专利名称：记录/再现方法以及分配光学记录介质的区域的方法
技术领域：
本发明涉及盘的领域，更具体地说，涉及一种记录/再现方法、一种记录/再现设备、一种光学记录介质和一种已经在其上记录用于所述记录/再现方法的程序的计算机可读记录介质。
背景技术：
近年来，光学记录技术(即，用于在光盘上记录数据的技术)已经取得了显著的进步。随着这些进步，各种类型的光盘记录/再现设备已经被开发。
一次写入光盘是一种数据仅可被写入一次的光盘。例如，传统的可记录致密盘(CD-R)和可记录数字多功能盘(DVD-R)是一次写入光盘的形式。一般地，在一次写入光盘中，通过将热量施加于使用激光以形成记录标记的记录层的预定区域，记录层的状态被改变。
缺陷管理涉及重写已经被记录在产生缺陷的用户数据区中的用户数据，从而补偿由缺陷的产生引起的数据丢失。传统上，缺陷管理分为使用线性替换方法的缺陷管理和使用滑移替换方法的缺陷管理，在线性替换方法中，产生缺陷的用户数据区的区域被没有产生缺陷的备用区的区域替换。在滑移替换方法中，产生缺陷的区域被滑移过，而没有使用这样的区域，并且没有产生缺陷的下一区域被使用。
在线性替换方法的情况下，产生缺陷的用户数据区的块被称为缺陷块，并且在盘的预定区域中设置备用区，所述备用区是用于替换缺陷块的替换块的空间。
因为一次写入光盘不能被重写，所以与可重写光盘中的缺陷管理方法不同的缺陷管理方法可被采用。在一次写入光盘的情况下，上述缺陷管理方法可被使用或可不被使用。因此，需要一种基于缺陷管理是否被使用来使用一次写入光盘的方法。
发明内容
本发明的一方面提供了一种记录/再现方法、一种记录/再现设备、一种光学记录介质和一种已经在其上记录用于所述记录/再现方法的程序的计算机可读记录介质，其中，根据缺陷管理是否被采用，一次写入光盘可被使用。
在下面的描述中将部分地阐明本发明另外的方面和/或优点，通过描述，其会变得更加明显，或者通过实施本发明可以了解。
根据本发明的一方面，一种在记录介质上记录数据的方法包括在指示是否将对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间选择可选的缺陷管理模式；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对该记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质上；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。
根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤包括将记录介质初始化为缺陷开模式，所述初始化包括将用于替换在记录介质的数据区中产生的缺陷的备用区分配给数据区；以及将临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的临时缺陷管理区中，所述临时缺陷管理信息包括关于分配的备用区的信息和指示缺陷管理开模式的标识符。
根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括以预定的操作为单位将替换块记录在备用区中，所述替换块替换关于在数据区中产生的缺陷的缺陷块；以及以预定的操作为单位在临时缺陷管理区中更新关于缺陷的信息和作为临时缺陷管理信息的对于缺陷管理的缺陷管理信息。
根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括改变备用区的大小，以及在临时缺陷管理区中更新临时缺陷管理信息，所述临时缺陷管理信息包括关于备用区的改变的大小的信息。
根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括将缺陷管理开模式转换为缺陷管理关模式。
根据本发明的一方面，转换为缺陷管理关模式的步骤包括将记录介质重新初始化为缺陷管理关模式；以及在没有缺陷管理的情况下将数据记录在记录介质中。
根据本发明的一方面，重新初始化为缺陷管理关模式的步骤包括将指示缺陷管理关模式的标识符记录在临时缺陷管理区中；以及将在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的缺陷管理区中。
根据本发明的一方面，所述记录方法还包括最终确定记录介质，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质的最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将包括临时缺陷管理区中的最终更新的关于缺陷的信息和缺陷管理信息的临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的缺陷管理区中；以及以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。
根据本发明的一方面，在缺陷管理关模式下记录数据的步骤包括以预定的操作为单位将数据记录在记录介质中提供的数据区中；以及根据数据的记录，在记录介质中提供的临时缺陷管理区中更新记录管理信息。
根据本发明的一方面，所述记录方法还包括最终确定记录介质，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质被最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将在临时缺陷管理区中最终更新的记录管理信息记录在记录介质中提供的缺陷管理区中；以及以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。
根据本发明的另一方面，一种再现记录在记录介质上的数据的方法，所述记录介质包括连续排列的导入区、数据区和导出区，该方法包括从导入区或导出区中提供的临时缺陷管理区读取指示是否对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开/关模式信息，以更新关于在数据区中产生的缺陷的信息和用于每一预定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息；以及基于读取的缺陷管理开/关模式信息来读取在记录数据区中的数据。
根据本发明的一方面，所述再现方法还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理开模式，那么从临时缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。
根据本发明的一方面，所述再现方法还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；以及从记录介质中提供的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。
根据本发明的一方面，所述再现方法还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理关模式，那么从临时缺陷管理区读取最终的记录管理信息。
根据本发明的一方面，所述再现方法还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；以及从记录介质中提供的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。
根据本发明的另一方面，一种用于在记录介质上再现和/或记录数据的设备，包括记录/读取单元，其传递关于记录介质的数据；以及控制单元，其将缺陷管理模式选择为缺陷管理开模式和缺陷管理关模式的一种，所述缺陷管理模式指示在记录介质上记录数据的同时是否执行缺陷管理，并且如果缺陷管理开模式被选择，那么控制记录/读取单元在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在记录介质中，并且如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在记录介质中。
根据本发明的另一方面，一种用于在记录介质上记录数据和/或再现记录在记录介质上的数据的设备，所述记录介质包括连续排列的导入区、数据区和导出区，该设备包括读取单元，其传递关于记录介质的数据；以及控制单元，其控制读取单元从导入区或导出区中提供的临时缺陷管理区读取指示是否对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开/关模式信息，以更新关于在数据区中产生的缺陷的信息和用于每一预定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息，并且基于读取的缺陷管理开/关模式信息来控制读取单元读取记录在数据区中的数据。
根据本发明的另一方面，一种光学记录介质，包括连续排列的导入区、数据区和导出区；临时缺陷管理区，用于记录关于数据区中产生的缺陷的信息，其中导入区或导出区和临时缺陷管理信息用于缺陷的管理；以及缺陷管理区，用于记录最终的关于缺陷的信息和最终的缺陷管理信息，并且所述缺陷管理区是在导入区或导出区中，其中，记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷管理信息包括缺陷管理开/关模式信息，其向记录和/或再现设备指示数据是否将在对记录介质执行缺陷管理的同时被记录在记录介质上。
根据本发明的另一方面，如果记录介质被初始化为缺陷管理开模式，那么用于记录替换块的备用区由该设备分配给数据区，所述替换块以预定的记录操作为单位替换关于在记录介质的数据区中产生的缺陷的缺陷块，缺陷管理区为空，并且临时缺陷管理区进入在其中关于缺陷的信息和用于缺陷的管理的缺陷管理信息可以以预定的记录操作为单位被更新的状态。
根据本发明的另一方面，如果记录介质的备用区的大小被改变并且记录介质被重新初始化，那么关于备用区的改变的大小的信息被记录在临时缺陷管理区中。
根据本发明的另一方面，如果记录介质被重新初始化为缺陷管理关模式，那么指示缺陷管理关模式的信息被记录在临时缺陷管理区中，并且在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中。
根据本发明的另一方面，当记录介质被最终确定时，指示记录介质被最终确定的最终确定标志被记录在临时缺陷管理区中，在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中，并且预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。
根据本发明的另一方面，如果记录介质被初始化为缺陷管理关模式，缺陷管理区为空，并且临时缺陷管理区进入在其中根据数据区中数据的记录记录管理信息可以以预定的记录操作为单位被更新的状态。
根据本发明的另一方面，一种编码有编程指令的计算机可读记录介质，所述编程指令用于实现由计算机执行的在记录介质上记录数据的方法，该方法包括将缺陷管理模式选择为缺陷管理开模式和缺陷管理关模式的一种，所述缺陷管理模式指示是否对记录介质执行缺陷管理；并且如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在记录介质中；并且如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在记录介质中。
根据本发明的另一方面，一种编码有处理指令的计算机可读记录介质，所述处理指令用于实现由计算机执行的再现记录在记录介质上的数据的方法，该记录介质具有连续排列的导入区、数据区和导出区，该方法包括从导入区或导出区中提供的临时缺陷管理区读取缺陷管理开/关模式信息，以更新关于在数据区中产生的缺陷的信息和用于每一预定记录操作的缺陷的管理的缺陷管理信息，所述缺陷管理开/关模式信息指示对记录介质执行缺陷管理以及没有执行缺陷管理两种情形中的一种；以及基于读取的缺陷管理开/关模式信息来读取记录在数据区中的数据。
图1是根据本发明实施例的一次写入记录介质的状态示图；
图2是根据本发明实施例的单记录层记录介质的数据结构示图；图3是根据本发明实施例的双记录层记录介质的数据结构示图；图4是根据本发明实施例的一次写入记录介质的区域的详细数据结构示图；图5是解释根据本发明实施例的记录在临时盘管理区中的临时盘管理信息的示图；图6是解释根据本发明实施例的记录在临时盘管理区中的临时盘管理信息的示图；图7是根据本发明实施例的临时盘管理信息的临时缺陷定义结构(TDDS)#i的详细数据结构示图；图8是根据本发明实施例的临时盘管理信息的空间位映射(SBM)#i的详细数据结构示图；图9是根据本发明实施例的临时盘管理信息的临时缺陷列表(TDFL)#i的详细数据结构示图；图10是图9中显示的缺陷列表项#i的数据结构示图；图11是根据本发明实施例的记录/再现设备的示意性方框图；图12A到图12E是表示根据本发明实施例的以缺陷管理(DM)开模式或DM关模式使用一次写入记录介质的方法的流程图；和图13是解释根据本发明实施例的缺陷管理的处理的参考示图。
具体实施例方式
现在将对本发明实施例进行详细的描述，其示例表示在附图中，其中，相同的标号始终表示相同的部件。为了解释本发明，通过参照附图，实施例被描述如下。
图1根据本发明实施例的一次写入记录介质的状态示图，并且显示根据DM开模式(DM-on mode)或DM关模式(DM-off mode)的从初始化到最终确定的一次写入记录介质的寿命。根据本发明一方面的一次写入记录介质可根据缺陷管理是否使用而在两种模式下使用。第一模式是DM开模式，在该模式下，在对记录介质执行缺陷管理的同时数据被记录在记录介质上。第二模式是DM关模式，在该模式下，在缺陷管理没有被执行的同时数据被记录在记录介质上。
在DM开模式下，备用区被分配给在记录介质上提供的数据区，并且在缺陷管理按照用户或驱动器制造商的意图被执行的同时，数据通过驱动器装置被记录在记录介质上。在DM关模式下，数据通过驱动器装置被记录在记录介质上而没有缺陷管理，其中记录按照用户或驱动器制造商的意图被执行。因为分配给部分数据区的备用区被提供以用于缺陷管理，并且因为在DM关模式下不执行缺陷管理，所以在DM关模式下备用区没有被分配是正常的。尽管图1没有显示从DM关模式到DM开模式的重新初始化，但是应该理解，对于在最终确定之前DMA没有被填满的程度，这样的从DM关模式到DM开模式的重新初始化是可能的。
DM开模式根据DM开模式的一次写入光学介质的寿命显示在图1的上部中。在以下描述中，术语“盘”和“记录介质”可相互交换并且未被限制为特定类型的介质。当由盘制造商制造的盘第一次使用时，该盘是在其上没有数据被写入的空盘1。然而。空盘1包括在盘制造期间分配的导入区、数据区和导出区。空盘1的结构显示在图2和图3中。图2和图3中显示的备用区在盘制造期间没有被分配，而是在盘初始化期间被分配。另外，备用区的分配取决于是否对盘1执行缺陷管理。因此，通过使用虚线来表示备用区。
如果确定空盘1将根据DM开模式被使用，那么空盘1被初始化为DM开模式。为了缺陷管理，备用区被分配给空盘1的数据区并且用于缺陷管理的初始化信息被记录在空盘1的预定区域中。将参照图2和图3来描述备用区的分配。
图2是根据本发明实施例的盘1的单记录层记录介质型式的数据结构示图。参照图2，在单记录层中，导入区、数据区和导出区被连续地设置。导入区、数据区和导出区在盘制造期间被分配。如果在用于盘1使用的初始化期间通过驱动器装置对盘1执行缺陷管理，那么备用区被分配给数据区。参照图2，两个备用区被分配给数据区，并且数据区包括备用区#1、用户数据区和备用区#2。数据记录在具有用户数据区的逻辑扇区号(LSN)0的位置开始，并且向具有最后LSN的位置进行。尽管不是在所有方面都需要，但是在备用区#1被完全写入(即，填充)之后备用区#2也可被使用。在备用区#2中，如果记录在从导入区到用户数据区的方向上进行，那么诸如扩充或减少的备用区#2的大小改变可被容易地执行。
图3是根据本发明实施例的盘1的双记录层记录介质型式的数据结构示图。双记录层记录介质的结构与图2中显示的单记录层记录介质的结构相似。双记录层记录介质1的一层包括连续的导入区#0、数据区#0和导出区#0。另一层包括连续的导入区#1、数据区#1和导出区#1。确定在盘初始化期间缺陷管理通驱动器装置将被执行。因此，备用区#1和备用区#2被分配给数据区#0，并且备用区#3和备用区#4被分配给数据区#1。换句话说，数据区#0包括备用区#1、用户数据区#0和备用区#2，并且数据区1包括备用区#3、用户数据区#1和备用区#4。为了便于备用区#4的扩充，希望但是不需要以LSN在从用户数据区#0到用户数据区#1的方向上增加的方式使用盘1。
图2和图3中显示的记录介质1的导入区和导出区的详细结构将参照图4来描述。图4是根据本发明一方面的一次写入记录介质的区域的详细数据结构示图。参照图4，如上所述，一次写入记录介质1包括连续的导入区、数据区和导出区，并且在用于缺陷管理的盘初始化期间备用区#1和备用区#2被分配给数据区。导入区包括缺陷管理区(DMA)#1、驱动器信息区、临时缺陷管理区(TDMA)、记录条件测试区和DMA #2。导出区包括DMA #3和DMA#4。当然，分配给导入区的详细区域，除了导入区外也可分配给导出区，或者分配给导出区而不是导入区。
备用区#1和备用区#2被提供用来在替换块中重写数据，所述替换块当在记录在用户数据区中的数据中产生缺陷时替换用户数据区的块。驱动器信息区被提供用来记录关于驱动器装置的信息，所述驱动器装置加载盘并且在盘1中记录数据或从盘1读取数据。记录条件测试区被提供用来允许驱动器装置为了在加载的盘中搜索用于记录/再现数据的最优条件而执行预定的测试。
DMA被提供用来记录缺陷信息和缺陷管理信息(DMI)。DMA包括用于DMI的盘定义结构(DDS)和用于缺陷信息的缺陷列表(DFL)，并且DMI被提供以用于与可重写记录介质兼容或者被提供用来在盘最终确定期间读取和记录TDMA中记录的最终的缺陷信息和DMI。
在临时缺陷管理信息被更新的同时TDMA被写入。临时缺陷管理信息包括临时缺陷定义结构；空间位映射(SBM)，其通过使用比特值来指示在盘的物理可用空间的块中记录或未记录；以及用于临时缺陷信息的临时缺陷列表(TDFL)。换句话说，TDMA被提供用来记录包括临时盘定义结构(TDDS)、SBM和TDFL的临时缺陷管理信息(TDMI)。
在一次写入记录介质中，TDMA被专门准备通过驱动器装置来实现缺陷管理。特别地，在可重写记录介质中，仅有DMA被提供并且TDMA没有被另外提供。这是因为一次写入记录介质不能像可重写介质一样被重写。与可重写记录介质不同，因为当DMI将被更新时，一次写入记录介质不能被重写，所以需要在其中更新的信息将被写入的新的区域。因此，需要与DMI被更新的时间量成比例的相当多的区域。然而，因为在可重写记录介质中DMA不大，所以在一次写入记录介质中TDMA被另外提供并且在TDMA中DMI被更新。另外，在盘最终确定期间，在TDMA中最终更新的TDMI(即在最后记录操作时的TDMI)作为DMI被记录在DMA中。通过将DMI记录在一次写入记录介质提供的DMA中，能够实现与可重写记录介质的兼容性。为了便于解释，在TDMA中更新的DMI称为“TDMI”，并且记录在DMA中的最终的TDMI称为“DMI”。
在下文中，记录在TDMA中的TDMI将被详细地描述。TDMI包括TDDS、SBM和TDFL。当TDDS、SBM和TDFL被记录在TDMA中时，TDDS和SBM可被记录在同一块中并且TDFL可被记录在另一块中。例如，如图5所示，TDMI包括由TDFL #0、TDDS #0和SBM #0组成的TDMI #0，并且在TDMA中该TDMI可以以TDMI #i为单位被更新。如图6所示的另一示例，TDMA被分为两个部分，在一部分中TDDS #i和SBM #i可作为一个块被更新，并且在另一部分中，TDFL #i可作为一个块被更新。TDDS #i的详细结构将参照图7来描述。
图7是根据本发明一方面的TDMI的TDDS #i的详细数据结构示图。参照图7，TDDS #i包括用户数据区的开始位置信息、用户数据区的结束位置信息、备用区#1的大小信息、备用区#2的大小信息、TDFL指针、记录条件测试可用位置指针、最终确定标志和DM模式。
分配给数据区的用户数据区的位置和大小以及备用区#1和备用区#2的位置可从用户数据区的开始位置信息和用户数据区的结束位置信息被获得。备用区#1的大小信息和备用区#2的大小信息作为TDDS被记录，并且如果备用区#1或备用区#2被扩大或减小，那么备用区#1或备用区#2的大小信息被改变。TDFL指针指示最近更新的TDFL的位置信息。通过使用TDFL指针，可容易地找到最终更新的TDFL。
记录条件测试可用位置指针指示在盘的导入区或导出区中设置的记录条件测试区的位置信息，在所述记录条件测试区中测试可被执行。通过参照记录条件测试可用位置指针，可容易地找到测试可被执行的位置，而不用直接扫描记录条件测试区。
最终确定标志是用于设置盘最终确定的标志，并且通过使用最终确定标志可确定盘是否被最终确定。虽然最终确定标志被设置在图7中的TDDS #i中，但是最终确定标志也可被设置在如图8所示的SBM #i中。
图7的DM模式指示是否对相应的盘1执行缺陷管理。例如，在对盘1执行缺陷管理的同时数据被记录在盘1上时，DM模式被设置为DM开模式，而在缺陷管理没有被执行的同时数据被记录在盘1上时，DM模式被设置为DM关模式。
图8是根据本发明一方面的临时盘管理信息的SBM #i的详细数据结构示图。参照图8，SBM #i包括SBM头和位映射。SBM头是指示SBM的标识符。位映射是信息映射，其通过使用比特值来指示在盘的物理可记录区域的块中记录或没有记录。例如，其中记录有数据的块由“1”表示，并且其中没有记录数据的块由“0”表示。这样，可知道在每一块中记录或者没有记录。
图9是根据本发明一方面的临时盘管理信息的TDFL #i的详细数据结构示图。参照图9，TDFL #i包括TDFL头、缺陷列表项#0、缺陷列表项#1......TDFL头是指示TDFL的标识符。缺陷列表项#i指示关于在用户数据区中产生的缺陷的信息。图10显示图9中显示的缺陷列表项#i的数据结构。
参照图10，缺陷列表项#i包括状态信息、缺陷块物理地址和替换块物理地址。缺陷块物理地址指示用户数据区的缺陷块的物理地址，并且替换块物理地址指示备用区的替换块的物理地址，所述替换块替换缺陷块。状态信息包括替换信息和连续缺陷信息。替换信息指示缺陷块是否具有替换块。换句话说，存在缺陷块具有替换块的状态和缺陷块不具有替换块的状态。连续缺陷信息指示当在用户数据区产生的缺陷在连续的块中产生时缺陷块的状态。换句话说，当缺陷在用户数据区的连续的块中产生时，不产生对于连续的缺陷块的每一块的缺陷列表项，而是仅产生在连续的缺陷块之中的第一缺陷块的第一缺陷项和在连续的缺陷块之中的最后缺陷块的最后缺陷项。因此，可节省TDFL的空间。
至此，本发明可被施加于其的记录介质的示例性结构被描述。参照图1，在初始化为空盘1的DM开模式之后，盘的DMA是空的并且TDMA进入在其中TDMA可被更新的状态2。TDMA的更新指示在TDMA中TDMI被更新。这样的更新以预定记录操作为单位来执行，根据本发明的一方面，所述单位可以是一个写入后验证单位或多个写入后验证单位或弹出单位，在写入后验证单位中块被记录然后被验证。这里，块指的是记录在盘中的纠错码(ECC)单元。然而，应该理解，除了以记录操作为单位以外其他更新方法可被使用和/或执行。
在通过驱动器装置对盘执行缺陷管理的同时，数据被记录在状态2的盘1中。然后，根据与缺陷管理同时的数据记录，图4中所示的TDMA保持在其中TDMI被更新的状态3。在使用状态3的盘1的同时，如果在备用区中产生任何改变，那么盘1被重新初始化，TDMI的备用区的大小信息被改变，备用区的改变的大小信息被记录在TDMA中，并且DMA仍然是空的。如果在盘初始化期间分配的备用区被完全地消耗并且备用区需要被扩大，或者如果用户数据区缺少数据将被写入的区域并且备用区需要被减少，那么在盘1的使用期间备用区的大小信息被改变(状态4)。包括这样的改变的TDDS #i被记录在TDMA中。即使在备用区的大小被改变之后，在通过驱动器装置对盘执行缺陷管理的同时数据也被记录在盘1中，并且TDMA被更新(状态5)。
在与缺陷管理同时的数据记录期间，盘1可被重新初始化为DM关模式。当盘1被重新初始化为DM关模式时，为了与可重写记录介质的兼容性，记录在TDMA中的最终的TDDS和TDFL信息作为DDS和DFL信息被记录在DMA中，并且TDMA被改变为DM关模式。换句话说，通过将DM模式设置为DM关模式来在图7中显示的TDDS中做出更新，并且在TDMA中的最终更新的TDDS #n和TDFL #n被复制并且被记录在DMA中(状态11到13)。
具体地，在被重新初化为DM关模式之后，盘1的DMA被填充并且TDMA进入在其中TDMA可被更新的状态11。因为DM模式被改变为DM关模式，所以在没有缺陷管理的情况下数据被记录并且TDMA被更新(状态12)。因为缺陷管理没有被执行，所以TDMA的更新主要涉及TDDS #i和SBM#i。然而，如果与缺陷管理无关的内容被包括在TDFL #i中，那么TDFL #i也可被更新。尽管盘1以这种方式被使用，但是如果盘1被最终确定，那么TDMA被填充并且进入状态13，在所述状态13中最终确定标志在TDMA中被设置(状态13)。
在数据被记录在状态5的盘中并且通过驱动器装置对盘1执行缺陷管理的同时，如果盘被最终确定，那么在TDMA中最终确定标志被设置以防止在最终确定之后盘被使用，并且在TDMA中的最终更新的TDMI(即，TDDS #m和TDFL #m)填充DMA并且用作最终的DMI(状态6)。参照图7中的实施例，在TDDS中最终确定标志被设置为“1”以指示最终确定，并且TDDS被记录在TDMA中以指示盘被最终确定。另外，为了防止TDMI在TDMA中被更新，预定比特(例如，“FFh”)，可填充在其中没有记录数据的TDMA的剩余区域。结果，TDMA被填充。
DM关模式根据DM关模式的一次写入光学介质的寿命显示在图1的下部中。如果确定盘1将根据DM关模式被使用，那么空盘1被初始化为DM关模式。初始化为DM关模式的盘的DMA是空的，并且TDMA进入在其中TDMA可被更新的状态7。在盘初始化期间在TDMA中作为初始信息记录的TDDS包括用户数据区的开始位置信息和用户数据区的结束位置信息。备用区#1的大小信息和备用区#2的大小信息被记录为“0”。另外，DM模式被设置为DM关模式。
因为在数据记录期间缺陷管理没有被执行，所以在TDMA中TDDS和SBM被主要地更新。因为没有执行缺陷管理，所以在DM关模式下使用的TDDS的详细数据可以是不同的。为了将在DM关模式下使用的TDDS和SBM与在DM开模式下使用的TDDS和SBM区分，在DM关模式下使用的TDDS和SBM被称为记录管理信息。
在DM关模式下，在没有通过驱动器装置执行缺陷管理的情况下数据被记录在盘1中，并且TDMA保持在其中TDMA可被更新的状态8。当盘1被最终确定时，最终确定标志在TDMA中被设置以防止盘1在最终确定之后被使用(状态9)。另外，在TDMA中更新的最终的TDMI(即，记录管理信息)填充DMA并且用作最终的DMI(状态9)。最终确定的盘1具有在其中指示最终确定的最终确定标志在记录在TDMA中的TDDS或SBM中被设置的状态，所述在TDMA中被最终更新的TDDS和SBM作为DMI被记录在DMA中，并且与“FFh”相等的值被记录在SBM可被记录的剩余区域(即，TDMA的剩余区域)中，以防止数据被记录在TDMA的剩余区域中。
在下文中，可使用上述盘的记录/再现设备将参照图11来描述。图11是根据本发明的记录/再现设备的示意性方框图。参照图11，该记录/再现设备包括记录/读取单元21和控制单元23。记录/读取单元21包括用于在盘22上记录数据和/或读取记录在盘22上的数据的拾取器，所述盘22是根据本发明一方面的光学记录介质。控制单元23根据预定文件系统的一方面控制记录/读取单元21以在盘22上记录数据和从盘22读取数据。具体地，根据本发明，控制单元23当空盘在记录/读取单元21中加载时确定在数据记录期间是否执行缺陷管理并且根据确定的结果初始化盘22。另外，控制单元23根据以下详细描述的确定的结果控制记录/读取单元21在盘22中对数据重新编码。
控制单元包括主机I/F 24、DSP 25、RF AMP 26、伺服系统27和系统控制器28。在数据记录期间，主机I/F 24从主机29接收预定的记录命令，并且将该预定的记录命令发送到系统控制器28。系统控制器28控制DSP 25和伺服系统27以执行从主机I/F 24接收的预定的记录命令。DSP 25将例如奇偶校验的附加数据添加到从主机I/F 24接收的数据中以用于纠错，通过对数据执行纠错码(ECC)编码来生成纠错块(即，ECC块)，并且以预定的方式调制ECC块。RF AMP 26将从DSP 25输出的数据转换为RF信号。记录/读取单元21包括用于在盘22上记录从RF AMP 26发送的RF信号的拾取器。伺服系统27从系统控制器28接收伺服控制所需的命令，并且对记录/读取单元21的拾取器进行伺服控制。
具体地，根据本发明的一方面，系统控制器28确定以DM开模式还是以DM关模式使用盘22。这样的确定指示在数据被记录在盘22中的同时缺陷管理是否将被执行。尽管不是在本发明的所有方面都被需要，但是系统控制器28检测来自用户的输入或检测来自驱动器制造商的输入，并且使用检测的输入来确定盘22处于DM开模式还是处于DM关模式。然而，应该理解输入可以不同地被接收。
如果系统控制器28确定以DM开模式使用盘22，那么系统控制器28控制记录/读取单元21在数据被记录在盘22上的同时执行缺陷管理。换句话说，系统控制器28控制记录/读取单元21以预定的操作为单位在记录介质22的备用区中记录替换块，并且以预定的操作为单位在记录介质的TDMA中更新关于缺陷的信息和用于缺陷的管理的TDMI，所述替换块替换在其中产生缺陷的记录介质的用户数据区的缺陷块。正如需要的那样，系统控制器28在盘22以DM开模式被使用的同时还改变备用区的大小。系统控制器28控制记录/读取单元21在TDMA中记录关于改变的备用区的大小(若有的话)的信息。
即使在盘初始化期间盘22被设置为DM开模式，系统控制器28也能在盘22以DM开模式使用的同时将盘22的DM开模式转换为DM关模式。为了这样的转换，系统控制器28将盘22重新初始化为DM关模式，并且控制记录/读取单元21在没有缺陷管理的情况下将数据记录在盘22中。换句话说，在重新初始化期间，系统控制器28控制记录/读取单元21在TDMA中记录指示盘22以DM关模式使用的信息，并且将在TDMA中最终更新的TDMI记录在记录介质22中提供的DMA中。
当以这种方式使用的盘22被最终确定时，系统控制器28控制记录/读取单元21在TDMA中记录指示记录介质22被最终确定的最终确定标志，将在TDMA中最终更新的TDMI作为DMI记录在记录介质22中提供的盘管理区(DMA)中，并且以预定数据填充未被写入的TDMA的剩余区域。
当系统控制器28确定以DM关模式使用盘22时，其控制记录/读取单元21在没有缺陷管理的情况下将数据记录在盘22中。换句话说，系统控制器28控制记录/读取单元21以预定的操作为单位将数据记录在盘21中提供的用户数据区中，并且根据这样的记录在盘21中提供的临时缺陷管理区中更新记录管理信息。另外，以与DM开模式相同的方式，当盘22被最终确定时，系统控制器28控制记录/读取单元22在TDMA中记录指示盘22被最终确定的最终确定标志，将在TDMA中最终更新的TDMI记录在盘22中提供的盘管理区中，并且以预定数据填充未被写入的TDMA的剩余区域。
在再现期间，主机I/F 24从主机29接收再现命令。系统控制器28执行再现所需的初始化。记录/读取单元21将激光束投射到盘22上并且输出通过接收从盘22反射的激光束获得的光信号。RF AMP 26将从记录/读取单元21输出的光信号转换为RF信号，将从RF信号获得的调制信号提供给DSP 25，并且将从RF信号获得的用于控制的伺服信号提供给伺服系统27。伺服系统27从RF AMP 26接收伺服信号并且从系统控制器28接收伺服控制所需的命令，并且伺服系统27执行对拾取器的伺服控制。主机I/F 24将从DSP 25接收的数据发送到主机29。
具体地，根据本发明的一方面，系统控制器28控制记录/读取单元21从盘22中提供的TDMA读取模式信息，并且基于该读取的信息读取记录在数据区中的数据。当读取的模式信息是DM开模式时，系统控制器28控制记录/读取单元21从TDMA读取最终更新的关于缺陷的信息和缺陷管理信息，并且如果指示记录介质22被最终确定的最终确定标志从TDMA被读取，那么系统控制器28控制记录/读取单元21从盘28中提供的DMA读取最终更新的关于缺陷的信息和缺陷管理信息。
当读取的模式信息是DM关模式时，系统控制器28控制记录/读取单元21从TDMA读取最终的记录管理信息。如果指示记录介质22被最终确定的最终确定标志从TDMA被读取，那么系统控制器28控制记录/读取单元21从盘22中提供的DMA读取最终更新的记录管理信息。
图12A到图12E是表示根据本发明实施例的以DM开模式或DM关模式使用一次写入记录介质的方法的流程图。
尽管不是在所有的方面中都被需要，但是图12A到图12E中的方法也可实施为计算机可读软件。另外，应该理解，如果控制器28是通用计算机或专用计算机，那么图12A到图12E中的方法可通过控制器28读取计算机可读介质以检索在计算机可读介质上编码的方法来实现。一旦一次写入记录介质22被加载在驱动器系统中，则驱动器系统的系统控制器28通过使用存储在加载的盘22中的信息来识别加载的盘22(即，加载的盘22是什么类型)，加载的盘22是否可记录并且加载的盘22是否已经被使用。如果在操作10中加载的一次写入记录介质被识别为空盘22，那么系统控制器28根据用户的命令或驱动器制造商的意图执行初始化处理。
在操作15中，系统控制器28根据用户或驱动器制造商的意图确定是否执行DM模式。当系统控制器28根据用户或驱动器制造商的意图确定不执行缺陷管理并且选择DM关模式时，在操作20中初始化信息被记录在盘22中，并且处理转到图12E中的A。因为在DM关模式下缺陷管理没有被执行并且备用区没有被分配，所以备用区的大小信息在记录在TDMA中的TDDS中被记录为“0”，并且DM模式被设置为DM关模式。
当系统控制器28选择DM开模式时，其将备用区分配给盘22的数据区的一部分，并且在盘中记录通过驱动器装置的缺陷管理所需的信息和初始化信息(操作30)。更具体地讲，初始化信息被包括在TDDS #0、SBM #0和TDFL#0中，然后被记录在TDMA中。参照如图7所示的实施例，TDDS #0包括在数据区中提供的备用区的大小和位置信息、用户数据区的开始位置信息和结束位置信息、TDFL指针和设置为DM开模式的DM模式。一旦盘22被初始化，则盘22的DMA是空的并且TDMA进入在其中TDMA可被更新的状态。
在初始化之后，记录/读取单元21和控制单元23响应主机的记录命令，通过用于缺陷管理的写入后验证过程来执行记录(操作40)。在下文中，操作40的写入后验证过程将参照图12B被更详细地描述。在操作41中，用户数据以写入后验证过程被执行的单元被记录在用户区中。在操作42中，记录的数据被验证以发现在其中产生缺陷的部分，并且替换缺陷块的替换块被记录在备用区中。在操作43中，关于缺陷的信息被生成并且被存储在存储器中。在操作44中，确定预定的记录操作是否完成。如果预定的记录操作没有完成，那么处理转到操作41并且记录被重复。如果预定的记录操作完成，那么处理转到图在12A中显示并在图12C中详细显示的操作50。
在操作50中，缺陷信息和缺陷管理信息以操作为单位被更新。操作50的更新过程将参照图12C被详细地描述。在操作51中，存储器中存储的关于缺陷的信息被读入。在操作52中，包括关于缺陷的信息的缺陷列表被生成。在操作53中，生成的缺陷列表作为TDFL #i被记录在TDMA中，其中i对应于记录操作的数量。在操作54中，TDDS #i和SBM #i被记录在TDMA中。上述通过写入后验证过程来执行记录的操作40和更新缺陷信息和缺陷管理信息的操作50的示例将参照图13来描述。
图13是用于解释根据本发明一方面的缺陷管理的处理的参考示图。这里，数据处理单元可被分成扇区和簇。扇区是可通过计算机的文件系统或应用程序来管理的最小数据单元。簇是每次可被物理地记录在盘中的最小数据单元。一般地，至少一个扇区组成一个簇。
扇区包括物理扇区和逻辑扇区。物理扇区是在其中与一个扇区相应的数据被记录的盘的空间。用于找到物理扇区的地址称为物理扇区号(PSN)。逻辑扇区是用于在文件系统或应用程序中管理数据的扇区单元。同样地，逻辑扇区号(LSN)被分配给逻辑扇区。例如图11中显示的将数据记录到盘或从盘读取数据的数据记录/再现设备，通过使用PSN来找到在盘上数据将被记录或再现的位置，然而，用于记录或再现数据的计算机或应用程序以逻辑扇区为单位管理全部数据，并且通过使用LSN来找到数据的位置。通过使用是否产生缺陷的事实和数据记录开始的位置，LSN和PSN之间的联系被转换。
参照图13，用户数据区和备用区被显示。在用户数据区和备用区中，有多个PSN被顺序地分配给其的物理扇区(未显示)。LSN被分配给至少一个物理扇区单元。然而，除了在其中产生缺陷的用户数据区的缺陷区，LSN被分配给备用区的替换区。结果，虽然物理扇区和逻辑扇区在大小上是相同的，但是如果产生缺陷区，那么PSN和LSN变得不同。
根据顺序记录模式或随机记录模式，用户数据被记录在用户数据区中。在顺序记录模式下，用户数据被顺序地并且连续地记录。在随机记录模式下，用户数据不需要被连续地记录，而是被随机地记录。(1)到(7)指示在其中写入后验证过程被执行的单元区。数据记录和/或再现设备将用户数据记录在单元区(1)中，数据记录和/或再现设备返回单元区(1)的开始位置并且验证用户数据是被正常地记录还是产生缺陷。如果在其中产生缺陷的簇被发现，那么该簇被识别为缺陷簇并且被指定为缺陷区(即，缺陷#1)。另外，数据记录和/或再现设备在备用区中重写已经被记录在缺陷#1中的数据。在其中用户数据被重写的备用区的一部分被指定为替换#1。接下来，在将用户数据记录在单元区(2)中之后，数据记录和/或再现设备返回单元区(2)的开始位置并且验证用户数据是被正常地记录还是产生缺陷。如果至少一个在其中产生缺陷的簇被发现，那么这个簇被指定为缺陷#2。以与以上同样的方式，与缺陷#2相应的替换#2被指定。另外，在单元区(3)中，缺陷区(即，缺陷#3)和与缺陷#3相应的替换#3被指定。在单元区(4)中，没有发现产生缺陷的部分，并且没有缺陷区。
在完成对单元区(4)的记录和验证之后，如果期望终止记录操作#1(例如，如果用户按下弹出按钮或分配给记录操作#1的用户数据的记录被完成)，那么数据记录和/或再现设备将在单元区(1)到单元区(4)中产生的缺陷#1到缺陷#3的位置信息记录在TDFL临时缺陷信息(即，TDFL #1)中。另外，用于TDFL #1的管理的管理信息作为TDDS #1被记录在TDMA中。
一旦记录操作#1开始，那么数据以与单元区(1)到单元区(4)相同的方式被存储在(5)到(7)中。因此，缺陷#4和缺陷#5以及与其相应的替换#4和替换#5被指定。缺陷#1、#2、#3和#4是单一缺陷块，其每一个包括一个缺陷。缺陷#5是连续缺陷块，其连续的块包括缺陷。替换#5是替换缺陷#5的连续替换块。块是物理或逻辑记录单元并且可改变。如果期望完成记录操作#1，那么记录设备记录包括关于缺陷#4和缺陷#5的信息的临时缺陷信息#2(即，TDFL #2)，并且还记录在临时缺陷信息#1中累积记录的信息。同样地，用于TDFL #2的管理的缺陷管理信息作为TDDS #2被记录在TDMA中。
参照图12A，在操作60中，当备用区不足并且备用区需要被扩大或者用户数据区不足并且备用区需要被减少时，系统控制器28确定是否改变备用区大小。如果系统控制器28确定改变备用区大小，那么在操作70中，重新初始化信息被记录在盘22中并且处理转到操作40。换句话说，备用区的改变的大小信息被包括在TDDS中并且TDDS被记录在TDMA中。
接下来，系统控制器28确定是否将盘22重新初始化为DM关模式(操作80)。如果系统控制器28确定重新初始化盘22，那么在操作81中，重新初始化信息被记录在盘22中并且处理转到图12E中显示的A。如果盘22被重新初始化为DM关模式，那么在TDDS中设置的DM开模式被转换为DM关模式以更新TDDS，并且为了与可重写介质的兼容性，在TDMA中最终更新的TDDS和TDFL被记录在DMA中。
接下来，系统控制器28确定是否最终确定盘22(操作90)。如果系统控制器28确定不最终确定盘22，那么处理转到操作40并且通过写入后验证过程记录被执行。如果系统控制器28确定最终确定盘，那么系统控制器28将最终确定信息记录在盘中(操作100)。
在盘中记录最终确定信息的操作100将参照图12D来描述。在操作101中，在TDDS或SBM中系统控制器28将最终确定标志设置为“1”，并且在操作102中，系统控制器28将特定值记录在未被写入的SBM的全部剩余区域中。根据显示的实施例，特定值可被记录在未被写入的TDMA全部剩余区域中。在操作103中，记录在TDMA中的最终更新的TDDS和TDFL填充DMA。
接下来，当选择DM关模式时的操作将参照图12E来描述。在操作110中，系统控制器28控制记录/读取单元21在没有缺陷管理的情况下将数据记录在盘22中。在操作120中，系统控制器28更新TDMA。因为缺陷管理没有被执行，所以在TDMA中的更新主要是TDDS和SDM。在操作130中，系统控制器28确定是否最终确定盘22。
如果系统控制器28确定最终确定盘22，那么最终确定信息被记录在DMA中(操作140)。在操作140中最终确定信息的记录与以上参照图12D阐述的描述相同，并且不再阐述。如果系统控制器28确定不最终确定盘22，那么处理转到操作110，并且在没有缺陷管理的情况下记录被执行。
如上所述，根据本发明的一方面，记录介质可被选择性地使用，并且根据该选择对记录介质执行或不执行缺陷管理。另外，即使在对记录介质执行缺陷管理的同时使用记录介质之后，也可在没有缺陷管理的情况下使用该记录介质。另外，记录介质可与可重写介质兼容地使用。另外，记录介质可以是执行缺陷管理的CD-R、DVD-R、蓝光盘、高级光盘(AOD)、可重写介质、磁介质和/或磁光介质。
所述记录/再现方法可被实施为计算机可读记录介质中的计算机可读代码。计算机可读记录介质包括各种可通过计算机系统读取的数据被存储在其中的记录设备。这样的计算机可读记录介质是ROM、RAM、CD-ROM、磁带、软盘和光学数据存储器，以及经过互联网(例如，载波)的传输。计算机可读记录介质可被分布在连接到网络的计算机系统中，并且可以按照计算机可读代码的形式被存储和操作。用于实现所述记录/再现方法的功能程序、代码和代码段可由本领域编程技术人员容易地解释。
尽管已经参照其示例性实施例具体表示和描述了本发明的实施例，但是本领域普通技术人员应该理解，在不脱离由所附权利要求及其等同物限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式上和细节上的各种改变。
权利要求
1.一种在记录介质上记录数据的方法，该方法包括在缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间选择可选的缺陷管理模式，从而选择的模式指示是否将对记录介质执行缺陷管理；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对该记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质上；和如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质上。
2.如权利要求1所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤包括将该记录介质初始化为缺陷管理开模式，其中所述初始化包括将备用区分配给记录介质的数据区，以用于替换在该记录介质的数据区中产生的缺陷；和将临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的临时缺陷管理区中，所述临时缺陷管理信息包括关于分配的备用区的信息和指示缺陷管理开模式的标识符。
3.如权利要求2所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括以预定的操作为单位将替换块记录在备用区中，所述替换块替换关于在数据区中产生的缺陷的缺陷块；和以预定的操作为单位在临时缺陷管理区中更新关于缺陷的信息和作为临时缺陷管理信息的对于缺陷管理的缺陷管理信息。
4.如权利要求3所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括改变备用区的大小；和更新临时缺陷管理信息以包括关于备用区的改变的大小的信息，并且将更新的临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区中。
5.如权利要求3所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括将缺陷管理开模式转换为缺陷管理关模式。
6.如权利要求5所述的方法，其中，转换为缺陷管理关模式的步骤包括将记录介质重新初始化为缺陷管理关模式；和在记录介质被重新初始化为缺陷管理关模式之后，在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。
7.如权利要求6所述的方法，其中，重新初始化为缺陷管理关模式的步骤包括将指示缺陷管理关模式的标识符记录在临时缺陷管理区中；和将在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息记录在记录介质的缺陷管理区中。
8.如权利要求3所述的方法，还包括最终确定记录介质。
9.如权利要求8所述的方法，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质的最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将临时缺陷管理信息记录在记录介质的缺陷管理区中，所述记录临时缺陷管理信息包括记录最终更新的关于缺陷的信息和临时缺陷管理区的缺陷管理信息；和以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。
10.如权利要求1所述的方法，其中，在缺陷管理关模式下记录数据的步骤包括以预定的操作为单位将数据记录在记录介质的数据区中；和根据数据的记录，在记录介质的临时缺陷管理区中更新记录管理信息。
11.如权利要求10所述的方法，还包括最终确定记录介质。
12.如权利要求11所述的方法，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质被最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将在临时缺陷管理区中最终更新的记录管理信息记录在记录介质的缺陷管理区中；和以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。
13.一种再现记录在记录介质上的数据的方法，所述记录介质具有连续排列的导入区、数据区和导出区，该方法包括从导入区或导出区中的临时缺陷管理区读取指示是否对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开/关模式信息，以用于更新关于在数据区中产生的缺陷的信息和用于每一预定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息；和基于所述读取的缺陷管理开/关模式信息，来读取记录在数据区中的数据。
14.如权利要求13所述的方法，还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理开模式，那么从临时缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。
15.如权利要求14所述的方法，还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；和从记录介质的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。
16.如权利要求13所述的方法，还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理关模式，那么从临时缺陷管理区读取最终的记录管理信息。
17.如权利要求16所述的方法，还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；和从记录介质的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。
18.一种在记录介质上记录数据的方法，该方法包括检测在缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间可选的缺陷管理模式的信息，在所述缺陷管理开模式中，执行缺陷管理以管理在记录介质上的缺陷，在所述缺陷管理关模式中，没有执行缺陷管理以管理在记录介质上的缺陷；和根据选择的缺陷管理模式来传递关于记录介质的数据。
19.如权利要求18所述的方法，其中，所述检测信息的步骤包括通过输入装置接收信息以确定选择的管理模式。
20.如权利要求18所述的方法，其中，所述检测信息的步骤包括从设备接收信息，该设备将执行传递以确定选择的缺陷管理模式。
21.如权利要求20所述的方法，其中，所述传递数据的步骤包括记录数据，并且所述方法还包括如果检测的信息是缺陷管理开模式，那么通过使用用于管理在记录数据期间发生的缺陷的缺陷管理来记录数据。
22.如权利要求18所述的方法，其中，所述传递数据的步骤包括记录数据，并且所述方法还包括如果检测的信息是缺陷管理关模式，那么在没有用于管理在记录数据期间发生的缺陷的缺陷管理的情况下记录数据。
23.如权利要求18所述的方法，其中所述传递数据的步骤包括根据选择的缺陷管理模式记录数据；选择的缺陷管理模式是缺陷管理开模式和缺陷管理关模式中的一种；并且该方法还包括在记录数据之后，检测另一缺陷管理模式，该另一缺陷管理模式选择缺陷管理开模式和缺陷管理关模式中的另一种，和根据所述检测的另一缺陷管理模式传递另外的数据。
24.如权利要求23所述的方法，其中所述记录介质包括临时缺陷管理区，在其中具有在记录介质的最终确定之前的临时缺陷信息和用于管理缺陷的临时缺陷管理信息；以及最终缺陷管理区，其包括在记录介质的最终确定期间记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息，并且所述方法还包括在记录数据之后并且如果所述检测的另一缺陷管理模式是缺陷管理关模式，那么在记录介质的最终确定之前，将临时缺陷信息和用于记录的数据的临时缺陷管理信息记录在最终缺陷管理区中，和将填充数据记录在除了临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在其中的区域之外的在最终缺陷管理区的区域中。
25.一种分配与记录和/或再现设备一起使用的光学记录介质的区域的方法，所述方法包括分配在所述光学记录介质中连续排列的导入区、数据区和导出区；分配临时缺陷管理区，所述临时缺陷管理区用于记录关于数据区中产生的缺陷的临时信息和用于缺陷的管理的临时缺陷管理信息，所述临时缺陷管理区在导入区或导出区中；和分配缺陷管理区，所述缺陷管理区用于记录最终的关于缺陷的信息和最终的缺陷管理信息，并且所述缺陷管理区在导入区或导出区中，其中，在临时缺陷管理区中的临时缺陷管理信息包括缺陷管理开/关模式信息，其向记录和/或再现设备指示数据将在对记录介质执行缺陷管理的同时被记录在记录介质上和数据将在没有缺陷管理的情况下被记录两种情形中的一种。
26.如权利要求25所述的方法，其中，如果缺陷管理开/关模式信息向所述设备指示记录介质被初始化为缺陷管理开模式，那么还分配用于记录替换块的备用区，所述备用区由该设备分配给数据区，所述替换块以预定的记录操作为单位替换关于在记录介质的数据区中由该设备产生的缺陷的缺陷块；缺陷管理区为空；并且临时缺陷管理区进入在其中关于缺陷的信息和用于缺陷的管理的缺陷管理信息以预定的记录操作为单位通过该设备来更新的状态。
27.如权利要求26所述的方法，其中，如果记录介质的备用区的大小由该设备改变并且记录介质被重新初始化，那么关于备用区的改变的大小的信息由该设备记录在临时缺陷管理区中。
28.如权利要求26所述的方法，其中，如果缺陷管理开/关模式信息向该设备指示记录介质被重新初始化为缺陷管理关模式，那么指示缺陷管理关模式的信息由该设备记录在临时缺陷管理区中，并且在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息由该设备记录在缺陷管理区中。
29.如权利要求26所述的方法，其中，当记录介质被最终确定时，指示记录介质被最终确定的最终确定标志被记录在临时缺陷管理区中，在临时缺陷管理区中最终记录的临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中，并且预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。
30.如权利要求25所述的方法，其中，如果缺陷管理开/关模式信息向该设备指示记录介质被初始化为缺陷管理关模式，那么缺陷管理区为空，并且临时缺陷管理区进入在其中根据数据区中数据的记录的记录管理信息以预定的记录操作为单位由该设备更新的状态。
31.一种分配与记录和/或再现设备一起使用的记录介质的区域的方法，所述方法包括分配数据区，对于该数据区，数据将被记录在记录介质上；和分配缺陷管理区，所述缺陷管理区包括在缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间可选的缺陷管理模式信息，在所述缺陷管理开模式中，执行缺陷管理以管理在记录介质上的缺陷，在所述缺陷管理关模式中，没有执行缺陷管理以管理在记录介质上的缺陷，其中，根据在缺陷管理模式信息中选择的缺陷管理开模式和缺陷管理关模式中的一种，该设备将数据传递到数据区。
32.如权利要求31所述的方法，其中所述缺陷管理区还包括临时缺陷管理区，用于记录关于在数据区中产生的缺陷的临时缺陷信息和用于缺陷的管理的临时缺陷管理信息；和最终缺陷管理区，用于记录最终的关于缺陷的信息和最终的临时缺陷管理信息，并且记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷管理信息包括缺陷模式信息。
33.如权利要求32所述的方法，其中临时缺陷管理区还包括指示记录介质是否已经被最终确定的最终确定信息，并且如果最终确定信息向该设备指示记录介质没有被最终确定并且缺陷模式信息向该设备指示缺陷管理关模式的选择，那么最终缺陷管理区被填充以防止该设备将最终的缺陷信息和最终的管理信息写入最终缺陷管理区中。
34.如权利要求32所述的方法，其中，如果最终确定信息向该设备指示记录介质没有被最终确定并且缺陷模式信息向该设备指示缺陷管理关模式的选择，那么最终缺陷管理区包括在缺陷管理关模式的选择之前最后记录的临时缺陷信息和最后记录的被记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷管理信息。
35.如权利要求32所述的方法，其中，如果最终确定信息向该设备指示记录介质没有被最终确定并且缺陷模式信息向该设备指示缺陷管理关模式的选择，那么最终的缺陷管理信息区不包括临时缺陷信息和临时缺陷管理信息。
全文摘要
一种由设备使用和/或在计算机可读介质上编码的记录方法，包括选择缺陷管理开模式或缺陷管理关模式，所述缺陷管理开模式或缺陷管理关模式指示在数据被记录在记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质中；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。
文档编号G11B20/18GK101079272SQ200710126968
公开日2007年11月28日 申请日期2004年4月14日 优先权日2003年4月15日
发明者黃盛凞, 高祯完 申请人:三星电子株式会社