专利名称：：故障信号生成电路的制作方法
技术领域：
：本发明涉及在光盘播放装置中使用的故障信号生成电路。
背景技术：
：以往，在进行CD-DA(CompactDiscDigitalAudio数字音频光盘)、CD-R(CompactDiskRecordable可记录光盘驱动器)、CD-RW(CompactDiskReWritable可重写光盘)等的播放的光盘播放装置中，使用把光盘的缺陷作为故障检测的故障信号生成电路。在该缺陷中存在因盘的污迹和伤痕等引起的暗缺陷和因制造不良引起在镜面上能够看到的状态(没有色素膜的状态)的明缺陷。在此，在上述以往的故障信号生成电路中，例如有具备以下部分的电路(例如，参照特开2005-203006号公报)第1峰值保持电路，接收从光盘读出与缺陷对应地信号电平变化的RF(RadioFrequency射频)信号，输出与该RF信号大致同时变化的第1检测信号；第2峰值保持电路，接收RF信号输出时间常数长的第2检测信号；电平调整电路，把第2检测信号分压成1/n；比较电路，把第1检测信号和经过分压的第2检测信号进行比较输出故障信号。即，在该故障信号生成电路中，比较电路以经过分压的第2检测信号的电平为基准值，按照和第1检测信号的大小关系检测故障并输出故障信号。仅依照因CD-DA、CD-R盘的污迹和伤痕产生的暗缺陷使RF信号的电平降低的情况下，第1检测信号的电平比经过分压的第2检测信号的电平进一步降低，能够从比较电路输出故障检测信号，作为伺服性能没有问题。另一方面，依照明缺陷使RF信号的电平上升的情况下，虽然第1检测信号的电平上升，但和分压后的第2检测信号的电平的大小关系没有改变。因而，不能从比较电路输出故障信号，存在不能正常地把明缺陷作为故障检测的问题。进而，例如，因为在CD-RW播放时把播放装置设置成高增益，所以由于明缺陷的检查结束，有时第1检测信号的电平下降到比分压后的第2检测信号的电平还低。此时，变成比较电路输出暗缺陷的故障信号，其结果，存在光盘装置的伺服性能恶化，播放变得困难的问题。
发明内容本发明的一个形态的故障信号生成电路具备低通滤波电路，依照光盘的暗缺陷、明缺陷，接收信号电平从基准电平一方向高电平变化另一方向低电平变化的输入信号，输出与该输入信号相比时间常数长的低通滤波信号；计算电路，计算上述输入信号的电平和上述低通滤波信号的电平的差，输出第1计算值；缺陷判定电路，根据上述第1计算值的符号判定是暗缺陷还是明缺陷；故障检测判定电路，比较上述第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值，在上述第1计算值的绝对值大时，判定为检测出故障；以及输出电路，当在由上述缺陷判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是暗缺陷的情况下，输出表示检测出暗缺陷的故障的第1故障信号，当在由上述故障检测判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是明缺陷的情况下，输出表示检测出明缺陷的故障的第2故障信号。图1是表示涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路主要构成的方框图。图2是表示输出涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路的输出故障信号的动作的流程图。图3是表示涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路解除故障检测的动作的流程图。图4是表示进行涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路的暗缺陷的故障检测的定时波形的图。图5是表示进行涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路的明缺陷的故障检测的定时波形的图。图6是表示具备了涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路的光盘装置主要构成的一个例子的方框图。具体实施例方式涉及本发明的故障信号生成电路，依照光盘的暗缺陷、明缺陷，接受信号电平从基准电平一方向高电平变化另一方向低电平变化的输入信号，把光盘的暗缺陷以及明缺陷作为故障更正确地进行检测，向光盘播放装置的伺服系统输出故障信号。以下，参照涉及本发明的实施例。图1是表示涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路的主要构成的方框图。如图1所示，向故障信号生成电路100中输入，依照例如，与CD-DA、CD-R、CD-RW等的光盘的暗缺陷、明缺陷，信号电平一方从基准电平向高电平变化，另一方向低电平变化的输入信号(例如，RFDC(RadioFrequencyDirectCurrent射频直流信号))，或者，辅助光束和信号(SBAD(SubbeamAddition)信号))。而且，所谓RFDC信号是RF信号的直流成分的信号，根据光盘的主光束输出而生成。此外，所谓辅助光束是跟踪伺服机构的控制信号，是拾波输出的E信号和F信号。而后，该E信号和F信号的和(E+F)是辅助光束和信号。例如，该SBAD信号的电平依照光盘的暗缺陷从基准电平下降，当暗缺陷消失则电平返回到基准电平。另一方面，依照光盘的明缺陷电平从基准电平向上升，当明缺陷消失则电平返回到基准电平。在此，故障信号生成电路100具备低通滤波器1，接收上述输入信号，输出与该输入信号相比时间常数更长的低通滤波信号；计算电路2，计算输入信号的电平和低通滤波信号的电平的差，输出第1计算值；缺陷判定电路3，用该第1计算值的符号判定是暗缺陷还是明缺陷；故障检测判定电路4，进行第1计算值的绝对值和基准值的绝对值的比较，判定是否检测到了故障；输出电路5，根据该故障检测判定电路4和缺陷判定电路3的判定结果，把故障信号输出到伺服系统(未图示)。计算电路2例如计算第1计算值即输入信号(在此，是SBAD信号)的电平A和低通滤波信号的电平B的差(A-B)。例如，当依照光盘的暗缺陷SBAD信号的电平A下降的情况下，第1计算值(A-B)变为负。另一方面，当与明缺陷对应地SBAD信号的电平A上升的情况下，第1计算值(A-B)变成正。而后，计算电路2把该第1计算值(A-B)输出到缺陷判定电路3。在此，缺陷判定电路3根据该第1计算值的符号，在向输出电路5输出判定为是暗缺陷、明缺陷的结果的同时，还向计算电路2输出。故障检测判定电路4例如进行第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值的比较，当该第1计算值的绝对值大的情况下，判定为检测出故障。另一方面，当第1计算值的绝对值小于等于第1基准值的绝对值的情况下，故障检测判定电路4判定为未检测出故障。而后，故障检测判定电路4把这些检测判定结果输出到输出电路5。此外，故障检测判定电路4当正在检测出故障的情况下，把表示故障检测中的故障标志设置信号(设置信号)输出到计算电路2。输出电路5当在用故障检测判定电路4判定为检测到了故障的同时用缺陷判定电路3判定为缺陷是暗缺陷的情况下，输出表示检测到了暗缺陷的故障的第1故障信号。另一方面，输出电路5当在用故障检测判定电路4判定为检测到故障的同时用缺陷判定电路3判定为缺陷是明缺陷的情况下，输出表示检测到了明缺陷的故障的第2故障信号。进而，故障信号生成电路100具备故障解除判定电路6，进行第2计算值和第2基准值的绝对值的比较，在第2计算值大时，判定为已检测不到故障。在此，计算电路2如已说明的那样，在第1计算值的符号是负的情况下，当接收到故障标志设置信号(设置信号)后，再次进行输入信号的电平A和低通滤波信号的电平B的差的计算(A-B)，计算出第2计算值。另一方面，当第1计算值的符号是正的情况下，计算电路2当接收到故障标志设置信号(设置信号)后，进行与计算该第1计算值的差的计算(A-B)的符号相反的(B-A)计算，计算第2计算值。而后，计算电路2向该故障解除判定电路6输出上述第2计算值。故障解除判定电路6进行该第2计算值和第2基准值的绝对值的比较，当第2计算值比第2基准值还大时判定为已不能检测到故障。另一方面，故障解除判定电路6进行第2计算值和第2基准值的绝对值的比较，当第2计算值比第2基准值还小时判定为处于故障检测中。故障解除判定电路6把这些解除判定结果输出到输出电路5。而后，输出电路5根据该故障解除判定电路6的输出，禁止第1以及第2故障信号的输出。即，输出电路5当判定为已不能检测出故障的情况下，禁止第1以及第2故障信号的输出。另一方面，输出电路5当判定为故障处于检测中的情况下，继续第1以及第2故障信号的输出。另外，故障解除判定电路6当判定为已不能检测到故障后，则向计算电路2输出故障标志复位信号(复位信号)。由此，计算电路2在依照下一缺陷SBAD信号的电平发生变化的情况下，把第1计算值输出到缺陷判定电路3以及故障检测判定电路4。进而，故障信号生成电路100具备计时电路7，输出禁止信号，用于在输出电路5的故障信号的输出受到禁止后在规定期间，禁止暗缺陷或者明缺陷的故障的检测。在此，向计时电路7输入禁止上述的输出电路5的第1以及第2故障信号的输出的信号。接收到该信号的计时电路7向计算电路2输出禁止信号。根据该禁止信号的输入，计算电路2设置成输入信号和低通滤波信号相等，即设置成计算值＝0，输出信号。由此，判定为未能用故障检测判定电路4检测出故障。即，该规定期间(维持计算值＝0的状态的期间)禁止故障的检测。其结果，在该规定期间中，不能从输出电路5输出故障信号。而且，在此，虽然把上述禁止信号输入到计算电路2，但也可以用该禁止信号例如控制输出电路5，在规定期间禁止第1以及第2故障信号的输出。进而，故障信号生成电路100具备明缺陷检测禁止电路8，禁止表示检测到了明缺陷的故障的第2故障信号的输出。如上所述，明缺陷是因制造不良引起能够看到镜面的状态(没有色素膜的状态)的缺陷，存在比因盘的污渍和伤痕等引起的暗缺陷还小，故障期间短的情况。这样在故障期间短的情况下，如果实施检测动作输出第2故障信号，则还要考虑对伺服性能的影响。因而，特别是在不需要检测明缺陷的故障的情况下，明缺陷检测禁止电路8向输出电路5输出明缺陷禁止信号，并强制禁止第2故障信号的输出。由此，例如，根据伺服系统的规格等，可以有选择地切换故障信号生成电路100的功能。以下，按照流程图说明关于具有以上那样的构成、功能的故障信号生成电路100的动作。图2是表示输出涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路的故障信号的动作的流程图。首先，如图2所示，把输入信号(SBAD信号)输入到故障信号生成电路100(步骤S1)。接着，低通滤波器电路1处理该SBAD信号，把与输入信号相比时间常数更长的低通滤波信号输出到计算电路2(步骤S2)。接着，计算电路2计算SBAD信号和低通滤波信号的差(A-B)，把第1计算值输出到缺陷判定电路3以及故障检测判定电路4(步骤S3)。接着，缺陷判定电路3接收该输出，根据第1计算值的符号，判定是暗缺陷还是明缺陷(步骤S4)。在该步骤S4中，当第1计算值的符号是正的情况下，这里判定缺陷是明缺陷，当第1计算值的符号是负的情况下，判定缺陷是暗缺陷。把该暗/明判定结果从缺陷判定电路3输出到计算电路2以及输出电路5。当第1计算值的符号是负，即判定为是暗缺陷的情况下，故障检测判定电路4进行第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值的比较，判定有无故障检测出来(步骤S5)。当第1计算值的绝对值小于等于第1基准值的绝对值的情况下，用故障检测判定电路4判定为未检测出故障，再次返回步骤S1。另一方面，当第1计算值的绝对值比第1基准值的绝对值还大的情况下，用故障检测判定电路4判定为已检测出故障。把这些检测判定结果从故障检测判定电路4输出到输出电路5。在步骤S5中，当用故障检测判定电路4判定为检测出故障的情况下，输出电路5把表示检测出暗缺陷的故障的第1故障信号作为故障信号生成电路100的输出进行输出(步骤S6)。另一方面，在步骤S4中，当第1计算值的符号是正，即当判定是明缺陷的情况下，故障检测判定电路4进行第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值的比较，判定有无故障检测出来(步骤S7)。当第1计算值的绝对值小于等于第1基准值的绝对值的情况下，用故障检测判定电路4判定为未检测出故障，返回步骤S1。另一方面，当第1计算值的绝对值比第1基准值的绝对值还大的情况下，用故障检测判定电路4判定为已检测出故障。把这些检测判定结果从故障检测判定电路4输出到输出电路5。在此，在步骤S7之后，明缺陷检测禁止电路8在不需要输出明缺陷的故障信号的情况下，向输出电路5输出用于禁止第2故障信号的输出的信号(步骤S8)。另一方面，当需要输出明缺陷的故障信号的情况下，转移到步骤S6，把第2故障信号作为故障信号生成电路100的输出从输出电路5输出。在步骤S6后，故障检测判定电路4向计算电路2输出故障标志设置信号(设置信号)(步骤S9)。通过以上步骤，输出故障信号生成电路100的缺陷的故障信号的动作结束，接着，转移到解除故障检测的动作。图3是表示进行涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路的故障检测的解除的动作的流程图。首先，如图3所示，把输入信号(SBAD信号)输入到故障信号生成电路100(步骤S10)。接着，低通滤波器电路1进行该SBAD信号的处理，把与输入信号相比时间常数更长的低通滤波信号输出到计算电路2(步骤S11)。接着，接收到故障标志设置信号(设置信号)的计算电路2根据第1计算值的符号，进行SBAD信号和低通滤波信号的差的计算，把第2计算值输出到故障解除判定电路6(步骤S12)。在此，计算电路2在第1计算值的符号是负的情况下(在此判定为是暗缺陷的情况)，再次进行输入信号的电平A和低通滤波信号的电平B的差的计算(A-B)，进行第2计算值的计算。另一方面，当第1计算值的符号是正的情况下(在此判定为是明缺陷的情况)，计算电路2进行与计算该第1计算值的差的计算(A-B)的符号相反的(B-A)计算，进行第2计算值的计算。而后，计算电路2当接收到故障标志设置信号(设置信号)的情况下，把上述第2计算值输出到该故障解除判定电路6。接着，故障解除判定电路6进行第2计算值和第2基准值的绝对值的比较，判定是否已不能检测到故障(步骤S13)。在此，故障解除判定电路6进行该第2计算值和第2基准值的绝对值的比较，在第2计算值大时判定为已不能检测到故障。另一方面，故障解除判定电路6在第2计算值比第2基准值小时，判定为故障处于检测中，返回步骤S10。把这些解除判定结果从故障解除判定电路6输出到输出电路5。在步骤S13中，当判定为未检测出故障的情况下，输出电路5禁止对第1以及第2故障信号的输出(步骤S14)。接着，故障解除判定电路6向计算电路2输出故障标志复位信号(复位信号)(步骤S15)。接着，接收到禁止输出电路5输出第1以及第2故障信号的信号的计时电路7开始禁止输出电路5输出故障信号的规定期间的计时(步骤S16)，在该规定期间中，即直至检测禁止计时结束为止，向计算电路2输出禁止信号，禁止检测故障(步骤S17)。通过以上的流程，解除故障信号生成电路100的缺陷的故障检测的动作结束，再次转移到输出下一故障信号的动作。在此，用以上流程说明所处理的各信号的定时波形。图4是表示本发明实施例1的故障信号生成电路进行暗缺陷的故障检测的定时波形的图。如图4所示，SBAD信号依照暗缺陷，信号电平从基准电平向下降低。而后，在时间t1以后，因为第1计算值(A-B)的绝对值比第1基准值(BDREF)的绝对值还大，所以故障检测判定电路4判定为已检测出故障。进而，缺陷判定电路3因为第1计算值(A-B)是负，所以判定为缺陷是暗缺陷。根据这些判定结果，输出电路5输出第1故障信号。接着，当依照暗缺陷消失，SBAD信号的电平上升，则在时间t2，因为第2计算值(A-B)比第2基准值(BDREF2)还大，所以故障解除判定电路6判定为已不能检测到故障。根据该判定，输出电路5禁止第1故障信号的输出。而后，在从时间t2到时间t3期间用计时电路7规定的规定期间中，用计算电路2计算成SBAD信号和低通滤波信号相等。由此，用故障检测判定电路4判定为未检测到故障。即，在该规定期间中，禁止故障的检测，其结果，限制从输出电路5输出第1故障信号。图5是表示涉及本发明的实施例1的故障信号生成电路进行明缺陷的故障检测的定时波形的图。如图5所示，SBAD信号依照明缺陷，信号电平从基准电平上升到高电平。而后，在时间t1以后，因为第1计算值(A-B)的绝对值比第1基准值(BDREF)的绝对值还大，所以故障检测判定电路4判定为已检测出故障。进而，缺陷判定电路3因为第1计算值(A-B)是正，所以判定为缺陷是明缺陷。根据这些判定结果，输出电路5输出第2故障信号。接着，当依照明缺陷消失，SBAD信号的电平下降，则在时间t2，因为第2计算值(B-A)比第2基准值(BDREF2)还大，所以故障解除判定电路6判定为已不能检测到故障。根据该判定，输出电路5禁止第2故障信号的输出。而后，和图4的情况一样，在从时间t2到时间t3的期间，在由计时电路7规定的规定期间中，用计算电路2计算成SBAD信号和低通滤波信号是相等的电平。其结果，在该规定期间，限制从输出电路5输出的第1故障信号。在此，当不需要输出明缺陷的故障信号的情况下，因为明缺陷检测禁止电路8控制输出电路5，所以在从时间t1到时间t2的期间内，不输出第2故障信号。说明具备了具有以上那样的构成、功能的故障信号生成电路100的光盘装置200的一个例子。图6是表示具备有本发明的实施例1的故障信号生成电路的光盘装置的主要构成的一个例子的方框图。如图6所示，把从盘201读取的信号从PU(拾波器)202输入到RF-Amp203。该RF-Amp203进行在盘播放中需要的信号(聚焦错误(FE)信号、跟踪错误(TE)信号、RF波纹信号、辅助光束加算信号、RF信号、RFDC信号)的生成。伺服电路204的ADC(模拟-数字变换器)205把在RF-Amp203中生成的信号变换为数字数据，输出到聚焦伺服机构206、跟踪伺服机构207、传动伺服机构208。另外，信号处理电路209进行RF信号的处理，输出到伺服电路204的盘电机伺服机构210。伺服输出电路211根据聚焦伺服机构206、跟踪伺服机构207、传动伺服机构208、盘电机伺服机构210的输出，用驱动器212控制电机213以及PU202进行盘201的播放。在此，当在盘201上有故障的情况下，向故障信号生成电路100输入SBAD信号(或者RFDC信号)进行故障检测。而后，根据故障信号生成电路100的输出信号，伺服控制电路214输出控制信号，通过控制聚焦伺服机构以及跟踪伺服机构的输出，能够没有误动作地播放盘201。如上所述，如果采用本实施例的故障信号生成电路，则作为故障能够更正确地检测光盘的暗缺陷以及明缺陷，把故障信号输出到光盘播放装置的伺服系统。而且，在以上实施例中，用于判定故障的检测的第1基准值以及用于判定故障的检测结束的第2基准值可以根据光盘的种类和规格、伺服系统的标准适宜地进行设定。权利要求1.一种故障信号生成电路，其特征在于包括低通滤波电路，依照光盘的暗缺陷、明缺陷，接收信号电平从基准电平一方向高电平变化另一方向低电平变化的输入信号，输出与该输入信号相比时间常数长的低通滤波信号；计算电路，计算上述输入信号的电平和上述低通滤波信号的电平的差，输出第1计算值；缺陷判定电路，根据上述第1计算值的符号判定是暗缺陷还是明缺陷；故障检测判定电路，比较上述第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值，在上述第1计算值的绝对值大时，判定为检测出故障；以及输出电路，当在由上述缺陷判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是暗缺陷的情况下，输出表示检测出暗缺陷的故障的第1故障信号，当在由上述故障检测判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是明缺陷的情况下，输出表示检测出明缺陷的故障的第2故障信号。2.如权利要求1所述的故障信号生成电路，其特征在于上述计算电路在上述第1计算值的符号是负的情况下，和上述差的计算同样地进行计算，当上述第1计算值的符号是正的情况下，上述计算电路进行和上述差的计算符号相反的计算，输出第2计算值，还包括故障解除判定电路，进行上述第2计算值和第2基准值的绝对值的比较，在上述第2计算值大时判定为已不能检测出故障，上述输出电路基于上述故障解除判定电路的输出信号，禁止上述第1以及第2故障信号的输出。3.如权利要求2所述的故障信号生成电路，其特征在于还包括计时电路，用于从上述输出电路的故障信号的输出受到禁止开始在规定期间内，禁止暗缺陷或者明缺陷的故障的检测。4.如权利要求1所述的故障信号生成电路，其特征在于还包括明缺陷检测禁止电路，用于禁止上述输出电路输出上述第2故障信号。5.如权利要求2所述的故障信号生成电路，其特征在于还包括明缺陷检测禁止电路，用于禁止上述输出电路输出上述第2故障信号。6.如权利要求3所述的故障信号生成电路，其特征在于还包括明缺陷检测禁止电路，用于禁止上述输出电路输出上述第2故障信号。7.如权利要求1所述的故障信号生成电路，其特征在于上述输入信号是RFDC信号或者SBAD信号。8.如权利要求2所述的故障信号生成电路，其特征在于上述输入信号是RFDC信号或者SBAD信号。9.如权利要求3所述的故障信号生成电路，其特征在于上述输入信号是RFDC信号或者SBAD信号。10.如权利要求4所述的故障信号生成电路，其特征在于上述输入信号是RFDC信号或者SBAD信号。全文摘要本发明提供故障信号生成电路。本发明的一个实施方式的故障信号生成电路具备低通滤波电路，依照光盘的暗缺陷、明缺陷，接收信号电平从基准电平一方向高电平变化另一方向低电平变化的输入信号，输出与该输入信号相比时间常数长的低通滤波信号；计算电路，计算上述输入信号的电平和上述低通滤波信号的电平的差，输出第1计算值；缺陷判定电路，根据上述第1计算值的符号判定是暗缺陷还是明缺陷；故障检测判定电路，比较上述第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值，在上述第1计算值的绝对值大时，判定为检测出故障；以及输出电路，当在由上述缺陷判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是暗缺陷的情况下，输出表示检测出暗缺陷的故障的第1故障信号，当在由上述故障检测判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是明缺陷的情况下，输出表示检测出明缺陷的故障的第2故障信号。文档编号G11B20/18GK1971722SQ20061016250公开日2007年5月30日申请日期2006年11月24日优先权日2005年11月25日发明者河野英知,藤盛裕明,若杉纯申请人:株式会社东芝