后实现将相同功能的基本单元图形进行替换，即可实现不同工艺制程的IP功能模块的替换。
[0041]下面将结合示意图对本发明的【具体实施方式】进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0042]本发明实施例提供了一种IP功能模块的替换方法，如图1所示，包括以下步骤:
[0043]S1:将一芯片上的第一 IP功能模块的基本单元图形按照所述基本单元图形的形状和功能属性进行分类，并建立所述第一 IP功能模块的所述基本单元图形和所述基本单元图形的功能名称的第一映射表。
[0044]存储器对应的IP功能模块在版图(Layout)中是通过一个或者多个底层的基本单元图形大量规则重复排列而成的。当需要用第二 IP功能模块替换所述芯片上的所述第一IP功能模块时，首先，需要将所述第一 IP功能模块分解成基本单元图形，然后将这些基本单元图形进行分类，使得每一类中的基本单元图形完全相同。
[0045]进一步的，由于每一种基本单兀图形均有其特定的功能，而且完全相同的基本单元图形的功能完全相同，也就是说，经过分类后，每一类的基本单元图形完全相同，而且该类中的完全相同的基本单元图形的所是实现的功能也是完全相同的，进一步的说，每一类的基本单元图形实现一种功能，而且这种功能也是唯一的，因此，每一类的基本单元图形就和该类基本单元图形所实现的功能就具有一一对应关系，基于这种对应关系，就可以建立出每一类基本单元图形和该类基本单元图形的功能的映射表。
[0046]具体的，如图2所示，包括以下步骤:
[0047]Sll:将所述第一 IP功能模块分解为基本单元图形。
[0048]将所述第一 IP功能模块分解成最底层的基本单元图形，也就是说，所述基本单元图形不能再次分解。
[0049]S12:提取所述第一 IP功能模块的所有基本单元图形边框的尺寸。
[0050]将所述第一 IP功能模块分解为基本单元图形后，需要对这些基本单元图形进行分类，而且要进行两次分类，第一次分类的标准就是所述基本单元图形的边框的尺寸，就是根据所述基本单元图形的边框的大小尺寸，因此先要提取出所述基本单元图形边框的大小尺寸。
[0051]S13:根据提取所得的所述基本单元图形边框的尺寸对所述基本单元图形进行第一次分类。
[0052]根据步骤S12所提取的所述基本单元图形边框的大小尺寸，对这些基本单元图形进行分类。
[0053]具体的，就是边框尺寸大小相同的基本单元图形归为一类，也就是说在所述第一次分类后，所述基本单元图形就被分成多个类别，这里的类别为第一次分类的类别，在第一次分类的每一个类别中，所有基本单元图形的边框大小尺寸相等。然后需要对第一次分类的每一个类别中的基本单元图形进行第二次分类。
[0054]S14:对经过第一分类后同一类型的基本单元图形进行第二次分类。
[0055]在完成步骤S13中的第一次分类后，所述第一 IP功能模块的基本单元图形被分为多个类别，而且在第一次分类的每一个类别中的所有基本单元图形的边框的大小尺寸相等。但是在第一次分类的每一个类别中的所有基本单元图形的形状不一定相同，因此，需要对第一次分类的每一个类别中的所有基本单元图形进行第二次分类。
[0056]具体的，对于第一次分类的每一个类别，将该类别中的第一个基本单元图形从第二个基本单元图形开始一一比对，找出与该类别中的所述第一个基本单元图形形状相同的所有基本单元图形，并将所述第一个基本单元图形以及和所述第一个基本单元图形相同的所有基本单元图形作为一类，作为第一次分类的一个类别的一个子类。然后再去找与下一个基本单元图形的形状相同的基本单元图形，也就是说对第一次分类的一个类别中的所有基本单元图形进行一一比对，直到第一次分类的一个类别中的所