一种信息处理方法及电子设备的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及通讯技术，尤其设及一种信息处理方法及电子设备。
【背景技术】
[0002] 本申请发明人在实现本申请实施例技术方案的过程中，至少发现相关技术中存在 如下技术问题：
[0003] 数据存储安全性的一个因素是用于存储数据的硬盘不能损耗过快，存在过多损坏 的数据块，俗称为"坏块"。如果存储数据的硬盘在读取和写入操作作用下损耗过快，存在过 多"坏块"，则在"坏块"位置存储的数据就无法正常读取了，不利于用户的使用。
[0004] 一种用于存储数据的固态硬盘是基于闪存的数据存储设备，其中的每个数据块都 具有损耗性，擦除次数有限。如果当某个块的擦除次数达到上限，容易导致"坏块"的出现， 使得固态硬盘的整体性能将会大打折扣，需要使固态硬盘中所有数据块的擦除次数尽可能 地均匀，从而避免损坏过快，W延长固态硬盘的平均寿命，减少坏块的出现。
[0005] 然而，相关技术中，对于该问题，采用的方案是基于数据块的状态一直不会变的静 态均衡机制，也就是说，擦除使用次数少的数据块称为冷数据，它的状态一直是"冷"，擦除 使用次数多的数据块称为热数据，它的状态一直是"热"，实际上数据块的状态是会发现变 化的，因此，所述基于数据块的状态一直不会变的静态均衡机制得到的结果不准确，并不是 个有效的解决方案。
【发明内容】
[0006] 有鉴于此，本发明实施例希望提供一种信息处理方法及电子设备，至少解决了现 有技术存在的问题，使固态硬盘中所有数据块的擦除次数尽可能地均匀，从而避免损坏过 快，W延长固态硬盘的平均寿命，减少坏块的出现。
[0007] 本发明实施例的技术方案是运样实现的：
[0008] 本发明实施例的一种信息处理方法，所述方法应用于电子设备中，所述电子设备 具备用于数据存储的存储器件，所述存储器件中包括N个存储区域，所述N为大于1的自然 数；所述方法包括：
[0009] 监测预定时间间隔内每个存储区域的数据操作次数；
[0010] 基于所述操作次数标记所述存储区域；
[0011] 基于所述操作次数获取每个存储区域在所述预定时间间隔内数据操作的变化参 数；
[0012] 根据所述标记W及所述数据操作的变化参数形成对于所述存储区域的数据迁移 策略；
[0013] 根据所述迁移策略进行数据迁移。
[0014] 上述方案中，所述数据操作的变化参数包括：用于表征每个存储区域随着所述操 作次数的变化导致数据状态发生变化所形成的参数，并将其记为加速度参数。
[0015] 上述方案中，所述基于所述操作次数标记所述存储区域，包括：对所述存储区域根 据所述操作次数进行标记时，将所述操作次数大于第一阔值的存储区域标记为第一类，将 所述操作次数小于第一阔值的存储区域标记为第二类。
[0016] 上述方案中，所述根据所述标记W及所述数据操作的变化参数形成对于所述存储 区域的数据迁移策略，包括：所述加速度参数大于第二阔值的第一类的数据和所述加速度 参数小于第二阔值的第二类的数据进行数据迁移。
[0017] 上述方案中，所述根据所述标记W及所述数据操作的变化参数形成对于所述存储 区域的数据迁移策略，包括：所述加速度参数小于第二阔值的第一类的数据和所述加速度 参数大于第二阔值的第二类的数据不进行数据迁移。
[0018] 上述方案中，所述根据所述标记W及所述数据操作的变化参数形成对于所述存储 区域的数据迁移策略，包括：所述第一类的数据其加速度小于第=阔值，所述第二类的数据 其加速度大于第四阔值时，不进行数据迁移；其中，第=阔值小于第二阔值，第四阔值大于 第二阔值。
[0019] 上述方案中，所述根据所述迁移策略进行数据迁移，包括：
[0020] 将所述第一类的数据与所述第二类的数据进行置换，W完成所述数据迁移。
[0021] 本发明实施例的一种电子设备，所述电子设备具备用于数据存储的存储器件，所 述存储器件中包括N个存储区域，所述N为大于1的自然数；所述电子设备还包括：处理 器；
[0022] 所述处理器，用于：
[0023] 监测预定时间间隔内每个存储区域的数据操作次数；
[0024] 基于所述操作次数标记所述存储区域；
[0025] 基于所述操作次数获取每个存储区域在所述预定时间间隔内数据操作的变化参 数；
[00%] 根据所述标记W及所述数据操作的变化参数形成对于所述存储区域的数据迁移 策略；
[0027] 根据所述迁移策略进行数据迁移。
[0028] 上述方案中，所述数据操作的变化参数包括：用于表征每个存储区域随着所述操 作次数的变化导致数据状态发生变化所形成的参数，并将其记为加速度参数。
[0029] 上述方案中，所述处理器，进一步用于对所述存储区域根据所述操作次数进行标 记时，将所述操作次数大于第一阔值的存储区域标记为第一类，将所述操作次数小于第一 阔值的存储区域标记为第二类。
[0030] 上述方案中，所述处理器，进一步用于形成所述数据迁移策略，所述数据迁移策略 包括：所述加速度参数大于第二阔值的第一类的数据和所述加速度参数小于第二阔值的第 二类的数据进行数据迁移。
[0031] 上述方案中，所述处理器，进一步用于形成所述数据迁移策略，所述数据迁移策略 包括：所述加速度参数小于第二阔值的第一类的数据和所述加速度参数大于第二阔值的第 二类的数据不进行数据迁移。
[0032] 上述方案中，所述处理器，进一步用于形成所述数据迁移策略，所述数据迁移策略 包括：所述第一类的数据其加速度小于第=阔值，所述第二类的数据其加速度大于第四阔 值时，不进行数据迁移；其中，第=阔值小于第二阔值，第四阔值大于第二阔值。
[0033] 上述方案中，所述处理器，进一步用于将所述第一类的数据与所述第二类的数据 进行置换，W完成所述数据迁移。
[0034] 本发明实施例的信息处理方法应用于电子设备中，所述电子设备具备用于数据存 储的存储器件，所述存储器件中包括N个存储区域，所述N为大于1的自然数；所述方法包 括：监测预定时间间隔内每个存储区域的数据操作次数；基于所述操作次数标记所述存储 区域；基于所述操作次数获取每个存储区域在所述预定时间间隔内数据操作的变化参数； 根据所述标记W及所述数据操作的变化参数形成对于所述存储区域的数据迁移策略；根据 所述迁移策略进行数据迁移。
[0035] 采用本发明实施例，由于能基于所述操作次数标记所述存储区域，并获取所述预 定时间间隔内数据操作的变化参数，根据运两个指标来生成数据迁移策略，W便根据该数 据迁移策略进行数据迁移，运种动态的调整可W使固态硬盘中所有数据块的擦除次数尽可 能地均匀，达到避免损坏过快，W延长固态硬盘的平均寿命，减少坏块的出现的有益效果。
【附图说明】
[0036] 图1为本发明方法实施例一的一个实现流程示意图；
[0037] 图2为本发明方法实施例二的一个实现流程示意图；
[0038] 图3为本发明方法实施例=的一个实现流程示意图；
[0039] 图4为本发明方法实施例四的一个实现流程示意图；
[0040] 图5为本发明电子设备实施例的一个组成结构示意图；
[0041] 图6-7为应用本发明实施例的一应用场景的示意图。
【具体实施方式】
[0042] 下面结合附图对技术方案的实施作进一步的详细描述。 阳0创方法实施例一：
[0044] 本发明实施例的一种信息处理方法，所述方法应用于电子设备中，所述电子设备 具备用于数据存储的存储器件，所述存储器件中包括N个存储区域，所述N为大于1的自然 数；如图1所示，所述方法包括： W45] 步骤101、监测预定时间间隔内每个存储区域的数据操作次数。
[0046] 运里，由于对存储区域的操作次数会导致存储区域（或称为数据块）的状态随着 时间变化发生状态迁移，如果存储区域（或称为数据块）的初始状态为冷数据状态，则随着 时间变化对该存储区域（或称为数据块）的操作次数越多，会由冷数据状态变为热数据状 态；如果存储区域（或称为数据块）的初始状态为热数据状态，则随着时间变化对该存储区 域（或称为数据块）的操作次数越少，会由热数据状态变为冷数据状态。
[0047] 本步骤中的所述操作次数作为生成迁移策略的第一指标。
[0048] 步骤102、基于所述操作次数标记所述存储区域。
[0049] 运里，对所述存储区域根据所述操作次数进行标记时，将所述操作次数大于第一 阔值的存储区域标记为第一类，将所述操作次数小于第一阔值的存储区域标记为第二类。
[0050] 标记为第一类的数据，其状态即为步骤101中提及的热数据状态；标记为第二类 的数据，其状态即为步骤101中提及的冷数据状态，则第一类的数据所在的存储区域也可W称为热数据块，第二类的数据所在的存储区域也可W称为冷数据块。
[0051] 步骤103、基于所述操作次数获取每个存储区域在所述预定时间间隔内数据操作 的变化参数。
[0052]