光拾取装置的制作方法

文档序号:6775319阅读:155来源:国知局
专利名称:光拾取装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种用于由多个光束执行向/从光学型信息记录介质记录信息或再现信息的光拾取装置,并尤其涉及一种具有用于控制每个光束以具有正确的光束强度的监控机构的光拾取装置。
随着各种信息记录介质被研制,对于在信息记录及再现装置中的具有能够执行信息记录或信息重现而不区分这些信息记录介质的兼容性的光拾取装置的需求与日俱增。
顺便地说,为了实现具有兼容性的光拾取装置,需要多个适于每种信息记录介质的光学特性的光束,此外,需要控制每束光束以使其成为正确的光束强度并将该光束施加到每种信息记录介质上。
然而,当光学系统包含被构造成实现上述目的的用于多束光束的每一束的固有的监控机构时,存在的问题是光拾取装置的尺寸和重量变得较大。
为了实现这个目的,根据本发明的光拾取装置包括适于分别发出具有不同波长的光束的多个发光源;适于结合各光束的路径以形成公共光学路径的光学路径结合单元;以及设置在公共光学路径上并适于探测光束的光电探测器单元,其中,每个光源的光发射强度基于由光电探测器单元所探测的探测结果加以控制。
根据具有本发明结构的光拾取装置,光学路径结合单元将从发光源发出的具有不同波长的光束导引到公共光学路径上。然后,光束被设置在公共路径上的光电探测器单元探测,且发光源的光发射强度基于该探测结果予以控制。因此,多束光束可以由一个光电探测器单元探测,且实现了具有兼容性的、能够例如小型化及重量减轻的光拾取装置。
同样,为了实现该目的,提供了如上所述的光拾取装置,其中,多个发光源的数量为两;光学路径结合单元包括具有彼此相对的第一表面和第二表面的透明介质;以及设置在第二表面上的半透射(semi-transmission)膜;各光束之一入射到第一表面上;而另一光束入射到第二表面上。
根据上述的具有本发明机构的光拾取装置,当一束光束从第一表面一侧入射到透明介质时,该一束光束被半透射膜分成第一透射光束和第一反射光束,且第一透射光束被发射到信息记录介质上,而第一反射光束通过透明介质被发射到光电探测器单元上。同样,当另一光束从第二表面侧入射时,该另一光束被半透射膜分成第二反射光束和第二透射光束,且第二反射光束被发射到信息记录介质上,而同样第二透射光束通过透明介质发射到光电探测器单元上。即,一束光束的一部分形成为第一反射光束且另一光束的一部分形成为第二透射光束以被导引到公共光学路径侧,并然后各光束(第一反射光束和第二反射光束)被在公共光学路径上设置的光电探测器单元探测。然后,发光源的光发射强度分别基于探测结果予以控制。因此,每个光束可以通过一个光电探测器单元探测以基于每个探测结果控制每个发光源的光发射强度,并实现了具有兼容性、能够例如小型化及重量减轻的光拾取装置。
同样,为了实现该目的,本发明的光拾取装置特征在于透明介质的第一表面和第二表面不平行。
根据上述的具有本发明结构的光拾取装置,第一表面和第二表面分别被设定为相对激光束成角度,因此,作为在第一和第二表面之间反射的光束的多重反射光束不会到达光电探测器单元,即,多重反射光束被发射到背离公共光学路径的方向。其结果为多重反射光束的影响可以被减小以进行控制发光源的光发射强度所需的光电探测,且发光源的光发射强度以高精度探测。


图1是示出一个实施例的光拾取装置的结构的平面图;图2是示出该实施例光拾取装置的结构的一部分的侧视图;图3示出了进行相对CD信息记录或信息再现情况下的操作;图4示出了进行相对CD信息记录或信息再现情况的光电探测操作;图5示出了进行相对DVD信息记录或信息再现情况下的操作;图6示出了进行相对DVD信息记录或信息再现情况的光电探测操作;图7示出了光学路径结合棱镜的改进的示例及进行相对CD信息记录或信息再现情况下的操作;图8示出了用图7所示的光学路径结合棱镜进行相对DVD信息记录或信息再现情况的光电探测操作;图9示出了光学路径结合棱镜的进一步改进的示例。
具体实施例方式
以下,将参照附图描述根据本发明的光拾取装置的实施例。顺便地说,设置在信息记录和再现装置中的能够相对一次写入DVD和可重写DVD记录信息及再现信息,一次写入CD和可重写CD的光拾取装置将作为一个实施例予以描述。
图1和图2示出了本发明实施例的光拾取装置的结构。图1是从三维直角坐标系xyz的z轴方向看光拾取装置的情况的平面图,图2是从y轴方向看光拾取装置的一部分的情况的侧视图。
图1中,该光拾取装置1包括全息图单元2、在相对CD进行信息记录或信息再现情况下用于发出具有预定波长λ1(780nm)的激光束h1的第一半导体激光器2a,以及在相对DVD进行信息记录或信息再现情况下用于发出具有预定波长λ2(650nm)的激光束h2的第二半导体激光器3。
全息图单元2,包括半导体激光器2a,用于接收作为被CD反射并返回的具有波长λ1的光束(此后称为返回光束)的激光束h4的光电转换元件2b以及用于从激光束h1的光学路径分离激光束h4的光学路径的光束分离全息图2c。
同样,用于将激光束h1形成为平行光束的校准透镜4、四分之一波长板5以及全反射镜6相对第一半导体激光器2a的发射端放置成与光轴对齐,用于将激光束h2形成为平行光束的校准透镜7、衍射光栅8和成形棱镜9相对第二半导体激光器3的发射端放置成与光轴对齐。
顺便地说,成形棱镜9为其中第一棱镜9a和第二棱镜9b彼此粘合的折射角棱镜,且在从衍射光栅8的一侧入射的光束h2的方向改变成将光束发射到下述的光学路径结合棱镜13的一侧的同时,其中相对DVD反射的具有波长λ2的激光束从光学路径结合棱镜13的所述侧返回的光束(此后称为返回光束)被第一和第二棱镜9a、9b的粘结表面9c反射以在预定方向发射光束。
此外,设置用于收集由成形棱镜9的粘结表面9c反射的返回光束的校准透镜10和用于偏差校正的非球面透镜11,也设置了用于接收被收集的返回光束h3并用于将光束转换成电信号以输出该电信号的光电转换元件12。这个光电转换元件12和光电转换元件2b的输出信号被提供给RF放大器(未示出),以进行各种伺服控制,诸如聚焦伺服控制,或进行再现在CD或DVD上记录的信息。
光学路径结合棱镜13设置在全反射镜6和成形棱镜9二者的光轴中心Q相交的位置,即,在光束h1、h2的光学路径相交的位置。那么,反射镜14相对于与光轴对齐的光学路径结合棱镜13放置在全反射镜6的相对侧,而作用为探测激光束h1和h2强度的监视器的光电探测器单元的光电转换元件15相对于与光轴对齐的光学路径结合棱镜13放置在成形棱镜9的相对侧。
那么,如下详细描述,光学路径结合棱镜13也用作监视光束获得单元,其用于在激光束h1、h2向反射镜14传播情况下分别得到监视用的光束。
同样,如图2所示,相对安装在所谓的夹紧位置的CD或DVD的记录表面的物镜16放置在反射镜14之下。
同样,反射镜14的反射表面倾斜成从光学路径结合棱镜13的一侧朝向反射镜14入射的激光束h1、h2的入射及反射角,以及被CD或DVD的记录表面反射并通过物镜16向反射镜14入射的返回光束的入射和反射角度都变成45°。
此处,在光学路径结合棱镜13中,相对激光束h1、h2透明的平行板形状的介质被用作基片,而介电材料制成的抗反射涂覆薄膜AR的薄膜涂层施加到基片的一个表面(面对全反射镜6和光电转换元件15侧的表面)上,而由介电材料制成的具有预定的反射率和透射率的半透射薄膜HM的薄膜涂层施加到基片的另一表面(面对成形棱镜9和反射镜14侧的表面)上。
同样,光学路径结合棱镜13倾斜并设置成被全反射镜6反射并向抗反射涂覆薄膜AR入射的激光束h1的入射角以及从成形棱镜9的一侧向半透射薄膜HM入射的激光束h2的入射角都变成45°。
在该实施例中,抗反射涂覆薄膜AR相对波长λ1、λ2光束的反射率被设定为小于1%(换句话说,透射率为99%或更大)。
在半透射薄膜HM中,其的透射率和反射率根据波长设定,对于波长λ1(780nm),光束被透射约90%,而也被反射10%,而对于波长λ2(650nm),光束被反射90%,而也被透射10%。
接着,将参照图3到图6描述具有如此结构的光拾取装置的操作。顺便地说,图3和4示出在相对CD进行信息记录或信息再现情况的操作,而图5和图6示出相对DVD进行信息记录或信息再现情况的操作。
在向CD进行信息记录或从CD再现信息情况下,如图3所示,具有波长λ1的激光束从第一半导体激光束2a发出,而第二半导体激光器3被设定为关状态。
当更详细地进行描述时,在利用所谓的能量策略方法向CD进行信息记录的情况下,基于记录数据调制的激光束h1从第一半导体激光器2a发出,而第二半导体激光器3被设定为关状态。
在从CD进行信息再现情况下,具有恒定强度的激光束h1从第一半导体激光器2a发出,而第二半导体激光器3被设定为关状态。
此外,在信息记录和信息再现的任何情况下,通过以下描述的APC(自动能量控制电路)电路,用于驱动第一半导体激光器2a的驱动电源被控制,并且进行控制反馈,以便激光束h1的强度变成预定的目标值。
首先描述对CD进行信息记录的情况。用于信息记录的激光束h1从第一半导体激光器2a发出时,激光束h1穿过校准透镜4和四分之一波长板5,被全反射镜6反射而入射到光学路径结合棱镜13的抗反射涂覆薄膜AR的侧面。基本全部激光束h1穿过抗反射涂覆薄膜AR并到达半透射薄膜HM。
此处,如图4A所示,激光束h1中的约90%穿过半透射薄膜HM并到达反射镜14的侧面,而被物镜16汇聚为细光束并施加到CD的记录表面上,而进行信息记录或信息再现。
此外,激光束h1中的约10%被半透射薄膜HM反射,并穿过光学路径结合棱镜13的基片的内侧而被光电转换元件15接收。然后,光电转换元件15的探测输出被提供给APC电路(未示出),而APC电路执行半导体激光器2a的驱动电能反馈控制,以便激光束h1的强度成为预定的目标值,并从而将施加到CD记录表面上的光束自动调节到正确强度。
同样,在CD记录表面上反射的光束所形成的返回光束穿过物镜16和反射镜14,如图4B所示,并随后穿过光学路径结合棱镜13的半透射薄膜HM和抗反射涂覆薄膜AR,并向全反射镜6传播。然后,被全反射镜6反射的返回光束穿过四分之一波长板5和校准透镜4,并被全息图单元2的光束分离全息图(hologram)2c形成为向光电转换元件2b(传播)的激光束h4。激光束h4被光电转换元件2b接收。然后,基于光电转换元件2b的输出信号进行诸如自动聚焦的伺服控制。
接着,将描述在从CD进行信息再现情况下的操作。如图3所示,当用于信息再现的激光束h1从第一半导体激光器2a发出时,激光束h1穿过校准透镜4和四分之一波长板5,并由全反射镜6反射而入射到光学路径结合棱镜13的抗反射涂覆薄膜AR上,并且基本全部激光束h1穿过抗反射涂覆薄膜AR并到达半透射薄膜HM。
此外,以与图4A所示类似的方式,激光束h1中的约90%穿过半透射薄膜HM并被反射镜14反射,且进一步被物镜16汇聚成细光束而施加到CD的记录表面上。
同样,以与图4B所示的类似的方式,到达半透射薄膜HM的激光束h1中的约10%被半透射薄膜HM反射并穿过光学路径结合棱镜13的基片的内侧,而被光电转换元件15接收。然后,光电转换元件15的探测输出被提供给APC电路,而APC电路执行第一半导体激光器2a的驱动电能反馈控制,以便激光束h1的强度成为预定的目标值,并从而将施加到CD记录表面上的激光束自动调节到正确强度。
此外,由在CD的记录表面上反射具有正确强度的光束而产生的包含再现信息的返回光束穿过物镜16和反射镜14,并以图4B所示类似的方式穿过光学路径结合棱镜13而向全反射镜6(传播)。此外,被全反射镜6反射的返回光束依次经过四分之一波长板5、校准透镜4和光束分离全息图2c,被光电转换元件26接收,基于光电转换元件2b的输出信号而进行信息再现。
接着描述进行向DVD记录信息或从DVD中再现信息情况下的操作。
在相对DVD进行信息记录或信息再现的情况下,如图5所示,具有波长λ2的激光束h2从第二半导体激光器3发出,而第一半导体激光器2a被设定成关闭状态。
同样,以与CD情况相似的方式,在利用所谓的能量策略方法向DVD进行信息记录的情况下,基于记录数据调制的激光束h2从第二半导体激光器3中发出,而第一半导体激光器2a被设定为关闭状态。同样,以与CD情况类似的方式,在从DVD中进行信息再现的情况下,具有恒定强度的激光束h2从第二半导体激光器3发出,而第一半导体激光器2a被设定为关闭状态。
此外,在信息记录和信息再现的任何情况下,用于驱动第二半导体激光器3的驱动电能被APC电路控制,并执行反馈控制,以便激光束h2的强度成为预定的目标值。
首先,将描述在向DVD进行信息记录情况下的操作。当用于信息记录的激光束h2从第二半导体激光器3发出时,激光束h2穿过校准透镜7、衍射光栅8和成形棱镜9,并入射到光学路径结合棱镜13的半透射薄膜HM的侧面上。
此处,如图6A所示,激光束h2中的约90%被半透射薄膜HM反射并到达反射镜14的侧面且进一步被反射镜14反射,而被物镜16汇聚成细光束并施加到DVD的记录表面上,从而进行信息记录。
此外,激光束h2中的约10%穿过半透射薄膜HM,并穿过光学路径结合棱镜13的基片的内侧,而被光电转换元件15接收。然后,光电转换元件15的探测输出被提供给APC电路,而APC电路进行第二半导体激光器3的驱动电能的反馈控制,以便激光束h2的强度成为预定的目标值,并从而将施加到DVD记录表面上的光束自动调节为正确的强度。
同样,在DVD记录表面上反射光束形成的返回光束穿过物镜16和反射镜14,并入射到光学路径结合棱镜13的半透射薄膜HM的侧面,并进一步被半透射薄膜HM反射而入射到成形棱镜9上,如图6B所示。然后,入射到成形棱镜9上的返回光束被粘结表面9c反射并同时被校准透镜10和非球面透镜11采集,而被光电转换元件12接收。然后,基于光电转换元件12的输出信号执行诸如自动聚焦的伺服控制。
接着,将描述从DVD中进行信息再现情况下的操作。当用于信息再现的激光束h2从第二半导体激光器3发出时,激光束h2穿过校准透镜7、衍射光栅8和成形棱镜9,并入射到光学路径结合棱镜13的半透射薄膜HM的侧面上。
此处,以与图6A所示类似的方式,激光束h2中约90%被半透射薄膜HM反射到反射镜14侧,并进一步被反射镜14反射,而由物镜16汇聚成细光束,从而施加到DVD的记录表面上。
此外,激光束h2中约10%穿过半透射薄膜HM并穿过光学路径结合棱镜13的基片内侧,而被光电转换元件15接收。然后,光电转换元件15的探测输出被提供给APC电路,而APC电路执行第二半导体激光器3的驱动电能反馈控制,以便激光束h2的强度成为预定的目标值,并从而将施加到DVD记录表面上的光束自动调节成正确的强度。
同样,由在DVD记录表面上反射的光束产生的包含再现信息的返回光束穿过物镜16和反射镜14。以与图6B中所示类似的方式,返回光束入射到光学路径结合棱镜13的半透射薄膜HM侧,并进一步被半透射薄膜HM反射而入射到成形棱镜9上。
然后,入射到成形棱镜9上的返回光束被粘结面9c反射,并也被校准透镜10和非球面透镜11采集,而被光电转换元件12接收,从而基于光电转换元件12的输出信号进行信息再现。
在本实施例的光拾取装置中,光学路径结合棱镜13设置在具有不同波长λ1、λ2的激光束h1、h2的光学路径相交位置,并从而提供了在由激光束h1记录信息或再现信息以及由激光束h2记录信息或再现信息的任何情况下能够用一个光电转换元件15通过光学路径结合棱镜13探测激光束h1和h2的一部分。
即,如图4A和6A所示,当激光束h1、h2入射到光学路径结合棱镜13上时,光学路径结合棱镜13反射激光束h1的一部分并也透射激光束h2的一部分,而被反射光束和被透射光束都在相同的光学路径发射(光电转换元件15的方向)。因此,可以仅通过一个设置在相同光学路径方向上的光电转换元件15即可探测每个激光束h1、h2的强度,且可以基于探测输出进行作为发光源的半导体激光器2a、3的APC控制。
根据本实施例,其结果为用于探测相对CD和DVD的每束激光束h1、h2的强度的光学系统的零件数量被限制减少,并可以提供简单、小型并轻量的光拾取装置。
此外,在本实施例中,通过提供光学路径结合棱镜13,实现了前面监控方法(front monitor method)的机构,其中该机构具有用于在激光束h1、h2施加到作为信息记录介质的CD和DVD之前探测从在光学路径位置中的半导体激光器2a、3发出的每个激光束h1、h2的强度的结构。
作为探测半导体激光器的光发射强度的另一方法,公知一种后面监控方法(back monitor method),其中,使用了在两个方向向后和向前发射激光束的半导体激光器,且从半导体激光器一端发出的激光束被用于信息记录或信息再现,而从半导体激光器的另一端发出的激光束被监控,并从而用于信息记录或信息再现的激光束的强度可以被探测。
然而,该后面监控方法尤其受返回光束的影响,因此该方法对于用作信息记录不太适合。
另一方面,本实施例的光拾取装置1利用前面监控方法,因此,可以减小用于信息记录的激光束h1、h2的返回光束的影响,以改善APC控制的控制精度。
此外,本实施例的光拾取装置1不仅实现前面监控方法,而且也产生通过利用如上所述的机构使其简单化、小型化并减轻重量的优良效果。
顺便地说,已经描述了利用其中抗反射涂覆薄膜AR和半透射薄膜HM形成在透明平行板(基片)的相对表面上的光学路径结合棱镜13的光拾取装置1,但本发明不局限于此,可以采用其中抗反射涂覆薄膜和半透射薄膜形成在彼此不平行的基片表面上的光学路径结合棱镜。
即,如本实施例的改进示例那样,如对应图4和6的图7和8所示,可以采用一种光学路径结合棱镜13x,其中抗反射涂覆薄膜AR和半透射薄膜HM形成在不平行表面的基片表面上,而不是在平行板基片的表面上。
该光学路径结合棱镜13x的基片的剖面形状为楔形,其中随着接近光电转换元件15侧而厚度变厚,而随着远离光电转换元件15厚度变薄。
当采用具有这种结构的光学路径结合棱镜13x时,可以获得以下效果。在相对CD进行信息记录或信息再现情况下,如图7所示,当入射光束(激光束)h1从全反射镜6的侧面向抗反射涂覆薄膜AR入射时,基本全部激光束h1穿过抗反射涂覆薄膜AR而到达半透射薄膜HM,而在半透射薄膜HM中,激光束h1中的约90%被形成为透射光束并被发射到反射镜14的侧面上,而激光束h1的约10%被反射并入射到光电转换元件15上。
在此,一般地是,当激光束h1被半透射薄膜HM反射到基片侧面,除了被反射的光束外也出现多重反射光束,因此,当这些反射光束和多重反射光束穿过基片内侧并发射到光电转换元件15侧时,不仅要被探测而用于APC控制的反射光束,而且该多重光束被探测到,并使APC控制的精度改善变得困难。
然而,根据具有楔形截面的光学路径结合棱镜13x,该问题可以显著地改善。如图7所示,与入射光束h1平行或垂直的线作为参考线。被光学路径结合棱镜13x的半透射薄膜HM反射的光束与参考线成α角地入射到光电转换元件15的光接收表面,并被探测以用于APC控制。当棱镜的入射面(抗反射涂覆薄膜AR)与入射光h1成45°角时,与入射光h1垂直的线作为参考线。当棱镜的入射面(抗反射涂覆薄膜AR)与入射光h1不成45°角时,不是与入射光h1垂直的线,而是入射光h1被入射面反射的方向作为参考线。
与该反射光束相反,所述多重被反射光束(在附图中以带箭头的虚线示出)在反复反射及在抗反射涂覆薄膜AR和半透射薄膜HM之间传输的同时逐渐衰减。此外,由于基片的截面形状为上述的楔形,穿过抗反射涂覆薄膜AR和半透射薄膜HM的该多重反射光束相应于反射次数以较大的角度发出,而不是平行于参考线(即α<β)。因此,入射到光电转换元件15的光接收表面上的该多重反射光束被显著减少,而此外,包含在透射光束内的多重反射光束也显著减少。光电转换元件15相对于以双点划线表示的光轴线对称布置。
以这种方式,在相对CD进行信息记录或信息再现情况下的多重反射光束的影响可以减小,因此,可以进行高精度的APC控制,且相对CD的光束强度可以自动调节到更正确。
同样,在相对DVD进行信息记录或信息再现的情况下,如图8所示,当入射光束(激光束)h2从成形棱镜9向半透射薄膜HM入射时,激光束h2中的约90%被形成为反射光束,并被反射到反射镜14的侧面,而激光束h2中的约10%被透射并入射到光电转换元件15上。
同样在该情况下,如上所述,一般地是,当激光束h2穿过半透射薄膜HM,除了透射光束外也产生多重反射光束,因此当这些透射光束和多重反射光束穿过基片内侧并向光电转换元件侧发射时,不仅探测到要被探测而用于APC控制的透射光束,而且探测到多重反射光束,并使APC控制的精度改善变得困难。
然而,根据本发明的具有楔形截面的光学路径结合棱镜13x,穿过半透射薄膜HM的透射光束以相对于参考线α角的角度入射到光电转换元件15的光接收表面上,并被探测以用于APC控制。(如图8所示,平行或垂直于入射光h2的线作为参考线。当棱镜的入射面(半透射涂覆薄膜表面HM)与入射光h2不成45°角时,不是与入射光h2垂直的线,而是入射光h2被入射面反射的方向作为参考线。)与该透射光束相反,多重反射光束(图8中以带箭头的虚线示出)在反复反射及在抗反射涂覆薄膜AR和半透射薄膜HM之间传输的同时逐渐衰减。此外,由于基片的截面形状是如上所述的楔形,穿过抗反射涂覆薄膜AR和半透射薄膜HM的多重反射光束相应于反射次数以较大的角度发射,而不是平行于参考线发射(即α<β)。因此,入射到光电转换元件15的光接收表面的多重反射光束被显著减少。光电转换元件15相对于以双点划线表示的光轴线对称布置。
以这种方式,在相对DVD进行信息记录和信息再现情况下的多重反射光束的影响可以减小,因此可以以高精度执行APC控制,且相对DVD的光束强度可以自动调节到更正确。
顺便地说,在图7和图8中,光学路径结合棱镜13x可以被倾斜并放置成激光束h2相对于半透射薄膜HM的入射角成为45°,而激光束h1相对抗反射涂覆薄膜AR的入射角成为45°或更大,在这种情况下,多重反射光束的影响也可减小。同样,与之相反,光学路径结合棱镜13x可以倾斜并放置成激光束h2相对于半透射薄膜HM的入射角成为45°或更大,而激光束h1相对抗反射涂覆薄膜AR的入射角成为45°。
此外,光学路径结合棱镜13x可以被倾斜并放置成激光束h2相对半透射薄膜HM的入射角和激光束h1相对于抗反射涂覆薄膜AR的入射角都成为45°或更大。
此外,作为另一个改进的示例,如图9所示,与图8的情况相比,光学路径结合棱镜13x的基片厚度可以相反,即,光学路径结合棱镜13x的基片剖面形状可以形成为楔形,其中随着靠近光电转换元件15而变薄,而随着远离光电转换元件15而变厚。
此外,可以实现使激光束h2相对图9所示的光学路径结合棱镜13x的半透射薄膜HM的入射角和图9所示的光学路径结合棱镜13x的激光束h1相对抗反射涂覆薄膜AR的入射角成为45°,且其可以适宜地调整为非45°的其他角度,而在任何情况下,多重反射光束的影响都可以减小。
此外,在图1到图9所示的光拾取装置中,其被构造成用于相对CD进行信息记录或信息再现的激光束h1从光学路径结合棱镜13的抗反射涂覆薄膜AR侧发出,而用于相对DVD进行信息记录或信息再现的激光束h2从光学路径结合棱镜13的半透射薄膜HM侧发出,而与其相反的是,该装置也可以被构造成用于相对DVD进行信息记录或信息再现的激光束h2从光学路径结合棱镜13的抗反射涂覆薄膜AR侧发出,而用于相对CD进行信息记录或信息再现的激光束h1从光学路径结合棱镜13的半透射薄膜HM侧发出。
此外,上述的半透射薄膜HM的反射率和透射率可以适宜地根据设计规范加以改变。即,半透射薄膜HM的反射率和透射率可以适宜地改变,以便入射到反射镜14侧面上的强度变得比通过光学路径结合棱镜13而入射到光电转换元件15上的光束强度大。那么,当半透射薄膜HM的反射率和透射率被设定为入射到反射镜14侧面的光束强度变得大于入射到光电转换元件15上的光束强度时,光电转换元件15和反射镜14的位置彼此互换,而物镜可以对应于被更换的反射镜14加以放置。
此外,抗反射涂覆薄膜AR可以根据设计规范而省略。
同样,已经描述了用于CD或DVD的光拾取装置,而本发明的光拾取装置不局限于CD和DVD,且可以通过利用具有不同波长(不限于两种波长)的光束相对其他信息记录介质进行信息记录或信息再现。
如上所述,根据本发明的光拾取装置,设置了适于将从发光源发出的具有不同波长的光束分别导引向汇集的光学路径上的光学路径结合单元,并且由设置在汇集路径上的光电探测单元探测每种光束,因此,可以仅通过一个光电探测单元探测每种光束。其结果为可以提供能够小型化和重量减轻的具有兼容性的光拾取装置。
同样,光学路径结合单元包括具有彼此不平行的第一表面和第二表面的透明介质,和设置在第二表面上的半透射薄膜,且该单元由光学元件形成,其中,一束光束从第一表面侧发射,而另一束光束从第二表面侧发射,因此,其可以构造成在从第二表面侧入射的一束光束穿过半透射薄膜的情况下产生的多重反射光束不到达光电探测装置。其结果是,多重反射光束的影响可以被减小,以进行发光源光发射强度控制所需的光电探测,且发光源的光发射强度可以以高精度控制。
权利要求
1.一种光拾取装置,包括分别适于发出具有不同波长的光束的多个发光源;适于将光束的光学路径结合以形成公共光学路径的光学路径结合单元;以及设置在公共光学路径上并适于探测光束的光电探测单元,其中,每个光源的光发射强度基于由光电探测单元探测的探测结果加以控制。
2.如权利要求1所述的光拾取装置,其中,多个发光源的数量为二;所述光学路径结合单元包括具有彼此相对的第一表面和第二表面的透明介质;以及设置在第二表面上的半透射薄膜;一种光束入射到第一表面上;而另一种光束入射到第二表面上。
3.如权利要求2所述的光拾取装置,其中,光学路径结合单元通过半透射薄膜将各光束之一分离成向信息记录介质发射的第一透射光束和通过透明介质向光电探测单元发射的第一反射光束;光学路径结合单元通过半透射薄膜将另一光束分离成向信息记录介质发射的第二反射光束和通过透明介质向光电探测单元发射的第二透射光束。
4.如权利要求2所述的光拾取装置,其中,第一表面和第二表面是平行的。
5.如权利要求2所述的光拾取装置,其中,第一表面和第二表面是不平行的。
6.如权利要求5所述的光拾取装置,其中,第一表面和第二表面相对激光束分别被设定成倾斜,因此,作为在第一和第二表面之间重复反射光束的多重反射光束不会到达光电探测单元。
全文摘要
从半导体激光器2a、3发出的具有不同波长的激光束h1、h2入射到光学路径结合棱镜13上,且每个激光束h1、h2的光学强度被设置在由其上设置半透射薄膜HM的光学路径结合棱镜13汇集的光学路径上的光电转换元件15探测,而每个半导体激光器2a、3的光反射强度的APC控制基于每个探测结果加以执行。其结果是,穿过光学路径结合棱镜13而被施加到信息记录介质上的激光束h1与被光学路径结合棱镜13反射以施加到信息记录介质上的激光束h2的光束能量被适宜地控制。
文档编号G11B7/125GK1347099SQ01133179
公开日2002年5月1日 申请日期2001年9月20日 优先权日2000年9月22日
发明者茂木武都, 高桥真一, 菅野光俊, 石井耕, 势田吉宏, 川村诚 申请人:日本先锋公司
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