专利名称：光记录介质和记录/再现方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光记录介质、记录/再现方法和用于通过使用激光束等的辐射对信息进行记录和再现的记录/再现装置。
背景技术：
光学记录介质作为一种具有大容量和高密度的存储器已经引起了广泛的关注。已经发展出一种被称为可擦型的可写光学记录介质。可擦的光学记录介质具有一个记录层，其由薄膜构成，该膜在无定形和晶态之间进行相变换，通过由于激光束产生的热能而对信息进行记录和擦除。由Ge、Sb、Te、In、等主要成分构成的合金膜，例如GeSbTe膜，作为用于记录层的相变材料已经为人们所公知。在很多的情况下，在通过对无定形标记的晶化进行对信息擦除时，通过部分将记录层改变为非定形状态而形成标记对信息进行记录。通过以脉冲形式发射强的激光束而形成非定形状态，将记录层加热到不低于熔点的温度，然后以预定的或更快的速度对其进行冷却。另一方面，通过辐射相对较弱的激光束将记录层加热到结晶温度和熔点温度之间。
通过PWM记录将信息记录到介质中，其中通过形成不同长度的带有各种间隔部分的标记并通过标记长度和间隔长度(即标记的前和后端的边位置)表示信息。
如图1所示为传统的光学记录介质。光学记录介质1具有中心孔2，用于将其固定到记录/再现装置上。用导槽(图4)形成基片以跟踪记录或再现的激光束。光学记录介质1具有由0.6mm厚的聚碳酸酯形成的透明基片，在其上形成记录层。记录层由作为相变记录材料的GeSbTe构成。通过在其上辐射激光束，可将记录层部分的转化为非定形状态，从而形成记录标记。根据PWM记录方案形成带有不同间隔部分的不同长度的标记，其中通过标记和相邻间隔部分的长度表示信息。
记录介质1具有一个导引区3，用于通过凹凸部分(未示出)记录介质等的记录介质识别信息，诸如地址信息和进行再现等的信息。记录介质1还包含三个记录区4-6，通过记录/再现装置可对其进行记录。记录/再现条件记录区4用于记录诸如脉冲条件、伺服条件、处理条件等的再现信号等的记录/再现条件。检测记录区5用于检测特定数据的记录，以便测量信号质量。信息记录区6用于记录信息。用于记录/再现条件的记录区4和检测记录区5设置在导引区3和信息记录区6之间。当在记录介质中记录信息时，首先访问导引区3。接着，读出记录在记录区4中的记录/再现条件，并根据记录/再现条件，设定诸如脉冲条件、伺服条件和再现信号处理条件等条件。如果需要的话，检测记录区5用于检测记录。即记录作为检测的特定数据，检测对被记录数据进行再现的信号的质量。在信息记录区6中记录信息。由于按照上述的方式设置区域3-6，在很短的访问时间内，将用于记录的光头所覆盖的记录缩短到最小。在内周边上可设置记录/再现条件记录区4或检测记录区5。然而，在上述传统记录介质中，如果出现介质污染或其他原因，会使记录区4中的信息无法再现。结果，降低了记录在介质中的记录/再现条件的可靠性。
此外，在PWM记录中，如果仅仅用等于标记长度的强激光脉冲进行辐射形成长标记，在标记的前部产生的热量会增强后部的温度增加。因此，标记变形，具有窄的前部和宽的后部，从而降低了信号质量。因此，如图4中所述，通过使用包含与标记的前端对应的第一脉冲、与其中间部分对应的中间脉冲和与其后部对应的最后脉冲的多个激光脉冲形成标记。
即使在此方法中，当由于记录密度增加而使得标记间的间隔降低时，形成标记所产生的热量会影响相邻标记的形成。这将导致这样的问题，即边位置的变化会降低信号的质量。由于标记之间的热干扰而造成的边位置的变化依赖于要记录的标记的长度和标记前后的间隔部分的长度。为了解决此问题，日本专利公开7-129，959/1995提出一种适合记录补偿方案的信号图形，其中图4中的第一和最后脉冲的生成时间“a”和“b”根据标记的长度和标记前后的间隔部分的长度而变化。
然而最优的脉冲条件依赖于对介质和记录/再现装置的特性的大量的测试。类似的，最优的伺服条件，诸如焦点和轨迹位置及用于确定各种记录和再现伺服操作的增益，和最优再现信号处理条件，诸如均衡特性和二进制限制电平，都依赖于介质和记录/再现装置的特性。
因此，每次启动记录/再现装置，用固定的光记录介质进行记录，进行检测记录，同时改变诸如脉冲条件、伺服条件和/或再现信号处理条件等记录/再现条件。然后，将再现信号的质量和测量的结果进行比较，以确定最优的记录/再现条件，并根据最优的记录/再现条件进行信息的记录。然而，在确定最优记录/再现条件时总是存在一个问题，即在进行启动时需要一个被称为检验的行动，以使等待的时间更长。
EP-A-0 442 566揭示了一种信息记录装置，其包含存储装置，用于在存储器中存储最优的设置以及确定数据，该数据表示已经确定的记录装置和记录载体调节数据的组合。
US 5,631,887揭示了一种脉冲宽度调制光盘驱动器，其将激光器产生的写和脉冲图形矫正到特定的介质和介质状态。
发明内容
由此，本发明的目的在于提供一种光学记录介质，记录/再现方法和记录/再现装置，其可缩短检验所需要的时间，实现短的启动时间，同时提高记录在介质中的记录/再现条件的可靠性。
在本发明第一方面中，提供一种光学记录介质，对信息进行记录，其包含一个信息记录区，用于记录信息；一个可重写记录/再现条件记录区，用于记录多个在记录/再现装置中使用的记录/再现条件，和多组用于识别所述记录/再现装置的装置信息，所述多组装置信息中的每个都对应与所述多个记录/再现条件中的一个对应；及第二记录/再现条件记录区，记录与在所述可重写记录/再现条件记录区中相同的信息。
优选的是，所述装置信息为用于识别记录/再现装置的生产者的厂商信息。
优选的是，所述装置信息为表示日期的时间信息，在该日期记录至少一个所述记录/再现条件。
优选的是，所述可重写型光学记录介质还包含一个导入区，用于形成只读数据，其中所述可重写记录/再现条件记录区被设置在所述信息记录区和所述导入区之间。
优选的是，所述可重写型光学记录介质进一步包含一个检测记录区，设置在所述信息记录区和所述导入区之间，所述检测记录区用于检测特定信号的记录，以测量被再现信号的质量。
在本发明第二方面中，提供一种记录/再现方法，用于在所述可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及装置信息，所述记录/再现方法包含通过检测记录确定用于记录信息和再现信息中的至少一个的记录/再现装置的最优记录/再现条件；和将所述最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上的第一条件记录区中；在可重写型光记录介质上的第二条件记录区中记录与第一条件记录区中所记录的相同的信息；在本发明第三方面中，提供一种记录/再现装置，用于在可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及装置信息，所述记录/再现装置包含控制器，通过检测记录可确定用于记录信息和再现信息中的至少一个的记录/再现装置的最优记录/再现条件，同时可将所述最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上的第一条件记录区中，在可重写型光记录介质上的第二条件记录区中记录与第一条件记录区中所记录的相同的信息。
根据第二和第三方面，其中当在第一条件记录区中所记录的记录/再现条件的数据达到预定的数值时，从第一条件记录区中删除最旧的记录/再现条件，并将最优的记录/再现条件记录到第一条件记录区中。
本发明的优点在于可缩短检验所需要的时间，并实现短的启动时间，同时提高了记录在介质中的记录/再现条件的可靠性。
通过下面结合相应附图的详细描述会对本发明的上述和其他的优点和目的及特征有更清楚的了解，其中图1为传统的光学记录介质的示意图；
图2为根据本发明一个实施例的光学记录介质的示意图；图3为用于光学记录介质的记录/再现装置的示意图；图4为用于揭示标记的形状和用于形成标记的脉冲条件的示意图；图5为根据本发明的用于光学记录介质的第一记录/再现方法的流程图；图6为检验的流程图；图7为根据本发明的用于光学记录介质的第二记录/再现方法的流程图；图8为记录的流程图；图9为根据本发明的用于光学记录介质的第三记录/再现方法的流程图；图10为根据本发明的用于光学记录介质的第四记录/再现方法的流程图；图11为根据本发明的用于光学记录介质的第五记录/再现方法的流程图；图12为根据本发明的用于光学记录介质的第六记录/再现方法的流程图。
具体实施例方式
现在参考附图，其中在附图中类似的标号表示同类的元件，下面将对根据本发明的光学记录介质、和记录/再现方法及记录/再现装置进行描述。
图2中示出了根据本发明实施例的光学记录介质，其与图1中所示现有技术中的光学记录介质相类似，两者的区别在于记录区4。记录区4由两个子区构成，其包含第一记录子区4a和第二记录子区4b。第一和第二记录子区4a和4b用于记录相同的记录/再现条件。在实例中，当读出记录/再现条件时，首先访问子区4a，如果无法读出记录/再现条件，访问第二子区4b。结果，即使当记录在第一子区1a或第二子区1a中的信息由于介质污染或其他原因而无法再现时，也可从其他的子区获得该数据。因此，可提高记录在介质中的记录/再现条件的可靠性。
当第一次使用具有上述结构的记录介质时，进行检测记录，同时改变记录/再现装置中的记录/再现条件，比较再现信号的测量的质量以确定最优的记录/再现条件。将确定的条件记录到记录区4中。当此后使用记录介质1时，可读出记录到记录区4中的记录/再现条件。然后，可省略在访问介质时用于确定最优记录/再现条件的检验。在此情况下，当将介质固定时，启动记录/再现装置，并缩短等待时间，从而实现短的启动时间。
另外，在检验中，可使用一个简单的方法。在改变记录/再现条件的同时进行检测记录。将再现信号的测量质量的结果与预定的条件进行比较，一旦结果满足预定的条件，就将在测量时获得记录/再现条件采用作为最优记录/再现条件。
记录区4最好被用做用于记录以及记录/再现条件、用于确认使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息的区域。在此实例中，记录区4被分配具有足够的容量，用于记录多组记录/再现条件，每个都具有记录/再现装置信息。此结构可使得在光学记录介质中记录多组记录/再现条件，并在多组的记录/再现条件中选择用于记录的适合用于记录/再现装置的记录/再现条件。结果，当对多个记录/再现装置使用单一的介质时，可补偿装置中记录/再现特性的差别。
最好，记录/再现装置信息具有多个级别，并具有识别记录/再现装置的生产商的生产信息，确认记录/再现装置的型号的型号信息，用于确认记录/再现装置的序号等。通过此结构，即使在介质中未记录用于记录或再现的记录/再现装置所确定的记录/再现条件，可采用通过与诸如相同厂商或相同型号的记录/再现装置具有类似记录/再现特性的记录/再现装置确定的记录/再现条件。因此，可省略用于确定最优记录/再现条件的检验，并可缩短用于固定介质和用于启动记录/再现装置的等待时间。
另外，记录/再现条件记录区4可被用做用于记录时间信息的区域，该信息表示在介质中记录记录/再现条件记录时间和日期，同时还有记录/再现条件和记录/再现装置信息。在此情况下，通过使用时间信息可记录用于记录的从确定记录/再现条件时开始所经过的时间。如果从确定记录/再现条件时开始所经过的时间不短于预定的长度，通过再次确定最优记录/再现条件可补偿记录/再现装置随时间的记录/再现特性的变化。
在上述的实施例中，将作为相变材料的GeSbTe合金作为记录层。另外，也可使用诸如磁-光记录材料或有机色素材料。另外，记录层可为只记录一次的写入一次型的记录层代替可写、可擦型。对于可擦型，通过在旧的信息上重新写入信息及通过在用于写入一次的旧信息后对信息进行记录可对记录区4中的记录/再现条件进行更新或增加。因此，对于写入一次型，需要为用于记录/再现条件的记录区4提供相对大的容量。
另外，在出装时可事先将最优记录/再现条件记录到记录区4中。在此情况下，在出装时可对各个介质之间的记录特性的差别进行补偿。接着，当对介质进行固定或启动记录/再现装置时，可省略用于确定最优记录/再现条件的检验，从而可缩短等待时间。
接着，将对使用光学记录介质的用于记录/再现的方法和装置进行描述。图3为记录/再现装置的方框图，其中固定了图1或图2中所示的光学记录介质1。在记录/再现装置中，主轴电机24旋转所固定的光学记录介质1。控制器7控制整个的记录/再现装置。存储部分16具有一个存储器件，用于存储包含脉冲条件、伺服条件和再现信号处理条件、用于表示使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息、和表示确定记录/再现条件时的时间和日期的时间信息的的记录/再现条件。调制器19对记录到记录信号中的数据进行转换。脉冲条件设定器8设定信息记录时的脉冲条件。脉冲控制器9根据脉冲条件控制激光脉冲。激光驱动电路10根据来自脉冲控制器9的信号驱动激光二极管，和包含激光二极管的光头11，将激光束聚焦到介质中，用于记录信息从反射光产生再现信号。前置放大器12放大再现信号。伺服条件设定器21对伺服电路20设定伺服条件，根据来自前置放大器12的输出信号的伺服条件对光头11的聚焦和跟踪进行控制。均衡器13对再现信号的频率特性进行矫正。均衡条件设定器22对均衡器13进行均衡条件设定，二进制电路14将通过均衡器13矫正的信号转换为二进制信号。二进制条件设定器23将二进制限制电平设定给二进制电路14。记录/再现条件解调器15从二进制电路14产生的信号解调包含记录在介质1的记录/再现条件记录区中的记录/再现条件、用于确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息和表示确定记录/再现条件的日期和时间的时间信息的数据。数据解调器18解调其他的数据，信号质量确定器17由介质中的检测记录区中的特定数据确定被作为检测信号的所记录和再现的质量。
通过PWM记录方案记录信息。如图4中所示，在其中对激光束进行分割的多个激光脉冲包含与标记的前端对应的第一脉冲，与标记的中间部分对应的中间脉冲和与标记的后端对应的最后脉冲。在图4中，“a”、“c”和“e”分别表示第一脉冲的生成时间、长度和强度，“b”、“d”和“f”分别表示最后脉冲的生成时间、长度和强度。另外，“g”表示脉冲之间的激光束的强度，“h”表示间隔部分中的激光束的强度。在后面中，包含项目“a”到“h”的用于形成激光脉冲的条件被称为脉冲条件。当形成标记时，对激光脉冲进行辐射，同时分别根据与被记录的标记对应的标记长度和标记前后的间隔长度改变第一和最后脉冲的生成时间“a”和“b”。通过使用根据本实施例的记录/再现装置，所形成的标记在其前后端的预定位置具有边。另外，可通过记录标记更好的对信息进行再现。
接着，将对图1或图2中所示的用于上述记录介质的记录/再现方法进行描述。通过控制器对此记录/再现方法和其他的进行控制。图5为记录/再现方法的流程图。首先，在步骤401，启动用于记录介质1的记录/再现装置。对记录介质1进行固定并在主轴电机24上旋转。然后通过激光头11将用于再现信息的激光束辐射到介质上。通过访问介质1中的导引区3，读出记录在导引区3中的识别信息或介质的识别信息。为了读取识别信息，通过前置放大器12对通过光头11获得的作为从介质1反射的光束的再现信号进行放大，通过均衡器13对频率特性根据由均衡条件设定器22设定的预定均衡条件进行矫正。接着，通过二进制电路14用通过二进制条件设定器23设定的预定的二进制限制电平对信号进行二进制化。通过数据解调器18对如此二进制的信号进行解调，并发送到控制器7。通过伺服条件设定器已经将伺服电路20设定到预定的伺服条件，其根据伺服条件按照从前置放大器12输出的信号控制光头的聚焦和跟踪。
接着，在步骤402，读取记录/再现条件。在此步骤，访问介质1中的记录/再现条件记录区4，根据预定的条件或由介质的识别信息指定的条件通过伺服条件设定器21对伺服电路20的伺服条件进行设定。通过伺服电路20对光头11的聚焦和跟踪进行控制。通过前置放大器12对光头11从介质的反射的激光束获得的再现信号进行放大，通过均衡器13对由均衡条件设定器22设定的频率特性矫正到预定的条件或由介质的识别信息指定的均衡条件。接着，通过二进制电路14对再现信号进行二进制化，其中的再现信号已经被二进制条件设定器23或由介质的识别信息指定的二进制限制电平设定到预定的二进制限制电平。通过记录/再现条件解调器15对如此获得的信号进行解调并提供到控制器7。
接着，在步骤403，确定上述的记录/再现条件是否被记录到介质中的记录/再现条件记录区中。如果确定要对条件进行记录(步骤403中为是)，在步骤404将记录/再现条件存储到存储部分16中，在步骤405根据记录/再现条件将信息记录到介质中的信息记录区6中。
在步骤405，按下述的方式对信息进行记录(参考图8)。根据存储到存储部分16中的内容，脉冲条件设定器8对脉冲控制器9设定脉冲条件(步骤4051)，伺服条件设定器21设定伺服电路20的伺服条件(步骤4052)，均衡条件设定器22设定均衡器13的均衡条件(步骤4053)，二进制条件设定器23将二进制电路14设定到二进制电平(步骤4054)。如上所述参考图4，脉冲条件包含第一和最后脉冲的生成时间“a”、“b”，长度“c”、“d”和强度“e”和“f”，脉冲之间的激光的强度“g”，和间隔部分中的激光强度“h”，其分别根据要记录的标记的长度和标记前后的间隔的长度进行确定。通过调制器19将提供到控制器7的数据转换为记录信号，通过脉冲控制器9将记录信号转换为满足由脉冲条件设定器8所设定的脉冲条件的激光驱动信号(步骤4055)。激光驱动电路10根据激光驱动信号驱动在光头11中设置的激光二极管。通过伺服电路20进行控制的聚焦和跟踪的光头11将光头中的激光二极管辐射的光进行聚焦并在介质1中的记录层上形成标记以记录信息。
在步骤406，当确定记录/再现条件未被记录到记录介质上的记录区4中时，进行检验以确定记录/再现条件(步骤403为否)。按照下面方式进行检验(参考图6)。首先，根据上述的介质中的预定的特定条件或由识别信息指定的条件，脉冲条件设定器8设定脉冲控制器9的脉冲条件(步骤4061)，伺服条件设定器21设定伺服电路20的伺服条件(步骤4062)，均衡条件设定器22设定均衡器13的均衡条件(步骤4063)，二进制条件设定器23将二进制电路14设定到二进制限制电平(步骤4064)。接着，通过调制器19将从控制器7输出的特定数据转换为记录信号，并通过在步骤405中相同的程序作为检测记录到介质1中的检测记录区5中(步骤4065)。在通过均衡器13对频率特性进行矫正后，通过放大器12对作为检测记录的介质1中的再现信号进行放大。通过信号质量确定器17对由二进制电路14二进制化的信号的波动值(再现信号相对基准时钟的位置波动)进行测量，并将其与预定的标准进行比较，以确定信号质量(步骤4066)。如果波动值满足标准，则完成检验。另一方面，如果波动值不满足标准，顺序改变脉冲条件、伺服条件、均衡条件和二进制限制电平，记录作为检测的特定数据，并确定所记录的数据的信号质量。重复此程序直到波动满足标准。因此确定了最优记录/再现条件。
接着，在步骤407，将在步骤406通过检验获得的记录/再现条件存储到存储部分16中。接着，在步骤408，将记录/再现条件记录到介质1中的记录/再现记录区4中，并在步骤405，将信息记录到介质中。
通过使用上述的程序，当第一次使用记录介质时，将通过记录/再现装置获得的最优脉冲形成条件记录到记录介质1中的记录/再现条件记录区4中。在此情况下，当再次使用记录介质1时，读取被记录到记录介质1中的记录/再现条件，并存储到存储部分16中，以便对其使用。结果，在每次使用介质时不再需要进行用于确定最后记录/再现条件的检验，可省略或缩短检验。因此，可缩短用于固定介质和用于启动记录/再现装置的等待时间。
图7为通过控制器7所进行的另外一个记录/再现方法的流程图。按照与图5所示的类似的程序进行记录/再现方法，只有一些区别。因此，下面将只对图7中所示的与参考图5所述的记录/再现方法的区别进行描述。如果在步骤503中确定记录/再现调被记录到记录介质1中的记录区4中(步骤503为是)，在步骤504存储记录/再现条件。在步骤505，在介质1中的检测记录区中记录作为检测的特定数据。按照图5中所示的步骤405进行类似的检测记录，区别在于要被记录的数据和介质中的记录区。
接着，在步骤506中，通过放大器12放大步骤505中的介质1中的检测记录区5中所记录的检测数据的再现信号，并通过均衡器13对频率特性进行矫正。接着，通过信号质量确定器17对二进制电路14的二进制信号的波动值(所生成的信号相对基准时钟的位置波动)进行测量。将测量的数据与预定的标准进行比较，以决定信号质量。如果波动值满足标准(在步骤506中为是)，在步骤507，按照步骤405的方法将信息记录到介质1中的信息记录区6中。另一方面，如果波动值不满足标准(在步骤506中为否)，按照与图5中相同的步骤406在步骤508进行检验。步骤501，502，509，510分别对应图5中的步骤401，402，407和408，这里不再描述。
当将记录/再现条件记录到要进行记录的介质中时，随着时间的推移，上述的程序可补偿再记录介质的和记录/再现装置的记录/再现特性的变化。另外，当将信息记录到不同的记录/再现装置中时，将记录/再现条件记录到介质中，可对装置之间的记录/再现特性的差别进行补偿。
图9为根据本发明的记录/再现方法的流程图。按照图8中类似的程序进行该方法，只存在小差别。因此，下面将对图9中与图7中所示的记录/再现方法的区别进行描述。当将记录/再现条件记录到介质中时，在记录/再现方法中，使用记录介质，其中同样使用记录区进行记录，以及记录/再现条件和表示时间和日期的时间信息。
首先，步骤601，602对应图7中的步骤501，502，这里不再描述。
在步骤603，控制器7确定在介质1中的记录/再现条件记录区4中是否记录记录/再现条件。如果记录/再现条件和时间信息，其表示当在介质中记录记录/再现条件的日期和时间被记录在记录/再现条件记录区4中(步骤603为是)，在步骤604将在步骤602读取的记录/再现条件和时间信息存储到存储部分16中。接着，在步骤605，控制器7将时间信息与控制器7中的时钟时间进行比较。如果其间的差别大于预定的基准(步骤605为是)，按照与图7中的步骤505相同的步骤在步骤606进行检测记录。另一方面，如果差别比预定的基准短(步骤605为否)，在步骤608将信息记录到介质1中的信息记录区中，其无检测记录，其他与图5中的步骤405的程序相同。
步骤607对应图7中的步骤506。如果在步骤603或步骤607确定为否，程序进行到步骤609到611。在步骤609，通过与图5中相类似的步骤406的检验确定记录/再现条件，并在步骤610，当获得记录/再现条件(或时间信息)时，和时间一起将所获得的记录/再现条件存储到存储部分16中。在步骤611，和时间信息一起将所获得的记录/再现信息记录到介质1中的记录区4中，然后进行到步骤608。
在此情况下，通过在要使用的介质中记录记录/再现条件时对在记录/再现装置和记录介质中的记录/再现特性的变化进行补偿，在频繁的替换记录/再现装置中的记录介质时，通过省略上述的检测记录，可缩短用于启动的等待时间。
图10为根据本发明的另外一个记录/再现方法的流程图。按照与图5中所示的记录/再现方法近似的方法进行，只存在一些区别。因此，下面将只对与图5中所示的记录/再现方法的区别进行描述。此记录/再现方法使用记录介质，其中在介质中的记录/再现条件记录区4中记录多个记录/再现条件、用于确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。将记录/再现装置信息分为多个级别，并具有表示记录/再现装置的生产商的厂商信息，用于确认记录/再现装置的型号的型号信息和用于确定特定记录/再现装置的序号。
首先，在步骤701，进行与图5中的步骤401类似的启动过程。接着，在步骤702，从介质1中的记录/再现条件记录区4中读出用于确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息和记录/再现条件。然后，如果在步骤703确定记录/再现条件被记录到记录区4中(步骤703为是)，在步骤704控制器7检查从记录区4读出的记录/再现信息是否包含与记录/再现装置的记录/再现装置信息一致的信息。如果在包含厂商信息、型号信息和序号的所有的点上存在与记录/再现装置的记录/再现装置信息一致的记录装置信息(步骤704为是)，在步骤705，将通过与记录/再现装置相一致的记录/再现装置信息确定的记录/再现装置所使用的记录/再现条件存储到存储部分16中，在步骤706，按照图5中所示的步骤405的相同的方法，根据记录/再现条件将信息记录到介质1中的记录区6中。如果在步骤703中确定为否，流程进行到步骤707。
在步骤704，如果从记录区4读出的记录/再现装置信息在包含厂商信息、型号信息和序号(步骤704为否)的所有点上不与记录/再现装置的信息一致，按照优先的顺序，在步骤710中从记录区4读出从多个记录/再现条件选择的记录/再现条件。将高的优先级分配给与用于识别使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置中的厂商信息和型号信息相一致的记录/再现条件，下一个优先级分配给只与厂商信息一致的记录/再现条件，低的优先级分配给不与信息相一致或不具有记录/再现信息的记录/再现条件。接着，在步骤710，选择记录/再现条件，并在步骤711，将其存储到存储部分16中。接着，流程进行到步骤707。
在步骤707，在记录/再现条件为初始条件的情况下进行检验。在步骤708，将通过检验获得的记录/再现条件存储到存储部分16中，并在步骤709，将记录/再现条件和特定记录/再现装置的记录/再现信息记录到记录区4中。在步骤706中，将根据记录/再现条件的信息记录到介质1中的信息记录区6中。
在步骤709中，如果和其他的已经存储到记录区4中的记录/再现装置信息的大量的记录/再现条件未达到预定的数目，对信息进行保持，通过记录新的记录/再现条件，并增加记录/再现装置信息。另一方面，如果记录/再现条件的数目已经达到了预定的数量，记录新的记录/再现条件和新的记录/再现装置信息，删除掉最旧的记录/再现条件和最旧的记录/再现装置信息。
上述的记录/再现可在介质中记录多个记录/再现条件，并选择适合用于记录/再现装置的记录/再现条件，目的在于对从介质读出的多个记录/再现条件进行记录。因此，当对多个记录/再现装置使用一个介质时，可补偿装置之间的记录/再现特性的差别。另外，即使对于其中未记录由用于自身进行记录的记录/再现装置所确定的记录/再现条件，通过使用由记录/再现装置所确定记录/再现条件作为初始条件而进行检验，其中的记录/再现装置具有与诸如同一生产厂家或相同型号的记录/再现装置相类似的记录/再现特性。在此情况下，可缩短检验，并同时可缩短固定和启动记录/再现装置的所需时间。
另外，当将新确定的记录/再现条件记录到介质中时，如果已经记录的记录/再现条件达到了特定的数量，则删除最旧的记录/再现条件。在此情况下，在介质中可永远保存适合用于记录/再现装置的记录/再现条件。
省略掉步骤710和步骤711的操作。另外，记录/再现装置信息并不限于三个级别，可增加除了厂商信息、型号信息和序号以外的信息，或省略部分信息。
图11为根据部本发明的记录/再现方法的流程图。按照与图10类似的记录/再现方法进行上述方法。因此，下面将只对其与图10的记录/再现方法的区别进行描述。
步骤801、802和803分别与步骤701、702和703类似，在此不再描述。
在步骤804，从记录介质1中的记录区4读出记录/再现装置信息。如果其在包含厂商信息、型号信息和序号的所有点上含有与用于记录/再现装置的记录/再现装置信息一致的记录装置信息，在步骤805，在存储部分中存储记录/再现条件，通过与特定记录/再现装置一致的记录/再现装置信息确定使用该条件的记录/再现装置。接着，在步骤806，进行检测记录。按照图7中的步骤506相同的步骤进行检测记录。接着，在步骤812，按照与图7中的步骤506相同的步骤确定信号质量(步骤812为是)，在步骤813将信息记录到介质1中的信息记录区6中。
另一方面，如果确定不满足标准(步骤803、804或805为否)，在步骤807进行检验，且程序进行到步骤808、809和813。步骤807、808、809分别与图10中的步骤707、708、709对应。
在上述的记录/再现装置中，当使用介质所记录的记录/再现条件时，随着时间的推移，可对记录/再现装置的记录/再现特性的变化进行补偿。
图12为根据本发明的另外的一个记录/再现方法的流程图。按照与图11中类似的记录/再现方法进行此方法，其仅存在一些差别。因此，下面将对图12中与图11中的记录/再现方法的差别进行描述。此记录/再现方法使用记录介质，其中当在介质中记录记录/再现条件时，介质1中的记录区4用于记录表示时间和日期的时间信息、以及记录/再现条件和用于确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。
步骤901到905分别与图11中的步骤801到805对应。在步骤902，当获得记录/再现条件时除了记录/再现条件和记录/再现装置信息以外还读出时间(时间信息)，并在步骤905，对其进行存储。
在步、骤912，将与存储在存储部分16中的记录/再现条件在一起的时间信息与控制器7中的时钟时间进行比较。如果差大于预定的标准(步骤912为是)，在步骤913进行检测记录。另一方面，如果差小于预定的标准(步骤912为否)，无检测记录的将信息记录到介质1中的信息记录区6中。步骤913、914和906分别对应图11中的步骤806、812和813。另外，步骤907、908和909分别对应图11中的步骤807、808和809。
在上述的记录/再现装置中，当记录/再现条件被记录到要使用的介质中时，随着从时间点的时间推移，可对记录/再现装置中的记录特性进行补偿，同时如果在记录/再现装置中频繁的替换记录介质，通过省略检测记录可缩短用于启动的等待时间。
根据本发明的上述的实施例，可测量再现信号的波动值，并与基准值进行比较，以确定记录检测信号的质量。另外，可检测通过解调再现信号而获得的数据的错误率并与基准值进行比较，以便确定记录的检测信号的质量。
另外，在上述的实施例的检验中，重复改变记录/再现条件的操作，同时进行检测记录，以测量在检测中的被记录信号的质量，同时，当信号的质量已经满足标准时，操作完成，将该时间的记录/再现条件确定为最优记录/再现条件。另外，进行检测记录，并检查检测中的所记录的信号的质量，同时在预定的范围内改变记录/再现条件。重复此操作。将包含在预定范围内的表示在检测中记录的信号最佳质量的记录/再现条件确定为最佳记录/再现条件。
在介质不必记录记录/再现条件的所有的项目，而只需记录用于检验的记录/再现条件中的特定的项目。
另外，在确定记录/再现装置所使用的记录/再现信息时，可将介质中的记录区中的记录信息设定到满足记录/再现调的设定条件或编码信息，替代记录/再现条件。例如，对于脉冲条件，用于产生激光强度的激光驱动电路的设定值或表示设定值的编码信息可被记录为记录/再现条件，替代激光强度，在介质中的记录区中作为记录/再现条件。
当使用图2中所示的介质时，在图5，7和图9到12中的步骤402、502、602、702、802、902中，再现图2中的第一记录/再现记录区4a，然后如果无法读取记录/再现条件，再现第二记录/再现记录区4b。另外，在图5，7和图9到12的步骤408、510、611、709、809、909中，同时在第一和第二记录区4a和4b中记录记录/再现条件。在由于介质的污染等原因而使得记录到第一和第二记录区4a和4b中的一个中的信息无法再现时，其也可提高记录到介质中的记录/再现条件的可靠性，并从其他的记录区获得信息。
如上所述，在根据本发明的光记录介质中，及根据本发明的记录/再现装置和记录/再现方法中，可读出最优的记录/再现条件，该条件被确定用于给定的记录介质，并记录到介质中，并在后续的操作中使用。这样可消除或缩短用于确定记录/再现条件的检验的时间，否则的化在每次测量时都需要。因此，可缩短用于固定记录介质或启动记录/再现装置中的记录介质的等待时间。
另外，记录记录/再现条件和用于确定使用记录/再现条件的记录/再现装置，在启动时，在从介质中读出的记录/再现条件中选择记录所使用的用于记录/再现装置的记录/再现条件。即使当特定的记录介质用于多个记录/再现装置时，可免除或缩短用于确定最优记录/再现条件的操作，从而可缩短用于固定介质和启动记录/再现装置的等待时间。
虽然已经参考相应的附图对本发明的最佳实施例进行了详细描述，需要明确的是对本领域中的技术人员可对其进行各种变化和修改，但这些的变化和修改都在本发明的权利要求的范围之内。
权利要求
1.一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及厂商信息，所述记录/再现方法包含通过检测记录确定用于记录信息和再现信息中的至少一个的记录/再现装置的厂商的最优记录/再现条件；和将所述最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上，其中当在可重写型光学记录介质上记录的记录/再现条件的数目达到预定的数目时，从可重写型光学记录介质删除掉最旧的记录/再现条，将所述的最优记录/再现条件记录到所述的光学记录介质上。
2.根据权利要求1所述的记录/再现方法，其特征在于，进一步包括读取记录/再现条件以及随附的厂商信息用于识别记录/再现装置，其使用设在所述可重写型光学记录介质上的条件记录区中的记录/再现条件；以及基于记录/再现条件以及随附的与用于所述信息记录或所述信息再现的记录/再现装置一致的厂商信息，在所述可重写型光学记录介质上记录或再现信息。
3.根据权利要求1所述的记录/再现方法，其特征在于，进一步包括将特定数据记录在检测记录区中作为基于记录/再现条件和随附的与用于信息记录或信息再现的记录/再现装置一致的厂商信息的检测，通过这样在所述可重写型光学记录介质上的检测记录区中执行检测记录；以及如果从检测记录的特定数据再现的信号质量的测量结果满足预定的标准，则基于光学记录介质上的条件记录区中的记录/再现条件记录或再现信息，或者如果测量结果不满足预定的标准，则重复执行检测记录，同时改变记录/再现条件，通过测量在检测记录中再现的信号的质量并且将质量与预定标准相比，确定最优记录/再现条件，以及基于最优记录/再现条件记录或再现信息，同时将最优记录/再现条件以及随附的厂商信息记录在条件记录区中。
4.一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及厂商信息，所述记录/再现方法包含控制器，通过检测记录可确定用于记录信息和再现信息中的至少一个的记录/再现装置的最优记录/再现条件，同时可将所述最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上，其中当在可重写型光学记录介质上记录的记录/再现条件的数目达到预定的数目时，从可重写型光学记录介质删除掉最旧的记录/再现条，将所述的最优记录/再现条件记录到所述的光学记录介质上。
全文摘要
一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
文档编号G11B7/125GK1542756SQ20041000700
公开日2004年11月3日 申请日期1999年7月2日 优先权日1999年2月2日
发明者秋山哲也, 西内健一, 古川惠昭, 鸣海健治, 山口博之, 一, 之, 昭, 治 申请人:松下电器产业株式会社