专利名称：测量磁头噪声的方法及其系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种噪声测量方法及其系统，尤其涉及一种测量具有磁阻读元件的磁头的噪声的方法及其系统。
背景技术：
一种常见的信息存储设备是磁盘驱动系统，其使用磁性媒介来存储数据，并且用设置于该磁性媒介上方的磁头来选择性地从磁性媒介上读取数据或将数据写在磁性媒介上。通常，磁头由磁阻效应读元件(读头)和感应写元件(写头)组成，而有些还包括加热单元(加热器)。具有磁阻(magnetoresistiveJR)读元件的磁头广泛用于硬盘驱动设备以提高硬盘的容量且减小其尺寸。鉴于此，不同类型的MR读元件已接二连三被磁盘驱动器开发商有效投入使用。其中一种为各向异性磁阻(anisotropic magnetoresistive, AMR)，其会使磁化方向与流经MR元件的感应电流方向之间的夹角发生改变，继而使 MR元件的电阻和感应电流或电压发生相应的变化。另一种典型类型为巨磁阻(giant magnetoresistive, GMR)元件，其表现为GMR效应。GMR效应是一种磁阻率在外部磁场下发生变化的现象。GMR元件由两铁磁层和层压于该两铁磁层之间的非铁磁层组成。该非铁磁层的电阻会随两铁磁层的磁矩、载流电子及自旋相关散射而变化。再一种MR元件类型为隧道磁阻(tunnel magnetoresistive, TMR)元件。由于其磁阻率的变化比GMR显著得多，故此TMR元件能够取代AMR和GMR而成为当前的主流技术。在每一具有MR元件的磁头制造完成后的测试中，必须确认其性能是完好的且不会产生不被接受的噪声。然而，有很多机制导致MR读元件产生噪声，有些源于磁场，有些源于电流(压)。其中，巴克豪森噪声、随机电报噪声和爆米花噪声(爆裂噪声)与MR读元件的不稳定性密切相关，该类噪声会比其它固有噪声造成更严重的后果，因此，需要将不稳定性相关的噪声和其它固有噪声分别进行处理。在现有技术中，有很多不同方法和系统用于测量MR磁头的噪声。最为流行的一种方法是使用数字转换器将模拟信号转换为数字信号，而使用处理器将所有原始数字化信号作为整体来分析，从而判断磁头是否产生不被接受的噪声。该传统方法不能将不稳定性相关的噪声和其它固有噪声分别开来进行处理，因此不能精确地辨别出磁头的真正瑕疵。此外，由于磁头的噪声可能包括高频成分，为了捕捉此类噪声，所用数字转换器需具有足够高的采样频率。同时，高速数字转换器产生的大量数字化信号需要很长的时间进行转换和处理，因此，具有高处理性能和足够内存的硬件是实现较快计算的基本要求。上述这些都会增加测试成本，不利于生产成本的降低。因此，急需提供一种可分别处理不稳定性相关的噪声和其它固有噪声的方法及相应的系统，从而快速和精确地辨别磁头的真正瑕疵以取得较好的成本效率，克服上述缺陷
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种方法以测量具有磁阻(MR)读元件的磁头的噪声，该噪声测量方法可分别处理不稳定性相关的噪声和其它固有噪声以快速和精确地辨别磁头的真正瑕疵，而且该方法可简单地被执行以取得较好的成本效率。本发明的另一个目的在于提供一种系统以测量具有磁阻(MR)读元件的磁头的噪声。该噪声测量系统可分别处理不稳定性相关的噪声和其它固有噪声以快速和精确地辨别磁头的真正瑕疵，且该系统可通过低成本器件的使用而取得较好的成本效率。为了达到上述目的，本发明一方面提供了一种测量磁头噪声的方法，该方法包括 设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；施加外部时变横向磁场到所述磁头；放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数， 并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。为了达到上述目的，本发明另一方面提供了一种测量磁头噪声的方法，该方法包括设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；施加外部恒定横向磁场到所述磁头；放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。为了达到上述目的，本发明再一方面提供了一种测量磁头噪声的方法，该方法包括获取复数个第一参数；获取复数个第二参数；以及，通过分析所述第一参数和所述第二参数的关系与所述预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。其中，获取第一参数的方法包括设置复数个第一阈值；对所述磁头的读元件施加第一偏置电流或电压；对所述磁头施加外部恒定横向磁场；放大所述读元件的输出信号以产生第一放大信号；过滤所述第一放大信号以产生第一过滤信号；对于每一所述第一阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生第一使能信号，所述计数控制器的第一输入信号包括所述第一过滤信号和所述第一阈值； 测量每一所述第一使能信号的第一累计时长；根据所述第一累计时长和所述第一阈值生成第一幅值时间分布图；根据所述第一幅值时间分布图计算复数个第一参数。而获取第二参数的方法包括设置复数个第二阈值；对所述磁头的读元件施加第二偏置电流或电压；对所述磁头施加外部时变横向磁场；放大所述读元件的输出信号以产生第二放大信号；过滤所述第二放大信号以产生第二过滤信号；对于每一所述第二阈值，在预定时间窗口内通过所述计数控制器产生第二使能信号，所述计数控制器的第二输入信号包括所述第二过滤信号和所述第二阈值；测量每一所述第二使能信号的第二累计时长；根据所述第二累计时长和所述第二阈值生成第二幅值时间分布图；根据所述第二幅值时间分布图计算复数个第二参数。为了达到上述目的，本发明又一方面提供了一种测量磁头噪声的系统，该系统包括磁场发生器，用于施加外部横向磁场到所述磁头；读头控制单元，用于施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；放大单元，用于放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；
7滤波单元，用于过滤所述放大信号以产生过滤信号；阈值控制单元，用于设置复数个阈值； 计数控制单元，用于对应复数个所述阈值而产生复数个使能信号；时钟单元，用于设置时钟信号；计数单元，用于测量每一所述使能信号的累计时长；幅值时间分布处理模块，用于根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及处理器，用于根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。与现有技术相比，本发明通过设置复数个预定阈值来测量信号的累计时长从而实时地产生一个幅值时间分布图(柱状图)，对于每一阈值，测量被测信号超出阈值部分的累计时长。基于上述幅值时间分布图，磁头的不稳定性相关的噪声和其它固有噪声可被分别测量从而精确地辨别磁头的真正瑕疵。该测量过程可以由一些低成本的器件来实现而无需使用数字转换器，同时大大减少了需处理数据的数量和处理时间。相应地，所述噪声测量系统可使用低成本的器件以较短的测量时间来分别处理磁头的不稳定性相关的噪声和其它固有噪声以快速和精确地辨别磁头的真正瑕疵，从而获得较好的成本效率。通过以下的描述并结合附图，本发明的技术内容、构造特征、所达目的及效果将变得更加清晰，这些附图用于解释本发明的实施例。
图1为本发明系统一个较佳实施例的原理方框图。图2为本发明一个实施例中单通道计数控制单元的方框图。图3为本发明另一个实施例中多通道计数控制单元的方框图。图4为本发明另一个实施例中带包络检波器的多通道计数控制单元的方框图。图5为本发明另一实施例中由数字器件实现的多通道计数控制单元的方框图。图6为本发明方法一个实施例的流程图。图7展示了图6所示方法中与多周期磁场对应的多阈值扫描。图8展示了根据图6所示方法如何生成被测信号的幅值时间分布图。图9展示了根据图6所示方法所产生的两个幅值时间分布图。图10展示了图9所示每个幅值时间分布图被分成不同的两部分。图11为本发明另一方法的实施例的流程图。
具体实施例方式以下将结合附图描述本发明的各个较佳实施例，其中，各个附图中相同的标记表示相同的元件。如上所述，本发明提供了一种测量磁头噪声的方法及其系统，所述磁头包括磁阻 (MR)读元件、写元件及加热器。图1展示了本发明系统一个较佳实施例的原理方框图。参照图1，测量所述磁头 100噪声的系统包括磁场发生器、读头控制单元101、放大单元106、过滤单元107、计数控制单元108、计数单元109、阈值控制单元111、时钟单元110、幅值时间分布处理模块113及处理器115。本实施例中，所述磁场发生器包括作为磁场源的电磁铁104和控制所述磁性体 104的磁场控制单元105。所述电磁铁104用于对所述磁头100施加外部横向磁场，所述外部横向磁场包括外部时变横向磁场和外部恒定横向磁场。在另一个较佳实施例中，所述磁场源为基于永磁体的磁场源。读头控制单元101用于施加偏置电流或电压到所述磁头100 的读元件。较佳地，本发明系统还包括写头控制单元102和加热器控制单元103，其分别用于施加电流或电压到所述磁头100的写元件和加热器，从而激发读元件处于应力状态以便更加有效地触发与磁头缺陷有关的噪声。所述读头控制单元101、写头控制单元102及加热器控制单元103均受控于一磁头控制单元112。放大单元106对所述读元件的输出信号进行放大以产生放大信号，该放大信号被传送至过滤单元107。所述过滤单元107接收该放大信号并过滤掉包括磁场频率在内的所有要求频率带宽之外的频率成分而产生一过滤信号。计数控制单元108用于对应于阈值控制单元111产生的复数个阈值而生成复数个使能信号。 计数单元109通过计算时钟单元110产生的时钟信号的周期数来测量每一使能信号的累计时长。基于所述累计时长和所述阈值，所述幅值时间分布处理模块113生成幅值时间分布图。在本实施例中，所述幅值时间分布处理模块113由可编程逻辑单元114实现，因此，该幅值时间分布图被实时生成从而避免大量数据转换和处理。较佳地，所述时钟单元110、阈值控制单元111、磁头控制单元112均为所述可编程逻辑单元114中的模块，也即，上述单元均由所述可编程逻辑单元114实现。较佳地，所述可编程逻辑单元114为受控于所述处理器115的可编程逻辑器件或嵌入式微处理器。所述处理器115处理来自所述可编程逻辑单元114的数据并控制所述磁场控制单元105。此外，所述处理器115根据所述幅值时间分布图计算复数个参数并通过分析所述参数与复数个预定标准的关系而确定所述磁头100 的瑕疵。参照图2，在一个实施例中，所述计数控制单元108包括一个D/A转换器及一对一起工作的模拟比较器，所述D/A转换器根据确定的阈值生成各个模拟信号，所述模拟比较器连续地比较所述过滤信号的幅值与所述模拟信号以产生使能信号。参照图3，在另一实施例中，计数控制单元208为多通道单元，该多通道单元包括一个D/A转换器及多对模拟比较器，所述D/A转换器根据确定的阈值生成各个模拟信号，多对所述模拟比较器同时比较所述过滤信号的幅值与所述模拟信号以减少处理时间。相应地，在不同对比较器不断生成使能信号的过程中，多个计数单元同时计算和存储时钟单元 110所产生的时钟信号的周期。如图4所示，在另一个实施例中，计数控制单元308还包括一个模拟包络检波器以获取过滤信号的包络。参照图5，在又一实施例中，计数控制单元408包括A/D转换器、数字阈值分配器及多个数字比较器。所述A/D转换器将过滤信号转变为数字信号，所述数字阈值分配器用于调配所述阈值，多个所述数字比较器同时比较经所述A/D转换器转变而来的数字信号与所述阈值以产生使能信号。较佳地，所述计数控制单元408还包括设置于所述A/D转换器与数字比较器之间的数字包络检波器，所述数字包络检波器获取来自所述A/D转换器的数字信号的包络而后将其发送至所述数字比较器。在另一实施例中，所述数字包络检波器和所述数字比较器是所述可编程逻辑单元114中的模块。如上所述，在本发明的系统通过比较器、D/A转换器(或A/D转换器)、计数单元和时钟单元的组合来实现时间测量，从而取得较好的性能和较高的灵活性。此外，本发明系统利用带有幅值时间分布处理模块的可编程逻辑单元实时地产生柱状图以减少数据处理时间从而降低成本。
本发明还提供一种方法以测量置于外部时变横向磁场中的磁头的噪声。本实施例中，该方法由图1所示的系统来执行。参照图6和图1，本发明的方法包括以下几个步骤步骤SlOl为设置复数个阈值。步骤S102为施加偏置电流或电压到所述磁头100 的读元件。具体地，该偏置电流或电压由受控于磁头控制单元112的读头控制单元101提供。步骤S103为施加外部时变横向磁场到所述磁头100。较佳地，该外部时变横向磁场以单周期或多周期的周期性波形变化。在本实施例中，该时变横向磁场以多周期形式变化，阈值随着该时变横向磁场进行扫描，如图7所示。步骤S104为放大所述读元件的输出信号而产生放大信号且过滤所述放大信号以产生过滤信号。步骤S105为对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值。步骤S106为测量每一所述使能信号的累计时长。较佳地，通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述使能信号的累计时长。在一个实施例中，步骤S105由模拟器件来执行，所述计数控制器为图2、图3 或图4所示的模拟器件。在另一实施例中，如图5所示，所述计数控制器由数字器件执行。 参照图8，在上述两个步骤中，每一阈值与过滤信号的幅值或过滤信号的包络幅值比较以产生使能信号，进而所述使能信号的累计时长被测量出来。换言之，对于每一阈值，通过计算时钟信号的周期数来测量被测信号超出所述阈值部分的累计时长。此后，执行步骤S107，根据上述累计时长和阈值生成幅值时间分布图。最后一个步骤S108为根据已生成的幅值时间分布图计算复数个参数并分析所述参数与预定标准的关系以确定磁头100的瑕疵。较佳地，所述参数包括复数个整个所述幅值时间分布图的特征值或部分所述幅值时间分布图的特征值，如图9和图10所示。图9展示了可编程逻辑单元114根据本发明的方法而生成的两个幅值时间分布图。图10展示了图9所示的每个幅值时间分布图被分成两个不同部分，例如参考范围内的参考部分和极值范围内的极限部分，以实现更为精确的瑕疵辨别。具体地，所述特征值至少包括峰值、归一化能量、平均值、均方根和信噪比。在另一个实施例中，所述参数包括整个所述幅值时间分布图的特征值与部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。在又一实施例中，所述参数包括一部分所述幅值时间分布图的特征值与另一部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。在上述两实施例中，所述特征值至少包括归一化能量和平均值。如上所述，本发明通过设置复数个预定阈值来测量信号的累计时长以实时地生成幅值时间分布图(柱状图)。具体地，对于每一阈值，测量被测信号超出所述阈值部分的累计时长。因此，基于上述幅值时间分布图，磁头的不稳定性相关的噪声和其它固有噪声可分别被测量出来以便精确地辨别磁头的真正瑕疵。本发明的一个实施例提供了另一种方法，该方法用于测量置于外部恒定横向磁场的磁头的噪声。参照图11，该方法与图6所示的方法相类似，其包括以下几个步骤步骤S201为设置复数个阈值。步骤S202为施加偏置电流或电压到所述磁头100 的读元件。步骤S203为施加外部恒定横向磁场到所述磁头100。较佳地，该外部恒定横向磁场的磁场强度为零。步骤S204为放大所述读元件的输出信号而产生放大信号且过滤所述放大信号以产生过滤信号。步骤S205为对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值。步骤S206为测量每一所述使能信号的累计时长。较佳地，通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述使能信号的累计时长。此后，执行步骤S207，根据上述累计时长和阈值生成幅值时间分布图。在一个实施例中，步骤S205由模拟器件来执行，所述计数控制器为图2、图3或图4所示的模拟器件。在另一实施例中，如图5所示，所述计数控制器由数字器件执行。最后一个步骤S208为根据已生成的幅值时间分布图计算复数个参数并分析所述参数与预定标准的关系以确定磁头100的瑕疵。较佳地，所述参数包括复数个整个所述幅值时间分布图的特征值或部分所述幅值时间分布图的特征值。具体地，所述特征值至少包括峰值、归一化能量、平均值、均方根和信噪比。在另一个实施例中，所述参数包括整个所述幅值时间分布图的特征值与部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。在又一实施例中，所述参数包括一部分所述幅值时间分布图的特征值与另一部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。在上述两实施例中，所述特征值至少包括归一化能量和平均值。本发明的再一实施例提供了又一测量磁头噪声的方法。该方法结合了上述的两种方法。因此，通过该方法，与磁场有关的噪声和与电流(压)有关的噪声可分别被测量出来， 从而可更精确地辨别出被测磁头的真正瑕疵。该方法包括执行步骤SlOl至S107以获取复数个第一参数；执行步骤S201至S207以获取复数个第二参数；分析第一参数与第二参数之间的关系与预定标准以确定所述磁头100的瑕疵。需要说明的是，计数单元109、阈值控制单元111、时钟单元110及磁头控制单元 112也可用分离器件来实现。同样需要说明的是，步骤SlOl至S103的顺序以及步骤S201 至S203的顺序可根据实际需要而变更。以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。
1权利要求
1.一种测量磁头噪声的方法，其特征在于，包括 设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件； 施加外部时变横向磁场到所述磁头； 放大所述读元件的输出信号以产生放大信号； 过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值； 测量每一所述使能信号的累计时长； 根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述外部时变横向磁场以周期性波形变化。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于所述外部时变磁场以单周期或多周期形式变化。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述计数控制器通过比较所述阈值与所述放大信号的幅值或所述放大信号的包络幅值而产生所述使能信号。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述计数控制器为模拟器件或数字器件。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述使能信号的累计时长。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述参数包括复数个整个所述幅值时间分布图的特征值或部分所述幅值时间分布图的特征值。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于所述特征值至少包括峰值、归一化能量、平均值、均方根和信噪比。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述参数包括整个所述幅值时间分布图的特征值与部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。
10.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述参数包括一部分所述幅值时间分布图的特征值与另一部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。
11.如权利要求9或10所述的方法，其特征在于所述特征值至少包括归一化能量和平均值。
12.一种测量磁头噪声的方法，其特征在于，包括 设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件； 施加外部恒定横向磁场到所述磁头； 放大所述读元件的输出信号以产生放大信号； 过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值； 测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。
13.如权利要求12所述的方法，其特征在于所述外部恒定横向磁场的磁场强度为零。
14.如权利要求12所述的方法，其特征在于所述计数控制器通过比较所述阈值与所述放大信号的幅值或所述放大信号的包络幅值而产生所述使能信号。
15.如权利要求12所述的方法，其特征在于所述计数控制器为模拟器件或数字器件。
16.如权利要求12所述的方法，其特征在于通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述使能信号的累计时长。
17.如权利要求12所述的方法，其特征在于所述参数包括复数个整个所述幅值时间分布图的特征值或部分所述幅值时间分布图的特征值。
18.如权利要求17所述的方法，其特征在于所述特征值至少包括峰值、归一化能量、 平均值、均方根和信噪比。
19.如权利要求12所述的方法，其特征在于所述参数包括整个所述幅值时间分布图的特征值与部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。
20.如权利要求12所述的方法，其特征在于所述参数包括一部分所述幅值时间分布图的特征值与另一部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。
21.如权利要求19或20所述的方法，其特征在于所述特征值至少包括归一化能量和平均值。
22.一种测量磁头噪声的方法，其特征在于，包括 通过以下第一方法获取复数个第一参数 设置复数个第一阈值；对所述磁头的读元件施加第一偏置电流或电压； 对所述磁头施加外部恒定横向磁场； 放大所述读元件的输出信号以产生第一放大信号； 过滤所述第一放大信号以产生第一过滤信号；对于每一所述第一阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生第一使能信号，所述计数控制器的第一输入信号包括所述第一过滤信号和所述第一阈值； 测量每一所述第一使能信号的第一累计时长； 根据所述第一累计时长和所述第一阈值生成第一幅值时间分布图； 根据所述第一幅值时间分布图计算复数个第一参数； 通过以下第二方法获取复数个第二参数 设置复数个第二阈值；对所述磁头的读元件施加第二偏置电流或电压； 对所述磁头施加外部时变横向磁场； 放大所述读元件的输出信号以产生第二放大信号； 过滤所述第二放大信号以产生第二过滤信号；对于每一所述第二阈值，在预定时间窗口内通过所述计数控制器产生第二使能信号， 所述计数控制器的第二输入信号包括所述第二过滤信号和所述第二阈值；测量每一所述第二使能信号的第二累计时长； 根据所述第二累计时长和所述第二阈值生成第二幅值时间分布图； 根据所述第二幅值时间分布图计算复数个第二参数；及通过分析所述第一参数和所述第二参数的关系与所述预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。
23.如权利要求22所述的方法，其特征在于所述外部恒定横向磁场的磁场强度为零。
24.如权利要求22所述的方法，其特征在于所述外部时变横向磁场以周期性波形变化。
25.如权利要求M所述的方法，其特征在于所述外部时变磁场以单周期或多周期形式变化。
26.如权利要求22所述的方法，其特征在于所述计数控制器通过比较所述第一阈值与所述第一放大信号的幅值或所述第一放大信号的包络幅值而产生所述第一使能信号且通过比较所述第二阈值与所述第二放大信号的幅值或所述第二放大信号的包络幅值而产生所述第二使能信号。
27.如权利要求22所述的方法，其特征在于所述计数控制器为模拟器件或数字器件。
28.如权利要求22所述的方法，其特征在于通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述第一使能信号的第一累计时长。
29.如权利要求22所述的方法，其特征在于通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述第二使能信号的第二累计时长。
30.如权利要求22所述的方法，其特征在于所述第一参数包括复数个整个所述第一幅值时间分布图的特征值或部分所述第一幅值时间分布图的特征值。
31.如权利要求22所述的方法，其特征在于所述第二参数包括复数个整个所述第二幅值时间分布图的特征值或部分所述第二幅值时间分布图的特征值。
32.如权利要求30或31所述的方法，其特征在于所述特征值至少包括峰值、归一化能量、平均值、均方根和信噪比。
33.一种测量磁头噪声的系统，其特征在于，包括 磁场发生器，用于施加外部横向磁场到所述磁头；读头控制单元，用于施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件； 放大单元，用于放大所述读元件的输出信号以产生放大信号； 滤波单元，用于过滤所述放大信号以产生过滤信号； 阈值控制单元，用于设置复数个阈值；计数控制单元，用于对应复数个所述阈值而产生复数个使能信号； 时钟单元，用于设置时钟信号； 计数单元，用于测量每一所述使能信号的累计时长；幅值时间分布处理模块，用于根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及处理器，用于根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。
34.如权利要求33所述的系统，其特征在于所述幅值时间分布处理模块由受控于所述处理器的可编程逻辑单元实现。
35.如权利要求34所述的系统，其特征在于所述计数控制单元包括用于将所述过滤信号转变为数字信号的A/D转换器、用于传送所述阈值的数字阈值分配器及至少一个用于比较所述数字信号与所述阈值以产生所述使能信号的数字比较器。
36.如权利要求35所述的系统，其特征在于所述计数控制单元还包括用于获取所述数字信号的包络的数字包络检波器。
37.如权利要求36所述的系统，其特征在于所述数字包络检波器和所述数字比较器为所述可编程逻辑单元中的模块。
38.如权利要求33所述的系统，其特征在于所述计数控制单元包括用于将所述阈值转变为模拟信号的D/A转换器及至少一个用于比较所述过滤信号的幅值与所述模拟信号以产生所述使能信号的模拟比较器。
39.如权利要求38所述的系统，其特征在于所述计数控制单元还包括用于获取所述过滤信号的包络的模拟包络检波器。
40.如权利要求33所述的系统，其特征在于所述计数单元通过计算所述时钟信号的周期数来测量每一所述使能信号的累计时长。
41.如权利要求34所述的系统，其特征在于所述时钟单元和所述计数单元为所述可编程逻辑单元中的模块。
42.如权利要求34所述的系统，其特征在于还包括用于控制所述磁头的写头的写头控制单元及用于控制所述磁头的加热器的加热器控制单元。
43.如权利要求42所述的系统，其特征在于所述可编程逻辑单元还包括磁头控制单元以控制所述读头控制单元、写头控制单元及加热器控制单元。
44.如权利要求34所述的系统，其特征在于所述阈值控制单元为所述可编程逻辑单元中的模块。
45.如权利要求34所述的系统，其特征在于所述可编程逻辑单元为可编程逻辑器件或嵌入式微处理器。
46.如权利要求33所述的系统，其特征在于所述磁场发生器包括受控于所述处理器的磁场控制单元及受控于所述磁场控制单元的磁场源。
47.如权利要求46所述的系统，其特征在于所述磁场源为基于电磁铁的磁场源或基于永磁体的磁场源。
全文摘要
本发明公开了一种测量磁头噪声的方法，该方法包括设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；施加外部时变横向磁场到所述磁头；放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。根据本发明的方法，与磁头不稳定性有关的噪声和其它固有噪声能够被分别测量和处理，从而精确地辨别磁头的真正瑕疵。相应地，本发明还揭露了测量磁头噪声的系统。
文档编号G11B5/455GK102347031SQ20101024021
公开日2012年2月8日 申请日期2010年7月23日 优先权日2010年7月23日
发明者郑子乐, 陈华俊, 陈胜强 申请人:新科实业有限公司