光记录介质系列的制作方法

专利名称：光记录介质系列的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种备有多种光记录介质的光记录介质系列，这些光记录介质具有多层记录再现层。
背景技术：
在现有技术中，为了视听数字动画内容或记录数字数据，广泛利用着CD-DA、 CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-R、DVD+/-RW、DVD-RAM、Blu-ray Disc(BD)等光记录介质。其中，就所谓下一代DVD标准之一的BD而言，将用于记录再现的激光的波长缩短至 405nm,将物镜的数值孔径设定为0. 85。就符合BD标准的光记录介质而言，以0. 32 μ m的间距形成轨道。这样，通过光记录介质上的1层记录再现层，能够实现25GB以上的记录再现。然而，预计今后动画或数据的容量会日益增大。因此，正研究着如下方法使光记录介质采用多层的记录再现层，从而使光记录介质的容量增大。关于BD标准的光记录介质，也已提出了如下技术设置6层 8层的记录再现层，以此实现都达到200GB的超大容量(参照非专利文献1、2)。另一方面，就光记录介质采用多层记录再现层而言，在各记录再现层上形成有凹槽(groove)/平台(land)等循轨控制(tracking control)用凹凸，所以每设置各层都必须使用用于形成该凹凸的作为母版的压模。因此，其层数越多则该压模的使用次数越多，所以可能会使制造成本增大。于是，近年来提出了如下技术在光记录介质上分别独立地设置伺服层和记录再现层，一边利用伺服专用激光从伺服层获取循轨信号，一边利用记录用激光在记录再现层上记录信息(参照专利文献1、2)。若采用这个技术，则各记录再现层不再需要用于赋予循轨信息的凹凸(沟槽)，所以在制造时也无需使用记录再现层用压模，从而能够大幅度地降低成本。现有技术文献专利文献专利文献1 JP特开2002-63738号公报专利文献2 JP特开2009-104717号公报非专利文献非专利文献1 I. Ichimura et. al.，Appl. Opt，45，1974-1803 (2006)非专利文献2 :Κ· Mishima et. al,, Proc. of SPIE,6282,628201 (2006)发明要解决的课题在专利文献1、2所记载的光记录介质中，有必要根据所需的记录容量来改变记录再现层的层叠数目。然而，若生产出记录再现层的层叠数目不同的各种各样的光记录介质， 则在用于信息的记录再现的光读写头侧难以判断记录再现层或伺服层光到底位于记录介质的厚度方向上的哪一处。具体地说，在专利文献1、2所记载的光记录介质中，若记录再现层的层叠数目不同，则伺服层的位置会根据间隔层等的厚度而变化。因此，每当安放光记录介质时，都需要使记录用激光的焦点向聚焦方向(focus direction)移动来读取各记录再现层或伺服层的位置，所以存在记录再现的准备动作所需的时间长的问题。

发明内容
本发明是鉴于上述问题而提出的，其目的在于提供一种光记录介质系列，该光记录介质系列通过导入多个光记录介质之间统一的概念，使光读写头侧的负担变轻。用于解决课题的手段本发明的发明者们通过专心研究，利用如下手段来实现了上述目的。用于实现上述目的的本发明是一种光记录介质系列，备有多个光记录介质，该光记录介质包括不具有循轨控制用凹凸的平面结构的多层记录再现层、形成有循轨控制用凹凸的伺服层，能够在利用上述伺服层来进行循轨控制的同时，在上述记录再现层上记录信息，其特征在于，多个上述光记录介质中的至少一个上述光记录介质具有多层上述记录再现层，上述记录再现层的层叠数目在多个上述光记录介质之间互不相同，相对于光入射面的上述伺服层的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等，至少一层上述记录再现层相对于上述光入射面的位置，分别在多个上述光记录介质之间彼此相等。用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的上述记录再现层至少为2层。用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，在相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的多个上述记录再现层之间，不存在相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此不相等的其他记录再现层。用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的上述记录再现层，包括离上述光入射面最远的上述记录再现层。用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的上述记录再现层，包括离上述离光入射面最近的上述记录再现层。用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，就在多个上述光记录介质中任意选择的两个上述光记录介质而言，上述记录再现层的数目少的该光记录介质上的所有上述记录再现层相对于上述光入射面的各位置，分别与上述记录再现层的数目多的该光记录介质上的上述记录再现层的位置相等。用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，就多个上述光记录介质中的各光记录介质上的多个上述记录再现层的层间距离而言，交替地设定有第一距离和与该第一距离不同的第二距离。用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，上述伺服层上的上述循轨控制用凹凸的轨道间距设定为想要记录在上述记录再现层上的记录标记的轨道间距的2倍。发明效果根据本发明，则通过导入多个光记录介质之间统一的概念，能够得到在光读写头侧能可靠地实现记录再现的光记录介质系列。


图1是示出了对第一实施方式的光记录介质系列进行记录再现的光读写头的结构的框图。图2是示出了属于第一实施方式的光记录介质系列的光记录介质的叠层结构的剖视图。图3是放大示出了属于第一实施方式的光记录介质系列的光记录介质的叠层结构的剖视图。图4是放大示出了第一实施方式的光记录介质系列的表示其他结构例的光记录介质的叠层结构的剖视图。图5是放大示出了属于第二实施方式的光记录介质系列的光记录介质的叠层结构的剖视图。图6是放大示出了属于第三实施方式的光记录介质系列的光记录介质的叠层结构的剖视图。图7是放大示出了第三实施方式的光记录介质系列的表示其他结构例的光记录介质的叠层结构的剖视图。
具体实施例方式下面，参照附图，对本发明的实施方式进行说明。图1示出了属于第一实施方式的光记录介质系列的第一光记录介质10、用于对该第一光记录介质10进行记录再现的光读写头90的结构。光读写头90具有第一光学系统 100和第二光学系统200。第一光学系统100是对第一光记录介质10的记录再现层组14 进行记录再现的光学系统。第二光学系统200是指，在利用第一光学系统100对记录再现层组14记录信息时，利用后述的伺服层18来进行循轨控制的光学系统。从第一光学系统100的光源101出射且具有相对短的蓝色波长380 450nm(在此为405nm)的发散光束170，透过具有球面像差修正单元193的准直透镜153，并透过第二光学系统200的波长选择滤光片260后入射至偏振分束器152。入射至偏振分束器152的光束170透过偏振分束器152，进而透过1/4波片IM而变换为圆偏振光，然后被物镜156 变换为会聚光束。该光束170会聚于在第一光记录介质10的内部所形成的多层记录再现层组14中任一层记录再现层上。物镜156的口径受到光阑155的限制，其数值孔径NA为0. 70 0. 90 (在此为 0. 85)。例如，被记录再现层组14反射的光束170透过物镜156、1/4波片154，变换为与往路相差90度的直线偏振光，然后被偏振分束器152反射。此外，该偏振分束器152具有波长选择特性，反射来自第一光学系统100的光源101的光束170，而始终使后述的第二光学系统200的具有相对长的红色波长的光束270透过。被偏振分束器152反射的光束170透过聚光透镜159而变换为会聚光，并经由柱面透镜157入射至光检测器132。光束170在透过柱面透镜157时被赋予像散 (astigmatism)。
光检测器132具有未图示的4个受光部，各受光部分别输出与接收到的光量相对应的电流信号。利用这些电流信号来能够生成如下信号，即，借助像散法来测得的聚焦误差 (下面，称之为“FE”)信号、借助只限于再现时的推挽方式(push-pull method)来测得的循轨误差(下面，称之为“TE”)信号、在第一光记录介质10上记录的信息的再现信号等。将FE 信号及TE信号放大至所期望的电平以及接受相位补偿，然后反馈至致动器(actuator) 191 及192来执行聚焦控制及循轨控制。此外，只在再现时利用借助第一光学系统100的循轨控制。第二光学系统200的光源201出射的波长为630 680nm(在此为650nm)的发散光束270，透过具有球面像差修正单元293的准直透镜253，并入射至偏振分束器252。入射至偏振分束器252的光束270透过偏振分束器252，进而透过第二光学系统用的1/4波片 254而变换为圆偏振光，然后被波长选择滤光片260反射，并透过与第一光学系统100共享的偏振分束器152。该光束270进而被物镜156变换为会聚光束，会聚于在第一光记录介质 10的内部形成的伺服层18上。被伺服层18反射的光束270透过物镜156及偏振分束器 152后被第二光学系统200的波长选择滤光片260反射，并在1/4波片2M变换为与往路相差90度的直线偏振光，然后被偏振分束器252反射。被偏振分束器252反射的光束270透过聚光透镜259而变换为会聚光，并经由柱面透镜257入射至光检测器232。光束270在透过柱面透镜257时被赋予像散。光检测器232具有未图示的4个受光部，各受光部分别输出与接收到的光量相对应的电流信号。利用这些电流信号来能够生成如下信号，即，借助像散法来测得的聚焦误差 (FE)信号、借助推挽方式来测得的循轨误差(TE)信号。此外，在伺服层18上也记录有信息的情况下，也能够生成再现信号。在利用第一光学系统100对记录再现层组14记录信息时，将第二光学系统200的 TE信号放大至所期望的电平以及进行相位补偿，然后反馈至致动器191及192来进行循轨控制。其结果，基于第二光学系统200的循轨控制，第一光学系统100对记录再现层组14记录信息。此外，在本第一实施方式中，当对已记录在记录再现层组14中的信息进行再现时， 第一光学系统100利用记录再现层组14上的记录标记来独自进行循轨控制。另一方面，当然也可以利用该第二光学系统200的循轨控制来进行再现。图2放大示出了属于本第一实施方式的光记录介质系列的第一 第三光记录介质10、20、30的剖面结构。此外，在本实施方式中，详细说明第一光记录介质10，而对于第二、第三光记录介质20、30，只重点说明其与第一光记录介质10的不同点。此外，针对在第一 第三光记录介质10、20、30之间彼此相关的部件，使附图标记的最后一行彼此相同。第一光记录介质10采用外径约为120mm且厚度约为1. 2mm的圆盘形状。该光记录介质10从光入射面IOA侧起依次具有覆盖层11、记录再现层组14及中间层组16、间隔层17、伺服层18、支撑基板12。在本实施方式中，记录再现层组14具有第一 第六记录再现层14A 14F，分别采用能够记录信息的结构。该第一 第六记录再现层14A 14F采用不具有循轨控制用凹凸的平面结构，若从第一光学系统100向该平面结构照射高能量的记录用光束170，则在该平面结构上形成记录标记。此外，该记录再现层组14的种类，有虽能够追加记录信息但无法擦写的写一次型记录再现层和能够擦写信息的可擦写型记录再现层。
支撑基板12是厚度为1. Omm且直径为120mm的圆盘形状的基板，用于确保光记录介质应具备的厚度(约1. 2mm)，在该支撑基板12的光入射面IOA—侧的面上形成有伺服层 18。具体地说，在支撑基板12的光入射面IOA —侧，从其中心部附近向外缘部以螺旋状形成有凹槽及平台。该凹槽及平台成为循轨控制用凹凸(沟槽)，用于引导第二光学系统200 的光束270。此外，支撑基板12可以采用各种各样的材料，例如，可以采用玻璃、陶瓷、树脂。从成型容易的观点来看，在这些材料中应优先采用树脂。树脂可以采用聚碳酸酯树脂、烯烃树脂、丙烯酸树脂、环氧树脂、聚苯乙烯树脂、聚乙烯树脂、聚丙烯树脂、硅树脂、氟类树脂、ABS 树脂、聚氨酯树脂等。从可加工性等观点来看，在这些树脂中，应更优先采用聚碳酸酯树脂或烯烃树脂。此外，支撑基板12不会成为光束270的光路，所以该支撑基板12没有必要具有高的透光特性。通过在支撑基板12的表面上形成循轨控制用凹凸(凹槽及平台)和具有反射特性的层，来在支撑基板12上形成伺服层18。就该伺服层18而言，只要形成Ag等金属层来使该金属层发挥光反射膜的功能即可。另外，根据需要，也可以设置能够实现记录且具有反射特性的记录层。在本实施方式中，将伺服层18上的循轨控制用凹凸的轨道间距P，设定为想要记录在记录再现层14A 14F上的记录标记的轨道间距的2倍。具体地说，为了确保与BD标准的兼容性，将想要记录在记录再现层14A 14F上的轨道间距设定为0. 32 μ m左右，所以将伺服层18的凹槽/平台的轨道间距P设定为0. 64 μ m左右。若采用0. 64 μ m左右的轨道间距P，则即使利用相对长的红色波长区域的光束270，也足够能够实现循轨。尤其是在本实施方式中，利用凹槽和平台这两者来进行循轨，其结果，虽凹凸的间距为0.64μπι左右，但能够将记录在记录再现层14Α 14F上的记录标记的轨道间距设定为该凹凸的间距的一半的值即0. 32 μ m左右。因此，即使不缩小伺服层18的轨道间距，也能够使记录再现层组14的记录标记的轨道间距变为一半，所以能够使记录容量增大。间隔层17由具有透光特性的丙烯酸类紫外线固化树脂构成，在本实施方式中，将其膜厚设定为90 μ m。在间隔层17的光入射面IOA —侧所层叠的第一 第六记录再现层14A 14F，分别采用在写一次型记录膜的两外侧层叠有介电膜的3层结构(省略图示)。此外，就该第一 第六记录再现层14A 14F而言，这些记录再现层对于第一光学系统100的蓝色波长区域(短波长)的光束170的光反射率、吸收率、透过率等得以优化，另一方面，能够使第二光学系统200的红色波长区域(长波长)的光束270充分地透过。各记录再现层的介电膜除了保护写一次型记录膜的基本功能之外，还发挥使在形成记录标记之前和之后的光学特性之差扩大的作用。此外，在照射了光束170的情况下，若被介电膜吸收的能量多，则容易使记录灵敏度降低。因此，为了防止这样的问题，这些介电膜优先选用在380nm 450nm(尤其是405nm) 的波长区域内具有低吸收系数(k)的材料。此外，在本实施方式中，作为介电膜的材料采用 Ti02。另外，考虑到光束170的波长在380nm 450nm的蓝色波长区域内，则各介电膜的膜厚优选3 200nm。若膜厚薄于3nm，则难以获得保护写一次型记录膜的功能以及使在形成记录标记之前和之后的光学特性之差扩大的功能。另一方面，若超出200nm，则成膜时间变长以使生成效率降低。夹在介电膜之间的写一次型记录膜是用于形成不可逆的记录标记的膜，形成有记录标记的部分和此外的部分(空白区域)对光束170的反射率大不相同。其结果，能够对数据进行记录再现。此外，该写一次型记录膜也在循轨用的第二光学系统200的光束270 的红色波长区域内具有高透光性。写一次型记录膜的主要成分为含有Bi及0的材料。该写一次型记录膜发挥无机反应膜的功能，因接收激光的热量而发生化学变化或物理变化，使得在发生变化前后的反射率大不相同。作为其具体的材料，优先将Bi-O作为主要成分，或者将Bi-M-0(其中，M是选自 Mg、Ca, Y、Dy、Ce、Tb、Ti、Zr、V、Nb、Ta, Mo、W、Mn、Fe、Zn、Al、In、Si、Ge、Sn、Sb、Li、Na、 K、Sr、Ba、Sc、La、Nd、Sm、Gd、Ho、Cr、Co、Ni、Cu、Ga、Pb 中的至少一种元素)作为主要成分。 此外，在本实施方式中，作为写一次型记录膜的材料采用Bi-Ge-0。此外，在此，示出了第一 第六记录再现层14A 14F采用写一次型记录膜的情形，但也可以采用能够实现反复记录的相变记录膜。在这样的情况下的相变记录膜优先将釙TeGe作为主要成分。中间层组16从离光入射面IOA远的一侧起依次具有第一 第五中间层16A 16E，这些中间层分别层叠在第一 第六记录再现层14A 14F之间。各中间层16A 16E 由丙烯酸类或环氧类的紫外线固化树脂构成。该中间层16A 16E的膜厚分别为第一中间层16A为16 μ m ；第二中间层16B为12 μ m ；第三中间层16C为16 μ m ；第四中间层16D为 12μm;第五中间层16E为16μm。也就是说，交替层叠有两种膜厚(16 μ m、12 μ m)的中间层。其结果，就第一 第六记录再现层14A 14F的层间距离而言，从光入射面一侧起依次交替地设定有第一距离(16μπι)及与该第一距离不同的第二距离(12μπι)。另外，将第一距离和第二距离之差设定为4 μ m。这样，能够降低层间串扰。覆盖层11也与中间层组16同样地由具有透光特性的丙烯酸类紫外线固化树脂构成，而且其膜厚设定为38 μ m。第一光记录介质10如上所述那样构成，其结果，伺服层18位于与光入射面IOA相距0. 2mm(200 μ m)处，而且，在记录再现层组14中离光入射面IOA最远的第一记录再现层 14A位于与光入射面IOA相距0. Ilmm(IlOym)处，第二记录再现层14B位于与光入射面IOA 相距94 μ m处，第三记录再现层14C位于与光入射面IOA相距82 μ m处，第四记录再现层14D 位于与光入射面IOA相距66 μ m处，第五记录再现层14E位于与光入射面IOA相距M μ m 处，还有，离光入射面IOA最近的第六记录再现层14F位于与光入射面IOA相距38 μ m处。接下来，对第二光记录介质20进行说明。该第二光记录介质20除了如下三个不同点之外，其结构与第一光记录介质10相同，上述三个不同点分别为记录再生层组对采用4层结构(第一 第四记录再现层24A MD)；分别插入至记录再生层组M之间的中间层组26采用3层结构(第一 第三中间层26A ^C)；覆盖层21的膜厚不同。具体地说，第一 第三中间层26A ^C的膜厚与第一光记录介质10同样地分别为第一中间层沈八为16μπι;第二中间层沈8为12μπι;第三中间层26C为16μπι。其结果，就第一 第四记录再现层24Α MD的层间距离而言，与第一光记录介质10同样地，从光入射面一侧起依次交替设定有第一距离(16μπι)及与该第一距离不同的第二距离(12μπι)。另外，将第一距离和第二距离之差设定为4 μ m。另外，覆盖层21的膜厚为66 μ m。因此，伺服层28位于与光入射面20A相距0. 2mm处，另外，在记录再现层组M中离光入射面20A最远的第一记录再现层24A位于与光入射面20A相距0. Ilmm(IlOym)处， 第二记录再现层24B位于与光入射面20A相距94 μ m处，第三记录再现层24C位于与光入射面20A相距82 μ m处，还有，离第二光入射面20A最近的第四记录再现层24D位于与光入射面20A相距66 μ m处。接下来，对第三光记录介质30进行说明。该第三光记录介质30除了如下三个不同点之外，其结构与第一光记录介质10相同，上述三个不同点分别为记录再生层组34采用5层结构(第一 第五记录再现层34A 34E)；分别插入至记录再生层组34之间的中间层组36采用4层结构(第一 第四中间层36A 36D)；覆盖层31的膜厚不同。具体地说， 第一 第四中间层36A 36D的膜厚与第一光记录介质10同样地分别为第一中间层36A 为16“111;第二中间层368为12“111;第三中间层36(为16 μ m ；第四中间层36D为12 μ m。 其结果，就第一 第五记录再现层34A 34E的层间距离而言，从光入射面侧一侧起依次交替设定有第一距离(16μπι)及与该第一距离不同的第二距离(12 μ m)。另外，将第一距离和第二距离之差设定为4 μ m。另外，覆盖层31的膜厚为M μ m。因此，伺服层38位于与光入射面30A相距0. 2mm处，另外，在记录再现层组34中离光入射面30A最远的第一记录再现层34A位于与光入射面30A相距0. Ilmm(IlOym)处， 第二记录再现层34B位于与光入射面30A相距94 μ m处，第三记录再现层34C位于与光入射面30A相距82 μ m处，第四记录再现层34D位于与光入射面30A相距66 μ m处，还有，离光入射面30A最近的第五记录再现层34E位于与光入射面30A相距M μ m处。接下来，参照图3，对第一实施方式的光记录介质系列的记录再现层组的层间距离之间的关系进行说明。在这些第一 第三光记录介质10、20、30中，至少一种(在此为全部)光记录介质的记录再现层的层叠数目为多层，而且，虽然各光记录介质的该层叠数目彼此不同，但伺服层18、28、38相对于光入射面的位置彼此相等。进而，至少一层记录再现层(例如，第一记录再现层14A、24A、34A)相对于光入射面的位置，分别在这些第一 第三光记录介质10、 20、30之间彼此相等。只要是属于该光记录介质系列的光记录介质，则伺服层的位置都得以统一，所以光读写头90的第二光学系统200能够容易地找到伺服层的位置，从而能够快速地进行循轨。进而，由于至少一层记录再现层(例如，第一记录再现层14A、24A、34A)位于统一的位置，所以光读写头90的第一光学系统100能够容易地找到该记录再现层的位置，从而能够快速地执行记录再现准备。这样，若伺服层和至少一层记录再现层分别位于统一的位置，则就其组合而言，能够极快速地进行记录再现的初始动作。另外，至少2层记录再现层的位置，分别在这些第一 第三光记录介质10、20、30 之间彼此相同(例如，第一及第二记录再现层14A、14B、24A、24B、34A、34B相对于光入射面位置，分别在光记录介质系列之间彼此相等。这样，若2层记录再现层的位置分别在这些第一 第三光记录介质10、20、30之间彼此相等，则在光读写头90侧，能够在选择了 2层记录再现层中的任一层后快速地开始记录再现。例如，在一个记录再现层处于记录结束状态的情况下，也可以选择另一个记录再现层来开始记录信息。进而，根据2层记录再现层的位置在各光记录介质之间彼此相同，在光读写头90侧，能够参考这2层记录再现层之间的层间距离来预先掌握或预测其他记录再现层的层间距离。此外，在第一实施方式中，一个光记录介质上的4层记录再现层(第一 第四记录再现层)的位置在第一 第三光记录介质10、 20、30之间彼此相同。另外，若只将第一、第三光记录介质10、30作为一个系列来考虑，则一个光记录介质上的五层记录再现层(第一 第五记录再现层)的位置在第一、第三光记录介质10、30之间彼此相同。进而，一个光记录介质上的离光入射面最远的记录再现层(第一记录再现层14A、 24A、34A)和该光记录介质的光入射面之间的距离，分别设定为在这些第一 第三光记录介质10、20、30之间彼此相等。其结果，只要是属于该光记录介质系列的光记录介质，则在光读写头90侧，能够预先识别出在该记录再现层的光入射面一侧层叠有其他记录再现层。因此，能够缩短找出其他记录再现层所需的动作时间。进而，4层记录再现层(第一 第四记录再现层)相对于光入射面的各位置，分别在这些第一 第三光记录介质10、20、30之间彼此相等，而且，在一个光记录介质上的4层记录再现层(第一 第四记录再现层)之间不存在其他记录再现层，其中，该其他记录再现层相对于光入射面的位置，在第一 第三光记录介质10、20、30之间互不相同。S卩，若对第一光记录介质10进行说明，则该第一光记录介质10上的位置设定为与第二、第三光记录介质20、30上的位置相等的第一 第四记录再现层(14A 14D)全都相邻配置，而并未插入配置有在本系列中位置未被统一的其他记录再现层。若对第二光记录介质20进行说明，则该第二光记录介质20上的位置设定为与第一、第三光记录介质10、30上的位置相等的第一 第四记录再现层04A MD)全都相邻配置。若对第三光记录介质30进行说明，则该第三光记录介质30上的位置设定为与第一、第二光记录介质10、20上的位置相等的第一 第四记录再现层(34A 34D)全都相邻配置。这样，能够按顺序高效率地利用在该光记录介质系列中得以统一的记录再现层组。另外，在光读写头90侧，针对记录再现中的记录再现层，能够防止因靠近配置有无法预测的记录再现层而引发的记录再现出错。另外，就在这些第一 第三光记录介质10、20、30中任意选择的两个光记录介质而言，记录再现层的数目少的光记录介质上的所有记录再现层相对于光入射面的各位置， 分别与记录再现层的数目多的光记录介质上的相应记录再现层的位置相等。例如，在选择了第一、第二光记录介质10、20的情况下，记录再现层的数目少的第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层24A 24D各自的位置，分别与第一光记录介质10上的第一 第四记录再现层14A 14D各自的位置相同。在选择了第一、第三光记录介质10、30的情况下，记录再现层的数目少的第三光记录介质30上的所有第一 第五记录再现层34A 34E各自的位置，分别与第一光记录介质10上的第一 第五记录再现层14A 14E各自的位置相同。在选择了第二、第三光记录介质20、30的情况下，记录再现层的数目少的第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层24A 24D各自的位置，分别与第三光记录介质30上的第一 第四记录再现层34A 34D各自的位置相同。即，在该光记录介质系列中，记录再现层的层叠数目少的光记录介质上的伺服层及记录再现层组中的所有记录再现层和光入射面之间的距离，分别与层叠数目比该光记录介质的层叠数目多的光记录介质相同。这样，能够高效率地对属于光记录介质系列的光记录介质的上的所有记录再现层组的位置进行统一。其结果，在将记录再现层组14、24、34的位置信息预先记录在这些第一 第三光记录介质10、20、30的伺服层、BCA等上，或预先保存在光读写头90侧的情况下，能够减少其信息量。如图4所示的第一实施方式的其他结构例那样，可能会存在如下情形第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层24A 24D各自的位置，分别在第一光记录介质10和第二光记录介质20之间彼此相同，而在第二光记录介质20和第三光记录介质 30之间，只有第二光记录介质20上的第一 第三记录再现层24A MC各自的位置分别彼此相同。若容许这样的条件，则即使例如将记录再现层和光入射面之间的距离规定为6段值，层数不同的各光记录介质上的记录再现层组的实际配置在采用该6段值时也会出现多种情况。因此，虽具有令人满意的优点，但与图3所示的结构相比，位置确定动作的效率降低。另外，若采用第一实施方式的光记录介质系列，则第一 第三光记录介质10、20、 30的伺服层配置在与记录再现层组14、24、34相比更远离光入射面的位置。因此，能够减弱循轨控制用凹凸对于照射至记录再现层组上的记录再现用光束170的不良影响。返回图3，在第一实施方式的第一 第三光记录介质10、20、30中，就记录再现层组14、24、34的层间距离而言，交替地设定有作为第一距离的16 μ m和作为与第一距离不同的第二距离的12μπι。这样，预先对记录再现层的层间距离定义了规定的规则，所以光读写头90能够通过计算来推测出记录再现层的位置，从而能够进一步提高记录再现速度。另外，在该光记录介质系列中，伺服层的循轨用凹凸的轨道间距设定为想要记录在记录再现层上的记录标记的轨道间距的2倍。由此，伺服层采用廉价的长波长的红色光束270，通过平台及凹槽来进行循轨，同时，记录再现层能够以1/2轨道间距进行记录。尤其是，将伺服层侧的轨道间距设定为0. 64 μ m，所以第二光学系统200几乎可以直接使用符合DVD标准的现有制品。另一方面，记录再现层的轨道间距为0.32 μ m，所以第一光学系统 100几乎可以直接使用符合BD标准的现有制品。即，就光读写头90侧而言，不存在重新开发的负担，所以在有效利用现有部件的情况下，能够与本光记录介质系列相匹配。接下来，对属于本第一实施方式的光记录介质系列的第一 第三光记录介质10、 20,30的制造方法进行说明。而且，在该实施方式中，只对第一光记录介质10的制造方法进行说明，而省略对第二、第三光记录介质20、30的制造方法的说明。首先，通过使用金属压模的聚碳酸酯树脂的射出成型法，制作出形成有凹槽及平台的支撑基板12。此外，支撑基板12的制作并不仅限定于射出成型法，也可以通过2P法或其他方法来制作。然后，在支撑基板12的设有凹槽及平台的一侧的表面上形成伺服层18。通过使用 Ag合金的溅射法来形成具有光反射特性的金属层，由此形成该伺服层18。进而，在伺服层 18之上形成间隔层17。例如，通过旋涂法等来将调整过粘度的丙烯酸类或环氧类的紫外线固化树脂涂敷成膜，并利用紫外线照射该膜以使其固化，由此形成间隔层17。此外，也可以采用由透光树脂而成的透光片来代替紫外线固化树脂，并使用粘接剂或胶黏剂等来将该透光片粘贴在伺服层18之上，由此形成间隔层17。接下来，形成第一记录再现层14A。具体地说，通过气相生长法来依次形成介电膜、 写一次型记录膜、介电膜。其中，优先采用溅射法。然后，在第一记录再现层14A之上形成第一中间层16A。例如，通过旋涂法等来将调整过粘度的紫外线固化树脂涂敷成膜，然后利用紫外线照射该紫外线固化树脂以使其固化，由此形成第一中间层16A。通过重复执行该步骤，依次层叠第二记录再现层14B、第二中间层16B、……。若到第六记录再现层14F为止形成完毕，则在其上形成覆盖层11，由此完成该第一光记录介质10。其中，例如，通过旋涂法等来将调整过粘度的丙烯酸类或环氧类的紫外线固化树脂涂敷成膜，并利用紫外线照射该膜以使其固化，由此形成覆盖层11。此外，在本实施方式中对上述制造方法进行了说明，但本发明并不特别限定于上述制造方法，而也可以采用其他制造技术。接下来，说明利用光读写头90来对属于第一实施方式的光记录介质系列的第一光记录介质10进行信息的记录再现的步骤。此外，对第二、第三光记录介质20、30的记录再现步骤也与之完全相同，所以在此省略其说明。在向该第一光记录介质10的第一记录再现层14A上记录信息的情况下，首先，利用第二光学系统200的红色波长区域的光束270来照射伺服层18以进行循轨。在进行该动作的同时，利用第一光学系统100的蓝色波长区域的记录用光束170来照射第一记录再现层14A。此外，就该伺服层18而言，光记录介质系列的基本规格、信息记录层组14的叠层数目的信息预先记录在记录凹坑、BCA (Burst Cutting Area 烧录区)内，以便在循轨控制开始时始终能够读取这些信息。在本实施方式中，光记录介质系列的基本信息包括伺服层的位置、第一 第六记录再现层14A 14F的位置、与记录再现层组的层间距离相关的规则。如已说明过那样，在该光记录介质系列中，伺服层、第一 第四记录再现层的位置预先在光记录介质10、20、30之间得以统一(标准化)。因此，只要读取光记录介质系列的基本规格，则光读写头90能够将各光束270、170分别快速聚焦在伺服层18及记录层组14 上。在此，将各光束170聚焦在第一记录再现层14A上。然后，一边利用伺服层18来进行循轨，一边在第一记录再现层14A上记录信息。在记录完毕后，将这次的追加记录相关信息(与记录相关的地址信息、内容信息等)记录在伺服层18侧并结束动作。此外，在伺服层18不具有记录层的情况下，优先将该追加记录相关信息记录在离光入射面IOA最远的第一记录再现层14A上或离光入射面IOA最近的第六记录再现层14F上并结束动作。接下来，例如，在对记录于第一记录再现层14A上的信息进行再现的情况下，首先，利用第二光学系统200的光束270来对伺服层18进行再现，以此读取上述的基本规格、 基于记录的追加记录相关信息(例如，记录在第一记录再现层14A上的内容信息等)。然后，基于这些信息，利用第一光学系统100的光束170来访问第一记录再现层14A的规定地址并进行再现。此时，在第一记录再现层14A上显然已记录有信息，所以只要利用其记录标记来进行循轨即可。因此，在对第一记录再现层14A进行内容再现的过程中，可以不利用第二光学系统200的光束270。此外，在第一实施方式中，作为光记录介质系列的基本信息而示出了包括6层的记录再现层组的位置信息的情形，但本发明并不仅限定于此，例如也可以包括离光入射面最远的第一记录再现层的位置信息、与已叙述过的第一、第二距离相关的信息。该光记录介质系列的规格为从离光入射面IOA远的一侧起交替地层叠有第一膜厚(16μπι)的中间层和比该第一膜厚薄的第二膜厚(12μπι)的中间层。因此，在将第一记录再现层14Α的位置作为基准的情况下，基于该规则，能够通过程序来推测出第二 第六记录再现层14Β 14F的位置。这对于第二、第三光记录介质20、30也同样能够实现。基于该推测计算结果，能够直接将第一光学系统100的光束170聚焦在第二 第六记录再现层14B 14F上来记录信息。接下来，参照图5，对第二实施方式的光记录介质系列进行说明。还有，除了记录再现层组的位置和覆盖层的膜厚之外，第二实施方式的光记录介质系列的结构与第一实施方式的光记录介质系列的第一 第三光记录介质10、20、30的结构完全相同，所以使用相同的附图标记，并省略对各部件的说明。该光记录介质系列的各光记录介质上的伺服层18、28、38相对于各光记录介质的光入射面的各位置，分别在第一 第三光记录介质10、20、30之间彼此相同。进而，第一光记录介质10上的第三记录再现层14C 第六记录再现层14F、第二光记录介质20上的第一 第四记录再现层24A MD、第三光记录介质30上的第二记录再现层34B 第五记录再现层34E彼此的位置设定为相等。即，该光记录介质系列的第一 第三光记录介质10、 20、30各自的离光入射面最近的记录再现层14FJ4D、34E的位置彼此相同，所以光读写头 90的第一光学系统100能够快速聚焦在离光入射面最近的记录再现层上。另外，其他记录再现层也位于同一的位置上，所以也能够快速检测出其他记录再现层的位置。进而，4层记录再现层相对于光入射面的各位置，分别在这些第一 第三光记录介质10、20、30之间彼此相等，而且，在一个光记录介质上的4层记录再现层之间不存在其他记录再现层，其中，该其他记录再现层相对于光入射面的位置，在第一 第三光记录介质 10、20、30之间互不相同。即，第一光记录介质10上的第三记录再现层14C 第六记录再现层14F相邻配置，第二光记录介质20上的第一 第四记录再现层24A 24D相邻配置，第三光记录介质30上的第二记录再现层34B 第五记录再现层24E相邻配置，这些相邻配置的记录再现层之间并不存在第一 第三光记录介质10、20、30上的位置互不一致的记录再现层。其结果，在光读写头90侧，也能够高效率地利用记录再现层组，并能够防止因靠近配置有无法预测的记录再现层而引发的记录再现出错。另外，就在这些第一 第三光记录介质10、20、30中任意选择的两个光记录介质而言，记录再现层的数目少的光记录介质上的所有记录再现层相对于光入射面的各位置， 分别与记录再现层的数目多的光记录介质上的相应记录再现层的位置相等。例如，在选择了第一、第二光记录介质10、20的情况下，记录再现层的数目少的第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层24A 24D各自的位置，分别与第一光记录介质10上的第三 第六记录再现层14C 14F各自的位置相同。在选择了第一、第三光记录介质10、30的情况下，记录再现层的数目少的第三光记录介质30上的所有第一 第五记录再现层34A 34E各自的位置，分别与第一光记录介质10上的第二 第六记录再现层14B 14F各自的位置相同。在选择了第二、第三光记录介质20、30的情况下，记录再现层的数目少的第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层24A 24D各自的位置，分别与第三光记录介质30上的第二 第五记录再现层34B 34F各自的位置相同。这样，在该光记录介质系列中，记录再现层的层叠数目少的光记录介质上的伺服层及所有记录再现层组中的所有记录再现层和光入射面之间的距离，分别与层叠数目比该光记录介质的层叠数目多的光记录介质相同。这样，能够高效率地对属于光记录介质系列的光记录介质的所有记录再现层组的位置进行统一。
接下来，参照图6，对第三实施方式的光记录介质系列进行说明。还有，除了记录再现层组的位置之外，第三实施方式的光记录介质系列的结构与第一实施方式的光记录介质系列的第一 第三光记录介质10、20、30的结构完全相同，所以使用相同的附图标记，并省略对各部件的说明。该光记录介质系列的伺服层18、28、38相对于光入射面的位置，分别在第一 第三光记录介质10、20、30之间彼此相同。进而，第一光记录介质10上的第一、第二、第四、 第六记录再现层14A、14B、14D、14F，第二光记录介质20上的第一 第四记录再现层24A MD，第三光记录介质30上的第一、第二、第四、第五记录再现层34A、34B、34D、34E彼此的位置设定为相同。即，就该光记录介质系列而言，一个光记录介质上的离光入射面最远的第一记录再现层14A、24A、34A的位置，以及离光入射面最近的记录再现层14F、MD、34E的位置， 分别在第一 第三光记录再现层10、20、30之间彼此相同。其结果，所有的记录再现层必定位于离光入射面最近的记录再现层和离光入射面最远的记录再现层之间，所以能够快速检测出所有记录再现层的位置。另外，就在这些第一 第三光记录介质10、20、30中任意选择的两个光记录介质而言，记录再现层的数目少的光记录介质上的所有记录再现层相对于光入射面的各位置， 分别与记录再现层的数目多的光记录介质上的相应记录再现层的位置相等。例如，在选择了第一、第二光记录介质10、20的情况下，记录再现层的数目少的第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层24A 24D各自的位置，分别与第一光记录介质10上的第一、 第二、第四、第六记录再现层14A、14B、14D、14F各自的位置相同。在选择了第一、第三光记录介质10、30的情况下，记录再现层的数目少的第三光记录介质30上的所有第一 第五记录再现层34A 34E各自的位置，分别与第一光记录介质10上的第一、第二、第三、第四、第六记录再现层14A、14B、14C、14D、14F各自的位置相同。在选择了第二、第三光记录介质20、 30的情况下，记录再现层的数目少的第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层 24A 24D各自的位置，分别与第三光记录介质30上的第一、第二、第四、第五记录再现层 34A、34B、34D、34E各自的位置相同。这样，在该光记录介质系列中，记录再现层的层叠数目少的光记录介质上的伺服层及所有记录再现层组中的所有记录再现层和光入射面之间的距离，分别与层叠数目比该光记录介质的层叠数目多的光记录介质相同。这样，能够高效率地对属于光记录介质系列的光记录介质上的所有记录再现层组的位置进行统一。其结果， 在将记录再现层组14、24、34的位置信息预先记录在这些第一 第三光记录介质10、20、30 的伺服层、BCA等上，或预先保存在光读写头90侧的情况下，能够减少其信息量。如图7所示的第三实施方式的其他结构例那样，可能会存在如下情形假设在第一光记录介质10和第二光记录介质20之间，第二光记录介质20上的所有第一 第四记录再现层24A 24D各自的位置，分别与第一光记录介质10上的第一、第二、第四、第六记录再现层14A、14B、14D、14F各自的位置相同，而在第二光记录介质20和第三光记录介质30 之间，只有第二光记录介质20上的第一、第二、第四记录再现层24A、24B、24D各自的位置， 分别与第三光记录介质30上的第一、第二、第五记录再现层34A、34B、34E各自的位置彼此相同。若容许这样的条件，则即使例如将记录再现层和光入射面之间的距离固定为6段值， 层数不同的光记录介质上的记录再现层组的实际配置在采用该6段值时会出现多种情况。 因此，虽具有令人满意的优点，但与图6所示的结构相比，位置确定动作的效率降低。
如上所述，在本实施方式的光记录介质系列中，示出了在记录再现层组中交替地设定两种层间距离(16μπι、12μπι)的情形，但本发明并不仅限定于此，也可以组合采用三种以上的层间距离。另外，在本实施方式的光记录介质系列中，示出了伺服层配置在比记录再现层组更远离光入射面的位置上的情形，但本发明并不仅限定于此，也可以将伺服层配置在比记录再现层组更靠近光入射面的一侧。此外，在本实施方式的光记录介质系列中，只示出了具有记录再现层组的叠层数目不同的3种光记录介质的情形，但本发明并不仅限定于此，而可以具有记录再现层组的叠层数目不同的2种光记录介质，也可以具有记录再现层组的叠层数目不同的4种以上的光记录介质。另外，在本实施方式中，也只示出了记录再现层组的叠层数目为4 6层的情形，但本发明并不仅限定于此。产业上的可利用性本发明的光记录介质系列能够应用于具有伺服层和记录再现层的各种光记录介质中。
权利要求
1.一种光记录介质系列，备有多个光记录介质，该光记录介质包括不具有循轨控制用凹凸的平面结构的多层记录再现层、形成有循轨控制用凹凸的伺服层，能够在利用上述伺服层来进行循轨控制的同时，在上述记录再现层上记录信息，其特征在于，多个上述光记录介质中的至少一个上述光记录介质具有多层上述记录再现层，上述记录再现层的层叠数目在多个上述光记录介质之间互不相同，相对于光入射面的上述伺服层的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等，至少一层上述记录再现层相对于上述光入射面的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等。
2.如权利要求1所述的光记录介质系列，其特征在于，相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的上述记录再现层，至少为2层。
3.如权利要求2所述的光记录介质系列，其特征在于，在相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的多个上述记录再现层之间，不存在相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此不相等的其他记录再现层。
4.如权利要求1至3中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的上述记录再现层，包括离上述光入射面最远的上述记录再现层。
5.如权利要求1至4中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，相对于上述光入射面的位置在多个上述光记录介质之间彼此相等的上述记录再现层，包括离上述离光入射面最近的上述记录再现层。
6.如权利要求1至5中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，就在多个上述光记录介质中任意选择的两个上述光记录介质而言，上述记录再现层的数目少的该光记录介质上的所有上述记录再现层相对于上述光入射面的各位置，分别与上述记录再现层的数目多的该光记录介质上的上述记录再现层的位置相等。
7.如权利要求1至6中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，就多个上述光记录介质中的各光记录介质上的多个上述记录再现层的层间距离而言，交替地设定有第一距离和与该第一距离不同的第二距离。
8.如权利要求1至7中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，上述伺服层上的上述循轨控制用凹凸的轨道间距设定为想要记录在上述记录再现层上的记录标记的轨道间距的2倍。
全文摘要
提供一种光记录介质系列。通过导入多个光记录介质之间统一的概念，使光读写头侧的负担变轻。该光记录介质系列备有多个光记录介质(10、20、30)，该光记录介质包括不具有循轨控制用凹凸的平面结构的多层记录再现层、形成有循轨控制用凹凸的伺服层，其中，这些多个光记录介质(10、20、30)中的至少一个光记录介质具有多层记录再现层，记录再现层的层叠数目在这些光记录介质(10、20、30)之间互不相同，相对于光入射面的上述伺服层的位置在这些光记录介质之间彼此相等，进而，至少一层记录再现层相对于光入射面的位置彼此相等。
文档编号G11B7/24GK102163443SQ20111004379
公开日2011年8月24日 申请日期2011年2月22日 优先权日2010年2月22日
发明者井上素宏, 小须田敦子, 平田秀树, 菊川隆 申请人:Tdk股份有限公司