系统，用于接收性能测试单元得出的测试结果并对性能测试单元中的预存标准值单元进行相应的控制。
[0041]具体地，在硬件结构上，性能测试控制电路单元和主控电路单元之间采用收和发的串行通信模式。即性能测试控制电路单元包括光纤接收器、输入缓冲滤波电路、可编程逻辑器件、输出缓冲器和光纤发送器，输入缓冲滤波电路的结构如图3所示，光纤接收器接收数据存储单元输出的信号(通过光电信号)，信号经过输入缓冲滤波电路输入给可编程逻辑器件，可编程逻辑器件解析信号，根据信号的不同的命令内容，生成相应的应答及控制信息，应答及控制信息依次经输出缓冲器和光纤发送器发送给主控电路单元。
[0042]性能测试控制电路单元具有地址拨动开关，可编程逻辑器件接收的信号中的地址数据一定要和地址拨位开关中的数据一致。用地址拨位开关的目的是要保证不同性能测试控制电路单元中的可编程逻辑器件程序是一模一样，不同的地址数据从程序中被剥离出来了，简化对电路板的维护。
[0043]在通讯协议上，性能测试控制电路单元和主控电路单元之间采用数据帧的方式进行通信，数据帧的格式为包括帧头，地址，命令数据，校验位和应答数据。帧头是用来标识一帧数据的起始；地址是性能测试结果的地址，不同的性能测试有不同的地址，用于和性能测试控制电路单元上的地址拨位开关中的数据进行比较；命令数据是主控电路单元要和性能测试控制电路单元的通讯内容，包括要求发送测试性能数据或者三极管Q1，三极管Q2，三极管Q3和三极管Q4的开关控制命令。若因某种原因，如电磁干扰或者主控制板故障，造成地址错误或者校验错误，性能测试控制电路板必须在应答数据中发送错误提示和重发要求。
[0044]性能测试控制系统对预存标准值单元的三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4的合格与否判断控制具体为:当控制三极管Q1，三极管Q2导通，同时三极管Q3和三极管Q4处于截止状态时，数据处理单元的输出端T的波形是单柱状；当三极管Q3和三极管Q4导通，同时三极管Q1和三极管Q2处于截止状态时，数据处理单元的输出端T的波形是双柱状；当三极管Q1和三极管Q3导通，同时三极管Q4和三极管Q2处于截止状态时，数据处理单元的输出端T的波形是三柱状；当三极管Q1，三极管Q3和三极管Q4导通，同时三极管Q2处于截止状态时，数据处理单元的输出端T的波形是正弦波；当三极管Q1，三极管Q2，三极管Q3和三极管Q4全部导通时，数据处理单元的输出端T的波形是一根直线。
[0045]另外，由于Η桥中的三极管Q1，三极管Q2，三极管Q3和三极管Q4工作在频繁的导通和截止状态，导通和截止的时候都会有一定的功率损耗，损耗的功率转化成热量会造成性能测试单元整体的温度上升，如果性能测试单元散热状况不好(如整机换风通道出现问题，外部空气环境温度过高等因素均可能导致这种现象出现)，长时间运行后不可避免地造成工作温度过高从而损坏元器件的现象。
[0046]本发明根据预先储存标准值的功率损耗与预先储存标准值的驱动波形Vge和预先储存标准值的工作温度相关的理论，在综合考虑电感等因素情况下，增加预先储存标准值的合格驱动波形Vge，从而减小预先储存标准值合格时候的功率损耗，同时增加后的预先储存标准值的合格波形都是固定在一个厂家认为的安全值。
[0047]具体实现时，可通过将预先储存标准值的温度信号传送到可编程逻辑器件，可编程器件根据实现测试温度和Vge之间的关系来调整预先储存标准值合格波形Vge的大小，可编程逻辑器件的输出信号再依次经光电隔离、数字模拟转换后最终输出调整预先储存标准值的合格Vge波形。
[0048]同时，可编程器件还可以通过接收主控电路单元上的信号来主动优化Vge，这样在驱动不同型号的预先储存标准值的时候不需要更换电路板上的元器件。
[0049]参见图5，其示出了预先储存标准值的集电极导通电流Ic和合格波形Vge之间在不同温度Tj下的传输特性的例子，本实施例仅示出了 Vce不变，Tj在125°C和25°C的情况，在其余的温度下有相同的物理现象，说明了在不同的温度下面，微调整Vge，就可以调整预先储存标准值的合格损耗，其中，合格损耗=Vce*Ic。Vge变化的情况下，如果Vce不变，则Ic变化。如果Ic不变，则Vce变化。即无论何种情况，均能调节合格损耗。
[0050]本发明还提供了一种建筑幕墙整治评估方法，包括以下步骤:
[0051]S1，对被测对象进行物理性能测试，得到相应的性能测试数据，所述被测对象包括结构胶、钢结构、预埋件和幕墙面板；
[0052]S2，对所述性能测试数据进行数据处理；
[0053]S3，将处理后的所述性能测试数据与预存的标准值进行全波数据对比，得出最终的测试结果，并对所述测试结果进行存储；
[0054]S4，将存储的所述测试结果输出给所述性能测试控制电路单元进行解析，并生成相应的应答及控制信息给所述主控电路单元；
[0055]S5，所述主控电路单元发送要求发送性能测试的所述测试结果的控制命令或者控制所述预存标准值单元的通断的命令。
[0056]本发明的技术内容及技术特征已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本发明的教示及揭示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰，因此，本发明保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本发明的替换及修饰，并为本专利申请权利要求所涵盖。
【主权项】
1.一种建筑幕墙整治评估系统，其特征在于，包括性能测试单元、性能测试控制电路单元和主控电路单元，所述性能测试单元包括依次相连的被测对象性能测试单元、数据处理单元、全波数据对比单元、数据存储单元和预存标准值单元，所述性能测试单元的输出端接至所述性能测试控制电路单元，所述性能测试控制电路单元与所述主控电路单元之间光纤连接。2.根据权利要求1所述的建筑幕墙整治评估系统，其特征在于，所述被测对象性能测试单元包括结构胶性能测试单元、钢结构性能测试单元、预埋件性能测试单元和幕墙面板性能测试单元。3.根据权利要求2所述的建筑幕墙整治评估系统，其特征在于，所述结构胶性能测试单元、钢结构性能测试单元、预埋件性能测试单元和幕墙面板性能测试单元分别为红外光谱仪、智能测厚仪、智能拉力机和物理三性测试平台。4.根据权利要求2或3所述的建筑幕墙整治评估系统，其特征在于，每一所述被测对象性能测试单元接一所述数据处理单元。5.根据权利要求1所述的建筑幕墙整治评估系统，其特征在于，所述预存标准值单元为由第一组桥臂和第二组桥臂组成的Η桥，所述第一组桥臂由第一三极管和第二三极管构成，所述第二组桥臂由第三三极管和第四三极管构成。6.根据权利要求1所述的建筑幕墙整治评估系统，其特征在于，所述性能测试控制电路单元包括光纤接收器、输入缓冲滤波电路、可编程逻辑器件、输出缓冲器和光纤发送器，所述光纤接收器接收所述数据存储单元输出的信号，所述信号经过所述输入缓冲滤波电路输入给所述可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件解析所述信号并生成相应的应答及控制信息，所述应答及控制信息依次经所述输出缓冲器和光纤发送器发送给所述主控电路单J Li ο7.一种利用权利要求1所述的建筑幕墙整治评估系统进行建筑幕墙整治评估方法，其特征在于，包括以下步骤: S1，对被测对象进行物理性能测试，得到相应的性能测试数据，所述被测对象包括结构胶、钢结构、预埋件和幕墙面板； S2，对所述性能测试数据进行数据处理； S3，将处理后的所述性能测试数据与预存的标准值进行全波数据对比，得出最终的测试结果，并对所述测试结果进行存储； S4，将存储的所述测试结果输出给所述性能测试控制电路单元进行解析，并生成相应的应答及控制信息给所述主控电路单元； S5，所述主控电路单元发送要求发送性能测试的所述测试结果的控制命令或者控制所述预存标准值单元的通断的命令。8.根据权利要求7所述的建筑幕墙整治评估方法，其特征在于，所述预存标准值单元为由第一组桥臂和第二组桥臂组成的Η桥，所述第一组桥臂由第一三极管和第二三极管构成，所述第二组桥臂由第三三极管和第四三极管构成。9.根据权利要求8所述的建筑幕墙整治评估方法，其特征在于，所述步骤S5中，所述主控电路单元控制所述预存标准值单元的通断具体为:控制第一三极管、第二三极管的导通且第三三极管、第四三极管的截止或控制第一三极管、第二三极管的截止且第三三极管、第四三极管的导通或控制第一三极管、第三三极管的导通且第二三极管、第四三极管的截止或控制第一三极管、第三三极管、第四三极管的导通且第二极管的截止或控制第一三极管、第二三极管、第三三极管、第四三极管的全部导通。
【专利摘要】本发明揭示了一种建筑幕墙整治评估方法及系统，该方法包括对被测对象进行物理性能测试，得到相应的性能测试数据，所述被测对象包括结构胶、钢结构、预埋件和幕墙面板；对性能测试数据进行数据处理；将处理后的性能测试数据与预存的标准值进行全波数据对比，得出最终的测试结果，并对测试结果进行存储；对存储的测试结果进行解析，并生成相应的应答及控制信息。本发明将建筑幕墙的预埋件、结构胶、钢结构以及幕墙面板的性能测试构成一个整体，通过对不同材料的性能、寿命以及疲劳测试，结合自动控制、数据处理系统的分析，从而得到一个科学、便捷易行的整治评估方法。
【IPC分类】E04B2/88, G06Q50/08
【公开号】CN105405075
【申请号】CN201410471927
【发明人】徐勤, 王骅, 唐雅芳, 刘雄, 徐龙涛
【申请人】上海市建筑科学研究院(集团)有限公司, 上海光赢能源科技有限公司
【公开日】2016年3月16日
【申请日】2014年9月16日