专利名称：盘设备和盘处理方法
技术领域：
本发明涉及将信息记录在比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW的盘上的盘设备。本发明也涉及处理盘的盘处理方法。
背景技术：
近年来，光盘比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW已经都可购买到。因此，将信息记录在这些光盘上或从这些光盘再现信息的光盘驱动器也已经可购买到。
一旦接收光盘，光盘驱动器检查所接收的光盘的逻辑和物理规格，由此执行正常的光盘的再现/记录操作。
光盘驱动器有时甚至检查光盘的各种缺陷以及它的逻辑和物理规格。日本专利申请KOKAI出版物No.10-312568公开了一种使光盘驱动器根据缺陷检查结果获得最佳的记录功率值的技术。
然而，根据上述的技术，由于信息甚至被记录在具有缺陷的区域中，因此降低了光盘的可靠性。此外，由于某些缺陷光盘可能整体地变得不可用。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种能够处理具有缺陷的盘但不降低可靠性的盘设备和盘处理方法。
根据本发明的一方面的盘设备包括被构造成检测盘缺陷的缺陷检测单元、被构造成基于缺陷检测单元的缺陷检测结果设置在该盘的所有记录区域中能够实际地记录信息的实际记录区的设置单元、和被构造成在通过设置单元设置的实际记录区中记录用户信息的记录单元。
根据本发明的一方面的盘处理方法包括检测盘缺陷和基于缺陷检测结果设置在该盘的所有的记录区中能够实际地记录信息的实际记录区。
在下文的描述中进一步阐述本发明的其它目的和优点，这些目的和优点部分从这些描述中是显而易见的或通过实践本发明可以得知。借助于在此所特别指出的方式或其组合可以实现并获得本发明的目的和优点。
并入在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的当前优选的实施例，这些附图连同上文给出的一般性描述和下文给出的优选实施例的详细描述一起用于解释本发明的原理。
附图1所示为根据本发明的一种实施例的光盘的示意性结构视图；附图2所示为光盘处理方法的实例的流程图；附图3所示为根据本发明一种实施例的光盘的视图。
具体实施例方式
下文参考附图描述本发明的实施例。
附图1所示为根据本发明的一种实施例的光盘设备的示意性结构的视图。这种光盘设备将信息记录在光盘D(比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW)上或再现记录在光盘D上的信息。
如附图1所示，光盘设备包括光学拾取器10、调制电路21、记录控制部分22、激光控制电路23、信号处理电路24、解调电路25、可记录区设置部分26、致动器27和缺陷检测部分30。
光学拾取器10包括激光器11、准直透镜12、偏振分束器(在下文中称为PBS)13、λ/4波片14、物镜15、聚光透镜16和光检测器17。
缺陷检测部分30包括聚焦误差信号产生电路31、聚焦控制电路32、跟踪误差信号产生电路33和跟踪控制电路34。
首先描述通过光盘设备在光盘D上的信息记录。调制电路21根据预定的调制方案将记录信息(数据符号)调制成通道位序列。对应于该记录信息的通道位序列输入到记录控制部分22。记录控制部分22将控制信号输出给致动器27并使它驱动光学拾取器以将光束适当地聚焦到目标记录位置。记录控制部分22也将通道位序列输送给激光控制电路23。激光控制电路23将通道位序列转换为激光驱动波形并驱动激光器11。即，激光控制电路23脉动地驱动激光器11。因此，激光器11发射对应于所需的位序列的记录光束。通过准直透镜12将从激光器11中发射的记录光束准直成平行光束并入射及通过PBS 13。已经通过PBS 13的光束通过λ/4波片14并通过物镜15聚焦在光盘D的信息记录表面上。在通过聚焦控制电路32和致动器27的聚焦控制和通过跟踪控制电路34和致动器27的跟踪控制下，将聚焦的记录光束保持在这样的状态下在记录表面上可以获得最佳的小束点。
下文描述通过这种光盘设备从光盘D中进行数据再现。激光控制电路23基于再现控制信号驱动激光器11。因此，激光器11发射再现光束。从激光器11中发射的再现光束通过准直透镜12准直成平行光束并入射及通过PBS 13。已经通过PBS 13的光束通过λ/4波片14并通过物镜15聚焦在光盘D的信息记录表面上。在通过聚焦控制电路32和致动器27的聚焦控制和通过跟踪控制电路34和致动器27的跟踪控制下，将聚焦的再现光束保持在这样的状态下在记录表面上可以获得最佳的小束点。这时，在信息记录表面中的反射膜或折射记录膜反射辐射光盘D的再现光束。所反射的光在相反的方向上通过物镜15并再次转换成平行光束。所反射的光通过λ/4波片14。该光具有垂直于入射光的偏振并通过PBS 13反射。通过PBS 13反射的光束通过聚光透镜16会聚并入射在光检测器17上。光检测器17例如由四分光检测器形成。入射在光检测器17上的光束被光电地转换为电信号并被放大。信号处理电路24使经放大的信号均衡并二值化并发送给解调电路25。解调电路25执行对应于预定的调制方案的解调操作以输出再现的数据。
基于从光检测器17中输出的部分电信号，聚焦误差信号产生电路31产生聚焦误差信号。类似地，基于从光检测器17中输出的部分电信号，跟踪误差信号产生电路33产生跟踪误差信号。聚焦控制电路32基于聚焦误差信号控制致动器27以控制束点的聚焦。跟踪控制电路34基于跟踪误差信号控制致动器27以控制束点的跟踪。
缺陷检测部分30例如通过监测聚焦误差信号和跟踪误差信号来检测光盘缺陷。为检测光盘缺陷，可以使用除了聚焦误差信号和跟踪误差信号以外的各种因素。光盘缺陷使光盘的记录/再现的性能降低。通过缺陷检测部分30所检测的缺陷的实例如下。
·盘的翘曲·盘重心的偏心·盘中心的偏心·盘的波度基于缺陷检测结果，可记录区设置部分26设置光盘D的所有的记录区域的可记录区(＝实际记录区)，在该区域中可以实际地记录信息。关于通过可记录区设置部分26所设置的可记录区的信息发送给记录控制部分22。记录控制部分22控制致动器27以将用户信息记录在可记录区中。
下文接着描述光盘缺陷检查和光盘的记录性能。在光盘D插入到附图1中所示的光盘设备中时，光盘设备检查使所插入的光盘D的记录性能降低的缺陷。即，如上文所述，缺陷检测部分30例如通过监测聚焦误差信号和跟踪误差信号来检测光盘缺陷。
假设n是要检查的缺陷元的数量，D1，D2，…，Dn是缺陷元。所插入的光盘D被分为m(m是自然数)个区1，2，…，m。假设Dij是对应于缺陷元Di的区域j的值。更具体地说，在每个区域中检查缺陷元Di，则在区域j中检查的缺陷元Di的值定义为Dij。在缺陷元Di独立于区域恒定地存在时，Di1＝Di2＝，…，＝Dim。在检查到将会降低所插入的光盘D的记录性能的缺陷时，得到如下的值·在区域1中的缺陷元的检查值的组{D11，D21，…，Dn1}·在区域2中的缺陷元的检查值的组{D12，D22，…，Dn2}·在区域j中的缺陷元的检查值的组{D1j，D2j，…，Dnj}·在区域m中的缺陷元的检查值的组{D1m，D2m，…，Dnm}从在区域j中的缺陷元的检查值的组{D1j，D2j，…，Dnj}中获得在区域j中预测的记录性能Aj。
Aj＝f{D1j，D2j，…，Dnj}可记录区设置部分26使用记录性能Aj执行每个区域的可记录性确定。
接着下文更详细地描述光盘缺陷检查和光盘的记录性能。同时，参考在附图2中所示的流程图描述光盘处理方法。描述光盘D(比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW)的缺陷检查。
如附图3所示，光盘分被分为n(n是自然数)个区域1，…，n(从内周边侧起以递增的顺序分配该数量)。即，光盘被分为具有不同的径向距离的n个环形区域。从通过盘缺陷检查中获得的每个缺陷分量中估计的记录性能A被分配给每个区域。区域k(k是自然数；k＜n+1)的记录性能由Ak表示。
盘缺陷例如包括盘的翘曲(翘曲分量S)、盘的波度(侧面跳动分量M)、盘重心的偏心(质量偏心分量H)和盘中心偏心(偏心分量C)。可以检查每个区域的翘曲分量S和侧面跳动分量M。通过Sk表示每个区域的翘曲分量，而以Mk表示每个区域的侧面跳动分量。即，翘曲分量S和侧面跳动分量M是对于每个径向距离所检测的缺陷元。
一旦接收到光盘D，光盘设备检测光盘D(ST1)并检查缺陷分量(ST2)。对于翘曲分量S，检测在每个区域中的盘表面的倾斜，获得相应的区域的S1，S2，…，Sn。基于在每个区域中的聚焦误差信号检查侧面跳动分量M并获得相应的区域的M1，M2，…，Mn。质量偏心分量H和偏心分量C为所有的区域所共有，获得H和C。从在该区域中获得的缺陷分量中获得每个区域的记录性能Ak。该区域k的记录性能由下式给出Ak＝f(Sk，Mk，H，C)这里f定义为值Ak越大记录性能越差。
将获得足够的记录性能的阈值定义为T。
满足Ak＜T的区域k被确定为可记录区。不满足Ak＜T的区域k被确定为不可记录区。
在光盘D的所有记录区满足Ak＜T时，检查结果比较满意(在ST3中为“是”)。将光盘D作为正常盘处理(ST8)。即，将光盘D的所有记录区作为可记录区处理。
在并不是光盘D的所有记录区满足Ak＜T时，检查结果不满意(在ST3中为“否”)。通过可记录区设置部分26设置可记录区(ST4)。对应于不满足Ak＜T的最内的一个区域的区域k(最小k)定义为k0。在光盘D的所有记录区中，区域1，2，…，k0-1是可记录区。在信息(用户信息)已经记录在除了光盘D的所有记录区的区域1，2，…，k0-1的之外的区域中时(在ST5中为“是”)，将光盘D作为不可记录的可擦除盘处理(ST7)。在信息(用户信息)还没有记录在除了光盘D的所有记录区的区域1，2，…，k0-1的之外的区域中时(在ST5中为“否”)，将区域1，2，…，k0-1的容量处理为盘的容量(可记录区)(ST6)。
如上文所描述，在根据本发明的实施例的光盘设备和光盘处理方法中，可以检测到其中不能获得足够的记录性能的缺陷区域，并在光盘D的所有记录区中设置能够实际记录信息的实际记录区。对于光盘D(比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW)，通常从内侧到外侧记录用户信息。即，可以检测在光盘的所有记录区中不能获得足够的记录性能的缺陷区，并仅将所检测的缺陷区的最内侧的缺陷区里面的区域设置为可记录区。因此，仅使用光盘的整个记录容量没有缺陷的区域。甚至可以使用具有缺陷的光盘而不降低可靠性。还可以解决由于某些严重的缺陷引起光盘整个地变得不可用的问题。
本领域的普通技术人员容易理解其它的优点和变型。因此，就广义上讲本发明并不限于在此所描述并示出的具体的细节和有代表性的实施例。因此，在不脱离如附加的权利要求和它们的等效方案所界定的一般发明原理的精神和范围的前提下可以做出各种变型。
权利要求
1.一种盘设备，其特征在于包括被构造成检测盘缺陷的缺陷检测单元(30)；被构造成基于缺陷检测单元的缺陷检测结果设置在该盘的所有记录区中能够实际地记录信息的实际记录区的设置单元(26)；和被构造成在通过设置单元设置的实际记录区中记录用户信息的记录单元(22)。
2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于该缺陷检测单元检测每个预定区的缺陷，和该设置单元基于通过缺陷检测单元所检测的缺陷检测结果获得每个预定区的记录性能，并设置在盘的所有的记录区中满足预定的记录性能水平的区域作为能够实际记录信息的实际记录区。
3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于该缺陷检测单元检测对应于径向距离的每个预定区的缺陷，和该设置单元基于通过缺陷检测单元所检测的缺陷检测结果获得每个预定区的记录性能，并设置在盘的所有的记录区中不满足预定的记录性能水平的最内的一个区域里面的区域作为能够实际记录信息的实际记录区。
4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于该缺陷检测单元在对应于径向距离的每个预定区中检测对于每个径向距离都变化的第一缺陷并检测为整个盘共有的第二缺陷，和该设置单元基于通过缺陷检测单元所检测的缺陷检测结果获得每个预定区的记录性能，并设置在盘的所有的记录区中不满足预定的记录性能水平的最内的一个区域里面的区域作为能够实际记录信息的实际记录区。
5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于在用户信息已经记录在除了盘的所有记录区的实际记录区之外的区域中时，该设置单元将该盘设置为不可记录的盘。
6.一种盘处理方法，其特征在于包括检测(ST2)盘缺陷；和基于缺陷检测结果设置(ST4)在该盘的所有记录区中能够实际地记录信息的实际记录区。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于检测每个预定区的缺陷，和基于缺陷检测结果获得每个预定区的记录性能，并设置在盘的所有记录区中满足预定的记录性能水平的区域作为能够实际记录信息的实际记录区。
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于对于与径向距离对应的每个预定区检测缺陷，和基于缺陷检测结果获得每个预定区的记录性能，并设置在盘的所有记录区中不满足预定的记录性能水平的最内的一个区域里面的区域作为能够实际记录信息的实际记录区。
9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于对于与径向距离对应的每个预定区检测对于每个径向距离都变化的第一缺陷并检测为整个盘共有的第二缺陷，和基于缺陷检测结果获得每个预定区的记录性能，并设置在盘的所有的记录区中不满足预定的记录性能水平的最内的一个区域里面的区域作为能够实际记录信息的实际记录区。
10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于在用户信息已经记录在除了盘的所有记录区的实际记录区之外的区域中时，将该盘设置为不可记录的盘。
全文摘要
本发明涉及盘设备和盘处理方法，其中盘设备包括被构造成检测光盘缺陷的缺陷检测单元(30)、被构造成基于缺陷检测单元的缺陷检测结果设置在该盘的所有记录区域中能够实际地记录信息的实际记录区的设置单元(26)和被构造成在通过设置单元设置的实际记录区域中记录用户信息的记录单元(22)。
文档编号G11B20/10GK1503234SQ20031011833
公开日2004年6月9日 申请日期2003年11月21日 优先权日2002年11月21日
发明者铃木贵广 申请人:株式会社东芝