对光记录介质的试写处理控制方法

文档序号:6755172阅读:107来源:国知局
专利名称:对光记录介质的试写处理控制方法
技术领域
本发明涉及对可记录的光记录介质进行记录时应用的试写处理控制方法、适于应用该方法的光记录介质、光信息记录装置、光信息记录用程序以及存储介质。
背景技术
当前,作为光记录介质,有各种介质,但关于可记录的光记录介质,其记录时的功率的最佳值根据周边温度或介质的种类、线速度等而变化,因此一般在染料介质(追记型)和相变介质(重写型)中,在实际记录信息之前,通过称作OPC(Optimum Power Control)的试写进行记录功率的最佳化。通过在记录介质的称作PCA(Power Calibration Area)的规定的试写区中试写规定的信息并对其重放来进行OPC。
此外,关于光信息记录介质,其大容量化进一步推进,例如,目前为止,记录层的多层化从单层的记录层结构的光信息介质向例如具有双层结构的光记录介质推进,光记录介质的结构更加复杂化(例如,参照专利文献1)。
但是,如果记录层成为如双层结构这样多层结构,则期待记录容量比到目前为止增大,在以大容量化为目标的光记录介质中非常有用。
在包含这样的双层结构的光记录介质、记录层多层化的光记录介质中,对于作为信息的记录进行追记或重写的情况,在单层的光记录介质中进行的各种记录时的设定也必需在具有多层结构的光信息记录介质中进行。该设定之一可以举出求进行信息的记录的激光输出的最佳记录功率值的OPC处理。
(日本)特开2000-311346公报但是,在具有多层结构的光记录介质中,与单层结构的光记录介质相比,有不同的规格等,因此关于求最佳记录功率的OPC处理,有时简单地原样进行单层结构的情况的现有的OPC处理则不恰当。
关于这一点,例如假设单面双层结构的DVD+RW来说明。首先,当前广泛知道的多层介质可以举出单面双层结构的DVD-ROM。作为单面双层结构的DVD-ROM,根据其追踪(track)方式,大致区分为顺光道路径方式(Parallel Track Path=PTP方式)和逆光道路径方式(Opposite Track Path=OTP方式)的两种。
首先,图10A表示PTP方式的单面双层(Dual Layer)的盘(以下称为‘PTP盘’)的情况的物理地址的规划(layout),图10B表示OTP方式的单面双层的盘(以下称为‘OTP盘’)的情况的物理地址的规划。
DVD盘基板上具有由导入区(Lead-in Area)、数据区(Data Area)、导出区(Lead-out Area)构成的信息区(Information Area),在PTP盘的情况下,各记录层中具有信息区。OTP盘由一个信息区构成,在各记录层的数据区的后方具有中间区(Middle Area)。PTP盘的层0、1以及OTP盘的层0从内周向外周进行数据的重放,OTP盘的层1从外周向内周进行数据的重放。PTP盘的各记录层从导入区到导出区为止被分配连续的物理地址(Physical SectorNumber)。另一方面,在OTP盘的情况下,从导入区到层0的中间区为止分配连续的物理地址,但层1的物理地址被分配将层0的物理地址位取反的地址,从中间区到导出区为止物理地址增加。换言之,层1中的数据区的开始地址是将层0中的结束地址位取反的地址。
此外,考虑这些PTP盘或OTP盘的层0、1中的轨道的螺旋方向。PTP盘中,如图11A所示,任何的层0、1的螺旋方向都是从盘内周侧向盘外周侧(在追踪的状态放下时,光拾取器从内侧向外侧移动)的方向。另一方面,OTP盘中,如图11B所示,层0的螺旋方向是从盘内周侧向盘外周侧的方向,但层1的螺旋方向是从盘外周侧向盘内周侧的方向。
在具有多层结构的记录介质的情况下也与此同样,考虑具有PTP方式或OTP方式的格式。因此,例如假设与当前的单面双层结构的DVD-ROM同样的轨道、地址结构的单面双层结构的DVD+RW(OTP方式),作为其记录动作试想在层1(第二记录层)中记录的情况。
在该情况下,如图12所示,在配置在层1(第二记录层)的试写区(PCA区)进行OPC动作时,层1(第二记录层)的轨道的螺旋方向是从外周侧向内周侧的方向。这里,PCA区一般由测试区和计数区构成,进行试写的测试区例如被分割设定为100个分区(partition)(小区域),并且各分区由15个帧构成。而且,在一次的OPC动作中使用分区的一个(以分区为单位),在该分区中包含的15个帧中多级变化发光功率来进行试写(测试记录),并重放该试写的分区部分,基于该重放信号RF的结果求最佳记录功率。
在这样的OPC动作中,如图12(b)所示,在从外周侧向内周侧依次使用了层1(第二记录层)的PCA区的分区的情况下,进行从试写部分得到的重放RF信号为图12(c)中概略表示的波形的试写。即,以被认为充分包括最佳记录功率的激光功率的最小值到最大值的LD功率来记录。而且,重放该试写的分区部分,从而根据其记录质量决定最佳记录功率。这里说明了从最小值向最大值变化试写的写功率的情况,但有时也从最大值向最小值变化。
另一方面,一般的控制是,在目标地址进行记录或进行目标地址的重放的情况下,在比该目标地址稍微前面的地址完成搜索(搜索完成点),之后,一边追踪一边进行目标等待直到目标地址为止,在目标地址到来时进行记录或重放(参照图12(d))。通过OPC动作在PCA区的一个分区进行试写,并确认其试写结果,所以在一系列的OPC动作中,对该目标地址的记录和重放最低也每次进行一次。
但是,通过OPC动作的试写而记录的部分(图12(b)的‘使用完毕’部分,和图12(c)①②③部分),如前所述,分配被认为充分包括最佳记录功率的激光功率的最小值到最大值的LD功率进行试写,所以也存在以过强的记录功率记录的部分,该部分的介质的记录状态为所谓过写(overly-written)状态,可能成为极端低反射。在这样的部分,与通常的最佳记录功率记录的部分相比,伺服不稳定,或地址读取不稳定的可能性变大。
从而,在对这样的试写区搜索的情况下,搜索自身不稳定的可能性升高,作为结果,产生OPC动作不稳定的可能性。
此外,在多层结构的情况下,由于记录层重叠,PCA区的重叠而引起的缺陷也不少发生。

发明内容
本发明的目的在于可以总是稳定地进行用于决定最佳记录功率的试写区内的试写处理。
本发明的试写处理控制方法对于在螺旋状的轨道上具有试写区的光记录介质,以将所述试写区多次分割而设定的小区域为单位多级变化发光功率而进行试写,并在用于最佳发光功率的决定的试写处理时,在所述轨道的螺旋方向从介质外周侧朝向介质内周侧的情况下,从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写。
从而,通过对于从介质外周侧向介质内周侧的螺旋方向,从介质内周侧向介质外周侧依次使用试写区的小区域,可以不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取从而进行试写处理,并可以稳定伺服控制或地址读取,对于成为对象的小区域的搜索动作也稳定,从而可以进行稳定的试写处理。
本发明的试写处理控制方法对于具有分别在螺旋状的轨道上有试写区的多个记录层的光记录介质的成为记录对象的所述记录层,以将所述试写区多次分割而设定的小区域为单位多级变化发光功率而进行试写,并在用于最佳发光功率的决定的试写处理时,具有识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向的步骤;以及该螺旋方向的识别结果,在以所述轨道的螺旋方向为从介质外周侧向介质内周侧的记录层为记录对象的情况下,从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写,在以所述轨道的螺旋方向为从介质内周侧向介质外周侧的记录层为记录对象的情况下,从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写的步骤。
从而,通过对于从介质外周侧向介质内周侧的螺旋方向的记录层从介质内周侧向介质外周侧依次使用试写区的小区域,并对于从介质内周侧向介质外周侧的螺旋方向的记录层从介质外周侧向介质内周侧依次使用试写区的小区域,对于任何的记录层,都可以不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取从而进行试写处理,并可以稳定伺服控制或地址读取,对于成为对象的小区域的搜索动作也稳定,从而可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述试写处理控制方法中,其特征在于,在具有多个记录层的所述光记录介质是以顺光道路径(PTP)方式记录的光记录介质的情况下,不论成为记录对象的记录层为任何的记录层,都从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写。
从而,在以具有PTP方式的多个记录层的光记录介质为对象的情况下,任何的记录层的螺旋方向都从介质内周侧向介质外周侧,所以通过对任何的记录层都从介质外周侧向介质内周侧依次使用试写区的小区域,从而可以不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取并进行试写,并可以稳定伺服控制和地址读取,对成为对象的小区域的存取也稳定,从而,可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述试写处理控制方法中,在具有多个记录层的所述光记录介质是以逆光道路径(OTP)方式记录的光记录介质的情况下,根据成为记录对象的记录层切换从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写,或者从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写。
从而,在以具有OTP方式的多个记录层的光记录介质为对象的情况下,由于存在从介质外周侧向介质内周侧的螺旋方向的记录层和从介质内周侧向介质外周侧的螺旋方向的记录层,所以通过根据各记录层的螺旋方向切换使用试写区的小区域的方向,从而对任何的记录层都可以不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取并进行试写,并可以稳定伺服控制和地址读取,对成为对象的小区域的存取也稳定,从而,可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述试写处理控制方法中,具有使用关于螺旋方向的信息被预先格式化(preformat)的光信息记录介质来读取该光记录介质上预先格式化的关于螺旋方向的信息的步骤,在识别螺旋方向的步骤中,基于读取的与螺旋方向有关的信息识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向。
从而,为了根据螺旋方向来决定使用试写区的小区域的方向而需要识别该记录层的螺旋方向,但通过使用与螺旋方向有关的信息被预先格式化的光记录介质来读取该光记录介质上预先格式化的关于螺旋方向的信息,可以简单且可靠地识别该记录层的螺旋方向,并可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述试写处理控制方法中,所述光记录介质中,作为与螺旋方向有关的信息,在每个记录层上将记述了螺旋方向的信息预先格式化。
从而,由于成为对象的光记录介质中被预先格式化的与螺旋方向有关的信息是在每个记录层上记述了螺旋方向的信息,所以可以在成为对象的各记录层上直接识别螺旋方向,并可以可靠地执行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述试写处理控制方法中,所述光记录介质中,作为与螺旋方向有关的信息,将与该光记录介质的种类有关的信息、以及各记录层的层信息预先格式化。
从而,由于作为对象的光记录介质中预先格式化的与螺旋方向有关的信息是与该光记录介质的种类有关的信息、以及各记录层的层信息,所以可以根据这些与该光记录介质的种类、以及各记录层的层信息在成为对象的各记录层上间接地识别其螺旋方向,并可以可靠地进行稳定的试写处理。特别,作为与螺旋方向有关的信息,通过利用与该光记录介质的种类有关的信息、以及各记录层的层信息,可以利用现有的信息识别螺旋方向。
本发明的光记录介质是具有分别在螺旋状的轨道上具有试写区的多个记录层的光记录介质,与螺旋方向有关的信息被预先格式化。
从而,成为适于对上述试写处理控制方法的应用的光记录介质。
根据本发明的某一方面,在上述光记录介质中,作为与螺旋方向有关的信息,在各记录层上将记述了螺旋方向的信息预先格式化。
从而,特别可以在成为对象的各记录层上直接识别其螺旋方向,成为更适于对上述试写处理控制方法的应用的光记录介质。
根据本发明的某一方面,在上述光记录介质中,作为与螺旋方向有关的信息,将与该光记录介质的种类有关的信息、以及各记录层的层信息预先格式化。
从而,根据与光记录介质的种类有关的信息、以及各记录层的层信息在成为对象的各记录层上间接地进行其螺旋方向的识别,特别作为这些信息可以利用现有的信息,所以成为可以简单地对上述试写处理控制方法的应用的光记录介质。
根据本发明的某一方面,在上述光记录介质中,关于该光记录介质的种类的信息为关于是顺光道路径(PTP)方式的介质还是逆光道路径(OTP)方式的介质的信息。
从而,如果是PTP方式的介质,则不论是任何的记录层,都可以识别其螺旋方向通常是从内周侧向外周侧,如果是OTP方式的介质,则其螺旋方向根据记录层而不同,所以通过取得作为对象的记录层的层信息可以识别其螺旋方向。
根据本发明的某一方面,在上述光记录介质中,关于螺旋方向的信息在导入区中预先格式化。
从而,在对于光记录介质的记录动作中,为了取得该光记录介质固有的信息,而在存取的导入区中还记录有与螺旋方向有关的信息,所以在记录动作之前方便地取得关于螺旋方向的信息。
根据本发明的某一方面,在上述光记录介质中,是以顺光道路径(PTP)方式记录的记录介质,这些试写区移位(shift)被配置,以便多个记录层中离照射光的入射端近的记录层侧的试写区比离入射端远的记录层侧的试写区位于介质内周侧。
从而,在多层结构的光记录介质的情况下,由于记录层重叠,因此离照射光的入射端远的记录层不少受到近的记录层的记录状态的影响,但在PTP方式的介质的情况下,着眼于从外周侧向内周侧依次使用各个记录层的试写区的小区域这一点,通过将这些试写区移位配置,以使离照射光的入射端近的记录层侧的试写区比离照射光的入射端远的记录层侧的试写区位于介质内周侧,从而可以使对离照射光的入射端远的记录层的试写区的成为对象的小区域的存取尽量不受其它的记录层的影响。
根据本发明的某一方面,在上述光记录介质中,是以逆光道路径(OTP)方式记录的光记录介质,这些试写区移位被配置,以便多个记录层中离照射光的入射端近的记录层侧的试写区比离照射光的入射端远的记录层侧的试写区位于介质外周侧。
从而,在多层结构的光记录介质的情况下,由于记录层重叠,因此离照射光的入射端远的记录层不少受到近的记录层的记录状态的影响,但在OTP方式的介质的情况下,着眼于根据记录层从外周侧向内周侧依次使用,或者反之从内周侧向外周侧依次使用各个记录层的试写区的小区域不同这一点,通过将试写区移位配置,以使离照射光的入射端近的记录层侧的试写区比离照射光的入射端远的记录层侧的试写区位于介质外周侧,从而可以使对离照射光的入射端远的记录层的试写区的成为对象的小区域的存取尽量不受其它的记录层的影响。
本发明的光信息记录装置包括光拾取器,包含射出对光记录介质照射的激光的光源,该光记录介质具有在螺旋状的轨道上分别具有试写区的多个记录层;光源控制部件,驱动控制所述光源,包含功率变更;试写部件,在信息的记录之前,对于成为记录对象的所述记录层的所述试写区,以分割为多次设定的小区域为单位多级变化发光功率来进行试写;方向识别部件,在信息的记录之前,识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向;试写方式决定部件,根据识别的螺旋方向,决定在通过所述试写部件的试写中使用所述试写区中的所述小区域的顺序;最佳功率决定部件,通过光拾取器重放由所述试写部件试写的所述小区域部分,从而决定所述光源的最佳记录功率;以及记录动作执行部件,使用决定了的最佳记录功率由所述光源控制部件控制所述光源的发光功率,从而对成为记录对象的所述记录层进行信息的记录动作。
从而,在为了决定最佳记录功率而对试写区进行试写处理时,根据成为对象的记录层的轨道的螺旋方向决定使用小区域的顺序来进行试写,所以对于任何的记录层,都可以进行不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取从而进行试写处理的处理,可以稳定伺服控制和地址读取,对成为对象的小区域的搜索动作也稳定,从而可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述光信息记录装置中,在将识别的所述轨道的螺旋方向为从介质外周侧向介质内周侧的记录层作为记录对象的情况下,试写方式决定部件从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写,在将识别的所述轨道的螺旋方向从介质内周侧向介质外周侧的记录层作为记录对象的情况下,决定使用所述小区域的顺序,以便从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写。
从而,作为具体的方式决定处理,通过将顺序决定为对于从介质外周侧向介质内周侧的螺旋方向的记录层从介质内周侧向介质外周侧依次使用试写区的小区域,对于从介质内周侧向介质外周侧的螺旋方向的记录层从介质外周侧向介质内周侧依次使用试写区的小区域,对于任何的记录层,都可以不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取从而进行试写处理,可以稳定伺服控制和地址读取,对成为对象的小区域的搜索动作也稳定,从而可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述光信息记录装置中,包括螺旋信息读取部件,将关于螺旋方向的信息被预先格式化的光记录介质作为对象,在信息的记录之前,读取在该光记录介质中预先格式化了的与螺旋方向有关的信息,所述方向识别部件,基于所述螺旋信息读取部件读取的与螺旋方向有关的信息识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向。
从而,为了根据螺旋方向来决定使用试写区的小区域的方向而需要识别该记录层的螺旋方向,但通过使用关于螺旋方向的信息被预先格式化的光记录介质,读取该光记录介质中预先格式化了的关于螺旋方向的信息,可以简单且可靠地识别该记录层的螺旋方向,并可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述光信息记录装置中,所述光记录介质作为关于螺旋方向的信息,在每个记录层上将记述了螺旋方向的信息预先格式化。
从而,由于成为对象的光记录介质中预先格式化的关于螺旋方向的信息是每个记录层中记述了螺旋方向的信息,所以可以在成为对象的每个记录层中直接识别其螺旋方向,并可以可靠地执行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述光信息记录装置中,所述光记录介质作为关于螺旋方向的信息,将关于该光记录介质的种类的信息、以及各记录层的层信息预先格式化。
从而,由于成为对象的光记录介质中预先格式化的与螺旋方向有关的信息是关于该光记录介质的种类的信息、以及各记录层的层信息,所以可以根据这些关于该光记录介质的种类的信息、以及各记录层的层信息对成为对象的每个记录层间接地识别其螺旋方向,并可以可靠地执行稳定的试写处理。特别通过作为关于螺旋方向的信息利用关于该光记录介质的种类的信息、以及各记录层的层信息,可以利用现有的信息识别螺旋方向。
本发明的计算机可读取的记录介质中记录有光信息记录用程序,光信息记录用程序安装在光信息记录装置包括的计算机中,该光信息记录装置具有光拾取器,包含射出对光记录介质照射的激光的光源,该光记录介质具有在螺旋状的轨道上分别具有试写区的多个记录层;以及光源控制部件,驱动控制所述光源,包含功率变更,使该计算机执行以下功能试写功能,在信息的记录之前,对于成为记录对象的所述记录层的所述试写区,以分割为多次设定的小区域为单位多级变化发光功率来进行试写;方向识别功能,在信息的记录之前,识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向;试写方式决定功能,根据识别的螺旋方向,决定在通过所述试写功能的试写中使用所述试写区中的所述小区域的顺序;最佳功率决定功能,通过光拾取器重放由所述试写功能试写的所述小区域部分,从而决定所述光源的最佳记录功率;以及记录动作执行功能,使用决定了的最佳记录功率由所述光源控制功能控制所述光源的发光功率,从而对成为记录对象的所述记录层进行信息的记录动作。
从而,在为了决定最佳记录功率而对试写区进行试写处理时,根据成为对象的记录层的轨道的螺旋方向,决定使用小区域的顺序来进行试写,所以对于任何的记录层,都可以进行不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取从而进行试写处理的处理,可以稳定伺服控制和地址读取,对成为对象的小区域的搜索动作也稳定,从而可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述光信息记录用程序中,在将识别的所述轨道的螺旋方向为从介质外周侧向介质内周侧的记录层作为记录对象的情况下,试写方式决定功能从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写,在将识别的所述轨道的螺旋方向从介质内周侧向介质外周侧的记录层作为记录对象的情况下,决定使用所述小区域的顺序,以便从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写。
从而,作为具体的方式决定处理,通过将顺序决定为对于从介质外周侧向介质内周侧的螺旋方向的记录层,从介质内周侧向介质外周侧依次使用试写区的小区域,对于从介质内周侧向介质外周侧的螺旋方向的记录层,从介质外周侧向介质内周侧依次使用试写区的小区域,对于任何的记录层,都可以不对已经进行了试写的小区域部分进行存取而对成为对象的小区域进行存取从而进行试写处理,可以稳定伺服控制和地址读取,对成为对象的小区域的搜索动作也稳定,从而可以进行稳定的试写处理。
根据本发明的某一方面,在上述光信息记录用程序中,所述计算机执行螺旋信息读取功能,将关于螺旋方向的信息被预先格式化的光记录介质作为对象,在信息的记录之前,读取在该光记录介质中预先格式化了的与螺旋方向有关的信息,所述方向识别功能,基于所述螺旋信息读取部件读取的与螺旋方向有关的信息识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向。
从而,为了根据螺旋方向来决定使用试写区的小区域的方向而需要识别该记录层的螺旋方向,但通过使用关于螺旋方向的信息被预先格式化的光记录介质,读取该光记录介质中预先格式化了的关于螺旋方向的信息,可以简单且可靠地识别该记录层的螺旋方向,并可以进行稳定的试写处理。


图1是表示本发明的一实施方式的光信息记录重放装置的基本的整体结构例的方框结构图。
图2是表示系统控制装置的内部结构例的方框结构图。
图3是表示OPC动作的处理例的说明图。
图4是表示螺旋方向相反的情况的OPC动作的处理例的说明图。
图5是改写表示图4的处理例的概略说明图。
图6是改写表示图3的处理例的概略说明图。
图7A以及图7B是表示移位配置试写区的例子的概略剖面图。
图8是表示包含OPC处理控制的记录动作控制例的一例的概略流程图。
图9是表示包含OPC处理控制的记录动作控制例的另一例的概略流程图。
图10A以及图10B是表示PTP盘以及OTP盘的物理地址的规划的示意图。
图11A以及图11B是表示螺旋方向的示意图。
图12是表示对于OTP方式的层1这样的记录层的现有的OPC动作例的说明图。
具体实施例方式
基于

本发明的一实施方式。在本实施方式中,表示将DVD-ROM格式的码数据应用于作为对具有单面双层的记录层的染料类盘进行记录(追记)的光信息记录装置的光信息记录重放装置的例子,作为记录调制方式使用8-16调制码(EFM调制码)进行标记边缘(mark-edge)(PWMPulse Width Modulation,脉宽调制)记录。在本实施方式中,使用这样的介质和记录数据,在记录时使半导体激光器多脉冲发光而形成记录标记/空间(space),从而进行信息的记录。
图1表示这样的可记录重放的光信息记录重放装置的基本的整体结构例,图2表示该系统控制装置的内部结构例。
在本实施方式的光信息记录重放装置1中,为了对由主轴电机(未图示)旋转驱动的例如,单面双层DVD+R的光记录介质2进行重放动作或记录动作而设有作为发出照射的激光的光源的半导体激光器(LD)3。从该半导体激光器3发出的激光通过准直透镜4被变换为平行光束之后,经由偏振光束分离器5以及物镜6聚光照射在成为光记录介质2上的对象的记录层上。从光记录介质2反射的反射光再次经由物镜6并再次射入偏振光束分离器5,从而与入射光分离地被反射,通过检测透镜7射入光接收区域被四分割的分割光接收元件(PD)8中而被接收。由该分割光接收元件8接收的各分割区域的光接收信号成为信息信号的RF信号、聚焦用的伺服信号Fo以及跟踪用的伺服信号Tr的基础,通过IV放大器9电流电压变换/放大了的RF信号被输入系统控制装置10,供给作为重放信号的重放数据的输出。
另一方面,聚焦用的伺服信号Fo以及跟踪用的伺服信号Tr被输入Fo/Tr伺服控制装置(未图示),并供给对于物镜6进行聚焦/跟踪用的致动器(未图示)的伺服控制,并进行控制,以便对于光记录介质2的激光为合焦状态并正确地在轨道上跟踪。
此外,设有经由镜子11、检测透镜12接收来自半导体激光器3的出射光的一部分的监视元件13。通过与该监视元件13检测的半导体激光器3的发光功率成比例的监视电流通过IV放大器14进行了电流电压变换/放大的功率监视信号被输入系统控制装置10,从而供给APC控制等。
在这样的基本结构中,在信息的重放时,通过作为光源控制部件的LD驱动装置15驱动半导体激光器3并以重放功率(读取功率)Pr发光,将来自半导体激光器3的重放功率的光经由光拾取器光学系统照射在成为光记录介质2的对象的记录层上,将其反射光经由光拾取器光学系统通过光接收元件8接收而进行光电变换,并由IV放大器9进行电流电压变换/放大之后得到重放信号(RF信号)。
进而,来自半导体激光器3的出射光的一部分射入监视元件13,通过利用与发光功率成比例的监视电流由IV放大器14进行了电流电压变换/放大的功率监视信号,可以进行APC控制。
另一方面,说明记录动作。通常,在对DVD+R这样的染料类介质进行信息的记录的情况下,需要波峰(peak)电平、空间(space)电平对应的波峰功率Pw、偏置功率Pb的两种功率。
在信息的记录时,在主控制器21的控制下,通过数据编码器22以及LD波形控制电路23生成基于由8-16调制码构成的记录数据的脉冲控制信号,通过ID驱动装置15中的对应于该脉冲控制信号的驱动电流驱动半导体激光器3,从而以规定的多脉冲波形发光,通过对成为光记录介质2的对象的记录层照射,从而在光记录介质2上形成记录标记而进行信息的记录。
主控制器21为了控制空间/波峰功率的发光级别,而对LD驱动装置15输出偏置电平电流驱动信号、峰值电平电流重叠信号。
从IV放大器14得到的功率监视信号,在长空间数据输出时(例如,大于等于10T的空间数据)由主控制器21输出的功率采样定时信号为HL的定时,由采样/保持电路24进行采样/保持,并进行空间电平的功率控制。
峰值电平的功率对空间电平驱动电流(偏置电平电流驱动信号)重叠根据半导体激光器3的微分效率η计算的峰值电平电流重叠信号,从而对半导体激光器3供给驱动电流。
来自所述IV放大器9的RF信号经由数据编码器25被输入到主控制器21,同时可以经由波峰/波谷检测电路26得到波峰/波谷电平的检测信号。
接着,参照图3说明为了在本来的记录动作之前将记录功率的电平最佳化而进行的OPC动作(试写处理)。本例中,为了简化说明,作为单层结构例,在光记录介质2的最内周侧位置具有称为PCA(功率校准区)区的试写区31的情况的例子。32表示数据区,33表示盘中心洞。试写区31由测试区34和计数区35构成。测试区34被分割设定为100个1~100个分区(小区域)而构成,各个分区由15个帧36构成。在对于这样的试写区31的一般的OPC动作中,一次OPC动作使用一个分区,其中如图所示,多级变化记录功率来进行试写,重放各个帧36内的试写的测试信号,基于该重放信号(RF信号)决定最佳记录功率。
此外,在这样的OPC动作中,在每次进行OPC动作时,在计数区35中依次更新记录相当于其次数的部分,要在试写之后重放的分区以及下一次试写时下一次试写所使用的分区通过参照该计数区35中记录的次数来指定。
然后,作为本实施方式的OPC处理控制方法的基本,变更该分区的规格方式,以便例如,在记录层的轨道的螺旋方向从内周侧向外周侧的情况下,如图3所示,从外周侧向内周侧依次使用试写区31的分区(即,以分区号1、2、...的顺序使用),但在记录层的轨道的螺旋方向从外周侧向内周侧的情况下,如图4所示,从内周侧向外周侧依次使用试写区31的分区(即,以分区号100、99、...的顺序使用)。在图4中,表示了从外周向内周使用计数区的情况,但也可以从内周向外周使用。
另外,不论是任何方向,各分区内的实际的试写按螺旋方向执行(从而,与分区的使用顺序的方向相反)。此外,以试写区31位于内周侧的例子进行了说明,但即使在外周侧等其它位置配置了试写区的情况下,也是同样地应用的原理。
图5是重写图4所示的处理方式而简化表示的示意图,表示了在该记录层的轨道的螺旋方向为从介质外周侧向介质内周侧的情况下,从与其方向相反方向的介质外周侧向介质内周侧使用试写区31的分区的方法,使用完毕的区域(试写完毕区)以依次扩大的状态存在于内周侧,未使用区域以依次缩小的状态存在于外周侧。
根据这样的OPC处理控制方法,进行了试写的情况下的试写区31的使用状态、RF信号的状态如图5(b)(c)所示,在下一次进行试写的情况下,如图5(d)所示,最初对完成点进行搜索动作,并进行到成为对象的分区(目标)的写位置为止的目标等待。在该情况下,根据图12,与所述情况不同,在这样的搜索中或搜索完成后的目标等待期间,在以前通过OPC动作进行了试写的位置(使用完毕区)上不需要存取,可以稳定进行伺服或地址读取。从而,可以稳定进行搜索动作,其结果可以稳定进行OPC处理。
此外,图6是重写图3所示的处理方式而简化表示的示意图,表示了在该记录层的轨道的螺旋方向为从介质内周侧向介质外周侧的情况下,从与其方向相反方向的介质外周侧向介质内周侧使用试写区31的分区的方法,使用完毕的区域(试写完毕区)以依次扩大的状态存在于外周侧,未使用区域以依次缩小的状态存在于内周侧。
根据这样的OPC处理控制方法,进行了试写的情况下的试写区31的使用状态、RF信号的状态如图6(b)(c)所示,在下一次进行试写的情况下,如图6(d)所示,最初对完成点进行搜索动作,并进行到成为对象的分区(目标)的写位置为止的目标等待。在该情况下,也在这样的搜索中或搜索完成后的目标等待期间,在以前通过OPC动作进行了试写的位置(使用完毕区)上不需要存取,可以稳定进行伺服或地址读取。从而,可以稳定进行搜索动作,其结果可以稳定进行OPC处理。
基于这样的原理,说明作为光记录介质2,具有单面双层的记录层的染料类介质(双层DVD-R)(或相变型介质(双层DVD+RW))的情况。在这样的多次结构的光记录介质2的情况下,在各个记录层的每个上具有试写区,但首先,如果是如图10A、图11A所示的符合DVD-ROM格式的PTP方式的光记录介质2的情况,则由于任何的记录层(层0、层1)的轨道的螺旋方向都从介质内周侧向介质外周侧,所以在对于任何的记录层(层0、层1)的试写区进行OPC动作的情况下,都如图3或图6中说明的情况那样,从外周侧向内周侧使用该区域内的分区,从而在进行最新的OPC动作上,可以不对通过以前的OPC动作而使用完毕的区域进行存取而进行OPC处理。
另一方面,如果是如图10B、图11B所示的符合DVD-ROM格式的OTP方式的光记录介质2的情况,则由于其轨道的螺旋方向根据成为对象的记录层(层0、层1)而不同,所以在对成为对象的记录层(层0、层1)的试写区进行OPC动作的情况下,根据该记录层的轨道的螺旋方向来变更该区域内的分区的使用方向。即,如果是对第一记录层(层0)的试写区进行试写的情况,则由于该第一记录层(层0)的轨道的螺旋方向从介质内周侧朝向外周侧,所以在对该第一记录层(层0)的试写区进行OPC动作的情况下,如图3或图6中说明的情况那样,从外周侧向内周侧使用该区域内的分区。此外,在如果是对该第二记录层(层1)的试写区进行试写的情况,则由于该第二层的记录层(层1)的轨道的螺旋方向从介质外周侧向介质内周侧,所以在对该第二记录层(层1)的试写区进行OPC动作的情况下,如图4或图5中说明的情况那样,从内周侧向外周侧使用该区域内的分区。通过这样的OPC处理控制,不论是任何的记录层(层0、层1),在进行最新的OPC动作上,都可以不对通过以前的OPC动作使用完毕的区域进行存取而进行OPC处理。
这样的原理不限于双层介质的情况,在大于等于三层的多层结构的光记录介质的情况下也可以同样地应用。
此外,在PTP方式的双层结构介质的情况下,应在各个记录层中设置试写区,但在考虑如上述的OPC处理控制的情况下,对各记录层的试写区31,优选如图7A所示,移位配置这些试写区31a、31b,以便离照射光的入射端近的记录层(层0)侧的试写区31a比离照射光的入射端远的记录层(层1)侧的试写区31b在该光记录介质1中位于内周侧(图中,这些试写区的斜线部分为使用完毕部分,白部分为未使用部分...与图6的情况同样)。
即,在这种多层结构的光记录介质2的情况下,由于多个记录层重叠,因此第二记录层(层1)不少受到第一记录层(层0)的记录状态的影响,但由于在PTP方式的介质的情况下,从外周侧向内周侧依次使用各个记录层的试写区31a、31b的分区,所以通过移位配置这些试写区31a、31b,以便第一记录层(层0)侧的试写区31a比第二记录层(层1)侧的试写区31b位于介质内周侧,从而可以尽可能使对第二记录层(层1)的试写区31b的成为对象的分区的存取不受第一记录层(层0)的影响。
这样的情况即使是OTP方式的情况也同样。即,在OTP方式的双层结构介质的情况下,应在各个记录层中设置试写区,但在考虑如上述的OPC处理控制的情况下,使各记录层的试写区31如图7B所示,移位配置这些试写区31a、31b,以便离照射光的入射端近的记录层(层0)侧的试写区31a比离照射光的入射端远的记录层(层1)侧的试写区31b在该光记录介质1中位于外周侧(图中,这些试写区的斜线部分为使用完毕部分,白部分为未使用部分...与图5、图6的情况同样)。
即,在这种多重结构的光记录介质2的情况下,由于多个记录层重叠,因此第二记录层(层1)不少受到第一记录层(层0)的记录状态的影响,但由于在OTP方式的介质的情况下,向不同方向依次使用各个记录层的试写区31a、31b的分区,所以通过移位配置这些试写区31a、31b,以便第一记录层(层0)侧的试写区31a比第二记录层(层1)侧的试写区31b位于介质外周侧,从而可以尽可能使对第二记录层(层1)的试写区31b的成为对象的分区的存取不受第一记录层(层0)的影响。
在实现如上所述的OPC处理控制方法上,由于决定试写区的分区的使用顺序,以便与成为对象的记录层的轨道的螺旋方向为相反方向,所以需要知道要进行OPC动作的记录层的轨道的螺旋方向。
因此,预先将关于螺旋方向的信息在光记录介质2中预先格式化,在记录动作之前,读取该预先格式化的与螺旋方向有关的信息,从而识别作为对象的记录层的轨道的螺旋方向就可以。
在该情况下,如果在光记录介质2的每个记录层上将记述了其规定的螺旋方向的直接的信息预先格式化,则可以可靠地识别螺旋方向。具体来说,在符合如图10等所示的DVD-ROM格式的DVD+RW等中,通过在导入区(Lead-in Area)中通过轨道(引导槽)的摆动调制而嵌入地址信息的地址信息的ADIP(ADdress In Pre-groove),该光记录介质2的物理信息被预先格式化而写入,所以只要进行扩展,以便写入作为该物理信息之一写入该记录层的轨道的螺旋方向的信息就可以。
此外,作为预先格式化的与螺旋方向有关的信息,不限于这样的直接的信息,重要的是只要判断进行OPC处理的记录层合成为对象的介质的种类就可以,间接的信息也可以。例如,如果是符合双层DVD-ROM介质的标准的介质的情况,则在导入区中记录与层数或轨道路径方式(OTP方式、PTP方式)有关的信息,所以通过读取这些信息并利用,可以判别介质的种类。此外,数据区中,ID信息含有记录层的层信息(该记录层是层0还是层1),此外,在OTP方式的情况下,层1的地址显示为层0的补数显示。从而,基于这些信息可以知道关于螺旋方向的信息。即,如果在OTP方式的介质中为层1的情况下,螺旋方向从外周侧向内周侧,同样,如果是层0的情况,则可以识别螺旋方向从内周侧向外周侧。此外,如果是PTP方式的介质,则在任何记录层(层0、1)的情况下,螺旋方向都从内周侧向外周侧。此外,如果通过地址的补数显示,则在OTP方式的光记录介质中,可以根据该地址信息知道成为对象的记录层是第一记录层(层0)还是第二记录层(层1),并可以通过该记录层判定来识别螺旋方向。即,通过将ADIP地址设为补数,也可以简单地识别螺旋方向。
另外,如所述的OPC处理控制方法中,例如,以在各记录层的导入区中将记述了该记录层的螺旋方向的信息预先格式化的双层型的光记录介质2(可以是PTP方式也可以是OTP方式)为对象,伴随如图3或图4所示的OPC处理控制进行记录动作的情况下,参照图8所示的概略流程图说明由CPU13执行的处理控制例。
该处理控制,例如,通过主机作为有来自用户的用户数据的记录请求的情况下(步骤S1为是)的一个处理来执行。在有这样的请求的情况下,首先读取在成为记录对象的记录层的导入区中预先格式化的该记录层的螺旋方向的信息(S2)。该步骤S2的处理作为螺旋信息读取部件或螺旋信息读取功能执行。通过由该处理读取的信息识别该记录层的螺旋方向(S3)。由于在该情况下,是直接的信息,所以基于由步骤S2得到的信息原样识别螺旋方向。该步骤S3的处理作为方向识别部件或方向识别功能执行。
接着这样的初始处理,设定为OPC模式,对该记录层中的试写区31中的计数区35进行存取从而读取OPC次数N(S4)。然后,作为步骤S3中的识别结果,该记录层的轨道的螺旋方向如果为正方向(从内周侧向外周侧的方向)(S5为是),则将这次要进行试写的分区(目标)决定为(N+1)(S6)。即,决定为相对于正方向,逆方向(从外周侧向内周侧的方向)依次使用试写区31的分区的方式。另一方面,作为步骤S3中的识别结果,如果该记录层的轨道的螺旋方向为逆方向(S5为否),则将这次要进行试写的分区(目标)决定为{100-(N+1)}(S7)。即,决定为相对于逆方向,正方向依次使用试写区31的分区的方式。这些步骤S6或S7的处理作为试写方式决定部件或试写方式决定功能执行。
之后,如果是步骤S6的情况,则为了对决定为目标的试写区31中的测试区34的分区(N+1)进行试写,使光拾取器沿着轨道从内周侧向搜索完成点搜索移动,并经过目标等待后,对该分区(N+1)进行存取(S8)。然后,按照15个帧,由LD驱动装置15多级变化半导体激光器3的发光功率,同时对该分区(N+1)进行OPC动作(试写动作)(S9、S10)。该步骤S9、S10的处理作为试写部件或试写处理执行。对于该分区(N+1)的OPC动作结束后(S10为是),再次对该分区(N+1)进行存取并重放试写的信息,取得RF信号(S11)。
此外,如果是步骤S7的情况,则为了对决定为目标的试写区31中的测试区34的分区{100-(N+1)}进行试写,使光拾取器沿着轨道从外周侧向搜索完成点搜索移动,并经过目标等待后,对该分区{100-(N+1)}进行存取(S12)。然后,按照15个帧,由LD驱动装置15多级变化半导体激光器3的发光功率,同时对该分区{100-(N+1)}进行OPC动作(试写动作)(S13、S14)。该步骤S13、S14的处理作为试写部件或试写处理执行。对于该分区{100-(N+1)}的OPC动作结束后(S14为是),再次对该分区{100-(N+1)}进行存取并重放试写的信息,取得RF信号(S15)。
这样,基于由步骤S11或S15重放的RF信号,经过公知的处理,决定在记录时使用的半导体激光器3的最佳记录功率(S16)。这些步骤S11或S15以及S16的处理作为最佳功率决定部件或最佳功率决定功能执行。然后,将计数区的OPC次数更新为(N+1)(S17)。
由此,结束一系列的OPC处理,在成为对象的记录层中的数据区域中的目标地址以最佳记录功率使半导体激光器3发光,同时进行用户数据的记录动作(S18)。该步骤S18的处理作为记录动作执行部件或记录动作执行功能执行。
此外,如前所述的OPC处理控制方法中,作为其它例子,例如,以在各记录层中例如导入区中将与介质种类(PTP方式或OTP方式)有关的信息和各记录层的层信息(层0或层1)被预先格式化的双层型的光记录介质2(可以是PTP方式或OTP方式)为对象,进行图3或图4的OPC处理控制的情况下,参照图9所示的概略流程图说明由CPU13执行的处理控制例。
该处理控制,例如,通过主机作为有来自用户的用户数据的记录请求的情况下(步骤S21为是)的一个处理来执行。在有这样的请求的情况下,首先读取在成为记录对象的记录层的导入区中预先格式化的信息(S22)。即为该介质的种类和该记录层的层信息。该步骤S22的处理作为螺旋信息读取部件或螺旋信息读取功能执行。基于由步骤S22读取的信息识别该介质的种类是PTP方式还是OTP方式(S23)。
然后,设定为OPC模式,对该记录层中的试写区31中的计数区35进行存取从而读取OPC次数N(S24)。然后,作为步骤S23中的识别结果,如果该介质为PTP方式的介质(S25为是),则不论记录层为层0还是层1,都将这次要进行试写的分区(目标)决定为(N+1)(S26)。此外,作为步骤S23中的识别结果,在该介质为OTP方式的介质(S25为否),且该记录层为层0的情况下(S27为是),将这次要进行试写的分区(目标)决定为(N+1)(S26)。即,决定为逆方向(从外周侧向内周侧的方向)依次使用试写区31的分区的方式。
另一方面,作为步骤S23中的识别结果,在该介质为OTP方式的介质(S25为否),且该记录层为层1的情况下(S27为否),将这次要进行试写的分区(目标)决定为{100-(N+1)}(S28)。即,决定为正方向(从内周侧向外周侧的方向)依次使用试写区31的分区的方式。
这里,步骤S23、S25的处理作为方向识别部件或方向识别功能执行,步骤S26或S28的处理作为试写方式决定部件或试写方式决定功能执行。
此后,与根据各方式在图8中说明的情况同样处理。
以上,基于实施例说明了本发明,本发明不限于上述实施例,在权利要求的范围内可以有各种变形。
权利要求
1.一种试写处理控制方法,其特征在于,对于在螺旋状的轨道上具有试写区的光记录介质,以将所述试写区多次分割而设定的小区域为单位多级变化发光功率而进行试写,并在用于最佳发光功率的决定的试写处理时,在所述轨道的螺旋方向从介质外周侧朝向介质内周侧的情况下,从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写。
2.一种试写处理控制方法,其特征在于,对于具有分别在螺旋状的轨道上有试写区的多个记录层的光记录介质的成为记录对象的所述记录层,以将所述试写区多次分割而设定的小区域为单位多级变化发光功率而进行试写,并在用于最佳发光功率的决定的试写处理时,具有识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向的步骤;以及该螺旋方向的识别结果,在以所述轨道的螺旋方向为从介质外周侧向介质内周侧的记录层作为记录对象的情况下,从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写,在以所述轨道的螺旋方向为从介质内周侧向介质外周侧的记录层为记录对象的情况下,从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写的步骤。
3.如权利要求2所述的试写处理控制方法,其特征在于,在具有多个记录层的所述光记录介质是以顺光道路径(PTP)方式记录的光记录介质的情况下,不论成为记录对象的记录层为任何的记录层,都从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写。
4.如权利要求2所述的试写处理控制方法,其特征在于,在具有多个记录层的所述光记录介质是以逆光道路径(OTP)方式记录的光记录介质的情况下,根据成为记录对象的记录层切换从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写,或者从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域进行试写。
5.如权利要求2所述的试写处理控制方法,其特征在于,具有使用关于螺旋方向的信息被预先格式化的光信息记录介质来读取该光记录介质上被预先格式化的关于螺旋方向的信息的步骤,在识别螺旋方向的步骤中,基于读取的与螺旋方向有关的信息,识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向。
6.如权利要求5所述的试写处理控制方法,其特征在于,所述光记录介质中,作为与螺旋方向有关的信息,在每个记录层上将记述了螺旋方向的信息预先格式化。
7.如权利要求5所述的试写处理控制方法,其特征在于,所述光记录介质中,作为与螺旋方向有关的信息,将与该光记录介质的种类有关的信息、以及各记录层的层信息预先格式化。
8.一种光记录介质,具有分别在螺旋状的轨道上具有试写区的多个记录层,其特征在于,与螺旋方向有关的信息被预先格式化。
9.如权利要求8所述的光记录介质,其特征在于,作为与螺旋方向有关的信息,在各记录层上将记述了螺旋方向的信息预先格式化。
10.如权利要求8所述的光记录介质,其特征在于,作为与螺旋方向有关的信息,将与该光记录介质的种类有关的信息、以及各记录层的层信息预先格式化。
11.如权利要求10所述的光记录介质,其特征在于,关于该光记录介质的种类的信息为关于是顺光道路径(PTP)方式的介质还是逆光道路径(OTP)方式的介质的信息。
12.如权利要求8所述的光记录介质,其特征在于,关于螺旋方向的信息在导入区中被预先格式化。
13.如权利要求8所述的光记录介质,其特征在于,是以顺光道路径(PTP)方式记录的光记录介质,这些试写区移位被配置,以便多个记录层中离照射光的入射端近的记录层侧的试写区比离照射光的入射端远的记录层侧的试写区位于介质内周侧。
14.如权利要求8所述的光记录介质,其特征在于,是以逆光道路径(OTP)方式记录的光记录介质,这些试写区移位被配置,以便多个记录层中离照射光的入射端近的记录层侧的试写区比离照射光的入射端远的记录层侧的试写区位于介质外周侧。
15.一种光信息记录装置,其特征在于,包括光拾取器,包含射出对光记录介质照射的激光的光源,该光记录介质具有在螺旋状的轨道上分别具有试写区的多个记录层;光源控制部件,驱动控制所述光源,包含功率变更;试写部件,在信息的记录之前,以对于成为记录对象的所述记录层的所述试写区分割为多次而设定的小区域为单位多级变化发光功率来进行试写;方向识别部件,在信息的记录之前,识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向;试写方式决定部件,根据识别的螺旋方向,决定在所述试写部件进行的试写中使用所述试写区中的所述小区域的顺序;最佳功率决定部件,通过光拾取器重放由所述试写部件试写的所述小区域部分,从而决定所述光源的最佳记录功率;以及记录动作执行部件,使用决定了的最佳记录功率由所述光源控制部件控制所述光源的发光功率,从而对成为记录对象的所述记录层进行信息的记录动作。
16.如权利要求15所述的光信息记录装置,其特征在于,在将识别的所述轨道的螺旋方向为从介质外周侧向介质内周侧的记录层作为记录对象的情况下,试写方式决定部件从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写,在将识别的所述轨道的螺旋方向从介质内周侧向介质外周侧的记录层作为记录对象的情况下,试写方式决定部件决定使用所述小区域的顺序,以便从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写。
17.如权利要求15所述的光信息记录装置,其特征在于,包括螺旋信息读取部件,将关于螺旋方向的信息被预先格式化的光记录介质作为对象,在信息的记录之前,读取在该光记录介质中预先格式化了的与螺旋方向有关的信息,所述方向识别部件,基于所述螺旋信息读取部件读取的与螺旋方向有关的信息识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向。
18.如权利要求17所述的光信息记录装置,其特征在于,所述光记录介质作为关于螺旋方向的信息,在每个记录层上将记述了螺旋方向的信息预先格式化。
19.如权利要求17所述的光信息记录装置,其特征在于,所述光记录介质作为关于螺旋方向的信息,将关于该光记录介质的种类的信息、以及各记录层的层信息预先格式化。
20.一种计算机可读取的记录介质,记录有光信息记录用程序,该光信息记录用程序安装在光信息记录装置包括的计算机中,该光信息记录装置具有光拾取器,包含射出对光记录介质照射的激光的光源,该光记录介质具有在螺旋状的轨道上分别具有试写区的多个记录层;以及光源控制部件,驱动控制所述光源,包含功率变更,使该计算机执行以下功能试写功能,在信息的记录之前,以对于成为记录对象的所述记录层的所述试写区分割为多次而设定的小区域为单位多级变化发光功率来进行试写;方向识别功能,在信息的记录之前,识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向;试写方式决定功能,根据识别的螺旋方向,决定在所述试写功能进行的试写中使用所述试写区中的所述小区域的顺序;最佳功率决定功能,通过光拾取器重放由所述试写功能试写的所述小区域部分,从而决定所述光源的最佳记录功率;以及记录动作执行功能,使用决定了的最佳记录功率由所述光源控制功能控制所述光源的发光功率,从而对成为记录对象的所述记录层进行信息的记录动作。
21.如权利要求20所述的计算机可读取的记录介质,其特征在于,在将识别的所述轨道的螺旋方向为从介质外周侧向介质内周侧的记录层作为记录对象的情况下,试写方式决定功能从介质内周侧向介质外周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写,在将识别的所述轨道的螺旋方向从介质内周侧向介质外周侧的记录层作为记录对象的情况下,试写方式决定功能决定使用所述小区域的顺序,以便从介质外周侧向介质内周侧依次使用所述试写区的小区域来进行试写。
22.如权利要求20所述的计算机可读取的记录介质,其特征在于,所述计算机执行螺旋信息读取功能,将关于螺旋方向的信息被预先格式化的光记录介质作为对象,在信息的记录之前,读取在该光记录介质中预先格式化了的与螺旋方向有关的信息,所述方向识别功能,基于所述螺旋信息读取部件读取的与螺旋方向有关的信息识别成为记录对象的所述记录层中的所述轨道的螺旋方向。
全文摘要
可以总是稳定地进行用于决定最佳记录功率的试写区内的试写处理。通过对于从介质外周侧向介质内周侧的螺旋方向的记录层,从介质内周侧向介质外周侧依次使用试写区的小区域,并对于从介质内周侧向介质外周侧的螺旋方向的记录层,从介质外周侧向介质内周侧依次使用试写区的小区域,对于任何的记录层,都可以不对已经进行了试写的小区域部分(使用完毕部分)进行存取而对成为对象的小区域进行存取从而进行试写处理,并可以稳定伺服控制或地址读取。其结果,对于成为对象的小区域的搜索动作也稳定,从而可以进行稳定的试写处理。
文档编号G11B7/125GK1759441SQ20048000639
公开日2006年4月12日 申请日期2004年3月23日 优先权日2003年3月25日
发明者山本典弘 申请人:株式会社理光
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