测试写入次数的方法

文档序号:6770262阅读:382来源:国知局
专利名称:测试写入次数的方法
技术领域
本发明是有关于一种存储单元的测试方法,且特别是有关于测试存储单元 写入次数的方法。
背景技术
在电脑系统中,基本输入输出系统(Basic Input Output System, BIOS)扮 演着重要的角色。以目前技术而言,电脑主机板采用了快闪存储器(Flash Memory)、电子可擦除可程序编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory, EEPROM)等来作为BIOS的存储单元之后, 使用者便能够刷新BIOS,以将BIOS升级而使系统性能得到提升。
然而,用来存放BIOS的存储单元,大致上皆有一定的写入次数。而目前 存储器的写入次数只能以其制造厂商所提供的数据来作为参考依据,主机板厂
商并无法确定此存储单元实际的写入次数为何。

发明内容
本发明提供一种测试写入次数的方法,可测试存储单元的最大写入次数。 有鉴于此,本发明提出一种测试写入次数的方法,适用于测试存储单元的
写入次数。首先,刷新存储单元中的程序码。当程序码刷新成功,则判断写入
次数是否大于指定次数。当写入次数尚未大于指定次数时,重复刷新程序码直
至写入次数大于指定次数。
在本发明的一实施例中,上述在刷新存储单元中的程序码的步骤之前,先
启动一磁盘操作系统(Disk Operating System, DOS),以在DOS之下自动刷
新程序码。
在本发明的一实施例中,上述重复刷新程序码的步骤,可借由重新启动 DOS,以重复刷新程序码直至写入次数大于指定次数时,停止再次刷新程序码。在本发明的一实施例中,上述在刷新存储单元中的程序码的步骤之后,当 刷新程序码的过程停止时,则判定程序码刷新失败,并停止后续动作。
在本发明的一实施例中,上述刷新存储单元中的程序码的步骤,可利用外 接式储存单元中的刷新模组,将外接式储存单元中的程序码,刷新至存储单元
中。另外,当程序码刷新成功之后,更可利用外接式储存单元中的计数模组来 累加写入次数,并将写入次数储存至外接式储存单元。在累加写入次数之后,
亦可利用外接式储存单元中的重开机模组,重新启动DOS,以重复刷新程序码,
直至写入次数大于指定次数时,停止再次刷新程序码。
在本发明的一实施例中,上述程序码例如为基本输入输出系统(Basic Input Output System, BIOS)程序码。
综上所述,本发明通过刷新存储单元中的程序码来测试存储单元的写入次 数,据此可得知存储单元的最大写入次数。


为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,以下结合附图对本发 明的具体实施方式
作详细说明,其中
图1是依照本发明一实施例所绘示的测试写入次数的方法流程图。 图2是依照本发明另一实施例所绘示的测试写入次数的方法流程图。 主要元件符号说明
S105 S110:本发明一实施例的测试写入次数的方法各步骤 S205 S230:本发明另一实施例的测试写入次数的方法各步骤
具体实施例方式
一般存储单元的写入次数只能以其制造厂商所述的数据来作为参考依据, 并无法得知存储单元的实际的写入次数为何。据此,本发明提出一种测试写入 次数的方法,以测试存储单元的写入次数。为了使本发明的内容更为明了,以 下特举实施例作为本发明确实能够据以实施的范例。但是,此领域具有通常知
识者可以电脑程序的形式实现下述诸实施例,并利用电脑可读取储存媒体储存 此一电脑程序,以利电脑系统执行,以电子自动化的方式完成测试写入次数的方法。
图1是依照本发明一实施例所绘示的测试写入次数的方法流程图。请参照
图l,首先,在步骤S105中,刷新被测系统(System Under Test, SUT)的存
储单元中的程序码。
接着,在步骤S110中,当程序码刷新成功,判断写入次数是否大于指定次数。当写入次数尚未大于指定次数时,返回步骤S105,以重复刷新程序码直至写入次数大于指定次数。在本实施例中,测试人员可依照制造厂商给定的写入次数来预先设定指定次数(例如500次)。
据此,利用存储单元中程序码被刷新的次数,可检测存储单元最大的写入次数。
值得一提的是,可利用一个外接式储存单元连接至被测系统,以测试储存BIOS程序码的存储单元的写入次数。上述存储单元例如为非易失性随机存取存储器(Nonvolatile Random Access Memory, NVRAM)或EEPROM或快闪存储器。
另外,上述外接式储存单元例如为随身碟(Disk On Key, DOK)。并且,在此随身碟中包括磁盘操作系统(DOS)、BIOS程序码、批处理文件(batchfile)、
计数模组、BIOS刷新模组以及重开机模组。而借由执行批处理文件可分别对计数模组、BIOS刷新模组以及重开机模组下达指令。据此,只要将随身碟连接至被测系统,即可开始测试存储单元的写入次数。
以下即以利用随身碟中的批处理文件来刷新BIOS程序码为例,再举一实施例详加说明。图2是依照本发明另一实施例所绘示的测试写入次数的方法流程图。请参照图2,首先,在步骤S205中,执行随身碟中的DOS。此时,DOS会去扫描随身碟中是否存有批处理文件。若有,DOS便会自动去执行批处理文件中的指令,以执行计数模组、BIOS刷新模组或重开机模组。
接着,在步骤S210中,借由BIOS刷新模组来刷新存储单元中的BIOS程序码。也就是说,BIOS刷新模组会将随身碟所储存的BIOS程序码刷新至存储单元中。
之后,如步骤S215所示,判断BIOS程序码刷新是否成功。举例来说,刷新BIOS程序码的步骤首先抹除存储单元中原有的BIOS程序码。之后,再将随身碟中的BIOS程序码写入存储单元。最后,确认BIOS程序码的刷新是否完成。另外,更可确认刷新后的BIOS程序码是否与原先的BIOS程序码相同。在确认完毕之后,才会继续进行下一个动作。
此外,当刷新BIOS程序码的过程停止时,则被测系统将停止后续动作。此时,即表示BIOS程序码刷新失败,如步骤S225所示,被测系统会挂掉(hang),例如出现蓝色当机画面(Blue Screen of Death, BSOD)。当BIOS程序码刷新失败,将结束存储单元的写入次数的测试流程。借此,测试人员可经由挂掉之处来判断问题所在。例如,判断是否为上一次BIOS程序码没有完全刷新导致此次刷新失败,亦或是存储单元已达最大读写次数。
另一方面,倘若BIOS程序码刷新成功,如步骤S220所示,借由计数模组来判断存储单元的写入次数是否超过指定次数(例如500次)。举例来说,当第一次刷新存储单元的BIOS程序码成功之后,会在随身碟中将写入次数"l"记录下来,以供后续比对之用。
若写入次数未超过指定次数,则如步骤S230所示,借由计数模组将写入次数累加(将写入次数加1)。在计数模组每次累加写入次数之后,便会将写入次数储存至随身碟内。之后,返回步骤S205,重复执行步骤S205~220,直到写入次数大于指定次数为止。
详细地说,利用重开机模组将被测系统重新开机,以再次进入DOS下。之后,再次执行BIOS刷新模组来刷新BIOS程序码,直到存储单元的写入次数超过指定次数才结束存储单元的写入次数的测试流程。借此,可测试出存储单元最大写入次数。
综上所述,上述实施例至少具有下列优点
1. 借由刷新存储单元中的程序码来测试存储单元的写入次数,据此可得知存储单元的最大写入次数是否与制造厂商所提供的数据吻合。
2. 在刷新BIOS程序码之时,更可进一步地测试BIOS程序码是否有误。
3. 由于存储单元(例如,EEPROM)有一定的写入次数,在机台出货之后,倘如消费者遭遇到BIOS程序码写入失败时,便能够避免硬件的问题,进而减少除错时间。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上,然其并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的修改和完善,因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。
权利要求
1.一种测试写入次数的方法,适用于测试一存储单元的一写入次数,该方法包括刷新该存储单元中的一程序码;当该程序码刷新成功,判断该写入次数是否大于一指定次数;以及当该写入次数尚未大于该指定次数时,重复刷新该程序码直至该写入次数大于该指定次数。
2. 如权利要求1所述的测试写入次数的方法,其特征在于,在刷新该存储 单元中的该程序码的步骤之前,更包括启动一磁盘操作系统。
3. 如权利要求2所述的测试写入次数的方法,其特征在于,重复刷新该程 序码的步骤,更包括重新启动该磁盘操作系统,以重复刷新该程序码直至该写入次数大于该指 定次数。
4. 如权利要求1所述的测试写入次数的方法,其特征在于,在刷新该存储 单元中的该程序码的步骤之后,更包括当刷新该程序码的过程停止时,则判定该程序码刷新失败,并停止后续动作。
5. 如权利要求1所述的测试写入次数的方法,其特征在于,刷新该存储单 元中的该程序码的步骤,包括利用一外接式储存单元中的刷新模组,将该外接式储存单元中的该程序 码,刷新至该存储单元中。
6. 如权利要求5所述的测试写入次数的方法,其特征在于,当该程序码刷新成功之后,更包括利用该外接式储存单元中的计数模组,累加该写入次数。
7. 如权利要求5所述的测试写入次数的方法,其特征在于,在累加该写入 次数的步骤之后,更包括利用该外接式储存单元中的重开机模组,重新启动一磁盘操作系统,以重复刷新该程序码直至该写入次数大于该指定次数。
8. 如权利要求5所述的测试写入次数的方法,其特征在于,累加该写入次数的步骤,更包括储存该写入次数至该外接式储存单元。
9. 如权利要求1所述的测试写入次数的方法,其特征在于,该程序码为基 本输入输出系统程序码。
全文摘要
本发明揭示一种测试写入次数的方法,适用于测试存储单元的写入次数。首先,刷新存储单元中的程序码。当程序码刷新成功,则判断写入次数是否大于指定次数。当写入次数尚未大于指定次数时,重复刷新程序码直至写入次数大于指定次数。
文档编号G11C29/50GK101656110SQ20081021365
公开日2010年2月24日 申请日期2008年8月19日 优先权日2008年8月19日
发明者王佩君, 王志文 申请人:英业达股份有限公司
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