专利名称：用于预测存储介质故障的系统和方法
技术领域：
本发明涉及用于确定存储介质的健康状况(health)的系统和方法，尤其涉及用 于间接地预测存储介质的潜在故障的系统和方法。
背景技术：
典型的存储装置包括存储介质，信息存储在该 存储介质中以便于将来取回。随着 时间的流逝，存储装置的存储介质和/或其它电路和模块可能退化，导致可能的故障。对于 硬盘驱动器来说，故障率通常被讨论为扇区故障率，可接受的故障率在e_15以下。这种小故 障率通常难以检测，并且即使可以检测，也通常需要延长的时间段进行测量。在某些情况 下，这种延长的时间段使得对可能故障的判断不切实际。因此，至少出于上述原因，在本领域中需要用于预测存储介质故障的先进的系统 和方法。
发明内容
本发明涉及用于确定存储介质的健康状况的系统和方法，尤其涉及用于间接地预 测存储介质的潜在故障的系统和方法。本发明的各实施例提供了包括存储介质和数据处理电路的存储装置。该数据处理 电路接收从该存储介质得到的数据组。该数据处理电路包括数据检测器电路、数据解码器 电路和健康状况检测电路。数据检测器电路接收该数据组并提供检测输出。数据解码器电 路接收该检测输出的衍生体(derivative)并提供解码输出。在某些情况下，检测输出的衍 生体是检测输出的交叉存取(interleave)版本。健康状况检测电路接收通过数据检测器 电路和数据解码器电路的组合处理数据组的次数的指示(indication)。健康状况检测电路 至少部分地基于通过数据检测器电路和数据解码器电路的组合处理数据组的次数生成存 储介质的间接健康状态。通过该组合进行的此组合处理可被称为全局迭代。在上述实施例的某些例子中，健康状况检测电路包括全局环计数器，全局环计数 器在通过数据检测器电路和数据解码器电路的组合处理数据组时递增。在这种情况下，通 过数据检测器电路和数据解码器电路的组合处理数据组的次数是由全局环计数器提供的 全局环计数值。在各种情况下，存储介质的间接健康状态(health status)包括在处理多 个数据组之后得到的全局环计数值的平均值。在特定的情况下，根据下面的公式计算全局 环计数值的平均值Global_Mean(i+l) = Global_Mean⑴+μ (GlobalLoopCount_Global_Mean⑴)其中i表示对应于全局环计数值的时间瞬间，μ是标量值。在上述实施例的一个或多个例子中，数据解码器电路用于依次对数据组进行多次 处理。在这种情况下，健康状况检测电路可以包括局部环计数器，局部环计数器在通过数据 解码器电路处理数据组时递增。在某些情况下，健康状况检测电路接收通过数据解码器电 路处理数据组的次数的指示，并且健康状况检测电路至少部分地基于通过数据解码器电路处理数据组的次数生成存储介质的间接健康状态。通过数据解码器电路处理数据组的次数是由局部环计数器提供的局部环计数值。在某些情况下，存储介质的间接健康状态包括在 处理多个数据组之后得到的局部环计数值的平均值。在这种情况下，可以根据下面的公式 计算局部环计数值的平均值Local_Mean(i+1) = Local_Mean(i) + μ (LocalLoopCount-Local_Mean(i))其中，i表示对应于局部环计数值的时间瞬间，μ是标量值。本发明的其它实施例提供包括存储介质和数据处理电路的存储装置。数据处理电 路接收从存储介质得到的数据组。数据处理电路包括数据解码器电路和健康状况检测电 路。数据解码器电路接收该数据组的衍生体并提供解码输出。数据解码器电路用于依次对 数据组的衍生体进行多次处理。健康状况检测电路接收通过数据解码器电路处理该数据组 的次数的指示，并且健康状况检测电路至少部分地基于通过数据解码器电路处理数据组的 次数生成存储介质的间接健康状态。在某些情况下，健康状态电路包括局部环计数器，局部 环计数器在通过数据解码器电路处理数据组时递增。通过数据解码器电路处理数据组的次 数是由局部环计数器提供的局部环计数值。在特定情况下，存储介质的间接健康状态包括 在处理多个数字组之后获得的局部环计数值的平均值。在上述实施例的各种例子中，数据处理电路还包括数据检测器电路。数据检测器 电路接收数据组并提供检测输出。在这种情况下，数据组的衍生体是检测输出的衍生体。在 某些情况下，健康状况检测电路包括全局环计数器，全局环计数器在通过数据检测器电路 和数据解码器电路的组合处理数据组时递增。通过数据检测器电路和数据解码器电路的组 合处理数据组的次数是由全局环计数器提供的全局环计数值。在这种情况下，存储介质的 间接健康状态包括在处理多个数据组之后获得的全局环计数值的平均值。本发明的另一些实施例提供数据处理电路，所述数据处理电路包括第一数据检 测器电路、第二数据检测器电路、数据解码器电路和健康状况检测电路。第一数据检测器电 路用于在第一时间对第一输入数据组执行数据检测、并且在第二时间对第二输入数据组执 行数据检测。第一输入数据组和第二输入数据组是从存储介质得到的。数据解码器电路用 于接收对应于第一数据组的第一数据检测器电路的输出的衍生体、对应于第二数据组的第 一数据检测器电路的输出、以及第二数据检测器电路的输出的衍生体。数据解码器电路还 用于依次对给定的数据组进行多次处理。第二数据检测器用于仅在解码器的输出没有收敛 的情况下在第三时间使用对应于第一输入数据组的数据解码器电路的输出对第一输入数 据组执行数据检测。第三时间在第一时间和第二时间之后。健康状况检测电路接收通过数 据解码器电路处理数据组的次数的指示，并至少部分地基于通过数据解码器电路处理数据 组的次数生成存储介质的间接健康状态。本发明内容仅提供了本发明的一些实施例的总体概要。通过以下详细描述、所附 权利要求以及附图，本发明的许多其它目的、特征、优点和其它实施例将会变得更加完整明
Mo
通过参考在说明书的剩余部分中描述的附图可以实现对本发明的各种实施例的 进一步理解。在附图中，类似的参考数字用于在几个幅图中始终表示相似的组件。在某些例子中，由小写字母组成的子标记与参考数字相关联以表示多个相似组件中的一个。当提 到参考数字而没有指定存在的子标记时，意欲表示所有这样的多个类似组件。图1示出根据本发明的一些实施例的包括间接存储介质故障机构的数据处理电 路；图2a 2b是示出根据本发明各实施例的用于在数据处理系统中确定间接存储介 质故障的方法的流程图；图3示出根据本发明的一个或多个实施例的具有间接存储介质故障机构的存储 系统；以及图4描述根据本发明的一些实施例的包括间接 存储介质故障机构的另一个数据 处理电路。
具体实施例方式本发明涉及用于确定存储介质的健康状况的系统和方法，尤其涉及用于间接地预 测存储介质的潜在故障的系统和方法。参考图1，图1示出根据本发明的一些实施例的包括间接存储介质故障机构199的 数据处理电路100。数据处理电路100包括接收数据输入105的输入样本缓冲器110。在 某些情况下，数据输入105是代表从存储介质感测(sense)的数据扇区的一系列数据样本。 根据本文所公开的内容，本领域的普通技术人员将会想到可以关于本发明的不同实施例使 用的其它数据输入及其来源。输入样本缓冲器110将样本输出115提供给通道检测器电路 120。通道检测器电路120可以是本领域中已知的任何通道检测器。作为例子，通道检测器 电路120可以是本领域中已知的软输出维特比(Viterbi)算法(SOVA)检测器。基于本文 所公开的内容，本领域的普通技术人员将会想到可以关于本发明的不同实施例使用的其它 通道检测器。通道检测器电路120提供对应于数据输入105的检测输出125。检测输出125被 提供给解码电路130。解码电路130可以是本领域中已知的任何解码电路。作为例子，解 码电路130可以是本领域中已知的低密度奇偶校验(LDPC)解码器。基于本文公开的内容， 本领域的普通技术人员将会想到可以关于本发明的不同实施例使用的其它解码器。解码电 路130将解码输出135提供给软/硬决定缓冲器140。解码输出135可以包括本领域中已 知的软决定信息和硬决定信息。软/硬决定缓冲器可以是能够在准备提供数据输出145时 接收软和/或硬决定的任何存储器缓冲器。在某些情况下，当解码电路130收敛或者已经 执行了最大次数的数据输入105的迭代时，将解码输出135提供给软/硬决定缓冲器140。 除了将解码输出135提供给软/硬决定缓冲器140以外，解码电路130还在提供解码输出 135时脉动地产生(pulse)数据完成信号181。在对数据输入105的处理不收敛的情况下，可以使用局部迭代反馈环137通过解 码电路130依次执行一个或多个附加迭代。在执行另一次局部迭代的任何时候，解码电路 130脉动地产生局部开始信号185。在最大次数的局部迭代之后，当对数据输入105的处理 还没有收敛时，可以使用局部迭代反馈环139将解码数据输出传回到通道检测器电路120。 在执行另一次全局迭代的任何时候，解码电路130脉动地产生全局开始信号183。由于总是 存在通过解码电路130的至少一次迭代，所以对于通过解码电路的第一趟可以不脉动地产生局部开始信号185，而仅对每一次后继的迭代脉动地产生局部开始信号185。作为备选的方案，可以对每一次迭代脉动地产生局部开始信号185，而向下游数学地计算额外的计数。每当脉动地产生数据完成信号181时数据完成计数器180递增。此外，每当断言 (assert)复位信号179时，数据完成计数器180复位。在每次脉动地产生全局开始信号183 时，全局环计数器182递增。此外，当断言复位信号179时，全局环计数器182复位。在每次 脉动地产生局部开始信号185时，局部环计数器184递增。此外，在断言复位信号179时， 局部环计数器182复位。来自数据完成计数器180的数据完成值191、来自全局环计数器182的全局环计数值193、以及来自局部环计数器184的局部环计数值195被提供给存储介质度量(metrics) 计算模块190。存储介质度量计算模块190使用上述计数值来预测从其得到数据输入105 的介质的潜在故障。此外，存储介质度量计算模块190提供可以用于辨别从其得到数据输 入105的介质的健康状况的各种统计量(statistics) 197。这样的统计量例如可以包括数 据组通过全局环(即，通道检测器电路120和解码电路130)的平均次数，以及数据组通过 局部环(即，解码电路130)的平均次数。例如，可以通过使用柱状图、平均化或最小均方误 差法计算上述平均值。作为例子，可以根据下面的公式计算该平均值Global_Mean(i + l) = Global_Mean (i) + μ (GlobalLoopCountl93-Global_ Mean(i))；Local_Mean(i+l) = Local_Mean(i)+μ (LocalLoopCountl95-Local_Mean(i))；其中i表示计算该值的时间瞬间，μ是被选择来限制可能在任何时间发生的变化 的小标量值。上述公式假定在对每个数据组的处理结束时数据完成计数器180、全局环计数 器182和局部环计数器184复位。因此，例如，可以在处理数据扇区结束时并且在取回各自 的计数值之后断言“复位” 179。在这种情况下，不通过解码电路130对第一局部迭代脉动 地产生局部开始信号185。在本发明的某些实施例中，在每次脉动地产生数据完成信号181 时(即，在对经由数据输入105接收的每个数据组的处理的结尾)计算该平均值。作为另 一个例子，可以根据下面的公式计算该平均值作为简单的平均数 其中i表示计算该值的时间瞬间。对于这些公式来说，不是必须在对数据组的处 理的结尾复位数据完成计数器180、全局环计数器182和局部环计数器184的计数值。参考图2a，流程图200示出根据本发明的各实施例的用于获得可用于间接地预测 存储介质故障的各种度量的方法。按照流程图200，接收读取的数据组(框205)。在某些 情况下，所读取的数据组是从存储介质得到的数据扇区。基于本文所公开的内容，本领域的 普通技术人员将会想到可以根据本发明的不同实施例处理的各种数据组。对所读取的数据 执行数据检测处理(框210)。此数据检测处理可以是本领域中已知的任何数据检测，例如， 软输出维特比算法数据检测。应该注意，可以关于本发明的不同实施例使用其它通道检测 器。递增局部迭代计数和全局迭代计数，这表示保证完成了至少一趟检测处理和一趟解码 处理(框215)。
对数据检测器的输出执行数据解码(框220)。可以使用本领域中已知的任何解码 算法进行数据解码。例如，可以使用LDPC解码器进行数据解码。然后判断解码处理是否收 敛(即，导致正确的输出)(框225)。在解码处理没有收敛的情况下(框225)，判断是否要 使用通过解码电路的另一个局部环(框230)。可以使用本领域中现有的判断机构对此进行 判断。在要执行通过解码处理的附加局部环的情况下(框230)，递增局部迭代计数器以表 示附加的局部环(框235)并且使用解码处理的输出重复框220至230的处理。作为备选的方案，在不调用通过解码处理的附加环的情况下(框230)，将解码数 据提供给数据检测器，用于执行另一次数据检测处理(框240)。除了执行数据检测(框 240)以外，还递增全局迭代计数器，这表示另一个全局环(框245)。然后重复框220至230 的处理。
在数据收敛(或者超过了超时条件)的情况下(框225)，提供从解码处理得到的 数据作为数据输出(框250)，并且递增数据完成计数以表示作出了结论(conclude)的数据 组(框255)。利用该新度量(全局迭代计数、局部迭代计数以及数据 完成计数)执行度量 更新处理(框201)。该度量更新处理包括数学计算各种统计量并且判断是否存在存储介质 故障的增大的潜在可能性。参考图2b，流程图260示出根据本发明的各实施例的用于执行图2a的框201的 度量更新处理的方法。按照流程图260，判断是否已经完成下一个数据处理(框202)。在 某些情况下，该框与图2a的框225 255基本相同。在下一个数据处理完成的情况下(框 202)，从本地迭代计数器取(pull)本地迭代计数值(框265)，从全局迭代计数器取全局迭 代计数值(框275)，并且从数据完成计数器取数据完成值(框280)。使用上述信息计算局部迭代的平均值(框285)和全局迭代的平均值(框290)。 例如，可以使用柱状图、平均化或者最小均方误差方法计算上述平均值。作为例子，可以根 据下面的公式计算该平均值Global_Mean(i+l) = Global_Mean⑴+μ (GlobalLoopCount_Global_Mean⑴)；Local_Mean(i+l) = Local_Mean (i) + μ (LocalLoopCount-Local_Mean(i))；其中i表示计算该值的时间瞬间，μ是被选择来限制可能在任何时间发生的变化 的小标量值。在本发明的一些实施例中，在每次数据组完成处理时，计算平均值。作为另一 个例子，可以根据下面的等式计算平均值作为简单的平均数 其中i表示计算该值的时间瞬间。然后将这两个平均值存储到存储器(框295)。这样，可以由可以发现这两个平均 值的用途的任何其它进程来访问它们。然后判断是否计算出的平均值之一高于限定的阈值 (框203)。在发现所述平均值之一或二者高于限定的阈值的情况下(框203)，指示潜在的 故障(框204)。例如，该潜在故障报告可被作为中断提供给控制对存储介质的访问的处理 器。在一些情况下，这种中断可以引起存储介质的状态检查。参考图3，图3示出根据本发明的一个或多个实施例的包括具有间接存储介质故障机构的读取通道电路310的存储系统300。例如，存储系统300可以是硬盘驱动器。被包 括作为读取通道310的一部分的间接存储介质故障机构可以是(但不限于)关于图1所讨 论的系统。在一些情况下，被包括作为读取通道310的一部分的间接存储介质故障机构可 以使用以上关于图2a-2b描述的方法来工作。存储系统300还包括前置放大器370、接口控制器320、硬盘控制器366、马达控制 器368、主轴(spindle)马达372、盘片378和读/写头376。接口控制器320控制去往/来 自盘片378的数据的寻址和定时。盘片378上的数据由磁信号组构成，当读/写头组件376 被适当地定位在盘片378之上时，读/写头组件376可以检测磁信号。在一个实施例中，盘 片378包括根据垂直记录方案记录的磁信号。例如，磁信号可以被记录为纵向或垂直记录 的信号。在典型的读取操作中，由马达控制器368将读/写头组件376准确定位 在盘片378 上的期望的数据轨道之上。由通过接口控制器320接收的地址限定适当的数据轨道。马 达控制器368在硬盘控制器366的指引(direction)下，通过将读/写头组件移动到盘片 378上的合适的数据轨道，以关于盘片378定位读/写头组件376并且驱动主轴马达372。 主轴马达372以确定的旋转速率(RPM)转动盘片378。当读/写头组件376被定位邻近适 当的数据轨道时，随着盘片378被主轴马达372转动，通过读/写头组件376感测代表盘片 378上的数据的磁信号。所感测的磁信号被提供作为代表盘片378上的磁数据的连续的微 弱(minute)的模拟信号。经由前置放大器370将此微弱的模拟信号从读/写头组件376传 送到读取通道模块364。前置放大器370可以放大从盘片378访问的微弱的模拟信号。接 着，读取通道模块310解码并数字化接收的模拟信号以重新生成最初写到盘片378的信息。 写操作基本上与上述读操作相反，写数据301被提供给读取通道模块310。然后将此数据编 码并写入盘片378。参考图4，图4示出根据本发明的一些实施例的包括间接存储介质故障机构 499 (S卩，健康状况检测电路)的另一个数据处理电路400。除了间接存储介质故障机构499 以外，数据处理电路400还包括被馈送到通道检测器408的数据输入404。通道检测器408 可以是本领域中已知的任何类型的通道检测器，包括(但不限于)软输出维特比算法检测 器(SOVA)或者最大后验(MAP)检测器。基于本文所公开的内容，本领域的普通技术人员将 会想到可以根据本发明的不同实施例使用的各种通道检测器。另外，数据输入404被提供 给输入数据缓冲器412，输入数据缓冲器412被设计用于保持从数据输入404接收的大量数 据组。在本发明的一些实施例中，这种数据组来自存储介质的数据扇区。可以选择输入数据 缓冲器412的大小以提供足够的缓冲，使得经由数据输入404输入的数据组保持可用，至少 直到完成对该数据组的第一迭代处理、并且处理后的数据在以下更完整描述的乒乓(Ping pong)缓冲器448 (即，排队缓冲器)中可用。输入数据缓冲器412将该数据组提供给通道 检测器416。类似于通道检测器408，通道检测器416可以是本领域中已知的任何类型的通 道检测器，包括(但不限于)SOVA检测器或者MAP检测器。同样，基于本文中公开的内容， 本领域的普通技术人员将会想到可以根据本发明的不同实施例使用的各种通道检测器。经由多路复用器420将通道检测器408和通道检测器416 二者的输出提供给交错 器(interleave!·)电路428。这样的输出例如可以是对数似然比值。交错器电路428使用 两个乒乓缓冲器424、432对通道检测器408的输出进行交错处理，并单独地对通道检测器416的输出进行交错处理。乒乓缓冲器424中的一个缓冲器保持通道检测器408的输出的 之前交错处理的结果并且卸载到LDPC解码器436，同时乒乓缓冲器424中的另一个缓冲器 保持当前被交错的通道检测器408的数据组。类似地，乒乓缓冲器432中的一个缓冲器保 持通道检测器416的输出的之前交错处理的结果并且卸载到LDPC解码器436，同时乒乓缓 冲器424的另一个缓冲器保持当前被交错的通道检测器416的数据组。LDPC解码器436能够同时解码一个或多个数据组。作为例子，可以将LDPC解码器 436设计为解码来自乒乓缓冲器424的交错数据组，或者来自乒乓缓冲器432的交错数据 组，或者同时解码来自乒乓缓冲器424和乒乓缓冲器432的交错数据组。将解码数据提供 作为硬决定输出440，和/或，将解码数据提供给使用乒乓缓冲器448的解交错器电路444， 以对该解码数据进行解交错并且将解交错的数据作为输入提供给通道检测器416。乒乓缓 冲器448中的一个缓冲器保持之前解交错处理的结果并且卸载到通道检测器416，同时乒 乓缓冲器448中的另一个缓冲器保持当前正被解交错的解码数据组。硬决定输出440被提 供给解交错器电路456，解交错器电路456对硬决定输出440进行解交错并将解交错结果存 储在输出数据缓冲器460中。最后，解交错器电路456将存储在输出数据缓冲器460中的 解交错数据提供作为输出470。当LDPC解码器436所处理的数据收敛时或者当输出数据缓 冲器460中有不充分的缓冲时，从LDPC解码器436提供硬输出440。 LDPC解码器436能够执行一次或多次局部迭代(即，通过LDPC解码器436进行处 理)。每次开始一次局部迭代时，LDPC解码器436脉动地产生局部开始信号485。此外，每 次将解码数据放置在乒乓缓冲器448中而请求再一次通过通道检测器416和LDPC解码器 436时，由LDPC解码器436脉动地产生全局开始信号483。另外，每次将硬决定数据440提 供给输出数据缓冲器460时，由LDPC解码器436脉动地产生数据完成信号481。间接存储 介质故障机构499包括在每次脉动地产生数据完成信号481时递增的数据完成计数器480。 此外，当断言复位信号479时，数据完成计数器480复位。每次脉动地产生全局开始信号 483时全局环计数器482递增。此外，当断言复位信号479时，全局环计数器482复位。每 次脉冲地产生局部开始信号485时局部环计数器484递增。此外，当断言复位信号479时， 局部环计数器482复位。来自数据完成计数器480的数据完成值491、来自全局环计数器482的全局环计 数值493、和来自局部环计数器484的局部环计数值495被提供给存储介质度量计算模块 490。存储介质度量计算模块490使用上述计数值来预测从其得到数据输入404的介质的 潜在故障。此外，存储介质度量计算模块490提供可被用于辨别从其得到数据输入404的 介质的健康状况的各种统计量497。这种统计量例如可以包括数据组通过全局环(即，通道 检测器电路408/416和LDPC解码器电路436)的平均次数，以及数据组通过局部环(即，解 码电路436)的平均次数。例如，可以使用柱状图、平均化或者最小均方误差方法来计算上 述平均值。作为例子，可以根据下面的公式计算平均值Global_Mean(i + l) = Global_Mean (i) + μ (GlobalLoopCount493-Global_ Mean(i))；Local_Mean(i+l) = Local_Mean(i)+μ (LocalLoopCount495-Local_Mean(i))；其中i表示计算该值的时间瞬间，而μ是被选择来限制可能在任何时间发生的变 化的小标量值。在本发明的一些实施例中，在每次脉动地产生数据完成信号481时(即，在对经由数据输入404接收的每个数据组的处理的结尾)计算该平均值。作为另一个例子， 可以根据下面的公式计算平均值作为简单的平均数 其中i表示计算该值的时间瞬时。间接存储介质故障机构499用于提供统计量 497，统计量497表示数据处理电路400的工作状态并且间接地表示从其获得输入404的介 质的健康状况。注意，可以使用许多局部环迭代和/或全局环迭代来解码每个数据组(例如，存储 介质的每个数据扇区)。可以分别维持针对每个数据组执行的环的数目的计数。这使得可 以判断从其取得数据组的特定区域的健康状况。这种单独的数据组计数器可以被实现用于 将计数值与它们所对应的数据组一起存储在乒乓缓冲器448中。当从乒乓缓冲器448中再 次取出该数据以进行附加处理时，与各自的数据组相关的计数值被加载到计数器中(即， 全局环计数器482和局部环计数器484)并且根据应用的任何附加处理递增。在要进一步处 理该数据组的情况下，将其重新放回到乒乓缓冲器448中。这时，全局环值和局部环值也被 放回到乒乓缓冲器448中的对应位置中。当该数据组被最后写出作为硬决定数据440时， 测试累积的局部环计数和全局环计数，以提供与从其得到该特定数据组的存储介质上的位 置相关联的统计量。针对每个数据组单独地重复此累积全局和局部环计数的处理。应该注意，类似的存储介质故障机构499可被应用于其它数据处理电路。例如，可 以将产生各种统计量的存储介质故障机构499应用于Yang等人于2008年5月2日提交的 标题为“Systems and Methods for Queue Based Data Detection and Decoding，，的美国 专利第12/114462号中公开的数据处理电路。上述专利申请的全部内容在此通过引用被并 入以用于所有目的。总之，本发明提供了用于确定存储介质健康状况的新颖的系统、装置、方法和布 置。尽管上面已经给出本发明的一个或多个实施例的详细描述，但是在不改变本发明的精 神的情况下，各种替换、修改和等同物对本领域的技术人员来说是显而易见的。此外，本文 所讨论的技术同样可被应用于模拟到数字转换器。因此，不应该将上述描述理解为对所附 权利要求所限定的本发明的范围的限制。
权利要求
一种存储装置，其中所述存储装置包括存储介质；以及数据处理电路，其中所述数据处理电路接收从所述存储介质得到的数据组，并且其中所述数据处理电路包括数据检测器电路，其中所述数据检测器电路接收所述数据组并提供检测输出；数据解码器电路，其中所述数据解码器电路接收所述检测输出的衍生体并提供解码输出；以及健康状况检测电路，其中所述健康状况检测电路接收通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组的次数的指示，并且其中所述健康状况检测电路至少部分地基于通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组的次数生成所述存储介质的间接健康状态。
2.根据权利要求1所述的存储装置，其中所述健康状况检测电路包括全局环计数器， 所述全局环计数器在通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数 据组时递增，并且其中通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数 据组的次数是由所述全局环计数器提供的全局环计数值。
3.根据权利要求2所述的存储装置，其中所述存储介质的间接健康状态包括在处理多 个数据组后得到的全局环计数值的平均值。
4.根据权利要求2所述的存储装置，其中所述数据检测器电路用于依次对所述数据组 进行多次处理，并且其中所述健康状况检测电路包括局部环计数器，所述局部环计数器在 通过所述数据解码器电路处理所述数据组时递增。
5.根据权利要求4所述的存储装置，其中所述健康状况检测电路接收通过所述数据解 码器电路处理所述数据组的次数的指示，并且其中所述健康状况检测电路至少部分地基于 通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数生成所述存储介质的间接健康状态，并且 其中通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数是由所述局部环计数器提供的局部 环计数值。
6.一种存储装置，其中所述存储装置包括存储介质；以及数据处理电路，其中所述数据处理电路接收从所述存储介质得到的数据组，并且其中 所述数据处理电路包括数据解码器电路，其中所述数据解码器电路接收所述数据组的衍生体并提供解码输 出；并且其中所述数据解码器电路用于依次对所述数据组的衍生体进行多次处理；以及健康状况检测电路，其中所述健康状况检测电路接收通过所述数据解码器电路处理所 述数据组的次数的指示，并且其中所述健康状况检测电路至少部分地基于通过所述数据解 码器电路处理所述数据组的次数生成所述存储介质的间接健康状态。
7.根据权利要求6所述的存储装置，其中所述健康状况检测电路包括局部环计数器， 所述局部环计数器在通过所述数据解码器电路处理所述数据组时递增，并且其中通过所述 数据解码器电路处理所述数据组的次数是由所述局部环计数器提供的局部环计数值。
8.根据权利要求7所述的存储装置，其中所述存储介质的间接健康状态包括在处理多 个数据组之后得到的所述局部环计数值的平均值。
9.根据权利要求6所述的存储装置，其中所述数据处理电路还包括数据检测器电路，其中所述数据检测器电路接收所述数据组并提供检测输出，并且其 中所述数据组的衍生体是所述检测输出的衍生体。
10.一种数据处理电路，所述数据处理电路包括第一数据检测器电路，其中所述第一数据检测器电路用于在第一时间对第一输入数据 组执行数据检测并且在第二时间对第二输入数据组执行数据检测，并且其中所述第一输入 数据组和所述第二输入数据组来自于存储介质；第二数据检测器电路；数据解码器电路，其中所述数据解码器电路用于接收对应于所述第一数据组的所述 第一数据检测器电路的输出的衍生体、对应于所述第二数据组的所述第一数据检测器电路 的输出、以及所述第二数据检测器电路的输出的衍生体；并且其中所述数据解码器电路用 于依次对给定的数据组进行多次处理；其中，所述第二数据检测器电路用于仅在所述解码器的输出没有收敛的情况下才在第 三时间使用对应于所述第一输入数据组的所述数据解码器电路的输出对所述第一输入数 据组执行数据检测，并且其中所述第三时间在所述第一时间和所述第二时间之后；以及健康状况检测电路，其中所述健康状况检测电路接收通过所述数据解码器电路处理所 述数据组的次数的指示，并且其中所述健康状况检测电路至少部分地基于通过所述数据解 码器电路处理所述数据组的次数生成所述存储介质的间接健康状态。
11.根据权利要求10所述的数据处理电路，其中所述健康状况检测电路包括局部环计 数器，所述局部环计数器在通过所述数据解码器电路处理所述数据组时递增，并且其中通 过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数是由所述局部环计数器提供的局部环计数 值。
12.根据权利要求11所述的数据处理电路，其中所述存储介质的所述间接健康状态包 括在处理多个数据组之后得到的所述局部环计数值的平均值。
13.根据权利要求12所述的数据处理电路，其中根据下面的公式计算所述局部环计数 值的平均值Local_Mean(i+1) = Local_Mean(i)+u (LocalLoopCount-Local_Mean(i))其中i表示对应于局部环计数值的时间瞬间，而y是标量值。
14.根据权利要求10所述的数据处理电路，其中所述健康状况检测电路包括全局环计 数器，所述全局环计数器在通过所述第一数据检测器电路和所述第二数据检测器电路之一 与所述数据解码器电路的组合处理所述数据组时递增，并且其中通过所述组合对所述数据 组进行处理的次数是由所述全局环计数器提供的全局环计数值。
15.根据权利要求14所述的数据处理电路，其中所述存储介质的间接健康状态包括在 处理多个数据组之后得到的所述全局环计数值的平均值。
全文摘要
本发明的各实施例提供用于确定存储介质健康状况的系统和方法。例如，被公开的存储装置包括存储介质和数据处理电路。所述数据处理电路接收从存储介质得到的数据组。所述数据处理电路包括数据检测器电路、数据解码器电路以及健康状况检测电路。所述数据检测器电路接收所述数据组并提供检测输出。所述数据解码器电路接收所述检测输出的衍生体并提供解码输出。所述健康状况检测电路接收通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组的次数的指示。此外，所述健康状况检测电路至少部分地基于通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组的次数生成存储介质的间接健康状态。
文档编号G11B20/18GK101866672SQ20091017366
公开日2010年10月20日 申请日期2009年9月10日 优先权日2009年4月17日
发明者杨少华 申请人:Lsi公司