一种靶环线定位的方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种靶环线定位的方法及装置，包括：确定TN时刻的第TN精确的靶环线图像，第TN精确的靶环线图像包括TN时刻的靶心坐标，N为大于0的自然数；获取TN时刻的第TN粗定位的靶环线图像，第TN粗定位的靶环线图像包括以TN时刻的靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线；在需要确定第TN+1精确的靶环线图像时，获取TN+1时刻的第TN+1靶面图像；在第TN+1靶面图像上按第TN粗定位的靶环线图像的各靶环线进行搜索；根据搜索到的第TN+1靶面图像的各靶环线像素点拟合得到TN+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像。采用本方案可以提高靶环线定位过程的实时性和鲁棒性。
【专利说明】
一种靶环线定位的方法及装置
技术领域
[0001] 本发明涉及图像处理技术领域，特别涉及一种靶环线定位的方法及装置。
【背景技术】
[0002] 报靶是射击训练的重要环节，传统的人工报靶成本高、效率低且安全性差。随着信 息技术的不断发展，采用基于图像处理技术实现自动报靶，既可以提高效率又有效降低了 人工监视报靶的危险程度。目前，自动报靶系统中的靶面环线定位方法主要涉及帧差、形态 学滤波以及畸变矫正等方法。
[0003] 图1为靶环线定位流程图，如图所示，主要包括图像分割、靶位粗提取、形态学滤 波、区域标记、靶面畸变矫正、靶环线定位。具体介绍如下：
[0004] 图像分割根据前背景差异，采用一些简单快速的方法如大津法。靶位粗提取主要 是根据靶图的像素信息，如靶面的面积，靶面环线的特征（黑白相间）等将图像分割的结果 进行粗筛选，得到完整的靶面区域，但同时也存在有大量的背景干扰。形态学滤波和区域标 记用于滤除这些背景干扰，包括靶面上不相关的数字等信息，用于后续精确定位靶面中心 环位置、环半径。另外，在图像采样时，会带有图像失真，打靶过程中，弹孔进入靶面时造成 的靶面晃动也会带有一定的失真，需要对这些畸变进行矫正实现靶面的精准定位。
[0005] 目前主要的畸变矫正方法是，考虑基准图像和实际图像的一些关键点（如角点）的 对应关系，找出二者的映射模式，将实际的畸变图像通过计算出的映射模式进行畸变矫正。
[0006] 靶面精定位后，可以得到靶心的位置信息，再根据各靶环线同半径成倍递增的同 心圆这一特点，粗定位靶环线。精确的靶线位置一般在粗定位靶环线位置附近，采用在每一 个粗定位的靶环线像素点的矩形邻域内进行二值化，即可得到精确靶线位置，实现靶环线 的精准定位。
[0007] 现有技术方案的不足在于：由于在畸变矫正时采用点对点的畸变矫正，以及精定 位靶环线时使用了大量的二值化算法，算法耗时高，因而难以满足实时性要求。而且对长时 间打靶过程中的靶面震动、光照变化适应性差，鲁棒性不好。
【发明内容】
[0008] 本发明提供了一种靶环线定位的方法及装置，用以提高靶环线定位过程的实时性 和鲁棒性。
[0009] 本发明实施例中提供一种靶环线定位的方法，包括：
[0010] 确定TN时刻的第TN精确的靶环线图像，所述第TN精确的靶环线图像包括T N时刻的 靶心坐标，所述N为大于0的自然数；
[0011] 获取τΝ时刻的第ΤΝ粗定位的靶环线图像，所述第ΤΝ粗定位的靶环线图像包括以Τ Ν 时刻的靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线；
[0012] 在需要确定1^+1时刻的第ΤΝ+1精确的靶环线图像时，获取1^+1时刻的第Τ Ν+1祀面图 像；
[0013] 在所述1^+1时刻的第TN+1靶面图像上按所述第TN粗定位的靶环线图像的各靶环线 进行搜索；
[0014] 根据搜索到的所述1^+1时刻的第1^+1靶面图像的各靶环线像素点拟合得到TN+1时刻 的第T N+1精确的靶环线图像。
[0015] 较佳地，所述在所述TN+跗刻的第TN+1靶面图像上按所述第TN粗定位的靶环线图像 的各靶环线进行搜索，是按所述第T N粗定位的靶环线图像的各靶环线像素点所在的矩形框 位置在所述!^+1时刻的第TN+4E面图像上相应位置的矩形框进行搜索的。
[0016] 较佳地，所述拟合为基于最小二乘法的圆拟合。
[0017] 较佳地，确定?\时刻的第!^精确的靶环线图像，具体包括：
[0018] 获取?\时刻的第!^靶面图像；
[0019]将所述第!^靶面图像二值化后进行连通区域分析得到掩膜;其中，所述连通区域 分析用于剔除靶面上的数字和填充数字内部的孔洞，该掩膜不包括靶心区域；
[0020]根据所述掩膜对所述第!^靶面图像的灰度图进行大津法处理，得到第^精确的靶 环线图像。
[0021 ]较佳地，在对所述第?\靶面图像二值化前，进一步包括：
[0022]对所述第1\靶面图像进行降噪处理。
[0023] 较佳地，所述降噪处理包括中值滤波处理。
[0024] 本发明实施例中提供一种靶环线定位的装置，包括：
[0025] 确定模块，用于确定ΤΝ时刻的第ΤΝ精确的靶环线图像，所述第ΤΝ精确的靶环线图像 包括Τ Ν时刻的靶心坐标，所述Ν为大于0的自然数；
[0026] 第一获取模块，用于获取ΤΝ时刻的第ΤΝ粗定位的靶环线图像，所述第ΤΝ粗定位的靶 环线图像包括以Τ Ν时刻的靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线；
[0027] 第二获取模块，用于在需要确定1^+1时刻的第ΤΝ+1精确的靶环线图像时，获取1^+1时 亥IJ的第IW革巴面图像；
[0028] 搜索模块，用于在所述TN+埘刻的第ΤΝ+1祀面图像上按所述第ΤΝ粗定位的靶环线图 像的各靶环线进行搜索；
[0029] 拟合模块，用于根据搜索到的所述1^+1时刻的第ΤΝ+4Ε面图像的各靶环线像素点拟 合得到!^ +1时刻的第ΤΝ+1精确的靶环线图像。
[0030] 较佳地，搜索模块进一步用于按所述第ΤΝ粗定位的靶环线图像的各靶环线像素点 所在的矩形框位置在所述!^ +1时刻的第ΤΝ+1靶面图像上相应位置的矩形框进行搜索。
[0031] 较佳地，拟合模块进一步用于根据搜索到的所述!^+1时刻的第ΤΝ+4Ε面图像的各靶 环线像素点进行基于最小二乘法的圆拟合得到!^ +1时刻的第ΤΝ+1精确的靶环线图像。
[0032]较佳地，确定模块进一步用于：
[0033] 获取?\时刻的第!^靶面图像；
[0034] 将所述第!^靶面图像二值化后进行连通区域分析得到掩膜;其中，所述连通区域 分析用于剔除靶面上的数字和填充数字内部的孔洞，该掩膜不包括靶心区域；
[0035] 根据所述掩膜对所述第!^靶面图像的灰度图进行大津法处理，得到第^精确的靶 环线图像。
[0036] 较佳地，确定模块进一步用于在对所述第Ti靶面图像二值化前，对所述第Ti靶面图 像进行降噪处理。
[0037]较佳地，确定模块进一步用于在降噪处理时采用中值滤波处理。
[0038]本发明有益效果如下：
[0039] 在本发明实施例提供的技术方案中，在确定某一精确的靶环线图像(TN时刻）后， 当需要确定下一精确的靶环线图像(T N+1时刻）时，以该精确的靶环线图像的靶心坐标为圆 心，再形成半径成比例关系的各靶环线，得到相对应的粗定位的靶环线图像(T N时刻），然后 按该粗定位的靶环线图像的各靶环线进行搜索，在按所述第Tn粗定位的靶环线图像的各靶 环线进行搜索时，可以快速定位到精确的各靶环线像素点，然后通过直接拟合便可得到T N+1 时刻的第TN+1精确的靶环线图像。减少了对靶面图像的畸变校正步骤，而且没有在精确定位 时使用大量的二值化算法，快速更新各靶环线的像素点的坐标，耗时短。
[0040] 同时，由于在采用本发明实施例提供的技术方案时，可以按时刻进行更新，也即， 在得到某一时刻的精确的靶环线图像后，便可以依次更新得到下一时刻的精确的靶环线图 像，因此可以克服长时间打靶过程中出现的靶面晃动、光照变化等，使得本方案在长期打靶 过程中对光照变化适应强，鲁棒性高。
[0041] 综上，采用本方案可以提高靶环线定位过程的实时性和鲁棒性。
【附图说明】
[0042]此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发 明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中： [0043]图1为本发明【背景技术】中靶环线定位流程图；
[0044] 图2为本发明实施例中靶环线定位的方法实施流程示意图；
[0045] 图3为本发明实施例中靶环线搜索示意图；
[0046] 图4为本发明实施例中第?\精确的靶环线图像；
[0047] 图5为本发明实施例中靶环线定位的具体实施流程示意图；
[0048] 图6为本发明实施例中靶环线位置信息更新的方法具体实施流程示意图；
[0049] 图7为本发明实施例中靶环线定位的装置结构示意图。
【具体实施方式】
[0050] 下面结合附图对本发明的【具体实施方式】进行说明。
[0051] 本发明实施例根据前一次检测到的靶环线图像进行靶环线粗定位，并快速检测靶 环线位置信息，下面在涉及实例的解释说明时，将以图像的分辨率为1024*768、靶纸占据整 幅图像的70%以上的实例进行具体说明。下述说明中涉及的阈值在不同分辨率模式下等比 例缩放。
[0052] 图2为靶环线定位的方法实施流程示意图，如图所示，可以包括如下步骤：
[0053]步骤201、确定Tn时刻的第Tn精确的靶环线图像，所述第Tn精确的靶环线图像包括 TN时刻的靶心坐标，所述N为大于0的自然数；
[0054]步骤202、获取Tn时刻的第Tn粗定位的靶环线图像，所述第Tn粗定位的靶环线图像 包括以Tn时刻的靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线；
[0055]步骤203、在需要确定1^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像时，获取1^ +1时刻的第TN+1 靶面图像；
[0056]步骤204、在所述1^+1时刻的第TN+1靶面图像上按所述第TN粗定位的靶环线图像的 各靶环线进行搜索；
[0057]步骤205、根据搜索到的所述1^+1时刻的第TN+1靶面图像的各靶环线像素点拟合得 到!^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像。
[0058]具体实施中，通过步骤201的实施确定了 TN时刻的靶心坐标。理想情况下，靶环线 是多个以靶心为中心，半径成倍数关系递增的同心圆，然后步骤202中利用步骤201中得到 的TN时刻的靶心坐标和理想情况下半径成比例关系的各靶环线构成T N时刻的第TN粗定位的 靶环线图像。
[0059]对于步骤203的实施，在需要确定1^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像时，也即，需 要更新靶环线位置信息时，获取!^+1时刻的第TN+1靶面图像。
[0060] 对于步骤204的实施，根据TN时刻的第TN粗定位的靶环线图像对靶环线进行粗定 位，然后根据粗定位的靶环线在!^ +1时刻的第TN+1靶面图像上搜索第TN+1精确的靶环线图像 的靶环线像素点。
[0061] 实施中，所述在所述!^+1时刻的第TN+1靶面图像上按所述第TN粗定位的靶环线图像 的各靶环线进行搜索，是按所述第T N粗定位的靶环线图像的各靶环线像素点所在的矩形框 位置在所述!^+1时刻的第TN+4E面图像上相应位置的矩形框进行搜索的。
[0062] 具体的，在粗定位的靶环线像素点的矩形框在!^+1时刻的第TN+1靶面图像上相应位 置的矩形框内搜索精确的靶环线像素，如果搜索到，则将精确的靶环线像素点储存起来，用 于后续拟合圆心和半径。矩形框的尺寸大小应合适，过大可能会检测到其他环的靶线，过小 则搜索时间过长，降低算法性能，这里矩形框尺寸是20 X 20，图3为靶环线搜索示意图，如图 所示，白色的细线是粗定位的靶环线，白色的粗线是精定位的靶环线。
[0063] 实施中，所述拟合为基于最小二乘法的圆拟合。
[0064] 将得到的精确的靶环线像素点通过基于最小二乘法的圆拟合来拟合圆心和各靶 环线。最小二乘法可用于曲线拟合，这里采用最小二乘法拟合圆。
[0065] 最小二乘法拟合圆曲线:R2= (x~A)2+(y_B)2;
[0066] 上式展开为:1?2 =叉2-2厶叉+厶2+72-287+82;
[0067] 令a = -2A，b = -2B，c = A2+B2-R2，可得圆曲线方程的另一个形式：x2+y 2+ax+by+c = 〇,只要求出参数a，b，c就可以求得圆心半径的参数
[0068]靶环线像素点样本集中点到圆心的距离为cU，则 A) 2+(Yi-B)2,点(Xi，Yi)到圆心的距离的平方与半径平方的差为4 = 62-1?2=仏^)2+化- B) 2-R2 = Xi2+Yi2+aXi+bYi+c 〇
[0069] 令Q(a，b，c)为δ?的平方和，贝ljQ(a，b，c)= Σδ?2= Σ (Xi2+Yi2+aXi+bYi+c)2,由于Q (a，b，c)大于0,函数存在大于或等于0的极小值，极大值为无穷大。现对a，b，c分别求偏导， 令偏导等于〇,得到极值点，比较所有极值点的函数值，即可得到函数的最小值。也即得到参 数a，b，c，进而求得圆心半径的参数：
[0070] 在最小二乘法拟合圆的基础上进行改进的算法也在本发明保护范围内。
[0071] 由于长时间打靶过程中会出现靶面晃动、光照变化，靶环线位置需要进行不断地 更新，在得到!^时刻的第!^精确的靶环线图像后，便可以按照上述实施例依次更新T 2时刻的 第!^精确的靶环线图像、· · · ΤΝ时刻的第ΤΝ精确的靶环线图像、1^+1时刻的第1^+1精确的靶 环线图像等。
[0072] 下面对如何得到1\时刻的第!^精确的靶环线图像进行具体说明。
[0073] 实施中，确定?\时刻的第!^精确的靶环线图像，具体包括：
[0074] 获取?\时刻的第!^靶面图像；
[0075] 将所述第!^靶面图像二值化后进行连通区域分析得到掩膜;其中，所述连通区域 分析用于剔除靶面上的数字和填充数字内部的孔洞，该掩膜不包括靶心区域；
[0076] 根据所述掩膜对所述第!^靶面图像的灰度图进行大津法处理，得到第^精确的靶 环线图像。
[0077] 具体的，首先获取^时刻的第1^靶面图像，然后得到第h靶面图像的灰度图i(x)， 实施中，在对所述第Ti靶面图像二值化前，进一步包括：
[0078]对所述第1\靶面图像进行降噪处理。
[0079]实施中，所述降噪处理包括中值滤波处理。
[0080]具体的，在图像传输过程中，会带有噪声，这里采用中值滤波对第Ti靶面图像的灰 度图i(x)进行平滑操作，得到滤波图像f(x)。兼顾降噪效果和实时性，滤波半径设定为7。
[0081] 对滤波图像f(x)采用大津法进行二值化处理，获取初始靶面区域b(x)，计算公式 如下所示：
[0082]
[1]
[0083] 接下来对初始靶面区域b(x)进行形态学滤波，b(x)中不仅包括靶面区域，还包括 一些细小的虚目标。这里使用形态学腐蚀操作，滤除这些虚目标，得到初始过滤图像m(x)， 使用的滤波核是5 X 5的矩形核。
[0084] 然后对图像m(x)进行连通域分析，将面积较小的连通域(一般是靶面上的数字)进 行剔除，这里设定的面积阈值为5000。标准靶纸的靶心是白色，靶心的数字是灰色，标准靶 纸的非靶心是灰色，非靶心的数字是白色。经过上述步骤处理后，靶心处的数字会被去除， 非靶心处的数字内部的孔洞会被填充，但不会完全去除。所以，还需要对连通域过滤后的图 像进行一次反色操作，对反色图像再进行一次连通域分析，去除小面积的区域，这里设定的 面积阈值是30000。经过上述处理后，得到了靶面精确的二值化掩膜mask( X)，该掩膜不包括 靶心区域。
[0085]根据上述步骤得到了靶面精确的二值化掩膜mask(x)，下面对如何应用靶面精确 的二值化掩膜mask(x)得到第^精确的靶环线图像进行说明。
[0086] 对于精确定位，现有技术方案如下：
[0087] -般情况下，靶心区域是没有畸变的，可以根据靶面精确的二值化掩膜mask(X)得 到靶心区域的像素位置信息，进而拟合出精确的靶心坐标。理想情况下，靶环线是多个以靶 心为中心，半径成倍数关系递增的同心圆。实际的图像中存在有畸变，需要进行矫正。现有 精定位算法一般是考虑在粗定位的靶环线像素的矩形区域内，使用大津法搜索实际的靶环 线像素，将粗定位的靶环线矫正到实际靶环线位置。
[0088] 现有技术的不足在于需要经过大量的二值化计算，耗时高。
[0089] 对于精确定位，本实施例提供一种基于掩膜的二值化算法，根据得到的靶面精确 的二值化掩膜mask(x)对第^靶面图像i(x)使用大津法，一次性得到如图4所示的第!^精确 的革巴环线图像res(x)，计算公式如下：
[0090]
[2]
[0091] 为了更清楚地了解本发明，下面以具体实施例进行说明。
[0092] 图5为靶环线定位的具体实施流程示意图，如图所示，可以包括如下步骤：
[0093]步骤501、获取时刻的第!^靶面图像；
[0094] 步骤502、对所述第1\靶面图像进行降噪处理;这里采用中值滤波进行降噪；
[0095]步骤503、对降噪处理后的图像进行二值化处理；
[0096]步骤504、根据二值化后的图像进行连通区域分析得到掩膜；
[0097]步骤505、根据所述掩膜对所述第!^靶面图像的灰度图进行大津法处理，得到第!^ 精确的靶环线图像；
[0098] 步骤506、按照设定的时间和/或设定的条件对靶环线位置信息进行更新。
[0099] 下面对步骤506中如何更新靶环线位置信息进行说明。下面提到的N为大于0的自 然数。
[0100] 图6为靶环线位置信息更新的方法具体实施流程示意图，如图所示，可以包括如下 步骤：
[0101 ]步骤601、确定TN时刻的第TN精确的靶环线图像;该靶环线图像包括TN时刻的靶心 坐标，及各靶环线；
[0102] 步骤602、获取TN时刻的第TN粗定位的靶环线图像;该靶环线图像包括以TN时刻的 靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线；
[0103] 步骤603、按第TN粗定位的靶环线图像的各靶环线像素点所在的矩形框在1^+1时刻 的第T N+1靶环线图像上搜索像素点；
[0104] 步骤604、根据搜索到的像素点拟合得到1^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像。
[0105] 对于上述靶环线位置信息更新的方法的实施可以以靶面晃动和/或光照变化情况 为条件或者以设定的时间为条件。
[0106] 对于步骤604，拟合算法为最小二乘法拟合圆的算法。
[0107] 基于同一发明构思，本发明实施例中还提供了一种靶环线定位的装置，由于这些 设备解决问题的原理与一种靶环线定位的方法相似，因此这些设备的实施可以参见方法的 实施，重复之处不再赘述。
[0108] 图7为靶环线定位的装置结构示意图，如图所示，可以包括如下步骤：
[0109] 确定模块701，用于确定TN时刻的第TN精确的靶环线图像，所述第TN精确的靶环线 图像包括T N时刻的靶心坐标，及各靶环线，所述N为大于0的自然数；
[0110] 第一获取模块702,用于获取TN时刻的第TN粗定位的靶环线图像，所述第TN粗定位 的靶环线图像包括以T N时刻的靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线；
[0111] 第二获取模块703，用于在需要确定1^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像时，获取 Μ寸刻的第TN+1革巴面图像；
[0112] 搜索模块704,用于在所述1^+1时刻的第TN+1祀面图像上按所述第TN粗定位的靶环 线图像的各靶环线进行搜索；
[0113] 拟合模块705,用于根据搜索到的所述1^+1时刻的第TN+1靶面图像的各靶环线像素 点拟合得到!^ +1时刻的第TN+1精确的靶环线图像。
[0114] 实施中，搜索模块进一步用于按所述第TN粗定位的靶环线图像的各靶环线像素点 所在的矩形框位置在所述!^ +1时刻的第TN+1靶面图像上相应位置的矩形框进行搜索。
[0115] 实施中，拟合模块进一步用于根据搜索到的所述1^+1时刻的第1^+1靶面图像的各靶 环线像素点进行基于最小二乘法的圆拟合得到!^ +1时刻的第TN+1精确的靶环线图像。
[0116] 实施中，确定模块进一步用于：
[0117]获取?\时刻的第!^靶面图像；
[0118]将所述第!^靶面图像二值化后进行连通区域分析得到掩膜;其中，所述连通区域 分析用于剔除靶面上的数字和填充数字内部的孔洞，该掩膜不包括靶心区域；
[0119]根据所述掩膜对所述第!^靶面图像的灰度图进行大津法处理，得到第^精确的靶 环线图像。
[0120]实施中，确定模块进一步用于在对所述第Ti靶面图像二值化前，对所述第Ti靶面图 像进行降噪处理。
[0121]实施中，确定模块进一步用于在降噪处理时采用中值滤波处理。
[0122] 综上所述，在本发明实施例提供的技术方案中，在确定某一精确的靶环线图像(? 时刻）后，当需要确定下一精确的靶环线图像(T N+1时刻）时，以该精确的靶环线图像的靶心 坐标为圆心，再形成半径成比例关系的各靶环线，得到相对应的粗定位的靶环线图像(T N时 刻），然后按该粗定位的靶环线图像的各靶环线进行搜索，在按所述第Tn粗定位的靶环线图 像的各靶环线进行搜索时，可以快速定位到精确的各靶环线像素点，然后通过直接拟合便 可得到TN+埘刻的第T N+1精确的靶环线图像。减少了对靶面图像的畸变校正步骤，而且没有 在精确定位时使用大量的二值化算法，快速更新各靶环线的像素点的坐标，耗时短。
[0123] 同时，由于在采用本发明实施例提供的技术方案时，可以按时刻进行更新，也即， 在得到某一时刻的精确的靶环线图像后，便可以依次更新得到下一时刻的精确的靶环线图 像，因此可以克服长时间打靶过程中出现的靶面晃动、光照变化等，使得本方案在长期打靶 过程中对光照变化适应强，鲁棒性高。
[0124] 综上，采用本方案可以提高靶环线定位过程的实时性和鲁棒性。
[0125] 本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序 产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实 施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机 可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形 式。
[0126] 本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程 图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流 程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序 指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产 生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实 现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
[0127] 这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特 定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指 令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或 多个方框中指定的功能。
[0128] 这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计 算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或 其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一 个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
[0129] 显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精 神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围 之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1. 一种靶环线定位的方法，其特征在于，包括： 确定Tn时刻的第TN精确的靶环线图像，所述第TN精确的靶环线图像包括TN时刻的靶心坐 标，所述N为大于0的自然数； 获取Tn时刻的第Tn粗定位的靶环线图像，所述第Tn粗定位的靶环线图像包括以Tn时刻的 靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线； 在需要确定!^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像时，获取1^+1时刻的第T N+1靶面图像； 在所述!^+1时刻的第TN+1靶面图像上按所述第TN粗定位的靶环线图像的各靶环线进行搜 索； 根据搜索到的所述!^+1时刻的第TN+4E面图像的各靶环线像素点拟合得到1^+1时刻的第 TN+1精确的靶环线图像。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述TN+埘刻的第TN+1祀面图像上按 所述第Tn粗定位的靶环线图像的各靶环线进行搜索，是按所述第Tn粗定位的靶环线图像的 各靶环线像素点所在的矩形框位置在所述!^ +1时刻的第TN+4E面图像上相应位置的矩形框 进行搜索的。3. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述拟合为基于最小二乘法的圆拟合。4. 根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，确定^时刻的第^精确的靶环线图 像，具体包括： 获取T:时刻的第!^靶面图像； 将所述第!^靶面图像二值化后进行连通区域分析得到掩膜;其中，所述连通区域分析用 于剔除靶面上的数字和填充数字内部的孔洞，该掩膜不包括靶心区域； 根据所述掩膜对所述第!^靶面图像的灰度图进行大津法处理，得到第!^精确的靶环线 图像。5. 根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在对所述第Ti靶面图像二值化前，进一步包 括： 对所述第!^靶面图像进行降噪处理。6. 根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述降噪处理包括中值滤波处理。7. -种靶环线定位的装置，其特征在于，包括： 确定模块，用于确定Tn时刻的第Tn精确的靶环线图像，所述第Tn精确的靶环线图像包括 TN时刻的靶心坐标，所述N为大于0的自然数； 第一获取模块，用于获取Tn时刻的第Tn粗定位的靶环线图像，所述第Tn粗定位的靶环线 图像包括以Tn时刻的靶心坐标为圆心、半径成比例关系的各靶环线； 第二获取模块，用于在需要确定!^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像时，获取TN+1时刻的 第TN+1靶面图像； 搜索模块，用于在所述!^+1时刻的第TN+1靶面图像上按所述第TN粗定位的靶环线图像的 各靶环线进行搜索； 拟合模块，用于根据搜索到的所述!^+1时刻的第TN+1靶面图像的各靶环线像素点拟合得 到!^+1时刻的第TN+1精确的靶环线图像。8. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，搜索模块进一步用于按所述第Tn粗定位的 靶环线图像的各靶环线像素点所在的矩形框位置在所述!^ +1时刻的第1^+1靶面图像上相应 位置的矩形框进行搜索。9. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，拟合模块进一步用于根据搜索到的所述 Μ寸刻的第TN+1祀面图像的各靶环线像素点进行基于最小二乘法的圆拟合得到Μ寸刻的 第ΤΝ+1精确的靶环线图像。10. 根据权利要求7至9任一所述的装置，其特征在于，确定模块进一步用于： 获取h时刻的第!^靶面图像； 将所述第!^靶面图像二值化后进行连通区域分析得到掩膜;其中，所述连通区域分析用 于剔除靶面上的数字和填充数字内部的孔洞，该掩膜不包括靶心区域； 根据所述掩膜对所述第!^靶面图像的灰度图进行大津法处理，得到第!^精确的靶环线 图像。11. 根据权利要求10所述的装置，其特征在于，确定模块进一步用于在对所述第Ti靶面 图像二值化前，对所述第Ti靶面图像进行降噪处理。12. 根据权利要求11所述的装置，其特征在于，确定模块进一步用于在降噪处理时采用 中值滤波处理。
【文档编号】G06T7/00GK105976366SQ201610283414
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年4月29日
【发明人】邵明
【申请人】浙江大华技术股份有限公司