专利名称：记录和再现全息图形的设备和方法以及其中的空间光调制器的制作方法
技术领域：
本发明涉及利用光记录和再现信息的光记录/再现技术，并且更具体地涉及一种利用全息照相术进行记录和再现的设备和方法以及其中的一种空间光调制器。
背景技术：
常规地，利用光记录信息的光记录/再现设备用于记录和再现大量的数据例如高密度图象数据。这种已经实际使用的光记录/再现设备例如是用于媒体的磁光记录/再现设备，例如磁光盘(MO)，以及用于媒体的相变光记录/再现设备，例如可重写光盘(CD-RW)和随机存取数字通用光盘(DVD-RAM)。
近年来，在光记录/再现设备之中，全息照相记录/再现设备作为一种能进一步提高信息记录密度的设备得到特殊注意。在全息照相记录/再现设备中，要记录的信息通常是按二维模式的信息光束提供的，并且在光记录媒体中该信息光束和参考光束干涉，以便按干涉图形(全息图形)记录该信息。对于再现，在和记录时相同的布局下只对记录的干涉图形施加参考光束，以从全息图形按衍射图象检索信息。这样，在全息照相记录/再生设备中，按二维模式记录和/或再现信息，从而可以实现大量信息的高速记录和再现。
为了进一步改进信息记录密度，提出各种类型的全息照相记录/再现设备。一个例子是立体全息照相型全息照相记录/再现设备。立体全息照相型全息照相记录/再现设备带有其厚度比光的波长足够大的光记录媒体，以便允许在该光记录媒体的厚度方向上以及平面方向上记录不同的干涉图形。这样，可在光记录媒体中三维地记录干涉图形。换言之，在该光记录媒体的同一个区中可以以复用方式记录信息以提高存储容量。
另一种提出的全息照相记录/再现设备是偏移复用型。在偏移复用型全息照相记录/再现设备中，信息再现时的参考光束的照射位置轻微偏离记录时的位置。这样，即使用参考光束照射记录的干涉图形，由于缺少参考光束和干涉图形之间的相位匹配，不能得到衍射图形。当把参考光束保持在不得到衍射图形的位置上并且用另一个信息光束进行另一个干涉图形的记录时，根据参考光束的安排，可以以复用方式在光记录媒体的同一个记录区中记录多个二维信息。
再一种提出的全息照相记录/再现设备利用空间调制的参考光束。在简单全息照相记录/再现设备中，使用带有同相平面波的参考光束。而在这种全息照相记录/再现设备中使用空间调制的参考光束。记录的干涉图形是复杂的并且参考光束和干涉图形的相位匹配条件是严格的。这样，可以实现更高的记录多重性(例如日本专利公开申请2002-123 949号公开一种利用全息照相术并且采用相位被空间调制的记录参考光束的全息照相记录/再现设备)。在最近提出的全息照相记录技术中，一个空间光调制器产生信息光束以及用于全息照相记录的调制的参考光束(例如参见Hideyoshi Horimai和Jun Li的“A novelcollinear optical setup for holographic data storage system”，TechnicalDigest of Optical Data Storage Topical Meeting 2004，pp.258-260)。
但是，在上面说明的常规全息照相记录/再现设备中，例如，设备内的光器件的布局以及光记录媒体相对于该设备的位置上的细微变动明显影响记录/再现，并且光记录媒体的轻便性以及设备间的兼容性等难以增强。例如，在对和从全息照相记录/再现设备插入和取出光记录媒体时，有时会发生光记录媒体和全息照相记录/再现设备之间的细微不对准。这种不对准可能造成再现错误。尤其在空间调制型全息照相记录/再现设备中，参考光束和干涉图形之间的严格相位匹配条件使光器件不对准问题更加明显。
常规全息照相记录/再现设备通常包括光记录媒体，对该光记录媒体照射信息光束和/或参考光束的记录/再现光学系统，以及产生该信息光束和该参考光束的空间光调制器。这里，为了改进用参考光束照射光记录媒体时的可再现性，必须校正光记录媒体和空间光调制器之间的不对准。但是，在常规技术中，只建议一个用于校正光记录媒体和记录/再现光学系统之间的不对准的单元，并且光记录媒体和空间光调制器之间的不对准的校正是不可能的。
发明内容
依据本发明的一个方面，一种全息照相记录/再现设备包括把信息光束和参考光束中的至少一个引导到光记录媒体上的记录/再现光学系统；设置在该记录/再现光学系统的光径中的、并且空间调制通过该记录/再现光学系统引导的光束以生成信息光束的空间光调制器；利用用来检测第一不对准的光束来检测该记录/再现光学系统和该空间光调制器之间的第一不对准的第一不对准检测单元；以及，根据由第一不对准检验单元检测的第一不对准来校正该第一不对准的第一不对准校正单元。
依据本发明的另一个方面，提供一种空间光调制器，其设置在把信息光束和参考光束中的至少之一引导光记录媒体上的记录/再现光学系统的光径中并且空间调制通过该记录/再现光学系统引导的光束以产生信息光束。该空间光调制器包括衍射用来检测该空间光调制器和该记录/再现光学系统之间的第一不对准的光束的衍射单元。
依据本发明的再一个方面，提供一种全息照相记录/再现方法，其校正全息照相记录/再现设备中记录/再现光学系统与空间光调制器之间的第一不对准，其中，该设备包括该把信息光束和参考光束中至少之一引导到光记录媒体上的记录/再现光学系统，以及，该空间光调整器设置在该记录/再现光学系统的光径上并且空间调制通过该记录/再现光学系统引导的光束以产生信息光束。该全息照相记录/再现方法包括通过该记录/再现光学系统用检测第一不对准的光束照射该空间光调制器；接收该检测第一不对准的光束，该光束由该空间光调制器衍射；根据该检测第一不对准的光束的接收状态检测该第一不对准；以及，根据检测到的第一不对准校正该第一不对准。
图1是第一实施例中使用的光记录媒体的透视图；图2是依据第一实施例的全息照相记录/再现设备的总结构图；图3是空间光调制器信息记录时的调制图形图；图4是空间光调制器信息再现时的调制图形图；图5是依据第一实施例的空间光调制器的垂直剖面图；图6是依据第一实施例的空间光调制器的平面图；图7是数字微镜器件的透视图；图8是“接通”状态下的象素的垂直剖面图；图9是“断开”状态下的象素的垂直剖面图；图10是第一校正电路的方块图；图11是第二校正电路的方块图；图12是第二实施例中使用的光记录媒体的透视图；以及图13是依据第二实施例的全息照相记录/再现设备的总结构图。
具体实施例方式
下面参照附图详细解释依据本发明的全息照相记录/再现设备的示范实施例。
先解释第一实施例。在第一实施例中，本发明的概念应用到反射共线干涉测量式全息照相记录/再现设备上。类似于常规设备，依据该实施例的全息照相记录/再现设备包括光记录媒体，用信息光束和/或参考光束照射光记录媒体以在该光记录媒体上记录/再现信息的记录/再现光学系统，产生在该记录/再现光学系统中要使用的信息光束和参考光束的空间光调制器(SLM)，以及校正光记录媒体和记录/再现光学系统之间的不对准(第二不对准)的第二校正光学系统(以下若需要称为第二校正)。此外，作为不同于常规设备的特征，依据本发明的该实施例的全息照相记录/再现设备包括校正记录/再现光学系统和空间光调制器之间的不对准(第一不对准)的第一校正光学系统(以下若需要称为第一校正)。该实施例的全息照相记录/再现设备可以基于记录/再现光学系统，利用第一校正光学系统和第二校正光学系统来校正光记录媒体和空间光调制器之间的不对准。
首先解释具有上述特征的全息照相记录/再现设备中使用的光记录媒体1的结构。图1是光记录媒体1的透视图(光记录媒体1的一个侧部示成是剖开的)。光记录媒体1可以以任何平面形状形成，例如盘状、卡状或块状。图1中示出的光记录媒体1是按盘状形成的。光记录媒体1包括保护层2、记录层3、间隙层4、二向色反射层5、透明基片6和反射层7，它们按该次序在全息照相记录/再现设备的光束入射侧叠压。光记录媒体1对应附后权利要求书中的光记录媒体。
保护层2用来保护记录层3的表面。记录层3用于通过从全息照相记录/再现设备接收照射的信息光束和再现光束来记录信息。下面若需要，把信息光束和再现光束集体地称为记录光束。记录层3是用其光特性例如吸收或折射率根据照射的记录光束的强度即电磁波的强度改变的材料做成的。间隙层4用来防止在记录光束的光强特别高的区域中记录全息照相并且是用透射高强度记录光束的材料做成的，该材料不与记录层3的记录材料混合。二向色反射层5是选择性的反射层，其反射和透射的波长确定成反射从后面解释的记录/再现光束源21照射的记录光束并且透射从后面解释的第二校正光束源71照射的第二校正光束。二向色反射层5是由二向色多层薄膜构成的，该薄膜例如包括SiO2、TiO2、NbO3和CaF2。
透明基片6用于透射通过二向色反射层5进入的第二校正光束，并且是由诸如玻璃和聚碳酸酯的材料做成的。反射层7用来反射透射穿过二向色反射层5以及透明基片6的第二校正光束，并且是用对第二校正光束的波长具有高反射率的材料例如铝做成的。这里，尽管未在该图中示出，透明基片6的侧面上的反射层7的表面形成为一个记录跟踪信息和地址信息的不规则表面。这里，可以以任何方式实现跟踪，并且可以采用连续转动伺服系统或采样伺服系统。例如可以用摆动坑记录跟踪信息。当通过作为该全息照相记录/再现设备的一部分的物镜30用记录光束照射具有上述结构的光记录媒体1时，信息光束和参考光束在记录层3中干涉，从而形成全息图形8。
现解释用来记录和再现具有上述结构的光记录媒体1上的信息的全息照相记录/再现设备10的结构。图2是依据该实施例的全息照相记录/再现设备10的总结构图。全息照相记录/再现设备10用于在光记录媒体1上进行信息的记录、再现等等，该设备包括记录/再现光学系统20，空间光调制器40，第一校正光学系统50和第二校正光学系统70。具有和它的名称对应的已知光功能的并且可以根据已知技术构建的部件本文不予以特别解释。
记录/再现光学系统20用来记录和再现信息，并且包括记录/再现光束源21，光束扩展器22，镜23，成像透镜24，镜25，成像透镜26，偏振光束分光器27，二向色棱镜28，用于光转动的波片29，物镜30，成像透镜31以及二维光探测器32。记录/再现光学系统20对应附后权利要求书中的记录/再现光学系统。
这里，记录/再现光束源21是用于记录和再现的光源。下面，当需要时把记录/再现光束源21发出的并且尚未受到空间光调制器40调制的光束称为记录/再现光束。具有适当相干性从而允许获得干涉图形的激光器可充当这种光源，例如，诸如激光二极管的线性偏振激光器、氦氖激光器、氩离子激光器和YAG激光器。光束扩展器22是一个使记录/再现光束源21发出的记录/再现光束形成为准直光束的成形单元，并且如图所示由一对透镜构成。成像透镜24用于把记录/再现光束聚焦到空间光调制器40上并且对应于附后权利要求书中的“最靠近空间光调制器设置的光器件”。
偏振光束分光器27用于透射记录光束和反射再现光束。偏振光束分光器27例如是用带有介电层的棱镜构成的。二向色棱镜28用于透射记录光束和再现光束，同时反射后面解释的第一校正光束和第二校正光束。二向色棱镜28例如是用涂着金属薄层或介电层从而透射具有一定波长的光束的棱镜构成。二向色棱镜28对应附后权利要求书中的“记录/再现光学系统中的共用光器件”。波片29用于转动通过波片29的光的偏振面，并且可以用1/4波片或1/2波片构成。二维光探测器32是把再现光束转换成电信号的光电转换器，并且例如可以使用电荷耦合器件(CCD)阵列构成。
下面解释空间光调制器40的结构。空间光调制器40同时产生按二维模式给其信息的信息光束，以及来自通过记录/再现光学系统20照射的记录/再现光束的空间调制的参考光束。空间光调制器对应附后权利要求书中的空间光调制器。
空间光调制器40的图示说明其是用图3和4中所示的按二维矩阵形状排列的多个象素41构成的，并且通过对每个象素41改变记录/再现光束的方向或者通过对每个象素41改变记录/再现光束的偏振方向来产生信息光束和参考光束。在用象素41形成的调制图形中，光轴中心附近的区域是用来生成信息光束的信息光束区42，而周边区域是用来生成参考光束的参考光束区43。图4中只示出用来生成参考光束的参考光束区43。
现解释空间光调制器40的结构细节。图5是空间光调制器40的垂直剖面图，图6是空间光调制器40的平面图。空间光调制器40是用被置在由外壳44和透明窗45包围的空间中的数字微镜器件(DMD)46构成的。如图7中的示意透视图所示，DMD 46是由多个象素(微镜)41构成的，这些象素彼此通过铰链47耦合并且二维地排列在图5的基片48的上表面上。
每个象素41可以彼此独立地被电控制，并可以绕铰链47转动。图8是处于“接通”状态的象素41的垂直剖面，而图9是处于“断开”状态的象素41的垂直剖面。在参考状态下，象素41相对于基片48水平地排列。在图8中示出的“接通”状态下，象素41可以转动+10度，而在图9中示出的“断开”状态下，象素41可以转动-10度。这样，当进入光束LIN从相同方向入射到基片48上时，“接通”状态下的反射光束Lout1和“断开”状态下的反射光束Lout2成40度的角。在图7和9中，“断开”状态下的象素41用象素41a表示，而“接通”状态下的象素41用象素41b表示。在图8和9中，象素41的光轴LAXIS用虚线表示。从而，根据要在光记录媒体1上记录的信息在“接通”和“断开”之间电气切换象素41的状态允许形成图3和4中示出的调制图形，并且根据信息调整记录/再现光束的反射方向，可以空间调制信息光束和参考光束。
回到图5和6，透明窗45带有对齐标记M。对齐标记M基本是按二个彼此大约垂直的道T1和T2的平面交叉点的形状形成的。可以以任何方式形成道T1和T2。例如可以用金刚石切割对透明窗45的上表面切去约1μm的厚度以形成道T1和T2。对齐标记M对应附后权利要求书中的衍射单元。利用空间光调制器40中的对齐标记M，入射到空间光调制器40上的第一校正光束可以在对齐标记M处衍射，并且可以利用该衍射光束进行第一校正。
只要第一校正是可能的，道T1和T2可以在任何方向上形成。在此实施例中，沿着二个大致和空间光调制器40的光轴垂直的方向形成这二个道，从而可以定义这二个方向。具体地，带有对齐标记M的透明窗45固定在外壳44上，从而DMD 46在该平面上的中心对应于对齐标记M的中心(道T1和T2的交叉点)，并且DMD 46中的象素41的排列方向对应道T1和T2的方向。从而，可以检测在大致垂直于空间光调制器40的光轴的二个方向中的不对准，并且利用空间光调制器40、成像透镜24等的在相同方向上的移动能实现第一校正。
现解释第一校正光学系统50的结构。再次在图2中，第一校正光学系统50是用来校正空间光调制器40在记录/再现光学系统20中的位置的第一校正单元，并且包括第一校正光束源51，准直透镜52，偏振光束分光器53，用于光转动的波片54，聚光透镜55，凸透镜56，柱面透镜57，四等分光探测器58，第一校正电路59，音圈电动机60和压电致动器61。
第一校正光束源51是一个用于第一校正的光束源(以下若需要称为第一校正光束)，而且例如可以采用线性偏振激光器。具体地，可以采用激光二极管、氦氖激光器、氩离子激光器、YAG激光器，等等。期望第一校正光束具有和从记录/再现光束源21发射的记录/再现光束不同的波长。例如，当记录/再现光束源21采用波长约为532nm的激光器时，第一校正光束源51最好采用波长约为650nm的红激光二极管。第一校正光束和第二校正光束波长可以相同，并且第一校正光束源51采用的激光器可以和后面解释的第二校正光束源71中使用的激光器具有相同的波长。
准直透镜52是把第一校正光束转换成准直光束的准直光束发生单元。偏振光束分光器53用于透射从第一校正光束源51发出的第一校正光束并用于反射通过空间光调制器40反射的第一校正光束。波片54用于转动穿过波片54的光束的偏振面。波片54可以用1/4波片或1/2波片形成，并且最好是1/4波片因为它的透射效率好。四等分光探测器58是一个具有作为四个分立部分的光束接收器58a至58d(未在图2中示出)的光电转换器，其接收空间光调制器40反射的第一校正光束，并且根据记录/再现光学系统20和空间光调制器40之间的不对准输出一个输出信号(以下若需要称为不对准信号)。
第一校正电路59是用于第一校正的控制电路，其接收从四等分光探测器58输出的不对准信号以计算第一校正所需的空间光调制器40以及成像透镜24的移动量。此外，第一校正电路59对音圈电动机60和压电致动器61输出用于与该算出的移动量对应的移动控制的驱动信号。在图10中以方块形式示出第一校正电路59。如图10中所示，第一校正电路59包括使位于四等分光探测器58的相对角上的光束接收器58a和58d的输出相加的加法器59a，使位于四等分光探测器58的另一相对角上的光束接收器58b和58c的输出相加的加法器59b，计算加法器59a的输出和加法器59b的输出之间的差以便通过象散方法产生聚焦误差信号FE1的减法器59c，使位于四等分光探测器58的一横向方向上彼此靠近的光束接收器58a和58b的输出相加的加法器59d，使位于四等分光探测器58的一横向方向(图2中的Y向)上彼此靠近的光束接收器58c和58d的输出相加的加法器59e，计算加法器59d的输出和加法器59e的输出之间的差以便通过推挽方法产生跟踪误差信号TE1的减法器59f，使四等分光探测器58的一纵向(垂直于图2中的X向和Y向的方向)上彼此靠近的光束接收器58b和58d的输出相加的加法器59g，使四等分光探测器58的一纵向上彼此靠近的光束接收器58a和58c的输出相加的加法器59h，以及计算加法器59g的输出和加法器59h的输出之间的差以便通过推挽方法产生跟踪误差信号TE2的减法器59i。
再次回到图2，音圈电动机60是在三个方向上，即二个垂直于成像透镜24的光轴方向的方向(图2中的X向和Y向)以及该光轴方向(垂直于图2中的X和Y向的方向)，为第一校正移动成像透镜24的移动单元。压电致动器61是在三个方向上，即二个各垂直于空间光调制器40的调制平面的方向(图2中的X向和Y向)以及该调制平面的垂线方向(垂直图2中的X向和Y向的方向)，为第一校正移动空间光调制器40的移动单元。
第一校正光束源51、准直透镜52、偏振光束分光器53、波片54、聚焦透镜55、凸透镜56、柱面透镜37以及四等分光探测器58对应附后权利要求书中的第一不对准检测单元。更具体地，第一校正光束源51对应光源，而四等分光探测器对应光束接收单元。第一校正电路59、音圈电动机60以及压电致动器61对应附后权利要求书中的第一不对准校正单元。更具体地，第一校正电路59对应计算单元，而音圈电动机60和压电驱动器61对应驱动单元。
现解释第二校正光学系统70的结构。第二校正光学系统70是校正记录/再现光学系统20和光记录媒体1的相对位置的第二校正单元，它包括第二校正光束源71，准直透镜72，偏振光束分光器73，用于光转动的波片74，凸透镜75，柱面透镜76，四等分光探测器77，第二校正电路78以及音圈电动机79。
第二校正光束源71充当用于第二校正的光束源(以下若需要称为第二校正光束)，并且例如采用线性偏振激光器。期望第二校正光束的波长和记录/再现光束源21发出的记录/再现光束的波长不同。例如，当记录/再现光束源21采用波长约为532nm的激光器时，第二校正光束源71最好采用波长约为650nm的红激光二极管。准直透镜72是把第二校正光束转换成准直光束的准直光束生成单元。偏振光束分光器73用于透射第二校正光束源71发射的第二校正光束，并且用于反射光记录媒体1所反射的第二校正光束。波片74用于转动通过波片74的光束的偏振面，并且可以例如用1/4波片或1/2波片形成。四等分光探测器77是一个带有作为四个分立部分的光束接收器77a至77d(图2中未示出)的光电转换器，其接收光记录媒体1反射的第二校正光束，并且输出对应于光记录媒体1和记录/再现光学系统20之间的不对准的输出信号(不对准信号)。
第二校正电路78是用于第二校正的控制电路，其接收四等分光探测器77输出的不对准信号、计算为了第二校正物镜30所需的移动量、并且对音圈电动机79提供和该算出的移动量对应的用于移动控制的输出。在图11中以方块形式示出第二校正电路78。如图11中所示，第二校正电路78包括使位于四等分光探测器77的一相对角上的光束接收器77a和77d的输出相加的加法器78a，使位于四等分光探测器77的另一对相对角上的光束接收器77b和77c的输出相加的加法器78b，计算加法器78a的输出和加法器78b的输出之间的差以便通过象散方法产生聚焦误差信号FE2的减法器78c，使位于沿着四等分光探测器77的一跟踪方向上彼此靠近的光接收器77a和77b的输出相加的加法器78d，使位于沿着四等分光探测器77的该跟踪方向上彼此靠近的光接收器77c和77d的输出相加的加法器78e，计算加法器78d的输出和加法器78e的输出之间的差以便通过推挽方法产生跟踪误差信号TE3的减法器78f，以及使加法器78d的输出和加法器78e的输出相加以便产生再现信号RF的加法器78g。在本实施例中，再现信号RF是再现先前记录到光记录媒体1的反射层7上的信息的信号。
再次参照图2，音圈电动机79是可以在三个方向上，即垂直于物镜30的光轴方向的二个方向(图2中的X和Y向)以及该光轴方向(图2中垂直于X和Y向的方向)，为第二校正移动物镜30的驱动单元。
第二校正光束源71、准直透镜72、偏振光束分光器73、用于光转动的波片74、凸透镜75、柱面透镜76以及四等分光探测器77对应附后权利要求书中的第二不对准检测单元。第二校正电路78和音圈电动机79对应附后权利要求书中的第二不对准校正单元。
现在解释利用具有上述结构的全息照相记录/再现设备10实施的信息记录/再现方法。但是，可以基本上以和常规技术相同的方式实施信息的记录和再现，从而本文只解释概要。首先解释记录信息的方法。从图2中的记录/再现光束源21发射的记录/再现光束通过光束扩展器22扩展和形成为准直光束，并且通过镜23照射到空间光调制器40上。接着，在空间光调制器40上显示图3中所示的调制图形。这样，在照射到空间光调制器40的记录/再现光束之中，照射到信息光束区42上的光束被空间调制以便成为包含作为二维模式的信息的信息光束，而照射到参考光束区43上的光束被空间调制成为参考光束。换言之，产生记录光束从而包含处于光轴中央部分中的信息光束以及处于光轴周边部分中的参考光束。该记录光束顺序地经过成像透镜24、镜25和成像透镜26入射到偏振光束分光器27上。
这里，在从记录/再现光束源21发射时调整记录光束的偏振方向(记录/再现光束的偏振方向)，从而使该记录光束通过偏振光束分光器27。因此，记录光束通过偏振光束分光器27并且进入二向色棱镜28。透射通过二向色棱镜28的记录光束再通过波片29，然后经物镜30照射到光记录媒体1上，并且聚光成在图1的光记录媒体1的反射层7的表面上的光束直径为最小。通过记录光束照射在光记录媒体1上，构成记录光束的信息光束和参考光束在记录层3中彼此干涉，从而在光记录媒体1中形成带有干涉图形的全息图形8。这样，把信息记录在光记录媒体1上。
按如下进行信息再现。再次回到图2，记录/再现光束源21发出的记录/再现光束如记录时那样照射到空间光调制器40上。当再现时，在空间光调制器40上显示图4中所示的调制图形。再现时的调制图形只有参考光束区43，和图3中示出的记录时的调制图形相同。这样，只空间调制照射到空间光调制器40上的记录/再现光束中的照射在参考光束区43上的光束，因此只产生和记录时相同的参考光束。该和记录时类似的参考光束照射到光记录媒体1上并且其一部分在通过光记录媒体1时由图1的全息图形8衍射成为再现光束。
该再现光束在被反射层7反射后通过图2中示出的物镜30，并且在经过波片29时由波片29转动。这样，该再现光束变成包括和参考光束不同的偏振分量。因此，在通过二向色棱镜28之后再现光束由偏振光束分光器27反射。反射的再现光束经成像透镜31聚焦在二维光探测器32上作为再现图象。类似于再现光束，不被图1的全息图形8衍射的参考光束的一部分透射并聚焦在图2的二维光探测器32上。但是，在二维光探测器32中，再现光束聚焦在中央部分而透射光束聚焦在周边部分上。这样，空间上可以方便地分离再现光束，以便再现在光记录媒体1上记录的信息。
现解释利用第一校正光学系统50和第二校正光学系统70的不对准校正。这里，利用第一校正光学系统50校正记录/再现光学系统20和空间光调制器40的相对位置，接着利用第二校正光学系统70校正记录/再现光学系统20和光记录媒体1的相对位置。由于首先进行的对记录/再现光学系统20和空间光调制器40的相对位置的校正或者对记录/再现光学系统20和光记录媒体1的相对位置的校正中的校正的相对位置是后一个校正的基准，所以按此顺序进行校正。但是，第一校正或第二校正可以在另一个校正之前。当不必按顺序进行这二个校正时，能同时进行这二个校正。
首先解释利用第一校正光学系统50的校正。从第一校正光束源51发出的并且波长和记录/再现光束不同的第一校正光束通过准直透镜52整形成准直光束以便入射到偏振光束分光器53上。这里，为了使第一校正光束透射通过偏振光束分光器53，在从第一校正光束源51发出时调整第一校正光束的偏振方向。因此，第一校正光束通过偏振光束分光器53。这样透射的第一校正光束通过波片54和聚焦透镜55以便入射到二向色棱镜28上。这里，如前面指出那样，二向色棱镜28设计成透射波长为记录光束的波长的光并且反射波长为第一校正光束的波长的光束。因此，第一校正光束被二向色棱镜28反射并且进入偏振光束分光器27。由于如上所述，偏振光束分光器27设计成透射波长为第一校正光束的波长的光束，第一校正光束通过偏振光束分光器27并且顺序地经由成像透镜26、镜25和成像透镜24进入空间光调制器40。第一校正光束从第一校正光束源51的发出到第一校正光束入射到空间光调制器40上对应于附后权利要求书中的照射步骤。
这里，通过成像透镜24第一校正光束在图5和6的空间光调制器40的对齐标记M的表面上聚焦成最小光束直径。对齐标记M设计成透射记录/再现光束并反射第一校正光束。从而，第一校正光束被对齐标记M反射并在反射时由道T1和T2衍射。
在由空间光调制器40衍射和反射后，第一校正光束顺序地经由成像透镜24、镜25、成像透镜26和偏振光束分光器27，进入二向色棱镜28。接着，第一校正光束由二向色棱镜28反射并且进一步通过聚焦透镜55和波片54。由于一旦通过波片54，第一校正光束变成包括与从第一校正光束源51发出的光束不同的偏振分量，第一校正光束被偏振光束分光器53反射。考虑到反射效率，希望把波片54的转动角调整成使第一校正光束在偏振光束分光器53上的反射率为最大。这样，反射的第一校正光束通过凸透镜56和柱面透镜57以便由四等分光探测器58接收(对应附后权利要求书中的光束接收步骤)。柱面透镜57改变第一校正光束的形状以便调整聚焦方向(光轴方向)的不对准。
接着，如图10中所示，对应于记录/再现光学系统20和空间光调制器40的不对准从四等分光探测器58的各个光束接收器58a至58d输出不对准信号(对应附后权利要求书中的检测步骤)。第一校正电路59驱动图2中的压电致动器61并且向其垂线方向移动空间光调制器40，从而基于该不对准信号得到的聚焦误差信号FE1达到零。第一校正电路59还驱动图2的压电致动器61并且在于调制平面中彼此垂直的两个方向移动空间光调制器40，从而从图10中的四等分光探测器58得到的跟踪误差信号TE1和TE2都达到零。另外，当由于记录/再现时的振动等产生快速不对准分量时，第一校正电路59驱动图2的音圈电动机60并且在垂直于成像透镜24的光轴方向的二个方向上以及该光轴方向上驱动成像透镜24，以使聚焦误差信号FE1以及跟踪误差信号TE1和TE2都达到零，从而校正不对准(空间光调制器40和成像透镜24的移动对应附后权利要求书中的校正步骤)。
这样，通过移动空间光调制器40的压电致动器61进行相对大量的校正并且通过移动成像透镜24的音圈电动机60进行相对小量的校正。对于第一校正，空间光调制器40的移动是更直接的和优选的。但是，与诸如成像透镜24的光器件相比，空间光调制器40较重并且更难以移动。因此，在本实施例中，首先利用空间光调制器40的移动进行粗校正，然后利用成像透镜24的移动进行细微和快速校正。当利用多个器件(空间光调制器40和成像透镜24)的移动执行校正时，可以提高校正的响应速度。
在第一校正中，可以利用成像透镜24之外的光器件例如成像透镜26的移动来校正空间光调制器40的不对准。但是，和成像透镜24相比，成像透镜26离空间光调制器40更远。因此，为了校正相同量的不对准，成像透镜26需要比成像透镜24移动得更远，这在响应速度上不是优选的。换言之，考虑到响应速度，优选利用与空间光调制器40最近的光器件即成像透镜24的移动来校正空间光调制器40的不对准。
现解释利用第二校正光学系统70校正记录/再现光学系统20和光记录媒体1的相对位置。从图2中的第二校正光束源71发出的第二校正光束通过准直透镜72整形成准直光束并且进入偏振光束分光器73。当从第二校正光束源71发出时调整第二校正光束的偏振方向，从而第二校正光束通过偏振光束分光器73。这样，第二校正光束通过偏振光束分光器73。接着，第二校正光束通过波片74并由二向色棱镜28反射。另外，第二校正光束通过波片29，经物镜30照射到光记录媒体1上，通过图1的光记录媒体1的二向色反射层5，并且在反射层7的表面上聚焦成最小光束直径。第二校正光束被反射层7反射，并且在反射时由反射层7的表面上形成的凹坑(未示出)调制。
光记录媒体1调制和反射的第二校正光束由物镜30准直，通过波片29，由二向色棱镜28反射并且接着通过波片74。一旦通过波片29和74，第二校正光束变成包含与从第二校正光束源71发出的光束不同的偏振分量。因此，第二校正光束由偏振光束分光器73反射，通过凸透镜75和柱面透镜76，并且由四等分光探测器77检测。接着，如图11中那样，第二校正电路78驱动图2的音圈电动机79，并且移动物镜30以使从四等分光探测器77得到的聚焦误差信号FE2以及跟踪误差信号TE3各达到零，从而校正不对准。
如前面解释那样，本实施例中和常规技术中一样可以利用第二校正光学系统70校正光记录媒体1和记录/再现光学系统20的相对位置，然而，可以利用第一校正光学系统50校正记录/再现光学系统20和空间光调制器40的相对位置。从而，可以基于记录/再现光学系统20校正光记录媒体1和空间光调制器40的相对位置。因此，在信息记录时，可以抑制由于各个光器件布置中的波动造成的全息图形8中的波动，而在信息再现时，可以抑制由于各个光器件的布置中的波动造成的再现光束的强度的波动。这样，可以提高信息记录和再现时光记录媒体1和空间光调制器40之间的相对位置的可再现性。因此，允许更准确的信息再现。另外，即使对全息照相记录/再现设备10插入/取出光记录媒体1，正确对准也是可能的。从而，可以提高光记录媒体1的可携带性，以及不同全息照相记录/再现设备10的相容性。
现解释本发明的第二实施例。在第二实施例中，采用透射共线干涉测量式全息照相记录/再现设备。不特别解释的部分和参照第一实施例解释的光记录媒体的部分相同。相同部分用相同参考字符表示。
首先解释供依据该实施例的全息照相记录/再现设备记录/再现使用的光记录媒体80的结构。图12是光记录媒体80的透视图(该光记录媒体的侧部示成是剖开的)。光记录媒体80和第一实施例不同，需要透射而不反射再现光束。因此，光记录媒体80为不带有间隙层4、二向色反射层5和反射层7的光记录媒体1的结构。在透明基片6的外侧表面上，形成用于跟踪伺服的凹坑(未示出)。
现解释用来在具有上述结构的光记录媒体80上记录/再现信息的全息照相记录/再现设备100。图13是依据该第二实施例的全相照相记录/再现设备100的总结构图。不特别提及的部分和第一实施例的全息照相记录/再现设备相同并且用相同的参考字符表示。全息照相记录/再现设备100包括记录/再现光学系统110，空间光调制器40，第一校正光学系统50以及第二校正光学系统70。
记录/再现光学系统110通过光记录媒体80不反射再现光束而透射该再现光束，并且把再现光束聚焦在二维光探测器32上。因此，和第一实施例不同，成像透镜33和二维光探测器32设置成对着空间光调制器40，并且光记录媒体位于二者之间。另外，不包括图2中所示的偏振光束分光器27。再之，不同于第一实施例，在第二实施例中，空间光调制器40和成像透镜24设置成使成像透镜24的光轴和成像透镜26的光轴匹配。但是，可以采取和第一实施例一样采用镜25的结构。空间光调制器40、第一校正光学系统50以及第二校正光学系统70具有和第一实施例相同的结构。
接着解释利用具有上述结构的全息照相记录/再现设备100的信息记录/再现方法。首先解释信息记录。类似于第一实施例，从图13中的记录/再现光束源21发出的记录/再现光束经空间光调制器40、二向色棱镜28等照射到光记录媒体80上，从而在光记录媒体80上形成图12的全息图形8。这样，信息记录在光记录媒体80上。
接着，解释信息再现。参照图13，类似于第一实施例，从记录/再现光束源21发出的记录/再现光束由空间光调制器40调制成为参考光束。产生的参考光束经二向色棱镜28等照射到光记录媒体80上。在通过光记录媒体80时一部分参考光束被全息图形8衍射成为再现光束。该再现光束经由光记录媒体80发出并且被成像透镜33作为再现图象聚焦在二维光探测器32上。未被全息图形8衍射的参考光束被透射并类似于再现光束聚焦在二维光探测器32上。由于聚焦的参考光束具有位于中央部分的再现光束和位于周边部分的透射光束，易于空间分离出再现光束以再现光记录媒体80上记录的信息。
现解释利用第一校正光学系统50和第二校正光学系统70进行的不对准校正。类似于第一实施例进行利用第一校正光学系统50的校正。如第一实施例中那样，从图13中的第一校正光束源51发出的第一校正光束通过偏振光束分光器53，由二向色棱镜28反射并进入空间光调制器40。第一校正光束被图5和6的空间光调制器40的对齐标记M反射，并且反射时被道T1和T2衍射。由空间光调制器40这样衍射和反射的第一校正光束被二向色棱镜28反射并且一旦通过波片54就变成包含与从第一校正光束源51发出的光束不同的偏振分量。这样，第一校正光束由偏振光束分光器53反射，以由四等分光探测器58接收。第一校正的以下过程和第一实施例相同。
除了第二校正光束通过光记录媒体80之外，按和第一实施例相同的方式进行第二校正。和第一实施例中一样，从图13中的第二校正光束源71发出的第二校正光束经二向色棱镜28等照射到光记录媒体80上，并且在光记录媒体80的透明基片6的外表面上聚焦成最小光束直径。一部分第二校正光束在透明基片6的外表面上反射并由透明基片6的外表面上形成的凹坑调制。由光记录媒体80调制和反射后的第二校正光束类似于第一实施例，经二向色棱镜28等进入四等分光探测器77。第二校正的以下过程和第一实施例相同。
这样，同样在依据第二实施例的透射共线干涉测量式全息照相记录/再现设备100中，也可以利用第二校正光学系统70校正光记录媒体80和记录/再现光学系统110的相对位置。另外，可以利用第一校正光学系统50校正记录/再现光学系统110和空间光调制器40的相对位置。结果，可以基于记录/再现光学系统110校正光记录媒体80和空间光调制器40的相对位置。因此，在信息记录时可以抑制由于各个光器件布置中的波动造成的全息图形8的波动，而在再现时可以抑制由于各个光器件布置中的波动造成的再现光束强度的波动。
现在解释对依据第一实施例的全息照相记录/再现设备10的记录/再现性能的评估检查的结果。在第一例子中，利用全息照相记录/再现设备10把信息记录到光记录媒体1上。接着，通过相同的全息照相记录/再现设备在带有校正和不带有校正情况下进行再现。把带有校正的再现结果和不带有校正的再现结果进行比较。
现解释该第一例子中使用的全息照相记录/再现设备10的细节。发射第二谐波的相干光束(波长为532nm)的钕YAG激光器充当图2的记录/再现光束源21，线性偏振激光二极管(波长650nm)充当图2的第一校正光束源51和第二校正光束源71。宽度为1μm的道设置成交点的形式作为图5和6的空间光调制器40的对齐标记M。另外，CCD阵列充当图2的二维光探测器32，用于532nm波长的1/4波长片充当波片29并且用于650nm波长的1/4波片充当波片54和74。此外，把充当波片29的波长片的定向调整成使再现光束的强度在二维光探测器32的上表面为最大。另外，分别把波片54和74的定向调整成使四等分光探测器58和77处的光强为最大。
把光记录媒体1安装在具有上述结构的全息照相记录/再现设备10中并且进行信息记录。具体地，把光记录媒体1固定在主轴电动机(未示出)上，并以1rpm的速度转动。在进行第一校正和第二校正时，使记录/再现光束源21和地址信号同步地闪光并且进行全息图形8的记录。这里，光记录媒体1的表面上的光强为0.1mW，记录层3的上表面上的激光光束的光点尺寸为直径500μm。9万个象素(300×300)的区充当空间光调制器40中的DMD 46的象素41。中央的22500个象素(150×150)的区域充当信息光束区。相邻的9个象素(3×3)定义为一个单元屏面(unit panel)，从而总共2500个屏面充当信息光束区。对于信息输入，采用9∶5调制，其中9个屏面(3×3)中的5个屏面充当亮屏面，即透射光的屏面。
在二种不同的条件下进行这样记录的信息的再现。首先，从全息照相记录/再现设备10取出光记录媒体1。接着，再把该光记录媒体1固定在同一个全息照相记录/再现设备10的主轴电动机(未示出)上。接着，使光记录媒体1以1rpm的速度转动。在进行第一校正和第二校正的同时，使记录/再现光束源21和地址信号同步地闪光，并且利用二维光探测器32进行全息图形8的再现。当再现时，在空间光调制器40的DMD 46上只显示图4中所示的参考光束区43，以产生参考光束。光记录媒体1的表面上的光强为0.05mW。
接着，在和第一再现相同的条件下(但不带有第一校正和第二校正)再现该信息。比较二种不同状态下的再现结果。具体地，对通过二维光探测器32得到的信息光束区42(150×150)中的每个象素41设定特定阈值。根据该阈值，确定每种状态下再现时的亮屏面和暗屏面以提供输出模式。把该输出模式和对空间光调制器40的DMD 46提供的输入模式进行比较。结果，当带有第一和第二校正再现时，确定2500个屏面中没有出错的屏面，而在不带有第一和第二校正再现中，确定2500个屏面中10个屏面是出错的。这样，确认第一和第二校正减少确定为出错屏面的数量，从而提高信息再现的精确性。
在第二例子中，利用全息照相记录/再现设备10把信息记录到光记录媒体1上。记录之后，利用与记录时的设备不同的全息照相记录/再现设备10，首先在带有校正的情况下接着在不带有校正的情况下进行再现。不特别指出的条件和结果与第一例子相同。用于记录的全息照相记录/再现设备(以下称为全息照相记录/再现设备10A)和用于再现的全息照相记录/再现设备(以下称为全息照相记录/再现设备10B)是结构相同的不同设备。在全息照相记录/再现设备10A的空间光调制器40中作为对齐标记M提供的道T1和T2与在全息照相记录/再现设备10B的空间光调制器40中作为对齐标记M提供的道T1和T2之间的定位误差等于或小于1μm。
首先，从全息照相记录/再现设备10A中取出利用全息照相记录/再现设备10A在其上记录信息的光记录媒体1，并且将其放置在另一个全息照相记录/再现设备10B中并固定在主轴电动机(未示出)上。接着，在进行第一校正和第二校正的同时再现信息。
然后，利用全息照相记录/再现设备10B，在相同条件下(但是不带有第一和第二校正)再现信息。接着，比较二种不同条件下的再现结果。结果，在利用第一和第二校正再现时确定2500个屏面中出错屏面数量为零，而不利用第一和第二校正再现时确定2500个屏面中出错屏面数量为50个。由此，确认即使利用不同的全息照相记录/再现设备10B进行再现时，可以利用第一和第二校正减少确定为错误的屏面的数量，从而可以提高信息再现的精确性。
在第三例子中，利用与记录时使用的设备相同的全息照相记录/再现设备，先在带有校正的情况下接着在不带有校正的情况下下再现不带有第一校正的情况下下记录的信息。比较并且解释结果。未特别指出的条件和结果和第一实施例相同。
首先，为了信息记录，把光记录媒体1安装在全息照相记录/再现设备10是。在记录时，不进行第一校正只进行第二校正。
接着，该光记录媒体1从该全息照相记录/再现设备10取出并且放置在和固定在同一个全息照相记录/再现设备中。在带有第一和第二校正的情况下进行重现。
接着，在相同条件下(但是不带有第一校正而只带有第二校正)来再次进行信息再现。比较二种不同条件下的再现结果。结果，在带有第一和第二校正的再现中，2500个屏面中被确定为出错屏面的数量为80个，而在只带有第二校正的再现中，2500个屏面中被确定为出错屏面的数量为150个。这样，确认与只带有第二校正的再现相比，当带有第一以及第二校正时能进一步确少判定为出错屏面的数量，从而可以提高信息再现的精确性。通过和第一例子的结果比较，确认也在记录时进行第一校正可以提高信息再现的精确性。
上面解释了示范实施例和例子。在由附后权利要求书定义的本发明的技术精神的范围内，可以随意改变或改进各实施例的具体结构和方法。下面解释对实施例的修改。
可以在不同于上述形式的已知形式下构建光记录媒体1或80。例如，利用具有色差的物镜、利用图2中第二校正光束源71和准直透镜72之间的较大距离、利用在图2的波片74和二向色棱镜28之间插入用来进行校正的凹透镜，等等，可以使记录光束和第二校正光束的焦点位置不同。
另外，可以把任何结果采纳为应用本发明的全息照相记录/再现设备的基本结构。例如，除了上面说明的反射共线干涉测量式或透射共线干涉测量式之外，该全息照相记录/再现设备可采用双光束反射干涉测量式或双光束透射干涉测量式。
另外，除了上面说明的带有DMD 46的结构之外，可以利用其它已知结构形成图5和6中示出的空间光调制器40。例如，空间光调制器40可以是反射液晶空间光调制器，透射液晶空间光调制器，等等，只要它提供有多个象素41和透明窗45。还可以改变对齐标记M的形状以形成和上面所说明的交叉形状不同的形状。例如，可以设置更多的道以形成从中心辐射的射线状。另外，对于在空间光调制器40的光轴方向上形成对齐标记M的位置，为了严格聚焦在该光轴方向上，标记M最好形成为靠近象素41。另外，还可以在透明窗45上形成保护层2以抑制对齐标记M对光的散射。此外，可以在形成对齐标记M的表面上形成透射记录光束但是反射第一校正光束的二向色反射层，以实现对第一校正光束的有效反射。
此外，只要可以实现上面说明的效果，可以随意改变第一校正光学系统50的结构。尤其可以改变这些光器件的具体结构。例如，可以把驱动单元形成为只有空间光调制器40是可动的，只有成像透镜24是可动的，成像透镜26而不是成像透镜24是可动的，除了空间光调制器40和成像透镜24之外成像透镜26是可动的。由于空间光调制器40的光轴方向上的聚焦具有相对高的允许值，所以可以把空间光调制器40等形成为仅在图2的X向或Y向上是可动的，并且可省略该在光轴方向上的移动。
在这些实施例中，利用第一校正光学系统50和第二校正光学系统70二者校正光记录媒体1或80以及空间光调制器40的位置。但是，当只希望校正记录/再现光学系统20、110和空间光调制器40的相对位置时，可以省略第二校正光学系统。另外，当提供第一校正光学系统50以及第二校正光学系统70二者时，如果第一校正光束和第二校正光束通过作为二个系统的共用光器件的二向色棱镜被引导到记录/再现光学系统20上，可以如实施例中所示简化记录/再现光学系统20的结构。换言之，和仅提供第二校正光学系统70的常规设备相比，该实施例的设备允许在不增加光器件数量的情况下把第一校正光束引导到记录/再现光学系统20。但是，如果不特别需要这种好处，可以通过任何光器件把第一校正光束引导到记录/再现光学系统20。例如，在图2中，可以在偏振光束分光器27和二向色棱镜28之间设置另一个二向色棱镜，从而通过该的新二向色棱镜把第一校正光束引导到记录/再现光学系统20。
另外，本发明解决的问题以及本发明的效果不受上面提到的内容的限制。可能解决未特别说明的问题，并且可能发挥未特别说明的效果。可能解决上面说明的问题的一部分并且可能发挥上面说明的效果的一部分。例如，即使用参考光束照射光记录媒体时的可再现性不是百分之百，只要和常规技术相比可再现性提高，则应说问题得到解决。
附图只是示例性的，并且各器件的尺寸和比例不受附图中所描述的限制。
此外，在各实施例中解释成自动完成的控制的全部或部分可以人工地完成。另一方面，解释成人工完成的控制的全部或部分可以根据已知技术或者根据本发明的构思自动地完成。另外，参照各实施例说明的第一校正电路59以及第二校正电路78的控制过程可以用中央处理器(CPU)以及由该CPU读和执行的计算机程序构成。
这样，本发明对于采用全息照相术的记录和再现是有用的，并且尤其适用于在全息照相记录/再现设备中提高用参考光束照射光记录媒体时的可再现性。
本领域技术人员容易想到其它优点和修改。从而，在更广的方面上本发明不受本文示出和说明的特定细节和代表性实施例的限制。从而，在不背离由附后权利要求书以及其等同物定义的总发明概念的精神或范围下，可以做出各种修改。
权利要求
1.一种全息照相记录/再现设备，包括记录/再现光学系统，用于把信息光束和参考光束中至少之一引导到光记录媒体上；空间光调制器，其设置在该记录/再现光学系统的光径中，并且空间调制经该记录/再现光学系统引导的光束以产生信息光束；第一不对准检测单元，其利用用来检测第一不对准的光束检测该记录/再现光学系统和该空间光调制器之间的第一不对准；以及第一不对准校正单元，其根据第一不对准检测单元检测的第一不对准来校正该第一不对准。
2.依据权利要求1的全息照相记录/再现设备，其中该空间光调制器包括衍射该用来检测第一不对准的光束的衍射单元。
3.依据权利要求2的全息照相记录/再现系统，其中该衍射单元包括用于定义大致垂直于记录/再现光束的光轴的两个方向的对齐标记。
4.依据权利要求1的全息照相记录/再现设备，其中该第一不对准检测单元包括第一校正光束源，其以用来检测第一不对准的光束照射该空间光调制器；以及光束接收单元，其接收由该空间光调制器衍射的、用来检测第一不对准的光束，以便输出和第一不对准对应的不对准信号。
5.依据权利要求1的全息照相记录/再现设备，其中该第一不对准校正单元包括计算该空间光调制器的移动量的计算单元；以及根据该移动量移动该空间光调制器的驱动单元。
6.依据权利要求1的全息照相记录/再现设备，其中该第一不对准校正单元包括计算单元，其根据该第一不对准计算设置在该空间光调制器和该记录/再现光学系统中的光记录媒体之间的光径中的光器件的移动量；以及根据该移动量移动该光器件的驱动单元。
7.依据权利要求6的全息照相记录/再现设备，其中该驱动单元移动在该记录/再现光学系统里设置的光器件之中的至少一个离该空间光调制器最近的光器件。
8.依据权利要求1的全息照相记录/再现系统，还包括第二不对准检测单元，其利用用来检测第二不对准的光束检测该光记录媒体和该记录/再现光学系统之间的第二不对准；以及第二不对准校正单元，其根据第二不对准检测单元所检测的第二不对准来校正该第二不对准，其中，通过该记录/再现光学系统中的公用光器件把用来检测第一不对准的光束以及用来检测第二不对准的光束引导到该记录/再现光学系统。
9.一种空间光调制器，其设置在把信息光束和参考光束中至少之一引导到光记录媒体的记录/再现光学系统的光径中，并且其空间调制经该记录/再现光学系统引导的光束以便产生信息光束，该空间光调制器包括衍射单元，其衍射用来检测该空间光调制器和该记录/再现光学系统之间的第一不对准的光束。
10.一种校正全息照相记录/再现设备中的记录/再现光学系统和空间光调制器之间的第一不对准的全息照相记录/再现方法，其中，该设备包括把信息光束和参考光束中至少之一引导到光记录媒体的记录/再现光学系统，该空间光调制器设置在该记录/再现光学系统的光径中并且空间调制经该记录/再现光学系统引导的光束以产生信息光束，该方法包括经该记录/再现光学系统以用来检测第一不对准的光束照射该空间光调制器；接收用来检测该第一不对准的光束，该光束被该空间光调制器衍射；根据该接收的用来检测该第一不对准的光束的状态来检测该第一不对准；以及根据该检测的第一不对准校正该第一不对准。
全文摘要
一种全息照相记录/再现设备，包括把信息光束和参考光束中至少之一引导到光记录媒体上的记录/再现光学系统；设置在该记录/再现光学系统的光径中并且空间调制经该记录/再现光学系统引导的光束以生成信息光束的空间光调制器；利用用来检测第一不对准的光束检测该记录/再现光学系统和该空间光调制器之间的第一不对准的第一不对准检测单元；以及，根据该第一不对准检测单元检测的该第一不对准来校正该第一不对准的第一不对准校正单元。
文档编号G11B7/135GK1770278SQ20051010760
公开日2006年5月10日 申请日期2005年9月29日 优先权日2004年9月29日
发明者松本一纪, 平尾明子, 早濑留美子, 塚本隆之 申请人:株式会社东芝