光盘装置及激光功率控制方法

专利名称：光盘装置及激光功率控制方法
技术领域：
本发明涉及通过使激光光源进行测试发光来修正激光功率的控制偏差，记录数据
的光盘装置及激光功率控制方法。更具体而言，本发明使高倍速中的激光的峰值功率的控 制精度得以提高。
背景技术：
在现有的光盘装置中，当再现数据时，对作为信息载体的光盘上照射比较弱的恒 定光量的光束，由光盘检测出被强弱地调制后的反射光进行再现。此外，在数据的记录中， 根据记录的信号对光束的光量强弱地进行调制，在光盘上的记录材料膜上写入数据。在再 现专用的光盘中，预先以螺旋形状记录有基于比特的信息。此外，可追记或改写的光盘，在 具有螺旋形状的凹凸构造的磁道的基材表面，以蒸镀等方法形成制作能够光学地记录及再 现的材料膜。 为了在光盘上形成记录标记，一般采用激光光源。为了形成良好的记录标记，需要 使激光光源以规定的波形发光。对于记录空间的形成，是使激光光源以恒定功率经过规定 时间连续发光。为了确保稳定的记录性能，需要正确地控制这些激光光源的功率。但是，激 光光源的功率特性很大程度上被周围温度等支配。因此，即使在记录前暂时设定功率而提 供了恒定的驱动电流，功率也不保持恒定，而由激光光源本身或周围设备的温度上升引起 功率的变动。 针对现有技术中的光盘装置的工作，参照图12、图13、图14及图15进行说明。
图12表示记录时的激光光源的发光波形的一个示例。图13 (a)表示DVD-RAM中 的测试区域的配置，图13(b)表示BD(Blu-ray Disc)中的测试区域的配置。图14(a)表示 激光光源的发光模式之中不包含多脉冲的测试发光模式的一个示例，图14(b)表示包含多 脉冲的测试发光模式的一个示例。 图15(a)表示4x时的测试发光模式的一个示例。其中，Mx是指访问光盘的速度 是M倍速。图15(b)表示5x时的测试发光模式的一个示例，图15(c)表示6x时的测试发 光模式的一个示例，图15(d)表示7x时的测试发光模式的一个示例。图15(e)表示8x时 的测试发光模式的一个示例。 记录时的激光发光波形，是将多个功率进行组合而形成(例如，参照专利文献1)。 图12表示记录时的激光发光波形。在空间(space)部分以空间功率120s发光，在标记部 分，使峰值功率120p、标记功率120m和冷态(cool)功率120c进行组合来发光。记录时的 激光功率控制，是对上述所有的功率进行的。 作为避免功率变动的方法，每个固定期间的功率校正是有效的。例如，在具有如图 13(a)所示的扇区(sector)结构的光盘格式中，设置有用于对一个扇区修正一次激光功率 的测试区域。此时，光束的焦点每次通过测试区域，能通过在该测试区域中进行基于测试发 光的激光功率控制来避免功率变动。 在不具有测试区域的光盘格式中，激光功率控制需要在进行数据记录的数据区域中进行。此时，发光时间短的峰值功率或冷态功率，在特别是线速度高的情况下检测困难，存在控制误差增加的倾向。 以下，针对线速度以对规格的标准线速度的倍速来表示。
[专利文献1] JP特开2007-280498号公报 根据光盘格式，存在如图13(a)所示的测试区域与半径方向一致的情况和如图13(b)所示的测试区域与半径方向不一致的情况。 当测试区域与半径方向不一致时，若以高功率进行长时间发光，则对相邻的磁道的数据带来坏影响，其结果，有导致破坏数据的可能性。在图14中，在左侧表示测试区域中的激光发光波形，在右侧表示数据区域中的激光发光波形。如图14(a)所示，若在测试区域中以峰值功率比数据发光波形更长地进行发光，则由于会发生上述所担心的事情，所以如图14(b)所示，将测试区域中的峰值功率部分设置为多脉冲。由此，能够降低带给相邻磁道的热量来抑制数据的破坏。 如图14(b)所示，若将测试区域中的峰值功率部分设置为多脉冲，则当记录倍速变化时，多脉冲的频率发生变化。对于图15(a)所示的4x时的多脉冲频率，根据图15(b)、图15 (c)、图15 (d)、图15 (e)倍速的变高，通过测试区域的时间变短，伴随于此，多脉冲的频
率变高。 当通过对测试发光的多脉冲进行平均值检测来进行激光功率控制时，由于受到由多脉冲的频率变化引起的光检测设备的频率变形的影响，平均值检测值相对于真值带有误差。由上述误差而产生峰值功率误差。 当光检测设备是差动输出方式时，虽然有抗传送噪声的优点，但由于每个差动波道的频率特性差，而使多脉冲的平均值检测值的误差变大。 在光盘中，最终的最高倍速成为CAV(Constant Angular Velocity)方式下的速度。在CAV方式下，从内周向外周渐渐地提高倍速。多脉冲的频率也渐渐变高，成为随着半径位置，激光功率控制的误差变差。

发明内容
本发明是为了解决上述课题而做出的，能使高倍速中的光束的峰值功率的控制精度得以提高。 本发明的光盘装置，具有发光部，其输出照射到信息载体上的光束；电流调整部，其对所述光束的光量进行检测，调整供给所述发光部的电流；记录时钟生成部，其生成作为数据记录时的基准的记录时钟信号；分频部，其对所述记录时钟信号进行分频，生成分频时钟信号；记录模式运算部，其根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光模式；测试模式运算部，其根据所述分频时钟信号，设定用于对从所述发光部输出的所述光束的功率进行控制的测试记录用的测试发光模式；和电流输出部，其根据在所述数据记录发光模式及所述测试发光模式之中选择出的发光模式和所述电流调整部计算出的电流值，对所述发光部供给电流，所述分频部，当记录时的线速度变化时，以所述分频时钟信号的频率变化减小的方式调整分频比。 根据此实施方式，还具有对所述线速度进行检测的速度检测部，所述分频部，根据所述检测出的线速度来调整所述分频比。
根据此实施方式，所述速度检测部，根据所述信息载体上的地址，对所述线速度进 行检测。 根据此实施方式，所述速度检测部，根据所述信息载体上的磁道的晃动频率，对所 述线速度进行检测。 根据此实施方式，所述速度检测部，根据照射了所述光束的所述信息载体的半径 位置，对所述线速度进行检测。 根据此实施方式，所述分频部，根据所述记录时钟信号来调整所述分频比。
根据此实施方式，所述分频部，根据所述分频时钟信号来调整所述分频比。
根据此实施方式，所述分频部，当以CLV方式进行记录时，将所述分频时钟信号的 频率设置为恒定。 根据此实施方式，所述分频部，当以CAV方式进行记录时，通过根据照射了所述光 束的所述信息载体的半径位置来改变分频比，从而将所述分频时钟信号的频率设置在规定 的频率范围内。 根据此实施方式，所述电流调整部，具有光量检测部，其对所述发光部所输出的 所述光束的功率进行检测，来生成功率检测信号；抽样保持部，其通过在不同的时刻对所述 功率检测信号进行抽样，来检测多个电平的信号；功率运算部，其根据所述抽样保持部的 输出信号，来计算所述光束的多个功率；和电流运算部，其根据所述计算出的多个功率，来 计算供给所述发光部的所述电流，所述电流运算部具有非检测方式，该非检测方式根据所 述功率运算部计算出的最高的功率值以外的功率值，来计算与所述最高的功率值对应的电
流，所述电流运算部，在基准线速度以外，采用所述非检测方式来计算与所述最高的功率值 对应的电流。 根据此实施方式，所述电流运算部具有检测方式，该检测方式采用所述功率运算
部计算出的最高的检测功率值，来计算与所述最高的功率对应的电流，所述电流运算部，在
所述基准线速度下，采用所述检测方式来计算与所述最高的功率值对应的电流。 根据此实施方式，所述电流运算部，将以所述信息载体的规格所定义的线速度作
为基准线速度。 根据此实施方式，所述电流运算部，当以CAV方式进行记录时，将所述信息载体的 最内周部中的线速度作为基准线速度。 根据此实施方式，所述分频部，根据多脉冲发光时的平均功率与中央功率的偏差 的大小，来计算所述分频时钟信号的频率范围。 根据此实施方式，所述分频部，根据所述电流调整部能够检测的光束的脉冲的频 带，来计算所述分频时钟信号的频率范围。 本发明的光盘装置，具有发光部，其输出照射到信息载体上的光束；电流调整 部，其对所述光束的光量进行检测，调整供给所述发光部的电流；记录时钟生成部，其生成 作为数据记录时的基准的记录时钟信号；测试时钟生成部，其生成测试记录时使用的测试 时钟信号；记录模式运算部，其根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光 模式；测试模式运算部，其根据所述测试时钟信号，设定用于对从所述发光部输出的所述光 束的功率进行控制的测试记录用的测试发光模式；和电流输出部，其根据在所述数据记录 发光模式及所述测试发光模式之中选择出的发光模式和所述电流调整部计算出的电流值，
7试模式运算部，若所述线速度提高，则使所述测试发光模
试模式运算部，若所述线速度提高，则使所述测试发光模
对所述发光部供给电流，所述测试时钟生成部，与记录时的线速度无关地生成恒定频率的 所述测试时钟信号。 根据此实施方式，所述测试模式运算部，对所述测试发光模式中的多脉冲部分的 始端及末端的至少一端进行屏蔽。 根据此实施方式，所述抽样保持部，以在所述测试模式运算部进行屏蔽的时刻不 抽样的方式对抽样时刻进行屏蔽。 根据此实施方式，所述测试模式运算部，不将所述测试发光模式的始端及末端设 为多脉冲。 根据此实施方式，所述领
式内占有的多脉冲的比例增加。
根据此实施方式，所述领
式内占有的多脉冲的比例增加。 根据此实施方式，所述测试模式运算部，即使在所述数据记录发光模式不包含多 脉冲的情况下，所述测试发光模式内也包含多脉冲。 根据此实施方式，所述测试模式运算部，即使在所述数据记录发光模式不包含多 脉冲的情况下，所述测试发光模式内也包含多脉冲。 本发明的激光功率控制方法，包括记录时钟生成步骤，生成作为数据记录时的基 准的记录时钟信号；分频步骤，对所述记录时钟信号进行分频，生成分频时钟信号；记录模 式运算步骤，根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光模式；测试模式运 算步骤，根据所述分频时钟信号，设定用于对光束的功率进行控制的测试记录用的测试发 光模式；和电流输出步骤，根据在所述数据记录发光模式及所述测试发光模式之中选择出 的发光模式，对发光部供给电流，所述分频步骤，包括当记录时的线速度变化时以分频时钟 信号的频率变化减小的方式调整分频比的步骤。 本发明的激光功率控制方法，包括记录时钟生成步骤，生成作为数据记录时的基 准的记录时钟信号；测试时钟生成步骤，生成测试记录时采用的测试时钟信号；记录模式 运算步骤，根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光模式；测试模式运算 步骤，根据所述测试时钟信号，设定用于对光束的功率进行控制的测试记录用的测试发光 模式；和电流输出步骤，根据在所述数据记录发光模式及所述测试发光模式之中选择出的 发光模式，对发光部供给电流，所述测试时钟生成步骤，包括与记录时的线速度无关地生成 恒定频率的所述测试时钟信号的步骤。 在本发明的权利要求1的光盘装置中，由于与记录线速度无关，以分频时钟信号 的频率变化减小的方式来求出分频比，所以能够不取决于光检测设备的频带特性地进行峰 值功率的控制，能够使激光功率控制精度提高。 而且，在本发明的权利要求2的光盘装置中，由于倍速检测部对记录时的线速度 进行检测，并且分频部根据来自倍速检测部的检测线速度求出分频比，所以能够通过简单 的结构来降低测试发光模式的频率的变化。 而且，在本发明的权利要求3的光盘装置中，由于倍速检测部对信息载体上的地 址进行检测，并采用地址来检测线速度，所以能够在旋转数稳定的状态下可靠地检测出是 多少倍速。
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而且，在本发明的权利要求4的光盘装置中，由于倍速检测部检测信息载体上的 磁道的晃动，并采用晃动的频率来检测线速度，所以即使旋转数在过渡状态下也能够检测 出是多少倍速。 而且，在本发明的权利要求5的光盘装置中，由于倍速检测部检测照射了光束的 信息载体上的半径位置，并采用半径位置来检测线速度，所以只要旋转数在稳定的状态下， 则即使处于地址不能读出的状态，也能够检测出是多少倍速。 而且，在本发明的权利要求6的光盘装置中，由于分频部根据来自记录时钟生成
部的记录时钟信号求出分频比，所以能够使测试发光模式的频率的变化降低。 而且，在本发明的权利要求7的光盘装置中，由于分频部根据来自分频部的分频
时钟信号求出分频比，所以能够使测试发光模式的频率的变化降低。 而且，在本发明的权利要求8的光盘装置中，由于分频部当以CLV方式记录时，与 线速度无关而使分频时钟信号的频率恒定，所以能够使CLV时的峰值功率的激光功率控制 的精度提高。 而且，在本发明的权利要求9的光盘装置中，由于分频部在以CAV方式记录时，通 过根据半径位置来改变分频比从而使分频时钟信号的频率设置在规定频率范围内，所以能 够使CAV时的峰值功率的激光功率控制的精度提高。 而且，在本发明的权利要求10的光盘装置中，由于电流运算部具有不采用功率运 算部计算出的最高的检测功率值，而根据与最高的功率值以外的功率值对应的电流来求出 与最高的功率值对应的电流的非检测方式，且在基准线速度以外采用非检测方式，所以能 够使CAV时的中间倍速下的峰值功率的激光功率控制的精度提高。 而且，在本发明的权利要求11的光盘装置中，由于电流运算部具有采用功率运算 部计算出的最高的检测功率值来求出与最高的功率值对应的电流的检测方式，且在基准线 速度下采用该检测方式，所以能够使CAV时的中间倍速下的峰值功率的激光功率控制的精 度提高。 而且，在本发明的权利要求12的光盘装置中，由于电流运算部将以信息载体的规 格所定义的线速度作为基准线速度，所以能够使CAV时的中间倍速下的峰值功率的激光功 率控制的精度提高。 而且，在本发明的权利要求13的光盘装置中，由于电流运算部将以CAV方式记录 时的最内周部中的线速度作为基准线速度，所以能够使CAV时的中间倍速下的峰值功率的 激光功率控制的精度提高。 而且，在本发明的权利要求14的光盘装置中，由于分频部根据多脉冲发光时的平 均功率与中央功率的偏差的大小来求出规定频率范围，所以能够决定用于降低峰值功率的 激光功率控制的精度变差的测试发光的多脉冲频率。 而且，在本发明的权利要求15的光盘装置中，由于分频部根据光量检测部能够检 测的频带来求出规定频率范围，所以能够决定用于降低峰值功率的激光功率控制的精度变 差的测试发光的多脉冲频率。 而且，在本发明的权利要求16的光盘装置中，由于测试时钟生成部与记录线速度 无关地将生成的测试时钟信号设为恒定频率，所以能够进行不取决于光检测设备的频带特 性的峰值功率的控制，能够使激光功率控制精度提高。
而且，在本发明的权利要求17的光盘装置中，由于测试模式运算部在测试发光模 式与数据记录发光模式的切换部分中，以测试发光模式内的多脉冲的占空比不变化的方 式，对多脉冲部分的始端或末端的至少一端进行屏蔽，所以能够降低记录时钟信号与测试 时钟信号切换时的边沿紊乱的影响。 而且，在本发明的权利要求18的光盘装置中，由于抽样保持部以在测试模式运算 部进行屏蔽的时刻不抽样的方式对抽样时刻进行屏蔽，所以能够降低记录时钟信号与测试 时钟信号切换时的边沿紊乱的影响。 而且，在本发明的权利要求19的光盘装置中，由于测试模式运算部在测试发光模 式的始端及末端设为多脉冲，所以能够降低记录时钟信号与测试时钟信号切换时的边沿紊 乱的影响。 而且，在本发明的权利要求20及21的光盘装置中，由于测试模式运算部当线速度 高时使在测试发光模式内占有的多脉冲的比例增加，所以能够不改变用于获取多脉冲平均 值的LPF频带地与高倍速相对应。 而且，在本发明的权利要求22及23的光盘装置中，由于测试模式运算部即使在数 据记录发光模式内没有多脉冲时，在测试发光模式内也包含多脉冲，所以能够进行不取决 于策略上稳定的激光功率控制。 此外，在本发明的权利要求24的激光功率控制方法中，由于与记录线速度无关， 以分频时钟信号的频率变化减小的方式求出分频比，所以能够进行不取决于光检测设备的 频域特性的峰值功率的控制，能够使激光功率控制精度提高。 此外，在本发明的权利要求25的激光功率控制方法中，由于与记录线速度无关地 生成恒定频率的测试时钟信号，所以能够进行不取决于光检测设备的频域特性的峰值功率 的控制，能够使激光功率控制精度提高。


图1是表示本发明的实施方式1中的光盘装置的示意图。 图2是表示本发明的实施方式1中的功率运算部的详细块结构的一个示例的示意 图。 图3是表示本发明的实施方式1中的电流运算部的详细块结构的一个示例的示意 图。 图4(a)是表示本发明的实施方式1中的相对于ZCLV时的半径位置的倍速的一个 示例的示意图，(b)是表示本发明的实施方式1中的相对于PCAV时的半径位置的倍速的一 个示例的示意图。 图5(a)是表示本发明的实施方式1中的记录时钟信号的一个示例的示意图，(b) 是表示本发明的实施方式1中的分频时钟信号的一个示例的示意图，(c)是表示本发明的 实施方式1中的测试发光模式信号的一个示例的示意图。 图6(a)是表示本发明的实施方式1中的4x时的测试发光模式信号的一个示例的 示意图，(b)是表示本发明的实施方式1中的5x时的测试发光模式信号的一个示例的示意 图，(c)是表示本发明的实施方式1中的6x时的测试发光模式信号的一个示例的示意图， (d)是表示本发明的实施方式1中的7x时的测试发光模式信号的一个示例的示意图，(e)是表示本发明的实施方式1中的8x时的测试发光模式信号的一个示例的示意图。 图7是表示本发明的实施方式2中的电流运算部的详细块结构的一个示例的示意图。 图8 (a)是表示本发明的实施方式2中的相对于PCAV时的半径位置的倍速的一个 示例的示意图，(b)、(c)及(d)，分别表示根据本发明的实施方式2中的半径位置，控制选择 器所选择的控制的一个示例的示意图。 图9是表示本实施方式3中的光盘装置的示意图。 图10(a)是表示本发明的实施方式3中的记录时钟信号的一个示例的示意图，(b)
是表示本发明的实施方式3中的测试时钟信号的一个示例的示意图，(c)是表示本发明的
实施方式3中的测试发光模式信号的一个示例的示意图，(d)是表示本发明的实施方式3中
的从测试模式运算部向抽样信号生成部输出的屏蔽信号的一个示例的示意图。 图11 (a)是表示本发明的实施方式3中的4x时的测试发光模式信号的一个示例
的示意图，(b)是表示本发明的实施方式3中的5x时的测试发光模式信号的一个示例的示
意图，(c)是表示本发明的实施方式3中的6x时的测试发光模式信号的一个示例的示意图，
(d)是表示本发明的实施方式3中的7x时的测试发光模式信号的一个示例的示意图，(e)
是表示本发明的实施方式3中的8x时的测试发光模式信号的一个示例的示意图。 图12是表示记录时的激光光源的发光波形的一个示例的示意图。 图13 (a)是表示DVD-RAM中的测试区域的配置的示意图，(b)是表示BD中的测试
区域的配置的示意图。 图14(a)是表示不包含多脉冲的测试发光模式的一个示例的示意图，(b)是表示 包含多脉冲的测试发光模式的一个示例的示意图。 图15(a)是表示4x时的测试发光模式的一个示例的示意图，(b)是表示5x时的测 试发光模式的一个示例的示意图，(c)是表示6x时的测试发光模式的一个示例的示意图， (d)是表示7x时的测试发光模式的一个示例的示意图，(e)是表示8x时的测试发光模式的 一个示例的示意图。 图中1_激光，2-光量检测部，3-电流调整部，10-抽样保持，ll-功率运算部， 12-电流运算部，13-激光驱动器，14-抽样信号生成部，15-抽样信号生成部，20-记录数据 生成部，21-记录模式运算部，22-测试数据生成部，23、24-测试模式运算部，25-模式选择 器，30-地址检测部，40-倍速检测部，41-记录时钟生成部，42-测试时钟生成部，43-频率区 域指定部，44-分频设定部，50-分频部，60-峰值运算部，61-峰值功率换算部，62-标记功率 换算部，63-空间功率换算部，64-冷态功率换算部，70-峰值目标生成部，71-标记目标生成 部，72-空间目标生成部，73-冷态目标生成部，74-峰值电流积分部，75-标记电流积分部， 76-空间电流积分部，77-冷态电流积分部，78-比例保持部，79-比例运算部，80-控制选择 器，100、200-光盘装置。
具体实施例方式以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。
(实施方式1) 针对基于本发明的实施方式1的光盘装置100的工作，参照图1、图2、图3、图4、
11图5及图6进行说明。 图1是表示光盘装置100具有的结构要素的方框图。图2是表示功率运算部11 的详细块结构的一个示例的示意图。图3是表示电流运算部12的详细块结构的一个示例 的示意图。 图4(a)表示相对于ZCLV(Zone Constant Linear Velocity)时的半径位置的倍 速的一个示例，图4(b)表示相对于PCAV(Partial ConstantAngular Velocity)时的半径 位置的倍速的一个示例。 ZCLV方式是沿着光盘的半径方向有多个CLV方式存在的方式。PCAV方式是在光 盘内周侧成为CAV方式，在外周侧成为CLV方式的方式。作为将CLV方式及CAV方式的至 少一个进行组合的方式的示例，有ZCLV方式及PCAV方式。 图5(a)表示从记录时钟生成部41输出的记录时钟信号的一个示例，图5 (b)表示 从分频部50输出的分频时钟信号的一个示例，图5 (c)表示从测试模式运算部23输出的测 试发光模式信号的一个示例。 图6(a)表示4x时从测试模式运算部23输出的测试发光模式信号的一个示例。图 6(b)表示5x时从测试模式运算部23输出的测试发光模式信号的一个示例。图6(c)表示 6x时从测试模式运算部23输出的测试发光模式信号的一个示例。图6(d)表示7x时从测 试模式运算部23输出的测试发光模式信号的一个示例。图6(e)表示8x时从测试模式运 算部23输出的测试发光模式信号的一个示例。 参照图1、图2及图3，激光光源1是输出光束的发光部，例如是半导体发光元件。 从激光光源1输出的光束，经由光学系统照射在作为信息载体的光盘上，进行信息的记录 再现。电流调整部3，接收从激光光源1输出的光束，并对光束的光量进行检测，计算供给 激光光源1的电流。电流调整部3具有光量检测部2、抽样保持部10、功率运算部11、电流 运算部12和抽样信号生成部14。光量检测部2对激光光源1所输出的光束的功率进行检 测，输出功率检测信号。通过抽样保持部10及抽样信号生成部14，功率检测信号在不同时 刻被抽样，并对多个电平信号进行检测。 功率运算部ll，根据抽样保持部10的输出信号，计算光束的多个功率。如图2所 示，功率运算部11具有峰值运算部60、峰值功率换算部61、标记功率换算部62、空间功率 换算部63及冷态功率换算部64。 电流运算部12，根据功率运算部11所计算的多个功率，计算供给激光电源1的电 流。如图3所示，电流运算部12具有峰值目标生成部70、标记目标生成部71、空间目标生 成部72、冷态目标生成部73、峰值电流积分部74、标记电流积分部75、空间电流积分部76 及冷态电流积分部77。 模式选择器25及激光驱动器13，根据数据记录发光模式及测试发光模式之中所 选择的发光模式和电流运算部12所计算的电流值，作为向激光光源1供给电流的电流输出 部来发挥功能。 记录数据生成部20及记录模式运算部21，根据记录时钟信号，对用于记录数据的 数据记录发光模式进行计算并设定。测试数据生成部22及测试模式运算部23根据分频时 钟信号，对用于控制从激光光源1输出的光束的功率的测试记录用的测试发光模式进行计 算并设定。
地址检测部30及倍速检测部40，作为检测访问光盘时的线速度的速度检测部来 发挥功能。记录时钟生成部41生成成为数据记录时的基准的记录时钟信号。通过频率区 域指定部43、分频设定部44及分频部50，记录时钟信号被分频而生成分频时钟信号。
在图1中，光量检测部2接收来自激光光源1的光束，将与光束的功率对应的功率 检测信号发送给样抽保持部10。抽样信号生成部14将用于获取光束的各功率的抽样抽样 时刻发送给抽样保持部10。抽样保持部IO，根据来自抽样信号生成部14的抽样信号，将来 自光量检测部2的信号进行抽样，将各保持信号发送给功率运算部11。功率运算部11根据 来自抽样保持部10的各保持信号，将光束的各检测功率进行运算并发送给电流运算部12。 电流运算部12，根据功率运算部11所运算的光束的各检测功率值，对供给激光光源1的各 电流进行运算，并发送给激光驱动器13。 地址检测部30检测出照射到光盘上的光束的点(spot)位置的地址信息，并发送 给倍速检测部40。倍速检测部40根据来自地址检测部30的地址信息，检测出是多少倍速， 并发送给记录时钟生成部41及分频设定部44。 记录时钟生成部41根据来自倍速检测部40的倍速信息，生成记录时钟信号，并发 送给分频部50、测试模式运算部23及记录模式运算部21。记录数据生成部20生成记录的 数据并发送给记录模式运算部21。记录模式运算部21为了记录来自记录数据生成部20的 数据，根据来自记录时钟生成部41的记录时钟信号，对数据记录发光模式进行运算，并发 送给模式选择器25。 频率区域指定部43，将基于光量检测部2所能够检测出的光束脉冲的频带的频率 范围发送给分频设定部44。由于从光量检测部2的可检测频带求出频率范围，所以能够决 定可减少峰值功率的激光功率控制的精度变差的多脉冲频率。 分频设定部44根据倍速检测部40检测出的倍速，推定记录时钟信号的频率，并对 所推定的时钟频率落入来自频率区域指定部43的频率范围内的分频比进行运算，并发送 给分频部50。分频部50采用来自分频设定部44的分频比，对来自记录时钟生成部41的记 录时钟信号进行分频，并发送给测试模式运算部23。 测试数据生成部22生成测试记录的数据，并发送给测试模式运算部23。测试模式 运算部23根据来自记录时钟生成部41的记录时钟信号，对测试发光模式进行运算，并发送 给选择器25，以使基于测试数据的激光光源1能够发光。测试模式运算部23，当在测试发 光模式内输出多脉冲时，根据来自分频部50的分频时钟信号生成多脉冲。
模式选择器25，根据光盘格式，在数据区域中选择来自记录模式运算部21的数据 记录发光模式，并在测试区域中选择来自测试模式运算部23的测试发光模式，并发送给激 光驱动器13。激光驱动器13将来自电流运算部12的各电流加算到来自模式选择器25的 发光模式中，发送给激光光源1。激光光源1按照来自激光驱动器13的电流进行发光。
在图2中，针对来自抽样保持部10的各保持信号之中的去除多脉冲部分的3值信 号，分别由标记功率换算部62、空间功率换算部63及冷态功率换算部64，从信号电平换算 为光束发光功率电平。针对保持了多脉冲的平均值的信号，当多脉冲由峰值功率和空间功 率生成时，峰值运算部60根据保持了多脉冲的平均值的信号及相当于空间功率的信号，对 相当于多脉冲的峰值电平的信号进行运算，并发送给峰值功率换算部61。峰值功率换算部 61将来自峰值运算部60的信号从信号电平换算为光束发光功率电平。
在图3所示的电流运算部12中，从功率运算部11所运算的峰值功率检测值中减 去峰值目标生成部70生成的峰值功率目标值，并发送给峰值电流积分部74。峰值电流积 分部74对减算后的值进行积分，并发送给激光驱动器13。从功率运算部11输出的标记功 率检测值中减去标记目标生成部71生成的标记功率目标值，并发送给标记电流积分部75。 标记电流积分部75对减算后的值进行积分，并发送给激光驱动器13。从功率运算部11输 出的空间功率检测值中减去空间目标生成部72生成的空间功率目标值，并发送给空间电 流积分部76。空间电流积分部76对减算后的值进行积分，并发送给激光驱动器13。从功 率运算部11输出的冷态功率检测值中减去冷态目标生成部73生成的冷态功率目标值，并 发送给冷态电流积分部77。冷态电流积分部77对减算的值进行积分，并发送给激光驱动器 13。 由抽样保持部10分别检测出峰值功率、标记功率、空间功率及冷态功率，由功率 运算部11对功率电平(功率值)进行运算之后，由电流运算部12求出供给激光光源1的 电流，以形成各目标功率。 如图4(a)所示，当以ZCLV方式进行记录时，通过在光盘内周侧的倍速4x的区域 中选择分频比2，在光盘中周的倍速6x的区域中选择分频比3，在光盘外周侧的倍速8x的 区域中选择分频比4，来自各倍速中的分频部50的分频时钟频率始终成为恒定。由此，能够 保持多脉冲的平均值检测精度进行高倍速的记录。 如图4(b)所示，当以PCAV方式进行记录时，通过在光盘内周侧的倍速4x附近的 区域中选择分频比2，在光盘中周的倍速6x附近的区域中选择分频比3，在光盘外周侧的倍 速8x附近的区域中选择分频比4，能够縮小来自各倍速中的分频部50的分频时钟频率的变 化范围。如此，当记录时的线速度变化时，分频部50通过对分频比进行调整，以使分频时钟 信号的频率变化变小，从而能够使多脉冲的平均值检测精度的变差限制在最小限度内进行 高倍速的记录。 图5表示测试模式运算部23的工作的一个示例。从测试数据生成部22以冷态电 平、空间电平、标记电平、峰值电平的顺序进行发送。测试模式运行部23，对图5(a)所示的 来自记录时钟生成部41的记录时钟进行计数，按等间隔切换发光模式。测试模式运算部 23，如图5(c)所示，在峰值电平6p的部分，将峰值电平6p和空间电平6s进行组合来生成 多脉冲5。测试模式运算部23，当生成多脉冲5时，采用如图5(b)所示的来自分频部50的 分频时钟信号。 图6表示从4x到8x的各倍速中的测试发光模式。通过分频部50的分频比的切
换，如图6(a)、图6(c)及图6(e)所示，4x、6x及8x中的多脉冲频率为相同。此外，如图6 (b)
及图6(d)所示，在5x及7x中，与图15比较，能够减小多脉冲频率的变化范围。由此，能够
使多脉冲的平均值检测精度的变差限制在最小限度内进行高倍速的记录。 如此，通过由分频部50将来自记录时钟生成部41的记录时钟信号分频成测试区
域专用，从而能够降低测试区域中的激光光源1的多脉冲发光的频率的变化，并降低多脉
冲平均值的检领U精度变差，且能够降低峰值功率的激光功率控制精度的变差。 此外，在本实施方式1中，虽从地址检测出倍速，但也可以对光盘的磁道的晃动进
行检测，且倍速检测部40采用晃动频率来检测出线速度及倍速。或者对照射光束的光盘的
半径位置进行检测，倍速检测部40也可采用该检测出的半径位置来检测出线速度及倍速。
14半径位置，例如能够从光拾取的位置进行检测。 此外，在本实施方式1中，虽然根据倍速求出分频部50的分频，但也可从分频比输 入的频率求出分频比。或者，也可以从分频比输出的频率求出分频比。具体而言，对分频部 50的输入信号的频率进行测量，求出用于使分频部50的输出信号落入频率区域指定部43 决定的频率范围内的分频比，而后以顺向传递方式进行修正。或者，也可对分频部50的输 出信号自身的频率进行测量，并以落入频率区域指定部43决定的频率范围内的方式求出 分频比，而后以顺向传递方式进行修正。如此，分频部50可根据分频时钟信号来调整分频 比。 此外，也可以与数据记录时的发光模式中的多脉冲的有无无关地在测试发光时采 用多脉冲。 此外，在本实施方式1中，频率区域指定部43决定的频率范围，虽然由光量检测部 2的频率特性来决定，但也可以由多脉冲平均值检测误差特性来决定。由于激光发光部1或 激光驱动器13的频率特性，若成为高频率则多脉冲的波形会失真。在占空比50%的多脉冲 的情况下，虽要检测出峰值功率与底值功率的平均值，但由于所产生的失真，检测值会偏向 峰值功率一侧或底值功率一侧，形成检测误差。通过考虑到多脉冲发光时的平均功率与中 央功率的偏差的大小，来计算分频时钟信号的频率范围，并规定频率范围，能够防止这样的 检测误差。 此外，在本实施方式l中，设为以ZCLV方式或PCAV方式的工作，但也可以适用于 FULLCLV或FULLCAV等其它的工作方式。 此外，在本实施方式1中，为了检测峰值功率，对多脉冲的平均值进行了检测，但 也可以对多脉冲的峰值电平进行检波。 此外，在本实施方式1中，将测试发光的多脉冲设为将峰值功率和空间功率进行
组合后的多脉冲，但也可以通过峰值功率与空间功率的组合以外的组合形成多脉冲。 此外，在本实施方式1中，虽然针对基于倍速变化的来自记录时钟生成部41的记
录时钟信号的频率变化适用了本发明，但针对基于介质的种类差的记录时钟信号的频率变
化也可以适用本发明。(实施方式2) 针对本发明的实施方式2的光盘装置100的工作，参照图1、图7及图8进行说明。 图7是表示本实施方式的电流运算部12的详细块结构的一个示例的示意图。图8(a)是表 示相对于PCAV时的光盘101的半径位置的倍速的一个示例，图8 (b)、图8 (c)及图8 (d)表 示针对光盘IOI的半径位置，控制选择器80选择的控制的一个示例。对光盘101照射从光 盘装置100的激光光源1输出的光束，进行信息的记录再现。 在图7中，电流运算部12具有峰值目标生成部70、标记目标生成部71、空间目 标生成部72 、冷态目标生成部73 、峰值电流积分部74、标记电流积分部75 、空间电流积分部 76、冷态电流积分部77、比例保持部78、比例运算部79及控制选择器80。
在图1中，光量检测部2接收来自激光光源1的光束，将与光束的功率对应的信号 发送给抽样保持部10。抽样信号生成部14将用于获取光束的各功率的抽样时刻发送给抽 样保持部10。抽样保持部IO，根据来自抽样信号生成部14的抽样信号，对来自光量检测部 2的信号进行抽样，并将各保持信号发送给功率运算部11。功率运算部11根据来自抽样保持部10的各保持信号，对光束的各检测功率进行运算，并发送给电流运算部12。电流运算 部12根据功率运算部11所运算的光束的各检测功率，对供给激光光源1的各电流进行运 算，并发送给激光驱动器13。 地址检测部30检测出照射到光盘上的光束的点位置的地址信息，并发送给倍速 检测部40。倍速检测部40根据来自地址检测部30的地址信息，检测出是多少倍速，并发送 给记录时钟生成部41及分频设定部44。 记录时钟生成部41根据来自倍速检测部40的倍速信息，生成记录时钟信号，并发 送给分频部50、测试模式运算部23及记录模式运算部21。记录数据生成部20生成记录的 数据，并发送给记录模式运算部21。记录模式运算部21为了记录来自记录数据生成部20 的数据，根据来自记录时钟生成部41的记录时钟信号，对数据记录发光模式进行运算，并 发送给模式选择器25。 频率区域指定部43，将基于光量检测部2能检测出的光束的脉冲的频带的频率范 围发送给分频设定部44。分频设定部44根据倍速检测部40检测出的倍速来推定记录时钟 信号的频率，并对所推定的时钟的频率落入来自频率区域指定部43的频率范围内的分频 比进行运算，并发送给分频部50。分频部50采用来自分频设定部44的分频比，对来自记录 时钟生成部41的记录时钟信号进行分频，并发送给测试模式运算部23。
测试数据生成部22生成测试记录的数据，并发送给测试模式运算部23。测试模式 运算部23，以基于测试数据的激光光源1能够发光的方式，根据来自记录时钟生成部41的 记录时钟信号，对测试发光模式进行运算，并发送给模式选择器25。测试模式运算部23，当 在测试发光模式内输出多脉冲时，根据来自分频部50的分频时钟信号生成多脉冲。
模式选择器25，根据光盘格式，在数据区域中选择来自记录模式运算部21的数据 记录发光模式，并在测试区域中选择来自测试模式运算部23的测试发光模式发送给激光 驱动器13。激光驱动器13将来自电流运算部12的各电流加算到来自模式选择器25的发 光模式中，发送给激光光源1。激光光源1按照来自激光驱动器13的电流进行发光。
在图7所示的电流运算部12中，从功率运算部11所运算的峰值功率检测值中减 去峰值目标生成部70生成的峰值功率目标值，并发送给峰值电流积分部74。峰值电流积 分部74对减算后的值进行积分，并发送给控制选择器80及比例保持部78。从功率运算部 11输出的峰值功率检测值中减去标记目标生成部71生成的标记功率目标值，并发送给电 流积分部75。电流积分部75对减算后的值进行积分，并发送给比例保持部78、比例运算部 79及激光驱动器13。 从功率运算部11所输出的空间功率检测值中减去空间目标生成部72生成的空间 目标值，并发送给电流积分部76。电流积分部76对减算后的值进行积分，并发送给激光驱 动器13。从功率运算部11所输出的冷态功率检测值中减去冷态目标生成部73生成的冷态 功率目标值，并发送给冷态电流积分部77。冷态电流积分部77对减算后的值进行积分，并 发送给激光驱动器13。 比例保持部78，对来自峰值电流积分部74的积分值与来自标记电流积分的积分 值之比进行运算并保持，并发送给比例运算部79。比例运算部79对来自标记电流积分部75 的积分值乘以来自比例保持部78的比之后，将得到的比运算值发送给控制选择器80 。控制 选择器80选择来自峰值电流积分部74的积分值或来自比例运算部79的比运算值，发送给激光驱动器13。 图7所示的电流运算部12执行的激光功率控制方法有两种。在第一方法的反馈 控制方式(以下称为FB控制方式)下，峰值功率、标记功率、空间功率及冷态功率分别由抽 样保持部10检测，通过功率运算部11对功率值进行运算之后，由电流运算部12以形成各 目标功率的方式，求出供给光源1的电流。 在第二方法的前馈控制方式(以下称为FF控制方式)下，标记功率、空间功率、冷 态功率的激光功率控制虽然与FB控制方式相同，但针对峰值功率，不采用检测出的峰值功 率检测值，而采用以与标记电流之比成为恒定的方式来求出峰值电流的非检测方式。
在FB控制方式中，检测出的功率若能够信赖，则形成可靠的控制，但受到检测偏 差的影响，激光功率控制精度有容易变差的倾向。在FF控制方式中，虽然不取决于检测出 的功率的可靠性而稳定，但激光光源1的IL特性折曲等，比的精度与激光功率控制精度有 直接相关。 图8表示进行PCAV记录时的FF控制方式与FB控制方式的选择的方法。实施方式 1中所说明的通过分频部50的分频比能够在4x、6x及8x中使多脉冲频率恒定。如图8 (b) 所示，在上述倍速(4x、6x及8x)附近，选择FB控制方式，并在其以外的倍速中选择FF控制 方式。由此，能够抑制由于选择FB控制方式时的多脉冲频率而导致的激光功率控制精度变 差。此外，通过根据选择FB控制方式时的电流求出选择FF控制方式时所采用的比例保持 部78的比，能够抑制由于选择FF控制方式时的比精度变差而导致的激光功率控制精度变 差。 如此，通过由分频部50将来自记录时钟生成部41的记录时钟信号分频成测试区 域专用，能够降低测试区域中的激光光源1的多脉冲发光的频率的变化，并降低多脉冲平 均值的检测精度变差，能够降低峰值功率的激光功率控制精度的变差。在多脉冲平均值的 频率出现细微偏差的倍速中，不采用峰值功率检测值，而通过将峰值电流与标记电流之比 保持为恒定，能够进一步降低峰值功率的激光功率控制精度的变差。 此外，在本实施方式2中，虽然在光盘的规格中定义的线速度(倍速度4x、6x、8x) 附近，选择了FB控制方式，但也可以仅在光盘最内周部的倍速附近设为FB控制方式。或 者也可以仅在最内周部及最外周部的倍速附近设为FB控制方式。此外，电流运算部12，当 以CAV方式进行记录时，可以将光盘的最内周部的线速度作为基准线速度。由此，能够提高 CAV时的中间倍速的峰值功率的激光功率控制的精度。 此外，在本实施方式2中，在光盘的规格中定义的倍速附近选择了FB控制方式。所
谓附近，例如，是正负0. 5倍速或正负0. 1倍速等，但本发明不局限于此。 此外，与数据记录时的发光模式中的多脉冲的有无无关，可以在测试发光时采用
多脉冲。 此外，在本实施方式2中，频率区域指定部43指定的频率范围，虽然由光量检测部 2的频率特性来决定，但也可以由多脉冲平均值检测误差特性来决定。
此外，在本实施方式2中，虽然是ZCLV方式或PCAV方式的工作，但FULLCLV或 FULLLCAV等其它的工作方式也适用。 此外，在本实施方式2中，为了检测峰值功率，对多脉冲的平均功率进行了检测， 也可以对多脉冲的峰值电平进行检波。
此外，在本实施方式2中，将测试发光的多脉冲作为将峰值功率和空间功率进行 组合后的多脉冲，但也可以通过峰值功率与空间功率的组合以外的组合形成多脉冲。
此外，在本实施方式2中，虽然针对基于倍速变化的来自记录时钟生成部41的记 录时钟信号的频率变化适用了本发明，但针对基于介质的种类差的记录时钟信号的频率变 化也可以适用本发明。 此外，在本实施方式2中，虽然将FF控制方式中的峰值电流的运算源作为标记电
流，但也可以选择空间功率或冷态功率作为运算源。(实施方式3) 针对基于本发明的实施方式3的光盘装置200的结构及工作，参照图9、图10及图 ll进行说明。 图9是表示光盘装置200具备的结构要素的方框图。图10(a)是表示从记录时钟 生成部41输出的记录时钟信号的一个示例。图10(b)是表示从测试时钟生成部42输出的 测试时钟信号的一个示例。图10 (c)是表示从测试模式运算部24输出给模式选择器25的 测试发光模式信号的一个示例。图10(d)是表示从测试模式运算部24向抽样信号生成部 15输出的用于屏蔽的信号的一个示例。 图11(a)表示4x时从测试模式运算部24输出的测试发光模式信号的一个示例。 图11 (b)表示5x时从测试模式运算部24输出的测试发光模式信号的一个示例。图11 (c) 表示6x时从测试模式运算部24输出的测试发光模式信号的一个示例。图11(d)表示7x 时从测试模式运算部24输出的测试发光模式信号的一个示例。图ll(e)表示8x时从测试 模式运算部24输出的测试发光模式信号的一个示例。 代替图1所示的光盘装置100的频率区域指定部43、分频设定部44及分频部50， 光盘装置200具有测试时钟生成部42。此外，代替光盘装置100的测试模式运算部23及抽 样信号生成部14，光盘装置200具有测试模式运算部24及抽样信号生成部15。
测试时钟生成部42生成测试记录时的测试时钟信号。测试数据生成部22及测试 模式运算部24，作为根据测试时钟信号，计算用于控制从激光光源1输出的光束的功率的 测试记录用的测试发光模式的测试模式运算部来发挥功能。此外，测试模式运算部24输出 用于对抽样信号生成部15屏蔽的信号。 在图9中，光量检测部2接收来自激光光源1的光束，将与光束的功率对应的功率 检测信号发送给抽样保持部10。抽样信号生成部15将用于获取光束的各功率的抽样时刻 发送给抽样保持部10。抽样保持部IO根据来自抽样信号生成部15的抽样信号，对来自光 量检测部2的信号进行抽样，并将各保持信号发送给功率运算部11。功率运算部11根据来 自抽样保持部10的各保持信号，对光束的各检测功率进行运算，并发送给电流运算部12。 电流运算部12根据功率运算部11所运算的光束的各检测功率，对供给激光光源1的各电 流进行运算，并发送给激光驱动器13。 地址检测部30检测出照射到光盘上的光束的点位置的地址，并发送给倍速检测 部40。倍速检测部40根据来自地址检测部30的地址信息，检测出是多少倍速，并发送给记 录时钟生成部41。 记录时钟生成部41根据来自倍速检测部40的倍速信息，生成记录时钟信号，并发 送给测试模式运算部24及记录模式运算部21。记录数据生成部20生成记录的数据，并发送给记录模式运算部21。记录模式运算部21为了记录来自记录数据生成部20的数据，根 据来自记录时钟生成部41的记录时钟信号对数据记录发光模式进行运算，并发送给模式 选择器25。 测试时钟生成部42生成恒定频率的测试时钟信号，并发送给测试模式运算部24。 测试数据生成部22生成测试记录的数据，并发送给测试模式运算部24。测试模式运算部 24，以基于测试数据的激光光源1能够发光的方式，根据来自记录时钟生成部41的记录时 钟信号，对测试发光模式进行运算，并发送给模式选择器25。测试模式运算部24，当在测试 发光模式内输出多脉冲时，根据来自测试时钟生成部42的测试时钟信号生成多脉冲。
模式选择器25，根据光盘格式，在数据区域中选择来自记录模式运算部21的数据 记录发光模式，并在测试区域中选择来自测试模式运算部24的测试发光模式，发送给激光 驱动器13。激光驱动器13将来自电流运算部12的各电流加算到来自模式选择器25的发 光模式中，发送给激光光源1。激光光源1按照来自激光驱动器13的电流进行发光。
图10表示测试模式运算部24的工作的一个示例。从测试数据生成部22以冷态电 平、空间电平、标记电平、峰值电平的顺序进行发送。测试模式运算部24对图10(a)所示的 来自记录时钟生成部41的记录时钟进行计数，将四个发光模式以等间隔的方式进行切换。 测试模式运算部24，如图10(c)所示，在峰值电平的部分中，使峰值电平与空间电平进行组 合来生成多脉冲5。测试模式运算部24，当生成多脉冲时，采用来自图10(b)所示的测试时 钟生成部42的测试时钟信号。 而且，由于来自记录时钟生成部41的记录时钟信号与来自测试时钟生成部42的 测试时钟信号是非同期的，所以边沿位置不一致。因此，不能够保证所生成的多脉冲的H区 间与L区间相同。由此，多脉冲平均值的检测精度有变差的可能性。 为了不使多脉冲平均值的检测精度变差，需要使多脉冲的H区间与L区间相同。通 过以图10(d)所示的屏蔽信号7m对多脉冲进行屏蔽，能够使多脉冲的H区间与L区间相同 并抑制多脉冲平均值的检测精度的变差。测试模式运算部24，为了对测试发光模式中的多 脉冲部分5的始端5a及末端5b的至少一端进行屏蔽，将屏蔽信号7m输出给抽样信号生成 部15。抽样保持部10对抽样时刻进行屏蔽，以使在从测试模式运算部24得到的要屏蔽的 时刻不进行抽样。 由于使多脉冲进行发光的时间变短，所以采用图10(d)所示的屏蔽信号7m对用于 检测多脉冲平均值的抽样时刻进行屏蔽。通过对抽样时刻进行屏蔽，能够在对多脉冲不进 行发光的区间不进行抽样，来获取稳定的多脉冲平均值。 图11表示从4x到8x的各倍速的测试发光模式。若倍速提高，则来自记录时钟生 成部41的记录时钟信号的频率变高，但来自测试时钟生成部42的测试时钟信号，以与它无 关的恒定的恒定频率被生成。即，测试时钟生成部42不与记录时的线速度无关地生成恒定 频率的测试时钟信号。因此，如图6 (a)、图6 (b)、图6 (c)、图6 (d)及图6 (e)所示，所有倍速 的多脉冲频率相同。由此，能够高度保持多脉冲的平均值检测精度地进行高倍速的记录。
如此，与来自记录时钟生成部41的记录时钟信号不同地将测试时钟信号生成为 测试区域专用，并在用于测试发光的多脉冲中使用，从而能够抑制测试区域中的激光光源 1的多脉冲发光的频率的变化，并抑制多脉冲平均值的检测精度变差，能够抑制峰值功率的 激光功率控制精度的变差。
而且，虽然用于测试发光的多脉冲，在测试发光模式的最后进行了配置，但也可以 在测试发光模式的中央等处进行配置，以使难以影响数据记录。测试模式运算部，也可以设 定不将测试发光模式的始端部及终端部作为多脉冲的模式。由此，能够防止记录时钟信号 与测试时钟信号的切换时的边沿紊乱对多脉冲带来的影响。 此外，将测试发光中的多脉冲的比例设为恒定，但为了防止由于随着倍速提高使 多脉冲发光时间变短，而使检测精度变差，也可以使多脉冲的比例增加。 此外，也可以与数据记录时的发光模式中的多脉冲的有无无关地在测试发光时采 用多脉冲。 此外，虽然对ZCLV方式或者PCAV方式的工作进行了例示，但也可以适用于 FULLCLV或FULLCAV等其它的工作状态。 此外，为了检测峰值功率，对多脉冲的平均功率进行了检测，也可对多脉冲的峰值 电平进行检波。 此外，将测试发光的多脉冲作为使峰值功率和空间功率进行组合后的多脉冲，但 也可以通过峰值功率与空间功率的组合以外的组合形成多脉冲。 此外，虽然针对基于倍速变化的来自记录时钟生成部41的记录时钟信号的频率 变化适用了本发明，但针对基于介质的种类差的记录时钟信号的频率变化也可以适用本发 明。(产业上的利用可能性) 本发明，对于当在能够进行记录的光盘上进行记录或再现时，通过在测试区域中 进行包含多脉冲的测试发光来进行激光功率控制的技术领域特别有用。
20
权利要求
一种光盘装置，具有发光部，其输出照射到信息载体上的光束；电流调整部，其对所述光束的光量进行检测，调整供给所述发光部的电流；记录时钟生成部，其生成作为数据记录时的基准的记录时钟信号；分频部，其对所述记录时钟信号进行分频，生成分频时钟信号；记录模式运算部，其根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光模式；测试模式运算部，其根据所述分频时钟信号，设定用于对从所述发光部输出的所述光束的功率进行控制的测试记录用的测试发光模式；和电流输出部，其根据在所述数据记录发光模式及所述测试发光模式之中选择出的发光模式和所述电流调整部计算出的电流值，对所述发光部供给电流，所述分频部，当记录时的线速度变化时，以所述分频时钟信号的频率变化减小的方式调整分频比。
2. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于， 还具有对所述线速度进行检测的速度检测部， 所述分频部，根据所述检测出的线速度来调整所述分频比。
3. 根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，所述速度检测部，根据所述信息载体上的地址，对所述线速度进行检测。
4. 根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，所述速度检测部，根据所述信息载体上的磁道的晃动频率，对所述线速度进行检测。
5. 根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，所述速度检测部，根据照射了所述光束的所述信息载体的半径位置，对所述线速度进 行检测。
6. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于， 所述分频部，根据所述记录时钟信号来调整所述分频比。
7. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于， 所述分频部，根据所述分频时钟信号来调整所述分频比。
8. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于，所述分频部，当以CLV方式进行记录时，将所述分频时钟信号的频率设置为恒定。
9. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于，所述分频部，当以CAV方式进行记录时，通过根据照射了所述光束的所述信息载体的 半径位置来改变分频比，从而将所述分频时钟信号的频率设置在规定的频率范围内。
10. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于， 所述电流调整部，具有光量检测部，其对所述发光部所输出的所述光束的功率进行检测，来生成功率检测信号；抽样保持部，其通过在不同的时刻对所述功率检测信号进行抽样，来检测多个电平的 信号；功率运算部，其根据所述抽样保持部的输出信号，来计算所述光束的多个功率；禾口电流运算部，其根据所述计算出的多个功率，来计算供给所述发光部的所述电流， 所述电流运算部具有非检测方式，该非检测方式根据所述功率运算部计算出的最高的功率值以外的功率值，来计算与所述最高的功率值对应的电流，所述电流运算部，在基准线速度以外，采用所述非检测方式来计算与所述最高的功率值对应的电流。
11. 根据权利要求io所述的光盘装置，其特征在于，所述电流运算部具有检测方式，该检测方式采用所述功率运算部计算出的最高的检测 功率值，来计算与所述最高的功率对应的电流，所述电流运算部，在所述基准线速度下，采用所述检测方式来计算与所述最高的功率 值对应的电流。
12. 根据权利要求ll所述的光盘装置，其特征在于，所述电流运算部，将以所述信息载体的规格所定义的线速度作为基准线速度。
13. 根据权利要求ll所述的光盘装置，其特征在于，所述电流运算部，当以CAV方式进行记录时，将所述信息载体的最内周部中的线速度 作为基准线速度。
14. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于，所述分频部，根据多脉冲发光时的平均功率与中央功率的偏差的大小，来计算所述分 频时钟信号的频率范围。
15. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于，所述分频部，根据所述电流调整部能够检测的光束的脉冲的频带，来计算所述分频时 钟信号的频率范围。
16. —种光盘装置，具有 发光部，其输出照射到信息载体上的光束；电流调整部，其对所述光束的光量进行检测，调整供给所述发光部的电流； 记录时钟生成部，其生成作为数据记录时的基准的记录时钟信号； 测试时钟生成部，其生成测试记录时使用的测试时钟信号；记录模式运算部，其根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光模式；测试模式运算部，其根据所述测试时钟信号，设定用于对从所述发光部输出的所述光 束的功率进行控制的测试记录用的测试发光模式；电流输出部，其根据在所述数据记录发光模式及所述测试发光模式之中选择出的发光 模式和所述电流调整部计算出的电流值，对所述发光部供给电流，所述测试时钟生成部，与记录时的线速度无关地生成恒定频率的所述测试时钟信号。
17. 根据权利要求16所述的光盘装置，其特征在于，所述测试模式运算部，对所述测试发光模式中的多脉冲部分的始端及末端的至少一端 进行屏蔽。
18. 根据权利要求17所述的光盘装置，其特征在于，所述抽样保持部，以在所述测试模式运算部进行屏蔽的时刻不抽样的方式对抽样时刻 进行屏蔽。
19. 根据权利要求16所述的光盘装置，其特征在于，所述测试模式运算部，不将所述测试发光模式的始端及末端设为多脉冲。
20. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于，所述测试模式运算部，若所述线速度提高，则使所述测试发光模式内占有的多脉冲的 比例增加。
21. 根据权利要求16所述的光盘装置，其特征在于，所述测试模式运算部，若所述线速度提高，则使所述测试发光模式内占有的多脉冲的 比例增加。
22. 根据权利要求l所述的光盘装置，其特征在于， 所述测试模式运算部，即使在所述数据记录发光模式不包含多脉冲的情况下，所述测 试发光模式内也包含多脉冲。
23. 根据权利要求16所述的光盘装置，其特征在于，所述测试模式运算部，即使在所述数据记录发光模式不包含多脉冲的情况下，所述测 试发光模式内也包含多脉冲。
24. —种激光功率控制方法，包括记录时钟生成步骤，生成作为数据记录时的基准的记录时钟信号； 分频步骤，对所述记录时钟信号进行分频，生成分频时钟信号；记录模式运算步骤，根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光模式；测试模式运算步骤，根据所述分频时钟信号，设定用于对光束的功率进行控制的测试 记录用的测试发光模式；禾口电流输出步骤，根据在所述数据记录发光模式及所述测试发光模式之中选择出的发光 模式，对发光部供给电流，所述分频步骤，包括当记录时的线速度变化时以分频时钟信号的频率变化减小的方式 调整分频比的步骤。
25. —种激光功率控制方法，包括记录时钟生成步骤，生成作为数据记录时的基准的记录时钟信号； 测试时钟生成步骤，生成测试记录时采用的测试时钟信号；记录模式运算步骤，根据所述记录时钟信号，设定用于记录数据的数据记录发光模式；测试模式运算步骤，根据所述测试时钟信号，设定用于对光束的功率进行控制的测试 记录用的测试发光模式；禾口电流输出步骤，根据在所述数据记录发光模式及所述测试发光模式之中选择出的发光 模式，对发光部供给电流，所述测试时钟生成步骤，包括与记录时的线速度无关地生成恒定频率的所述测试时钟 信号的步骤。
全文摘要
本发明是提供一种发光装置及激光功率控制方法，该发光装置对记录时钟信号进行分频来生成分频时钟信号，并根据分频时钟信号，决定用于对从发光部输出的光束的功率进行控制的测试记录用的测试发光模式。当记录时的线速度变化时，以分频时钟信号的频率变化减小的方式调整分频比。在测试区域中，通过以多脉冲进行测试发光来进行激光功率控制，从而即使在高倍速下，也能够良好地保持多脉冲平均值的检测精度。
文档编号G11B7/125GK101779239SQ200980100150
公开日2010年7月14日 申请日期2009年4月21日 优先权日2008年4月23日
发明者藤畝健司 申请人:松下电器产业株式会社