光拾取装置的制作方法

专利名称：光拾取装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光拾取装置，该光拾取装置对光学记录介质照射光，并接受来自光学记录介质的反射光，以此来对光学记录介质进行信息的记录或重放。
背景技术：
现有技术中，有如日本 专利特开2007-287278号公报所记载的光拾取装置。该光拾取装置使用第I波长和第2波长这两种波长的光来对两种光学记录介质进行信息的记录和重放。图11、图12、图13A、图13B、及图14A 图14C中示出了上述现有技术所涉及的光拾取装置的一个例子。图11是表示现有技术所涉及的光拾取装置120的结构的一个示例图。图12是表示光拾取装置120的衍射元件121和受光元件122的俯视图。图13A及图13B是表示由衍射元件121和受光元件122得到的受光状态的俯视图。图13A表示第I波长的受光状态，图13B表示第2波长的受光状态。在第I波长的情况下，经光学记录介质11反射后的光的光斑136偏移到从发光点123射入光学记录介质11的光的光斑135的位置的右侧。在第2波长的情况下，经光学记录介质11反射后的光的光斑137偏移到从发光点123射入光学记录介质11的光的光斑135的位置的左侧。来自第I波长的光的发光点123的振荡波长比来自第2波长的光的发光点124的振荡波长要短。来自第I波长的光的发光点123的光束131因衍射元件121发生衍射的衍射角度、比来自第2波长的光的发光点124的光束132因衍射元件121发生衍射的衍射角度要小。根据这些衍射角度的差异，在受光元件122上，受光区域18a 181并排地形成3列 125a 125c。来自第I波长的光的发光点123的光束131射入3列125a 125c受光区域中与较小的衍射角度相对应的列125a的受光区域18i、18k、和中央一列125b的受光区域18a 18h。若将从各受光区域18a 181输出的电信号分别记为Sa SI,则聚焦误差信号(FocusError Signal :以下称之为 “FES”)可由 FES= (Sa+Sc) -(Sb+Sd)计算得到。跟踪误差信号(Tracking Error Signal:以下称之为“TES”)可通过使用三光束法、差动推挽(Differential Push Pull:以下称之为“DPP”)法、或差动相位检测(Differential Phase Detection :以下称之为 “DFO”)法检测得到。若将采用三光束法得到的跟踪误差信号记为TES1，采用DPP法得到的跟踪误差信号记为TES2，采用Dro法得到的跟踪误差信号记为TES3，则各跟踪误差信号可分别由下式计算得到TESl=(Se+Sg)-(Sf+Sh) ；TES2= (Sa+Sb) - (Sc+Sd) -k ((Se+Sf) - (Sg+Sh))；TES3=ph((Sa+Sb)-(Sc+Sd))。k是用于对主光束与副光束之间的强度差进行修正的常数，PhO表示对括号内的各信号的相位分量进行计算。主光束是由分光元件130所生成的零级衍射光，副光束则是由分光兀件130生成的±1级衍射光。图14A 图14C是表示衍射元件121上的主光束及2道副光束的光斑的图。图14A 图14C中，不出了在第2波长下使用三光束法时被光学记录介质11反射的主光束及2道副光束的光斑。图14A示出了其中一道副光束的光斑126，图14B示出了主光束的光斑128，图14C则示出了另一道副光束的光斑127。各个光斑126、127、128内的分割线是图13B的衍射元件121的分割线投影得到的。透过图13B的衍射元件121的被分割线所分割的区域中的区域19e、19g、19g、19h的副光束射入图13B的各受光区域18e、18g、18g、18h，而透过区域19m、19η、19ο、19p的副光束则射入受光区域以外的区域，不射入受光区域。在现有技术中，当在第2波长下使用三光束法时，射入衍射元件121的三道光束中的副光束的光斑126、127分别沿切向Y向+方向和一方向偏移。而且，衍射兀件121的区域17a与区域17b之间的边界线、以及区域17c与区域17d之间的边界线沿径向X偏移。这是为了使射入光学记录介质11的副光束的光斑的射入位置相对于主光束的光斑的射入位置偏移1/2磁道宽度，从而使副光束稍加旋转而发生的偏移。若将衍射元件121的分割线投影到各光束的光斑上，则如图14A 图14C所示，衍射元件121对副光束的光斑126、127的外形的分割线相对于衍射元件121对主光束的光斑128的外形的分割线，在径向X和切向Y上均发生了偏移。因此，在三光束法中，根据从±1级衍射光的副光束所射入的受光区域18e、18f、18g、18h得到的电信号Se、Sf、Sg、Sh，由计算公式TESl = (Se+Sg) -(Sf+Sh)能够计算出跟踪误差信号TESl。但是，由于没有用来接受透过衍射元件121的区域19m、19η、19ο、19p的光的受光区域，因此，透过区域19m、19η、19ο、19ρ的光无法作为电信号被检测出。而且，+I级衍射光的副光束的光斑126所入射的区域19e和区域19g的总面积不同于一 I级衍射光的副光束的光斑127所入射的区域19f和区域19h的总面积，因此，从受光元件122得到的电信号Se+Sg与电信号Sf+Sh的电信号之比也是不同的。因而，跟踪误差信号TESl失去平衡，即偏离了电信号之比相等的情况下的值，从而导致跟踪伺服会不稳定。

发明内容
本发明的目的在于提供一种与多个波长相对应的光拾取装置，能够防止在一个波长下采用三光束法得到的跟踪误差信号失去平衡，并且利用在其它波长下采用Dro法或DPP法得到的跟踪误差信号来进行伺服控制，从而在各波长下都能得到稳定的伺服信号。本发明的光拾取装置包括光源，该光源能够射出多种不同波长的光，用于对形成有多个磁道的光学记录介质进行照射；受光元件，该受光元件上形成有聚焦受光区域和跟踪受光区域，其中，聚焦受光区域将所接受的光转换成用于对从光源射出的光的焦点进行控制的电信号，跟踪受光区域则将所接受的光转换成用于控制将从光源射出的光照射到光学记录介质的目标磁道上的电信号；以及衍射元件，该衍射元件上形成有分割成聚焦衍射区域和跟踪衍射区域的衍射区域，其中，聚焦衍射区域使从所述光源射出并经光学记录介质反射的反射光向聚焦受光区域的方向衍射，跟踪衍射区域则使所述反射光向跟踪受光区域的方向衍射，聚焦衍射区域和跟踪衍射区域被多条平行直线即平行分割线分割成细分区域，聚焦衍射区域所包含的细分区域由与光源所能射出的光的类型相对应的聚焦细分区域构成，对应于不同光的类型的聚焦细分区域在与平行分割线正交的方向上彼此相邻配置，跟踪衍射区域所包含的细分区域由与光源所能射出的光的类型相对应的跟踪细分区域构成，对应于不同光的类型的跟踪细分区域在与平行分割线正交的方向上彼此相邻配置，聚焦衍射区域包括与光源所能射出的光的类型相对应的聚焦区域，跟踪衍射区域包括与光源所能射出的光的类型相对应的跟踪区域，各聚焦区域由与各聚焦区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的聚焦细分区域构成，使所述反射光向同一聚焦受光区域衍射，各跟踪区域由与各跟踪区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域构成，使所述反射光向同一跟踪受光区域衍射，

在聚焦衍射区域与跟踪衍射区域之间的边界上，各聚焦细分区域和与各聚焦细分区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域相邻配置。根据本发明，光源能够射出多种不同波长的光，用于对形成有多个磁道的光学记录介质进行照射。受光元件上形成有聚焦受光区域和跟踪受光区域，其中，聚焦受光区域将所接受的光转换成用于对从光源射出的光的焦点进行控制的电信号，跟踪受光区域则将所接受的光转换成用于控制从光源射出的光使其照射到光学记录介质的目标磁道上的电信号。衍射元件上形成有分割成聚焦衍射区域和跟踪衍射区域的衍射区域，其中，聚焦衍射区域使从所述光源射出并经光学记录介质反射的反射光向聚焦受光区域的方向衍射，跟踪衍射区域则使所述反射光向跟踪受光区域的方向衍射。而且，聚焦衍射区域和跟踪衍射区域被多条平行直线即平行分割线分割成细分区域。聚焦衍射区域所包含的细分区域由与光源所能射出的光的类型相对应的聚焦细分区域构成，对应于不同光的类型的聚焦细分区域在与平行分割线正交的方向上彼此相邻配置。跟踪衍射区域所包含的细分区域由与光源所能射出的光的类型相对应的跟踪细分区域构成，对应于不同光的类型的跟踪细分区域在与平行分割线正交的方向上彼此相邻配置。聚焦衍射区域包括与光源所能射出的光的类型相对应的聚焦区域，跟踪衍射区域包括与光源所能射出的光的类型相对应的跟踪区域。而且，各聚焦区域由与各聚焦区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的聚焦细分区域构成，使所述反射光向同一聚焦受光区域衍射，各跟踪区域由与各跟踪区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域构成，使所述反射光向同一跟踪受光区域衍射。此外，在聚焦衍射区域与跟踪衍射区域之间的边界上，各聚焦细分区域和与各聚焦细分区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域相邻配置。从而，光拾取装置能够在使用多种不同波长的光的情况下，共用聚焦受光区域和跟踪受光区域。而且，光拾取装置还能降低三光束法中射入聚焦区域和跟踪区域的副光束的强度的不连续性，从而使跟踪伺服稳定进行。因此，与多个波长相对应的光拾取装置能够防止在一个波长下采用三光束法得到的跟踪误差信号失去平衡，并且利用在其它波长下采用Dro法或DPP法得到的跟踪误差信号来进行伺服控制，从而在各波长下都能得到稳定的伺服信号。另外，在本发明中，优选使所述衍射区域被与光学记录介质的记录面平行且与光学记录介质的磁道切线方向正交的直线即第I分割线分割成所述聚焦衍射区域和所述跟踪衍射区域，且所述平行分割线相对于第I分割线倾斜预先设定的角度。根据本发明，所述衍射区域被与光学记录介质的记录面平行且与光学记录介质的磁道切线方向正交的直线即第I分割线分割成所述聚焦衍射区域和所述跟踪衍射区域。且所述平行分割线相对于第I分割线倾斜预先设定的角度。因此，光拾取装置能够减小因附着在光学记录介质上的异物或污垢而对重放信号产生的噪声。另外，本发明中，所述预先设定的角度优选为30度以上且150度以下。根据本发明，所述预先设定的角度为30度以上且150度以下。因此，光拾取装置能够减小在光学记录介质旋转时因光学记录介质上构成凹凸的小坑给光信号带来的噪声，从而能够稳定地对重放信号进行重放。另外，本发明中，优选在所述各细分区域中平行且周期性地形成多道衍射刻槽，当用与衍射刻槽正交的假想平面来切断一个细分区域时，假想平面中包含的衍射刻槽数为5道以上。根据本发明，在所述各细分区域中平行且周期性地形成有多道衍射刻槽。而且，当用与衍射刻槽正交的假想平面来切断一个细分区域时，假想平面中包含的衍射刻槽数为5道以上。从而，光拾取装置中，各聚焦细分区域及各跟踪细分区域中的衍射刻槽在与衍射刻槽垂直的方向上排列的数量能够控制在进行高效衍射所需的最低限度的数量以上。因而，光拾取装置能够高效率地进行各聚焦细分区域和各跟踪细分区域中的衍射。另外，本发明中，优选使所述跟踪受光区域包括第I跟踪射光区域、和与第I跟踪射光区域配置在不同位置上的第2跟踪受光区域，所述各跟踪细分区域包括使所述反射光的一部分向第I跟踪受光区域的方向衍射的第I衍射区域、和使所述反射光的一部分向第2跟踪受光区域的方向衍射的第2衍射区域中的至少一个衍射区域，位于同一跟踪细分区域中的第I衍射区域和第2衍射区域被至少一条第2分割线分割，该第2分割线是与光学记录介质的磁道切线方向平行的直线，各第2分割线的位置按照与跟踪细分区域相对应的光的类型配置。根据本发明，所述跟踪受光区域包括第I跟踪射光区域、和与第I跟踪射光区域配置在不同位置上的第2跟踪受光区域。所述各跟踪细分区域包括使所述反射光的一部分向第I跟踪受光区域的方向衍射的第I衍射区域、和使所述反射光的一部分向第2跟踪受光区域的方向衍射的第2衍射区域中的至少一个衍射区域。位于同一跟踪细分区域中的第I衍射区域和第2衍射区域被至少一条第2分割线分割，该第2分割线是与光学记录介质的磁道切线方向平行的直线。并且，各第2分割线的位置按照与跟踪细分区域相对应的光的类型配置。从而，即使多个光源所在的位置不同，光拾取装置也能防止射入第I跟踪受光区域和第2跟踪受光区域的光的光强偏向第I跟踪受光区域和第2跟踪受光区域中的任一个跟踪受光区域。因而，光拾取装置能够高精度地进行跟踪伺服。 另外，本发明中，优选使所述跟踪受光区域包含多个受光区域，所述多个受光区域根据光源所能射出的光的类型，选择性地接受经各跟踪区域衍射后的光。根据本发明，所述跟踪受光区域包含多个受光区域，所述多个受光区域根据光源所能射出的光的类型，选择性地接受经各跟踪区域衍射后的光。从而，光拾取装置能够使跟踪受光区域小型化。因而，光拾取装置能够加快跟踪伺服的响应速度。


本发明的目的、特征、及优点可利用下面的详细说明和附图进一步明确。图I是表示本发明实施方式I的光拾取装置的结构的图。图2是衍射元件和受光元件的俯视图。图3是表示针对第I波长的光的衍射元件与各受光区域 之间的关系的图。图4是表示针对第2波长的光的衍射元件与各受光区域之间的关系的图。图5A 图5C是将分割线投影到射入衍射元件的±1级衍射光上的图。图6是表示本发明实施方式2的光拾取装置的结构的图。图7是衍射元件和受光元件的俯视图。图8是表示针对第I波长的光的衍射元件与各受光区域之间的关系的图。图9是表示针对第2波长的光的衍射元件与各受光区域之间的关系的图。图10是表示针对第3波长的光的衍射元件与各受光区域之间的关系的图。图11是表示现有技术所涉及的光拾取装置的结构的一个示例图。图12是表示光拾取装置的衍射元件和受光元件的俯视图。图13A及图13B是表示由衍射元件和受光元件得到的受光状态的俯视图。图14A 图14C是表示衍射元件上的主光束及2道副光束的光斑的图。
具体实施例方式下面，参照附图，说明用于实施本发明的多个实施方式。在以下的说明中，对于各实施方式中与之前的实施方式中已进行了说明的事项所对应的部分附加同一参考标号，并省略重复说明。在仅说明一部分结构的情况下，其它部分的结构与之前说明的实施方式相同。不仅各实施方式中具体说明的部分可以相互组合，实施方式彼此之间也能部分组合，只要组合起来没有问题即可。此外，各实施方式是对本发明的技术方案具体化的示例，并不是对本发明技术范围的限定。本发明的技术内容在权利要求书记载的范围内能够进行各种变更。图I是表示本发明实施方式I的光拾取装置10的结构的图。图2是衍射元件16和受光元件6的俯视图。图3是表示针对第I波长的光的衍射元件16与各受光区域之间的关系的图。图4是表示针对第2波长的光的衍射元件16与各受光区域之间的关系的图。光拾取装置10向光学记录介质11照射光，并利用衍射区域19使来自光学记录介质11的反射光18发生+1级衍射，接受该衍射光，从而读取记录在光学记录介质11上的信息。图I和图2中，衍射区域19被多条分割线分割成多个区域。衍射区域19被通过衍射区域19的中心点PO且沿径向X延伸配置的第I分割线、即后文所述的聚焦规定分割线26(以下也称之为“刀口部26”)分割成聚焦衍射区域21和跟踪衍射区域36。图2是表示平行分割线27与刀口部26所成的角度为α的衍射元件16与受光元件6在从光轴方向观察时的配置关系的俯视图。平行分割线27是由多条平行的直线构成的分割线。图3和图4是表示光拾取装置10的衍射元件16与经衍射元件16衍射后的光所到达的各受光区域之间的关系的图。光拾取装置10包括光源12、受光元件6、衍射元件16、准直透镜28、及物镜29。衍射元件16具有使来自光源12的入射光生成零级及±1级衍射光的分光元件46、以及将来自光学记录介质11的反射光引导向受光元件6的衍射区域19。光源12能够射出多种不同波长的光。光源12射出用于对光学记录介质11进行照射的光。受光元件6上形成有用于将所接受的光转换成电信号的多个受光区域。多个受光区域中的一部分用作为聚焦受光区域17。聚焦受光区域17用于聚焦伺服。所谓聚焦伺服，是指使从光源12射出的出射光的焦点对准光学记录介质11的记录面35而进行的控制。衍射区域19由全息图实现，将来自光学记录介质11的反射光经衍射区域19而产生的+1级衍射光聚焦到受光元件6上。分光元件46由衍射光栅实现，将来自光源12的出射光分成零级衍射光和土 I级
衍射光这三道光，从而形成三光束。即，分光元件46生成成为主光束的零级衍射光、和成为副光束的±1级衍射光。分光兀件46形成在衍射兀件16的表面或内部。分光兀件46设置在光源12与衍射区域19之间。从光源12射出并透过分光元件46的出射光被聚焦到光学记录介质11的主磁道和副磁道上。分光元件46上形成有多道直线状的衍射刻槽。分光元件46上所形成的衍射刻槽垂直于将主磁道上零级衍射光的理想聚焦位置与副磁道上±1级衍射光的理想聚焦位置加以连接的直线。分光元件46与衍射元件16相同，若是透明玻璃基板，则可以用光刻法形成，若是透明树脂，贝1J可以用光聚合法(Photo Polymerization法简称“2P法”)或模具成形来形成。来自光学记录介质11的反射光18射入衍射元件16。衍射元件16中形成有衍射区域19。衍射区域19被分割成多个区域。所分割区域中的一部分用作为使反射光18向受光元件6衍射的聚焦衍射区域21。聚焦衍射区域21使至少一部分反射光18向聚焦受光区域17的方向衍射。聚焦衍射区域21具备与光源12所能射出的光的类型相同数量类型的聚焦区域22。聚焦区域22的类型对应于光源12所能射出的光的各个类型，各种聚焦区域22使相对应类型的光向聚焦受光区域17衍射。另外，各种聚焦区域22由后文所述的多个聚焦细分区域构成。构成各种聚焦区域22的聚焦细分区域在聚焦衍射区域21中分散配置。聚焦衍射区域21的外部边缘的预先设定的一部分由形成为直线状的聚焦规定分割线26构成。无论来自光学记录介质11的反射光18是哪一种光，反射光18都与其要射入衍射元件16的入射区域即衍射区域19相交叉。即，反射光18与衍射区域19相交叉。聚焦衍射区域21被平行排列的多条平行分割线27分割成多个聚焦细分区域。多条平行分割线27与刀口部26成预先设定的角度。平行分割线27与刀口部26所成的角度在30度以上且150度以下。各聚焦细分区域上平行且周期性地形成有多道衍射刻槽。在与各聚焦细分区域的衍射刻槽垂直交叉的假想平面上，各聚焦细分区域有5道以上衍射刻槽与之交叉。即，当用与衍射刻槽正交的假想平面来切断聚焦细分区域时，该切断面中包含的衍射刻槽数为5道以上。光学记录介质11是能够以光学的方式进行信息记录或重放的记录介质。光学记录介质11由例如压缩盘(compact disk,简称“⑶”)、数字化通用光盘(digital versatiledisk,简称“DVD”)或蓝光盘(Blu-ray disk,简称“BD” :注册商标)等构成。光拾取装置10能够对其中任意2种光学记录介质11进行信息记录和重放。当光学记录介质11是CD时，使用780nm附近的红外区域波长的光来进行信息的记录和重放。当光学记录介质11是DVD时，使用650nm附近波长的红光来进行信息的记录和重放。当光学记录介质11是BD时，使用405nm附近的蓝紫色波长的光来进行信息的记录和重放。光学记录介质11也可以是层叠了多个记录层而得到的容量更大的记录介质。为了对多个光学记录介质11进行记录和重放中的至少一个动作，在一台光拾取装置10内配置能射出2种或3种波长的光的光源。图I中，示出了使用光学记录介质11的其中一种光学记录介质Ua的情况 、和使用波长不同于光学记录介质Ila的另一种光学记录介质Ilb的情况。光拾取装置10对光学记录介质11的记录面35照射来自光源12的光，例如激光，并在受光元件6上的受光区域中接受其反射光，从而对光学记录介质11进行信息的重放和记录。光拾取装置10将受光元件6上的受光区域所接受的光的光信号转换成电信号，并检测出伺服信号，以对光学记录介质11进行聚焦伺服和跟踪伺服。所谓跟踪伺服，是指使从光源12射出的出射光照射到光学记录介质11的记录面35的磁道中、用于进行记录或重放的目标磁道而进行的控制。光拾取装置10基于所检测出的伺服信号，进行聚焦伺服和跟踪伺服。聚焦伺服采用刀口法和非点像差法等。另外，跟踪伺服根据光学记录介质11的类型，分别采用差动相位检测(Differential Phase Detection :以下称之为“D0D”)法和三光
J7KiZa 寸 ο准直透镜28使从光源12出射的光变成平行光。物镜29则使经准直透镜28变成平行光的光束向光学记录介质11聚焦。物镜29由未图示的驱动件支承。光源12由例如半导体激光元件构成。光源12具有射出第I波长的光的第I发光点32、和射出第2波长的光的第2发光点33这两个发光点。来自第I发光点32的第I波长的光与来自第2发光点33的第2波长的光基本向同一方向射出。在互不相同的2种波长中，将较短的波长记为第I波长，将较长的波长记为第2波长。光拾取装置10使用在一块芯片内具有不同波长的发光点的单片型半导体激光元件，但并不限于单片型半导体激光元件，也可以是将每一块芯片上具有单一波长激光的两块芯片相靠近地进行配置的混合型半导体激光元件。光拾取装置10中，将来自光源12的出射光引导至光学记录介质的多个光学部件的光轴配置在同一直线上。所谓多个光学部件，是指光源12、分光元件46、衍射区域19、准直透镜28和物镜29。以下,将来自第I发光点32的出射光的光轴方向记为“光轴方向Z”。光轴方向Z是XYZ坐标系中的Z方向。光轴方向Z配置成通过物镜29与准直透镜28的中心。图3、图4是沿光轴方向观察衍射元件16和受光元件6的图。准直透镜28和物镜29将来自光源12的出射光聚焦到光学记录介质11的记录面35上。在光学记录介质11的记录面35上聚焦的焦点位于形成在记录面35上的磁道上。将磁道上的焦点的切线方向称为“切向Y”。另外，与磁道上的焦点的切线方向相对应的衍射兀件16及受光兀件6的方向也同样作为“切向Y”来进行说明。另外，将与光轴方向Z垂直且与切向Y垂直的方向称为“径向X”。以下，切向Y为XYZ坐标系中的Y方向，径向X为XYZ坐标系中的X方向。
受光元件6配置在沿径向X离开光源12的位置上。将径向X中相对于受光元件6朝向光源12的方向称为负方向(以下记为“一方向”)，将径向X中与一 X相反的方向称为正方向(以下记为“ +方向”)。受光兀件6具备第I 第12受光区域6a 61共12个受光区域。受光兀件6在第3受光区域6c中接受第I波长的光，在第4受光区域6d中接受第2波长的光。受光元件6在第I、第2、第5 第10受光区域6a、6b、6e、6f、6g、6h、6i、6j、6k、61这10个受:光区域中接受第I波长和第2波长的光。第I 第12受光区域6a 61中的第I受光区域6a和第2受光区域6b沿切向Y彼此相邻配置。聚焦射入第I、第2受光区域6a、6b的光的光信号用于聚焦伺服。在第I和第2受光区域6a、6b的径向X的一方向上配置有第3受光区域6c，在第I和第2受光区域6a、6b的径向X的+方向上配置有第4受光区域6d。第3受光区域6c和第4受光区域6d分别配置在切向Y上与第I和第2受光区域6a、6b的位置相同的位置上。第5、第6受光区域6e、6f配置在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点
32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上。第5受光区域6e配置在切向Y的一方向上相隔距离PY的位置上，第6受光区域6f配置在切向Y的+方向上相隔距离PY的位置上。第7受光区域6g配置在切向Y的一方向上与第5受光区域6e相邻的位置上，第9受光区域6i配置在切向Y的+方向上与第5受光区域6e相邻的位置上。第8受光区域6h配置在切向Y的一方向上与第6受光区域6f相邻的位置上，第10受光区域6j配置在切向Y的+方向上与第6受光区域6f相邻的位置上。第11受光区域6k配置在切向Y的一方向上与第I受光区域6a相邻的位置上，第12受光区域61配置在切向Y的+方向上与第2受光区域6b相邻的位置上。第I受光区域6a和第2受光区域6b在径向X上的尺寸被设定成相等，第3和第4受光区域6c、6d各自在径向X上的尺寸被设定成与第I和第2受光区域6a、6b在径向X上的尺寸大致相等，或者第3受光区域6c在径向X上较短，而第4受光区域6d在径向X上较长。第5 第12受光区域6e 61在径向X上的尺寸被设定成与第I和第2受光区域6a,6b在径向X上的尺寸相等。第3 第12受光区域6c 61各自在切向Y上的尺寸被设定成大致相等，与该尺寸相比，第I受光区域6a和第2受光区域6b在切向Y上的尺寸被设定成大约是该尺寸的一半。通过第3和第4受光区域6c、6d各自的切向Y中央且沿径向X延伸的假想直线通过第I受光区域6a与第2受光区域6b的中央。第I、第2及第5 第12受光区域6a、6b、6e 61在径向X的一方向上的端部位置与沿切向Y延伸的一条直线基本保持一致。第I、第2、第5和第6受光区域6a、6b、6e、6f这4个受光区域接受经分光元件46产生的第I波长和第2波长的光的零级衍射光。第3受光区域6c接受经分光元件46产生的第I波长的零级衍射光，第4受光区域6d接受经分光元件46产生的第2波长的零级衍射光。第7受光区域6g接受经分光元件46产生的第I波长和第2波长的一 I级衍射光，第8受光区域6h接受经分光元件46产生的第I波长和第2波长的一 I级衍射光。第9受光区域6i接受经分光元件46产生的第I波长和第2波长的+ I级衍射光，第10受光区域6j接受经分光元件46产生的第I波长和第2波长的+ I级衍射光。第11受光区域6k接受经分光元件46产生的第I波长和第2波长的一I级衍射光，第12受光区域61接受经分光元件46产生的第I波长和第2波长的+ I级衍射光。衍射区域19使来自光学记录介质11的反射光18向信号检测用的第I 第12受光区域6a 61衍射。衍射区域19中形成有衍射光栅。衍射元件由衍射刻槽形成。若沿光轴方向Z观察衍射区域19，则衍射区域19的外形呈圆形，其中心点PO配置在通过光拾取装置10的光轴34的位置上。衍射区域19被多条分割线分割成多个区域。多条分割线的其中一条分割线是通过衍射区域19的中心点PO并沿径向X延伸配置的聚焦规定分割线26，即刀口部26。衍射区域19被刀口部26分割成聚焦衍射区域21和跟踪衍射区域36。衍射区域19中相对于刀口部26位于切向Y的+方向的区域为聚焦衍射区域21，位于切向Y的一方向的区域为跟踪衍射区域36。聚焦衍射区域21和跟踪衍射区域36的配置也可以 是以刀口部26为对称轴而反转。聚焦衍射区域21和跟踪衍射区域36分别形成半圆形。跟踪衍射区域36被跟踪规定分割线40 (以下也称之为“跟踪分割线40”)分割成第I跟踪区域E和第2跟踪区域F。作为第2分割线的跟踪规定分割线40通过中心点PO并沿切向Y延伸。第I跟踪区域E和第2跟踪区域F各自呈被以中心点PO为中心的圆周、和在中心点PO相互正交的2条直线即半径所包围的扇形。聚焦衍射区域21如上所述，被分割成与光源12所能射出的光的类型数量相对应的多个聚焦区域22。实施方式I中，聚焦衍射区域21在聚焦衍射区域21的半圆内被多条平行分割线27分割成多个细长的聚焦细分区域。多条平行分割线27是相对于刀口部26倾斜角度α、且彼此平行的以宽度Wa和宽度Wb交替重复地间隔出现的多条直线。多个聚焦细分区域中的一部分构成第I聚焦区域Α，剩余的多个聚焦细分区域则构成第2聚焦区域B。实施方式I中，由于光源12输出2种光，因此，第I聚焦区域A是对应于其中一种光的聚焦区域22，第2聚焦区域B则是对应于另一种光的聚焦区域22。第I聚焦区域A由多个聚焦细分区域构成，该多个聚焦细分区域分别被形成了宽度为Wa的平行线的2条平行分割线27、规定了衍射区域19的外部边缘的圆弧、以及刀口部26这三者中的任一个或全部所包围。第2聚焦区域B由多个聚焦细分区域构成，该多个聚焦细分区域分别被形成了宽度为Wb的平行线的2条平行分割线27、规定了衍射区域19的外部边缘的圆弧、以及刀口部26这三者中的任一个或全部所包围。构成第I聚焦区域A的聚焦细分区域、和构成第2聚焦区域B的聚焦细分区域在与平行分割线27垂直的方向上逐一交替地相邻配置。从而，构成第I聚焦区域A的聚焦细分区域、和构成第2聚焦区域B的聚焦细分区域在聚焦衍射区域21内周期性地分散配置。因此，第I聚焦区域A和第2聚焦区域B内的各聚焦细分区域的外周边缘由2条平行分割线27、刀口部26、以及用于规定衍射区域19的外部边缘的圆弧这三者中的任一个或全部所规定。第I聚焦区域A中形成有用于使所入射的第I波长的光聚焦到受光元件6的第I受光区域6a与第2受光区域6b之间的边界线上的衍射光栅。第2聚焦区域B中形成有用于使所入射的第2波长的光聚焦到受光元件6的第I受光区域6a与第2受光区域6b之间的边界线上的衍射光栅。
跟踪衍射区域36是相对于刀口部36配置在切向Y的一方向上的半圆形区域。跟踪衍射区域36被分割成第I种跟踪衍射区域41和第2种跟踪衍射区域42。第I种跟踪衍射区域41形成为使所入射的第I波长的光向后文所述的跟踪受光区域衍射的衍射光栅，第2种跟踪衍射区域42形成为使所入射的第2波长的光向跟踪受光区域衍射的衍射光栅。第I种跟踪衍射区域41和第2种跟踪衍射区域42分别被跟踪规定分割线40分割成2个区域。跟踪衍射区域36进一步被跟踪分割线40分割成第I跟踪区域E和第2跟踪区域F。第I跟踪区域E和第2跟踪 区域F分别被分割成与光源12所能射出的光的类型相同数量类型的跟踪区域38。在实施方式I中，分别形成2种跟踪区域38。第I跟踪区域E中包含的跟踪区域38为第I种第I跟踪区域El和第I种第2跟踪区域E2。第2跟踪区域F中包含的跟踪区域38为第2种第I跟踪区域Fl和第2种第2跟踪区域F2。第I跟踪区域E和第2跟踪区域F被平行分割线27分割成多个细长形的跟踪细分区域。多个跟踪细分区域被第I跟踪区域E与第2跟踪区域F之间的边界线即跟踪规定分割线40分离而形成。横跨第I跟踪区域E和第2跟踪区域F的一个跟踪细分区域被跟踪规定分割线40分割成包含在第I跟踪区域E内的跟踪细分区域、和包含在第2跟踪区域F内的跟踪细分区域。下面，将聚焦细分区域和跟踪细分区域统称为细分区域。第I种第I跟踪区域El由第I跟踪区域E所包含的多个跟踪细分区域中，被形成了宽度为Wa的平行线的2条平行分割线27、规定了衍射区域19的外部边缘的圆弧、跟踪规定分割线40、以及聚焦规定分割线26中的任一个所包围的多个跟踪细分区域构成。第I种第2跟踪区域E2由第I跟踪区域E所包含的多个跟踪细分区域中，被形成了宽度为Wb的平行线的2条平行分割线27、规定了衍射区域19的外部边缘的圆弧、跟踪规定分割线40、以及聚焦规定分割线26中的任一个所包围的多个跟踪细分区域构成。而第2种第I跟踪区域Fl则由第2跟踪区域F所包含的多个跟踪细分区域中，被形成了宽度为Wa的平行线的2条平行分割线27、规定了衍射区域19的外部边缘的圆弧、跟踪规定分割线40、以及聚焦规定分割线26中的任一个所包围的多个跟踪细分区域构成。第2种第2跟踪区域F2由第2跟踪区域F所包含的多个跟踪细分区域中，被形成了宽度为Wb的平行线的2条平行分割线27、规定了衍射区域19的外部边缘的圆弧、跟踪规定分割线40、以及聚焦规定分割线26中的任一个所包围的多个跟踪细分区域构成。S卩，在第I跟踪区域E与第2跟踪区域F中，任一种跟踪区域38都由多个多个跟踪细分区域构成。第I种第I跟踪区域El和第2种第I跟踪区域Fl对应于其中一种光，而第I种第2跟踪区域E2和第2种第2跟踪区域F2则对应于另一种光。第I种第I跟踪区域E1、第2种第2跟踪区域E2、第2种第I跟踪区域Fl和第2种第2跟踪区域F2分别沿着垂直于平行分割线27的方向呈周期性地分散配置。第I种第I跟踪区域E1、第2种第I跟踪区域Fl和第I聚焦区域A即使分别跨过聚焦规定分割线26和聚焦规定分割线40，平行分割线27也是连续的。同样，第I种第2跟踪区域E2、第2种第2跟踪区域F2和第2聚焦区域B即使分别跨过聚焦规定分割线26和聚焦规定分割线40，平行分割线27也是连续的。第I跟踪区域E中包含的跟踪细分区域和第2跟踪区域F中包含的跟踪细分区域中，对应于同一种光的跟踪细分区域在跟踪规定分割线40上沿径向X相邻配置。详细情况将在后文中叙述，但通过上述配置，将接受了经第I跟踪区域E和第2跟踪区域F衍射后的光的受光区域所检测出的光信号转换成电信号，并计算各电信号的差分，从而能够检测出
跟踪误差信号。将第I波长记为“ λ 1”，将第2波长记为“ λ 2”。将第I波长的光射入第I聚焦区域A的入射角记为“ Θ Ali”，将由该入射所产生的衍射中的+ I级衍射光的衍射角度记为“ 0Ald”。将第2波长的光射入第I聚焦区域A的入射角记为“ 0A2i”，将由该入射所产生的衍射中的+ I级衍射光的衍射角度记为“ Θ A2d”。将第I波长的光射入第2聚焦区域B的入射角记为“ Θ B li”,将由该入射所产生的衍射中的+ I级衍射光的衍射角度记为“ ΘΒ1(Γ。将第2波长的光射入第2聚焦区域B的入射角记为“ 0B2i”，将由该入射所产生的衍射中的+ I级衍射光的衍射角度记为“ Θ B2d”。入射角是相对于光轴34的角度。此外，将第I聚焦区域A中形成的衍射刻槽的间距记为“dA”，将第2聚焦区域B中
形成的衍射刻槽的间距记为“dB”，则射入第I聚焦区域A的第I波长满足下式(1)，射入第2聚焦区域B的第I波长满足下式(2)，射入第I聚焦区域A的第2波长满足下式(3)，射入第2聚焦区域B的第2波长满足下式(4)。sin Θ Ali—sin Θ Ald= λ I/dA··· (I)sin Θ Bli-sin Θ Bld=A 1/dB…(2)sin Θ A2i_sin Θ A2d= λ 2/dA··· (3)sin Θ B2i_sin Θ B2d= λ 2/dB…(4)图3和图4所示的衍射元16内的3个圆表示被光学记录介质11反射的反射光射入衍射区域19时的光斑。如图3所示，当衍射区域19的第I聚焦区域A中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9a。在受光兀件6的受光面上,通过径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的聚焦光斑9a的聚焦位置并沿切向Y延伸的直线被记为第I直线LI。受光元件6的受光面上的聚焦光斑9a在第I受光区域6a与第2受光区域6b之间的边界线上聚焦成点状或接近点状的形状。在受光元件6的受光面上，第I直线LI通过第I、第2、第5 第12受:光区域6a、6b、6e 61。当衍射区域19的第I聚焦区域A中射入了因分光元件46产生的第I波长的一 I级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第I聚焦区域A中零级衍射光聚焦后的聚焦光斑9a相隔距离SY的第11受光区域6k内的位置上聚焦。当第I聚焦区域A中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与聚焦光斑9a相隔距离SY的第12受光区域61内的位置上聚焦。当衍射区域19的第2聚焦区域B中射入了第I波长的零级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9c。距离PX2比距离PXl要短。在受光元件6的受光面上，通过与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2的聚焦光斑9c的聚焦位置并沿切向Y延伸的直线被记为第2直线L2。第I波长的光经第2聚焦区域B衍射后并在第3受光区域6c上所形成的聚焦光斑9c的聚焦光斑形状，比第I波长的光经第I聚焦区域A衍射后并在第I受光区域6a与第2受光区域6b之间的边界上所形成的聚焦光斑9a的聚焦光斑形状要稍大。当衍射区域19的第2聚焦区域B中射入了因分光元件46产生的第I波长的一 I级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第2聚焦区域B中零级衍射光聚焦后的聚焦光斑9c相隔距离SY的位置上聚焦。当射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第2聚焦区域B中零级衍射光聚焦后的聚焦光斑9c相隔距离SY的位置上聚焦。这些聚焦光斑的形状都比聚焦光斑9c要稍大。跟踪衍射区域36也同样，当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的零级 衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9e。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9f。衍射刻槽的间距与衍射角之间的关系满足与在说明第I和第2聚焦区域A、B时所用的公式相同的公式，因此，为了避免重复，省略其说明。当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第I波长的一 I级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第I种第I跟踪区域El中零级衍射后的聚焦光斑9e相隔距离SY的第7受光区域6g内的位置上聚焦。当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与在第I种第I跟踪区域El衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SY的第9受光区域6i内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第I波长的一 I级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第2种第I跟踪区域Fl中零级衍射后的聚焦光斑9f相隔距离SY的第8受光区域6h内的位置上聚焦。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第2种第I跟踪区域Fl被衍射后产生的聚焦光斑9f相隔距离SY的第10受光区域6j内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。当第I种第2跟踪区域E2中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9e2。聚焦光斑9e2聚焦在第2直线L2上。经第I种第2跟踪区域E2衍射后产生的聚焦光斑9e2的聚焦光斑形状，比经第I种第I跟踪区域El衍射后的第5受光区域6e内的聚焦光斑9e的聚焦光斑形状要稍大。
当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9f2。经第2种第2跟踪区域F2衍射后产生的聚焦光斑9f2的聚焦光斑形状，比经第2种第I跟踪区域Fl衍射后的第6受光区域6f内的聚焦光斑9f的聚焦光斑形状要稍大。如图4所示，当衍射区域19的第2聚焦区域B中射入了第2波长的零级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9a。这与上述第I波长的光经第I聚焦区域A衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦形成的聚焦光斑9a的位置相同。因此，第I波长的零级衍射光在第I聚焦区域A中平行分割线27上的任意一点的衍射
角度、和第2波长的零级衍射光在第2聚焦区域B中平行分割线27上的所述同一任意一点的衍射角度被设定成相同的值。当衍射区域19的第I聚焦区域A中射入了第2波长的零级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9d。距离PX3比距离PXl要长。在受光元件6的受光面上，通过与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3的聚焦光斑9d的聚焦位置并沿切向Y延伸的直线被记为第3直线L3。在受光元件6的受光面上，第3直线L3通过第4受光区域6d。当衍射区域19的第I种第2跟踪区域E2中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9e。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9f。衍射刻槽的间距与衍射角之间的关系满足与在说明第I和第2聚焦区域A、B时所用的公式相同的公式，因此，为了避免重复，省略其说明。当第I种第2跟踪区域E2中射入了因分光元件46产生的第2波长的一 I级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第I种第2跟踪区域E2中零级衍射后的聚焦光斑9e相隔距离SY2的第7受光区域6g内的位置上聚焦。当第I种第2跟踪区域E2中射入了因分光元件46产生的第2波长的+ I级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第I种第2跟踪区域E2中衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SY2的第9受光区域6i内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。第2波长要大于第I波长，分光元件46所产生的土 I级衍射光的衍射角变大，因此，距离SY2比距离SY要大。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第2波长的一 I级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第2种第2跟踪区域F2中零级衍射后的聚焦光斑9f相隔距离SY2的第8受光区域6h内的位置上聚焦。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第2波长的+ I级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第2种第2跟踪区域F2被衍射后产生的聚焦光斑9f相隔距离SY2的第10受光区域6 j内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍 射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9e3。经第I种第I跟踪区域El衍射后产生的聚焦光斑9e3的聚焦光斑形状，比经第I种第2跟踪区域E2衍射后的第5受光区域6e内的聚焦光斑9e的聚焦光斑形状要稍大。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9f3。经第2种第I跟踪区域Fl衍射后产生的聚焦光斑9f3的聚焦光斑形状，比经第2种第2跟踪区域F2衍射后的第6受光区域6f上的聚焦光斑9f的聚焦光斑形状要稍大。如上所述，通过将第I波长的光在第I聚焦区域A中的衍射角度与第2波长的光在第2聚焦区域B中的衍射角度设定为相同的值，式(I)中的衍射角度Θ Ald与式(4)中的衍射角度Θ B2d相等。关于光源12中的第I发光点32和第2发光点33，即使它们的位置互不相同，但为了简化说明，使发光点相同，将各自相对于衍射元件16的入射角也设为零度，则满足下式(5)。λ Ι/dA= λ 2/dB…(5)此时，第I波长的光射入第2聚焦区域B时的衍射角度Θ Bld将由式(2)和式(5)得出下式(6)。sin Θ Bld= ( λ I/ λ 2) · sin Θ Aid··· (6)因而，由于第I波长和第2波长满足“ λ I < λ 2”的关系，因此，衍射角度满足Θ Bld < Θ Aid,向比第I基准位置即聚焦光斑9a更靠近光轴的第2基准位置即聚焦光斑9c的位置衍射，如图3所示，处于第3受光区域6c内的聚焦光斑9c那样的位置。同样，若要求出第2波长的光射入第I聚焦区域A时的衍射角度Θ A2d，则有下式
(7)成立。sin Θ A2d=( λ 2/ λ I) · sin θ B2d... (7)因而，由于第I波长和第2波长满足“ λ I < λ 2”的关系，因此，衍射角度满足Θ A2d > Θ B2d,向比第I基准位置即聚焦光斑9a更远离光轴34的第3基准位置即聚焦光斑9d的位置衍射，如图4所示，处于第4受光区域6d内的聚焦光斑9d那样的位置。第I种第I跟踪区域El和第I种第2跟踪区域E2也同样，将第I波长的光射入第I种第I跟踪区域El并发生衍射时的衍射角度、和第2波长的光射入第I种第2跟踪区域E2并发生衍射时的衍射角度设定为使各自的聚焦光斑的位置处于聚焦光斑9e的位置。另外，第2种第I跟踪区域Fl和第2种第2跟踪区域F2也同样，将第I波长的光射入第2种第I跟踪区域Fl并发生衍射时的衍射角度、和第2波长的光射入第2种第2跟踪区域F2并发生衍射时的衍射角度设定为使各自的聚焦光斑的位置处于聚焦光斑9f的位置。衍射区域19的第I聚焦区域A和第2聚焦区域B中形成的衍射刻槽沿切向Y呈直线状或曲线状延伸。根据λ1< λ 2以及式(5)，第I聚焦区域A和第2聚焦区域B的衍射刻槽的间距满足dA < dB的关系，因此，在垂直于平行分割线27的方向上，间距较宽的区域和间距较窄的区域交替地配置。另外，衍射区域19的第I种第I跟踪区域El和第I种第2跟踪区域E2中形成的衍射刻槽，在与将衍射元件19的中心点PO和聚焦光斑9e相连接的直线正交的方向上呈直线状或曲线状延伸。第I种第I跟踪区域El和第I种第2跟踪区域E2中形成的衍射刻槽的间距与上述相同，第I种第2跟踪区域E2的衍射刻槽的间距比第I种第I跟踪区域El的衍射刻槽的间距要大，且各自以平行分割线27为边界交 替地配置。同样，衍射区域19的第2种第I跟踪区域Fl和第2种第2跟踪区域F2中形成的衍射刻槽，在与将衍射元件19的中心点PO和聚焦光斑9f相连接的直线正交的方向上呈直线状或曲线状延伸。第2种第I跟踪区域El和第I种第2跟踪区域F2中形成的衍射刻槽的间距与上述相同，第2种第2跟踪区域F2的衍射刻槽的间距比第2种第I跟踪区域Fl的衍射刻槽的间距要大，且各自以平行分割线27为边界交替地配置。若衍射元件16是透明玻璃基板，衍射区域19可以用光刻法制造，若衍射元件16是透明树脂基板，衍射区域19则可以用2P法或模具成形法制造。接下来，对光拾取装置10的工作原理进行说明。未图示的伺服信号生成部根据从各受光区域得到的电信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号。然后，未图示的伺服信号处理部根据伺服信号即聚焦误差信号和跟踪误差信号，进行聚焦伺服控制和跟踪伺服控制，控制安装了未图示的驱动件的物镜29的聚焦方向和跟踪方向的位置，以使物镜29所产生的聚焦点跟踪光学记录介质11的规定磁道。控制这些伺服信号生成部、伺服信号处理部和驱动件的未图示的驱动控制部由现有技术来实现。具体而言，聚焦误差信号(Focus Error Signal :以下也称之为“FES”)是接受了在衍射区域19的第I聚焦区域A或第2聚焦区域B被衍射的光信号的第I和第2受光区域6a、6b所检测出的电信号Sa、Sb之差。即，FES由下式(8)计算得到。FES=Sa-Sb... (8)光拾取装置10利用以衍射区域18上的刀口部26为边界的刀口，采用刀口法进行聚焦伺服控制。特别是将因刀口发生聚焦的光只是一个点状或与点状相近形状的聚焦光斑，因此，即使受光元件6的姿势在垂直于光轴方向Z的XY平面内偏离XY方向或者发生旋转，通过调节衍射元件16使其在垂直于光轴方向Z的XY平面内偏离XY方向或发生旋转，也能进行校正。因此，采用刀口法始终都能检测出聚焦误差信号，从而能稳定地进行聚焦伺服控制。下面,将第I 第6受光区域6a 6f中检测出的电子信号分别记为Sa、Sb、Sc、Sd、Se、Sf。聚焦区域22中包含的第I聚焦区域A和第2聚焦区域B分别对应于不同类型的光，是指使一种光射入预先设定的受光区域上的点，这里是指射入第I受光区域6a与第2受光区域6b之间的边界线附近所设定的聚焦光斑9a。另外,跟踪误差信号(Tracking Error Signal:以下称之为“TES”)是通过使用差动推挽(Differential Push Pull:以下称之为“DPP”)法而在第5和第6受光区域6e、6f检测出的电信号Se、Sf之差。即，TES由下式(9)计算得到。TES=Se-Sf …(9)另外,若采用不同于DPP法的差动相位检测(Differential Phase Detection:以下称之为“Dro”)法，TES则由下式(10)计算得到。TES=Phase(Se-Sf)... (10)DH)法能够稳定地进行伺服控制，使光聚焦到光学记录介质11所希望的磁道上。当使用Dro法时，至少在第5和第6受光区域6e、6f中检测出所入射的光的相位。式(10)中，“Phase (Se-Sf) ”表示由第5、第6受光区域6e、6f得到的光的相位差。另外，若使用不同于DPP法及DH)法的三光束法，则TES根据第7 第12受光区域6g 61所检测出的电信号Sg SI，由下式(11)计算得到。TES=(Sg+Sh+Sk)-(Si+Sj+Sl)— (11)S卩，从分光元件46所衍射的+ I级衍射光得到的电信号之和，减去从一 I级衍射光得到的电信号之和。根据式(8) (11)，计算出跟踪误差信号和聚焦误差信号，因此，光拾取装置10能够稳定地进行伺服控制，使光聚焦到光学记录介质11所希望的磁道上。将重放信号记为RF，则RF由下式(12)计算得到。RF=Sa+Sb+Sc+Sd+Se+Sf …(12)因此，光拾取装置10能够稳定地重放磁道的重放信号RF。实施方式I中，平行分割线27的宽度Wa和宽度Wb被设定为在第2聚焦区域B中形成的间距宽度较宽的衍射刻槽的间距dB的5倍间距宽度以上，且宽度Wa与宽度Wb之比为1:1。但是，宽度Wa与宽度Wb之比并不限定为1:1。例如，也可以改变上述宽度之比来进行调节，以在使用第I波长时或使用第2波长时，调节各自输出的伺服信号的信号强度。具体而言，例如，当对第I波长的光的受光灵敏度要低于对第2波长的光的灵敏度时，将宽度Wa设定为大于宽度Wb，并将第I聚焦区域A的面积设定为大于第2聚焦区域B的面积，从而能够增大对于第I波长的光的RF信号、聚焦误差信号FES的信号振幅。由此，能够提高信噪比(signal to noise ratio :简称为“S/N比”),从而能够提高信号质量。这样，也可以将各受光区域对不同波长的各种光的受光灵敏度考虑在内，来决定第I聚焦区域A和第2聚焦区域B的面积比例。另外，在实施方式I中，将照射在受光元件6上的聚焦光斑9e、9f的位置设定在第I直线LI上，且将第5、第6受光区域6e、6f的径向X的尺寸设定为与第I、第2受光区域6a、6b的径向X的尺寸相同，但并不限于此。例如，也可以根据聚焦光斑9e、9f的聚焦位置，来决定第5和第6受光区域6e、6f的径向X及切向Y的尺寸，使其能够接受第I波长和第2波长的光即可。刀口部26与平行分割线27所成的角度α最好在30度以上且在150度以下。平行分割线27的角度α较小时，会因附着在光学记录介质11上的异物、污垢而在衍射元件16上产生零级衍射光的光强降低的部分。由于该光强变弱的部分会向Y方向移动，因此在角度α较小时，会导致聚焦误差信号和跟踪误差信号中混入的噪声信号变大。通过使该角度α相对于刀口部26发生一定程度的倾斜，能够减小上述噪声，从而实现稳定的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制。
另外，实施方式I中，在使用三光束法来进行跟踪伺服时，如上所述，将分光信号46所产生的±1级衍射光的信号输出之差作为跟踪误差信号。图5A 图5C是将分割线投影到射入衍射元件16的±1级衍射光上的图。图5A是用第2波长的光使光拾取装置10工作时，从光轴方向Z观察衍射区域19和射入衍射区域19的第2波长的光的俯视图。图5B是射入上述衍射区域19的第2波长的光中向衍射区域19射入的+ I级衍射光302的俯视图，且将衍射区域19的分割线包含在内，图5C则是射入上述衍射区域19的第2波长的光中向衍射区域19射入的一 I级衍射光301的俯视图，也将衍射区域19的分割线包含在内。关于+ I级衍射光302，刀口部26从+ I级衍射光302的中心向一 Y方向偏离，且跟踪规定分割线40从+ I级衍射光302的中心向径向X的一方向偏离。关于一 I级衍射光301，刀口部26从一 I级衍射光301的中心向切向Y的+方向偏离，且跟踪规定分割线40从一 I级衍射光301的中心向径向X的一方向偏离。此外,衍射区域19上的光斑像
被与刀口部26成角度α的多条平行分割线27所分割。第2波长的光中用于三光束法的光如图5Β和图5C所示，位于± I级衍射光301、302的有效直径以内，是透过除了用斜线标注的第I波长所用的细分区域以外的没有标注斜线的白色的第2波长所用的细分区域的光。该白色的第2波长所用的细分区域在有效直径内存在多个，且在有效直径内有连续性。因此，即使射入衍射区域19的零级衍射光300和±1级衍射光301、302在Y方向上稍有偏离，白色的第2波长所用的细分区域也始终在有效直径以内，+ I级衍射光302和一 I级衍射光301的光强平衡不易发生变化。其结果是，由式(11)计算得到的跟踪误差信号TES不易发生偏差，从而能够稳定地进行跟踪伺服控制。所谓有效直径，是指零级衍射光300和土 I级衍射光301、302各自在衍射区域19中的光斑像的区域。根据实施方式1，光拾取装置10中的聚焦衍射区域21和跟踪衍射区域36具备与光源12所能射出的光的类型相同数量类型的聚焦区域22和跟踪区域38。聚焦区域22和跟踪区域38的类型分别对应于光的各种类型。各种聚焦区域22使相应类型的光向聚焦受光区域17衍射，各种跟踪区域38使相应类型的光向跟踪受光区域衍射。另外，各种聚焦区域22由多个同种聚焦细分区域构成，各种跟踪区域由多个同种跟踪细分区域构成。各种聚焦区域22的多个聚焦细分区域周期性地分布在聚焦衍射区域21中，各种跟踪区域38的多个跟踪细分区域周期性地分布在跟踪衍射区域36中。跟踪受光区域会随着跟踪误差检测方式的不同而发生变化，在采用DPP法和DPD法时，为第5和第6受光区域6e、6f,在米用三光束法时,为第7 第12受光区域6g 61。从而，多种不同波长的光能够共用聚焦受光区域17和跟踪受光区域。另外，各种聚焦区域22的多个聚焦细分区域周期性地分布在聚焦衍射区域21中。另外，各种跟踪区域38的多个跟踪细分区域则周期性地分布在跟踪衍射区域36中。形成这些聚焦细分区域和跟踪细分区域的平行分割线27即使横跨刀口部26和跟踪规定分割线40也具有连续性，因此，即使来自光学记录介质11的反射光射入多种聚焦区域22中的任一个聚焦区域22、及多种跟踪区域38中的任一个跟踪区域38上的位置在Y方向上发生偏离，或光学记录介质11上附着有异物或污垢，也能稳定地进行聚焦伺服控制和跟踪伺服控制。另外，根据实施方式1，聚焦衍射区域21的外部边缘的预先设定的一部分由形成为直线状的刀口部26所规定。无论来自光学记录介质11的反射光18是哪一种光,反射光
18都与射入衍射元件16的入射区域即衍射区域19相交叉。聚焦衍射区域21被平行排列的多条平行分割线27分割成多个聚焦细分区域。多条平行分割线27相对于刀口部26倾斜。另外，根据实施方式1，平行分割线27与刀口部26所成的角度在30度以上且在150度以下。从而，即使射入衍射元件16的光的位置发生了变化，用于一种光的聚焦细分区域的部分面积、以及用于其他种光的聚焦细分区域的部分面积也能有效地分散在多种聚焦区域22中。因而，能够稳定地进行聚焦伺服。同时，即使射入衍射元件16的光的位置发生了变化，用于一种光的跟踪细分 区域的部分面积、以及用于其他种光的跟踪细分区域的部分面积也能有效地分散在多种跟踪区域38中。因而，能够稳定地进行跟踪伺服。另外，根据实施方式1，各聚焦细分区域和各跟踪细分区域中，平行且周期性地形成有多道衍射刻槽。在各聚焦细分区域和各跟踪细分区域所形成的衍射刻槽中，有5道以上的衍射刻槽与和各聚焦细分区域及各跟踪细分区域的衍射刻槽垂直交叉的假想平面相交叉。从而，各聚焦细分区域及各跟踪细分区域中的衍射刻槽在与衍射刻槽垂直的方向上排列的数量能够控制在进行高效衍射所需的最低限度的数量以上。因而，能够高效地在各聚焦细分区域中进行衍射。另外，实施方式I中，配置第3和第4受光区域6c、6d来接受在另一种聚焦区域22中发生衍射的第I波长或第2波长的光，但并不限于此，只要第I和第2受光区域6a、6b的受光量足够大，就可以省略第3和第4受光区域6c、6d。另外，实施方式I中，第I和第2受光区域6a、6b之间的边界线配置成与径向X平行的直线，但不限于此，也可以相对于径向X倾斜。这是因为在考虑波长公差的情况下，所接受的光斑的形状会以第I基准位置即聚焦光斑9a为界而发生变化，从而可能发生散焦，而为了校正这一情况有时会使上述边界线倾斜。同样，其它关于受光区域的形状在径向X和切向Y上的尺寸，实施方式I中的尺寸也只是一个例子，但不限定于此。另外，实施方式I中，针对在第I和第2受光区域6a、6b之间的边界处所接受的光斑，将衍射区域19的衍射刻槽的间距设定成使第I波长的光和第2波长的光的聚焦光斑9a聚焦到大致相同的位置上，但并不限于此，只要不从第I和第2受光区域6a、6b露出，第I波长的光的聚焦位置和第2波长的光的聚焦位置也可以稍稍偏移。另外，实施方式I中，相对于受光元件6，第I波长的第I发光点32配置得比第2波长的第2发光点33要远，但并不限于此，两者的位置可以互换。另外，实施方式I中，能够根据光学记录介质11的类型来改变跟踪误差信号TES的检测方式。例如，若第I波长用于DVD-ROM (Read Only Memory :只读存储器)，第2波长用于CD-ROM，则DVD-ROM重放时采用DB)法，CD-ROM重放时采用三光束法。图6是表示本发明实施方式2的光拾取装置210的结构的图。图7是衍射元件216和各受光区域的俯视图。图8是表示针对第I波长的光的衍射元件216与各受光区域之间的关系的图。图9是表示针对第2波长的光的衍射元件216与各受光区域之间的关系的图。图10是表示针对第3波长的光的衍射元件216与各受光区域之间的关系的图。实施方式2的光拾取装置210与实施方式I的光拾取装置10相类似，以下，以实施方式2与实施方式I的不同之处为中心进行说明。
实施方式2的光拾取装置210在实施方式I的光拾取装置10的光源12的基础上，还增加了发出第3波长的光的光源51。光源51配置在比光源12更靠近受光元件6的位置，且与光源12相邻。光源51具备第3发光点52的发光点，向与第I、第2发光点32、33所发出的第I波长的光和第2波长的光大致相同的方向发出光。互不相同的3个波长中，按照第I波长、第2波长、第3波长的顺序，波长依次变长。光源12是在一块芯片内具有不同波长发光点的单片型光源，光源51是单波长激光芯片的混合型光源，但并不限于此，3个波长既可以采用在一块芯片内具有3个发光点的单片型，也可以采用由所有波长都独立的单波长激光芯片构成且相邻配置的混合型。而且，按照第I波长、第2波长、第3波长的顺序沿X方向排列，但并不限于此，只要中间波长位于中央，也可以沿X方向的反方向排列。此外，关于第I波长、第2波长、第3波长的第I发光点32、第2发光点33、第3发光点52,记载了沿X方向排列的情况， 但并不限于此，任一个或多个发光点都可以在Y方向上发生偏移。受光元件206与实施方式I的光拾取装置10内的受光元件6相同，具备第I 第12受光区域206a 2061这12个受光区域，但第5 第12受光区域206e 2061的X方向尺寸与第3受光区域206c在径向X —方向上的端点和第4受光区域206d在径向X +方向上的端点之间的尺寸相等。衍射元件216上形成的衍射区域219是在实施方式I的衍射区域19中构成的被相对于刀口部26以角度α倾斜的平行分割线27所分割的第I和第2聚焦区域Α、B所包含的聚焦细分区域、以及第I种第I、第I种第2、第2种第I和第2种第2跟踪区域Ε1、Ε2、F1、F2所包含的跟踪细分区域的基础上，增加了第3聚焦区域C所包含的聚焦细分区域、以及第I种第3和第2种第3跟踪区域E3、F3所包含的跟踪细分区域。衍射区域219被聚焦规定分割线26所分割的聚焦衍射区域221和跟踪衍射区域236分别形成半圆形。跟踪衍射区域236被分割成第I跟踪区域E和第2跟踪区域F，且进一步被平行分割线27分割成第I种第I跟踪区域E1、第I种第2跟踪区域E2、第I种第3跟踪区域E3、第2种第I跟踪区域F1、第21种第2跟踪区域F2、第2种第3跟踪区域F3共计6种跟踪区域。分割成第I跟踪区域E和第2跟踪区域F的跟踪规定分割线40有第I跟踪规定分割线401、第2跟踪规定分割线402、第3跟踪规定分割线403这三种。第I跟踪规定分割线401分割第I种第I跟踪区域El和第2种第I跟踪区域Fl。第2跟踪规定分割线402分割第I种第2跟踪区域E2和第2种第2跟踪区域F2。第3跟踪规定分割线403分割第I种第3跟踪区域E3和第2种第3跟踪区域F3。第2跟踪规定分割线402配置在跟踪衍射区域236中沿着与磁道切线方向所对应的方向延伸且通过中心点PO的直线上。第I跟踪规定分割线401配置在跟踪衍射区域236中从在径向X的一方向上与中心点PO相隔距离Tl的点Pl沿与磁道切线方向所对应的方向延伸的直线上。第3跟踪规定分割线403配置在跟踪衍射区域236中从在径向X的+方向上与中心点PO相隔距离T2的点P2沿与磁道切线方向所对应的方向延伸的直线上。衍射区域219中形成的聚焦衍射区域221按照第I聚焦区域A、第2聚焦区域B、第3聚焦区域C的顺序相邻配置。同样，跟踪衍射区域236也按照第I种第I跟踪区域E1、第I种第2跟踪区域E2、第I种第3跟踪区域E3的顺序相邻配置，且按照第2种第I跟踪区域F1、第2种第2跟踪区域F2、第2种第3跟踪区域F3的顺序相邻配置。如图8所示，当衍射区域219的第I聚焦区域A中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9a。受光兀件206的受光面上的聚焦光斑9a在第I受光区域206a与第2受光区域206b之间的边界线上聚焦成点状或接近点状的形状。在受光元件206的受光面上,通过与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的聚焦光斑9a的聚焦位置并沿切向Y延伸的直线被记为第I直线LI。在受光元件206的受光面上，第I直线LI通过第I、第2、第5 第12受光区域206a、206b、206e 2061。当衍射区域219的第I聚焦区域A中射入了因分光元件46产生的第I波长的一I级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第I聚焦区域A中零级衍射后的聚焦光斑9a相隔距离SYl的第11受光区域206k内的位置上聚焦。当第I聚焦区域A中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与聚焦光斑9a相隔距离SYl的第12受·光区域2061内的位置上聚焦。当衍射区域219的第2聚焦区域B中射入了第I波长的零级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9c。距离PX2比距离PXl要短。在受光元件206的受光面上，通过与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2的聚焦光斑9c的聚焦位置并沿切向Y延伸的直线被记为第2直线L2。第I波长的光经第2聚焦区域B衍射后并在第3受光区域206c上所形成的聚焦光斑9c的聚焦光斑形状，比第I波长的光经第I聚焦区域A衍射后并在第I受光区域206a与第2受光区域206b之间的边界上所形成的聚焦光斑9a的聚焦光斑形状要稍大。当衍射区域219的第2聚焦区域B中射入了因分光元件46产生的第I波长的一I级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第2聚焦区域B中零级衍射后的聚焦光斑9c相隔距离SYl的第11受光区域206k内的位置上聚焦。当的第2聚焦区域B中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的+I级衍射光在切向Y的+方向上与第2聚焦区域B中零级衍射后的聚焦光斑9c相隔距离SYl的第12受光区域2061内的位置上聚焦，且各聚焦光斑的形状比聚焦光斑9a要稍大。当衍射区域219的第3聚焦区域C中射入了第I波长的零级衍射光时，在第3聚焦区域C衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2a的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9c2。距离PX2a比距离PX2要短。在受光元件206的受光面上，通过与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2a的聚焦光斑9c2的聚焦位置并沿切向Y延伸的直线被记为第4直线L2a。第I波长的光经第3聚焦区域C衍射后产生的聚焦光斑9c2的聚焦光斑形状，比第I波长的光经第2聚焦区域B衍射后的第3受光区域206c上的聚焦光斑9c的聚焦光斑形状要稍大。当衍射区域19的第3聚焦区域C中射入了因分光元件46产生的第I波长的一 I级衍射光时，在第3聚焦区域C衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第3聚焦区域C中零级衍射后产生的聚焦光斑9c2相隔距离SYl的位置上聚焦。当第3聚焦区域C中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第3聚焦区域C衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第3聚焦区域C中零级衍射后产生的聚焦光斑9c2相隔距离SYl的位置上聚焦。这些聚焦光斑的形状都比聚焦光斑9c要稍大。即，聚焦光斑9c、9c2与第I波长的零级衍射光的聚焦光斑9a之间的大小满足聚焦光斑9a <聚焦光斑9c <聚焦光斑9c2的关系。第I波长的±1级衍射光的聚焦光斑的形状也相同。虽然图中未示，+ Y方向上的+ I级衍射光的各聚焦光斑的形状比与之相应的零级衍射光的各聚焦光斑要大，而一 Y方向上的一I级衍射光的各聚焦光斑的形状则比与之相应的零级衍射光的各聚焦光斑要小。跟踪衍射区域236也同样，当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的零级衍射光在径向X的+
方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9e。当第2种第I跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9f。衍射刻槽的间距与衍射角之间的关系满足与在说明第I和第2聚焦区域A、B时所用的公式相同的公式，因此，为了避免重复，省略其说明。当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第I波长的一 I级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第I种第I跟踪区域El中零级衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SYl的第7受光区域206g内的位置上聚焦。当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第I种第I跟踪区域El中零级衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SYl的第9受光区域206i内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第I波长的一 I级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第2种第I跟踪区域Fl中零级衍射后产生的聚焦光斑9f相隔距离SYl的第8受光区域206h内的位置上聚焦。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第I波长的+ I级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第2种第I跟踪区域Fl中零级衍射后产生的聚焦光斑9f相隔距离SYl的第10受光区域206 j内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。当第I种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9e2。距离PX2比距离PXl要短。聚焦光斑9e2形成在第2直线L2上。经第2种第2跟踪区域F2衍射后产生的聚焦光斑9e2的聚焦光斑形状，比经第I种第I跟踪区域El衍射后的第5受光区域206e内的聚焦光斑9e的聚焦光斑形状要稍大。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦 光斑9f2。聚焦光斑9f2形成在第2直线L2上。经第2种第2跟踪区域F2衍射后产生的聚焦光斑9f2的聚焦光斑形状，比经第2种第I跟踪区域Fl衍射后的第6受光区域206f内的聚焦光斑9f的聚焦光斑形状要稍大。当第I种第3跟踪区域E3中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第I种第3跟踪区域E3衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2a、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9e2a。距离PX2a比距离PX2要短。聚焦光斑9e2a形成在第4直线L2a上。经第2种第3跟踪区域F3衍射后产生的聚焦光斑9e2a的聚焦光斑形状，比经第I种第2跟踪区域E2衍射后的第5受光区域206e内的聚焦光斑9e2的聚焦光斑形状要稍大。当第2种第3跟踪区域F3中射入了因分光元件46产生的第I波长的零级衍射光时，在第2种第3跟踪区域F3衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2a、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9f2c。聚焦光斑9f2c形成在第4直线L2a上。经第2种第3跟踪区域F3衍射后产生的聚焦光斑9f2c的聚焦光斑形状，比经第2种第2跟踪区域F2衍射后的第6受光区域206f上的聚焦光斑9f2的聚焦光斑形状要稍大。如图9所示，当衍射区域219的第2聚焦区域B中射入了第2波长的零级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9a。这与上述第I波长的光经第I聚焦区域A衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦形成的聚焦光斑9a的位置相同。因此，第I波长的光在第I聚焦区域A中平行分割线27上的任意一点的衍射角度、和第2波长的光在第2聚焦区域B中平行分割线27上的所述同一任意一点的衍射角度被设定成相同的值。当衍射区域219的第I聚焦区域A中射入了第2波长的零级衍射光时，在第I聚焦区域A衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9d。距离PX3比距离PXl要长。在受光元件206的受光面上，通过与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3的聚焦光斑9d的聚焦位置并沿切向Y延伸的直线被记为第3直线L3。在受光元件206的受光面上，第3直线L3通过第4受光区域206d。当衍射区域219的第I种第2跟踪区域E2中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9e。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9f。衍射刻槽的间距与衍射角之间的关系满足与在说明第I和第2聚焦区域A、B时所用的公式相同的公式，因此，为了避免重复，省略其说明。当第I种第2跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第2波长的一 I级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第I种第I跟踪区域El中零级衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SY2的第7受光区域206g内的位置上聚焦。当第I种第2跟踪区域E2中射入了因分光元件46产生的第2波长的+ I级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的+ I级衍射光在切向 Y的+方向上与第I种第I跟踪区域El中零级衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SY2的第9受光区域206i内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。第2波长要大于第I波长，分光元件46所产生的±1级衍射光的衍射角变大，因此，距离SY2比距离SYl要大。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第2波长的一 I级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第2种第2跟踪区域F2中零级衍射后的聚焦光斑9f相隔距离SY2的第8受光区域206h内的位置上聚焦。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第2波长的+ I级衍射光时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第2种第2跟踪区域F2中零级衍射后产生的聚焦光斑9f相隔距离SY2的第10受光区域206 j内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置的第5受光区域206e上聚焦，并形成聚焦光斑9e3。经第I种第I跟踪区域El衍射后产生的聚焦光斑9e3的聚焦光斑形状，比经第I种第2跟踪区域E2衍射后的第5受光区域206e内的聚焦光斑9e的聚焦光斑形状要稍大。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的第6受光区域206f上聚焦，并形成聚焦光斑9f3。经第2种第I跟踪区域Fl衍射后产生的聚焦光斑9f3的聚焦光斑形状，比经第2种第2跟踪区域F2衍射后的第6受光区域206f上的聚焦光斑9f的聚焦光斑形状要稍大。当第I种第3跟踪区域E3中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第I种第3跟踪区域E3衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2b、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的第5受光区域206e上聚焦，并形成聚焦光斑9e2。经第I种第3跟踪区域E3衍射后产生的聚焦光斑9e2的聚焦光斑形状，比经第I种第2跟踪区域E2衍射后的第5受光区域206e内的聚焦光斑9e的聚焦光斑形状要稍大。当第2种第3跟踪区域F3中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第2种第3跟踪区域F3衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX2b、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的第6受光区域206f上聚焦，并形成聚焦光斑9f2。经第2种第3跟踪区域F2衍射后产生的聚焦光斑9f2的聚焦光斑形状，比经第2种第I跟踪区域Fl衍射后的第6受光区域206f内的聚焦光斑9f的聚焦光斑形状要稍大。如图10所示，当衍射区域219的第3聚焦区域C中射入了第3波长的零级衍射光时，在第3聚焦区域C衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9a。这与上述第I波长的光经第I聚焦区域A衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PXl的位置上聚焦形成的聚焦光斑9a的位置相同。因此，第I波长的光在第I聚焦区域A中平行分割线27上的任意一点的衍射角度、第2波长的光在第2聚焦区域B中平行分割线27上的所述同一任意一点的衍射角度、以及第3波
长的光在第3聚焦区域C中平行分割线27上的所述同一任意一点的衍射角度被设定成相同的值。当衍射区域219的第2聚焦区域B中射入了第3波长的零级衍射光时，在第2聚焦区域B衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3b的第4受光区域206d上聚焦，并形成聚焦光斑9d。距离PX3b比距离PXl要长。聚焦光斑9d形成在第3直线L3上。在受光元件206的受光面上，第3直线L3通过第4受光区域206d。当衍射区域19的第I种第3跟踪区域E3中射入了因分光元件46产生的第3波长的零级衍射光时，在第I种第3跟踪区域E3衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9e。当第2种第3跟踪区域F3中射入了因分光元件46产生的第3波长的零级衍射光时，在第2种第3跟踪区域F3衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX1、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状，并形成聚焦光斑9f。衍射刻槽的间距与衍射角之间的关系满足与在说明第I和第2聚焦区域A、B时所用的公式相同的公式，因此，为了避免重复，省略其说明。当第I种第3跟踪区域E3中射入了因分光元件46产生的第3波长的一 I级衍射光时，在第I种第3跟踪区域E3衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第I种第I跟踪区域El中零级衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SY3的第7受光区域206g内的位置上聚焦。当第I种第3跟踪区域E3中射入了因分光元件46产生的第3波长的+ I级衍射光时，在第I种第3跟踪区域E3衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第I种第3跟踪区域E3中零级衍射后产生的聚焦光斑9e相隔距离SY3的第9受光区域206i内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。第3波长要小于第2波长，分光元件46所产生的±1级衍射光的衍射角变小，因此，距离SY3比距离SY2要小。当第2种第3跟踪区域F3中射入了因分光元件46产生的第3波长的一 I级衍射光时，在第2种第3跟踪区域F3衍射后的一 I级衍射光在切向Y的一方向上与第2种第3跟踪区域F3中零级衍射后的聚焦光斑9f相隔距离SY3的第8受光区域206h内的位置上聚焦。当第2种第3跟踪区域F3中射入了因分光元件46产生的第3波长的+ I级衍射光时，在第2种第3跟踪区域F3衍射后的+ I级衍射光在切向Y的+方向上与第2种第3跟踪区域F3中零级衍射后产生的聚焦光斑9f相隔距离SY3的第10受光区域206 j内的位置上聚焦成点状或与点状相近的形状。当第I种第2跟踪区域E2中射入了因分光元件46产生的第3波长的零级衍射光时，在第I种第2跟踪区域E2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3b、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置的第5受光区域206上聚焦，并形成聚焦光斑9e3。经第I种第2跟踪区域E2衍射后产生的聚焦光斑9e3的聚焦光斑形状，比经第I种第3跟踪区域E3衍射后的第5受光区域206e内的聚焦光斑9e的聚焦光斑形状要稍大。当第2种第2跟踪区域F2中射入了因分光元件46产生的第3波长的零级衍射光
时，在第2种第2跟踪区域F2衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX3b、且在切向Y的+方向上与之相隔距离PY的第6受光区域206f上聚焦，并形成聚焦光斑9f3。经第2种第2跟踪区域F2衍射后产生的聚焦光斑9f3的聚焦光斑形状，比经第2种第3跟踪区域F3衍射后的第6受光区域206f上的聚焦光斑9f的聚焦光斑形状要稍大。当第I种第I跟踪区域El中射入了因分光元件46产生的第2波长的零级衍射光时，在第I种第I跟踪区域El衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX4、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9e4。距离PX4比距离PX3b要长。经第I种第I跟踪区域El衍射后产生的聚焦光斑9e4的聚焦光斑形状，比经第I种第2跟踪区域E2衍射后的第5受光区域206e内的聚焦光斑9e3的聚焦光斑形状要稍大。当第2种第I跟踪区域Fl中射入了因分光元件46产生的第3波长的零级衍射光时，在第2种第I跟踪区域Fl衍射后的零级衍射光在径向X的+方向上与来自光源12的第I发光点32的出射光的光轴34相隔距离PX4、且在切向Y的一方向上与之相隔距离PY的位置上聚焦，并形成聚焦光斑9f4。经第2种第I跟踪区域Fl衍射后产生的聚焦光斑9f4的聚焦光斑形状，比经第2种第2跟踪区域F2衍射后的第6受光区域206f上的聚焦光斑9f3的聚焦光斑形状要稍大。从受光元件206检测出的电信号所得到的聚焦误差信号FES、跟踪误差信号TES、以及重放信号RF与实施方式I相同，是通过在聚焦衍射区域221和跟踪衍射区域236内，为第I波长、第2波长、第3波长这3个波长分别设置细分区域，从而能够检测出每一个波长的上述信号。实施方式2中，入射到衍射元件219上的各波长的光在相当于各自光轴中心的位置上，按照不同的波长被跟踪规定分割线401 403所分割，因此，沿径向X观察时，各波长的光在光斑直径内相当于大致中心的位置上被分割。因此，电信号Se与电信号Sf之间的信号平衡、以及电信号“Sg+Sh”与电信号“Si+Sj”之间的信号平衡较好，从而，能够使用不同于实施方式I的跟踪伺服控制的DPP法。即，TES可以由下式(13)计算得到。式中，k是常数。TES= (Se-Sf) _k {(Sg+Sh) — (Si+Sj)}... (13)
因此，光拾取装置210能够稳定地进行跟踪伺服控制，使光聚焦到光学记录介质11所希望的磁道上。实施方式I和实施方式2中，利用衍射区域19或衍射区域219所产生的+ I级衍射光来检测出伺服信号，但并不限于此。在其它实施方式中，也可以在一 I级衍射光一侧配置同样的第I 第12受光区域6a 61配置,从而使用土 I级衍射光这2种衍射光,利用双刀口法来检测出聚焦误差信号FES。另外，也可以用其它实施方式的结构来检测出跟踪伺服的伺服信号。即，在第I波长的跟踪伺服方式不同于第2波长的跟踪伺服方式的情况下，例如第2波长采用三光束法，而第I波长采用其它跟踪伺服方式的情况下，对于第2波长，为了实现本发明的目的“防止采用三光束法的跟踪伺服信号失去平衡”，也可以根据实施方式I或实 施方式2，对第I波长采用其它实施方式的结构来检测出跟踪伺服的伺服信号。通过使用光源12、受光元件6和衍射元件16形成为一体的集成单元、或光源12、51、受光元件206和衍射元件216形成为一体的集成单元，即所谓的全息激光，与上述元件未形成一体的情况相比，能够实现光拾取装置10、210的小型化。在这一情况下，其它效果也能与上述实施方式的效果相同。另外，实施方式I和实施方式2中，聚焦区域22、222及跟踪区域38、238中的聚焦细分区域及跟踪细分区域被多条平行的平行分割线27所分割，但对应于光源12、51所能射出的光的类型的各聚焦区域22、222及跟踪区域38、238，只要是每一种聚焦区域22、222及跟踪区域38、238都在整个聚焦区域22、222及跟踪区域38、238内分散配置即可。例如，也可以被通过中心点PO且形成放射状的分割线分割。另外，被多条平行的平行分割线27所分割的聚焦细分区域和跟踪细分区域只要在各种聚焦区域22、222和跟踪区域38、238中形成多个即可。最低个数为“2”，且各种区域的个数越多，越能均匀地进行分散配置。另外，实施方式I和实施方式2中，聚焦伺服控制使用刀口法，跟踪伺服控制则使用DPP法，并对此进行了说明，但并不限于此，若是使用衍射元件16、216的光拾取装置，则聚焦伺服控制也可以使用非点像差法或光束尺寸法，跟踪伺服控制则可以使用DH)法或三光束法等，通过准备具有与衍射元件16、216相对应的受光区域的受光元件就能同样适用。另外，实施方式I和实施方式2中，为了使用刀口法，用通过光轴34中央的直线来构成成为刀口的刀口部26，但并不限于此，若是通过偏离了光轴34中央的点的直线、甚至是曲线，只要能起到刀口的作用，都能同样地适用。另外，实施方式I和实施方式2中，分光元件46无论是在2种波长的情况下还是3种波长的情况下，都生成3道光束，但并不限于生成3道光束，也可以具有波长选择性，只对任一波长生成3道光束，而使其它波长的光透过。即，也可以只对特定波长生成3道光束，而使其它波长透过并作为I道光束来使用。另外，实施方式I和实施方式2中，将构成光源12、51的半导体激光器配置成与受光元件6、206相靠近，但并不限于此，对于如下设有聚焦透镜和受光元件的光拾取装置，通过在其返回光路内设置实施方式I的衍射元件16或实施方式2的衍射元件216，也能同样适用，该光拾取装置中，相对于从半导体激光器射出的前进光路，在被光学记录介质11反射的返回光路的光路途中设有分束器等分光元件，使光分束并使返回光路的光轴发生弯曲。由此，光源12或光源12、51能够射出多种不同波长的光，该光是用于对形成有多个磁道的光学记录介质11、211进行照射的光。受光元件6、216上形成有聚焦受光区域17和跟踪受光区域，其中，聚焦受光区域17将所接受的光转换成用于对从光源12或光源12、51射出的光的焦点进行控制的电信号，跟踪受光区域则将所接受的光转换成用于控制从光源12或光源12、51射出的光使其照射到光学记录介质11、211的目标磁道上的电信号。衍射元件16、216上形成有分割成聚焦衍射区域21、221和跟踪衍射区域36、236的衍射区域19、219，其中，聚焦衍射区域21、221使从光源12或光源12、51射出并经光学记录介质11、211反射的反射光18向聚焦受光区域17的方向衍射，跟踪衍射区域36、236则使反射光18向跟踪受光区域的方向衍射。而且，聚焦衍射区域21、221和跟踪衍射区域36、236被多条平行直线即平行分割
线27分割成细分区域。聚焦衍射区域21、221所包含的细分区域由与光源12或光源12、51所能射出的光的类型相对应的聚焦细分区域构成，对应于不同光的类型的聚焦细分区域在与平行分割线27正交的方向上彼此相邻配置。跟踪衍射区域36、236所包含的细分区域由与光源12或光源12、51所能射出的光的类型相对应的跟踪细分区域构成，对应于不同光的类型的跟踪细分区域在与平行分割线27正交的方向上彼此相邻配置。聚焦衍射区域21、221包括与光源12或光源12、51所能射出的光的类型相对应的聚焦区域22、222，跟踪衍射区域36、236包括与光源12或光源12、51所能射出的光的类型相对应的跟踪区域38、238。而且，各聚焦区域22、222由与各聚焦区域22、222所对应的光的类型相同的光的类型所对应的聚焦细分区域构成，使反射光18向同一聚焦受光区域17衍射，各跟踪区域38,238由与各跟踪区域38、238所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域构成，使反射光18向同一跟踪受光区域衍射。而且，在聚焦衍射区域21、221与跟踪衍射区域36、236之间的边界上，各聚焦细分区域和与各聚焦细分区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域相邻配置。从而，光拾取装置10、210能够在使用多种不同波长的光的情况下，共用聚焦受光区域17和跟踪受光区域。而且，光拾取装置10、210还能降低三光束法中射入聚焦区域22、222和跟踪区域38、238的副光束的强度的不连续性，从而使跟踪伺服稳定进行。因此，与多个波长相对应的光拾取装置10、210能够防止在一个波长下采用三光束法得到的跟踪误差信号失去平衡，并且利用在其它波长下采用DH)法或DPP法得到的跟踪误差信号来进行伺服控制，从而在各波长下都能得到稳定的伺服信号。根据本发明，衍射区域19、219被聚焦规定分割线26分割成聚焦衍射区域21、211和跟踪衍射区域36、236，该聚焦规定分割线26是与光学记录介质11、211的记录面35平行且与光学记录介质11、211的磁道切线方向正交的直线。且平行分割线27相对于聚焦规定分割线26倾斜预先设定的角度。因此，光拾取装置10、210能够减小因附着在光学记录介质11、211上的异物或污垢而对重放信号产生的噪声。另外，根据本发明，预先设定的角度为30度以上且在150度以下。因此，光拾取装置10、210能够减小在光学记录介质11、211旋转时因光学记录介质11、211上构成凹凸的小坑给光信号带来的噪声，从而能够稳定地对重放信号进行重放。另外，根据本发明，在所述各细分区域上平行且周期性地形成有多道衍射刻槽。而且，当用与衍射刻槽正交的假想平面来切断一个细分区域时，假想平面中包含的衍射刻槽数为5道以上。从而，光拾取装置10、210中，各聚焦细分区域及各跟踪细分区域中的衍射刻槽在与衍射刻槽垂直的方向上排列的数量能够控制在进行高效衍射所需最低限度的数量以上。因而，光拾取装置10、210能够高效率地进行各聚焦细分区域和各跟踪细分区域中的衍射。另外，根据本发明，所述跟踪受光区域包括第I跟踪受光区域(例如第5受光区域6e、206e)、和与第I跟踪射光区域配置在不同位置上的第2跟踪受光区域(例如第6受光区域6f、206f)。所述各跟踪细分区域包括使反射光18的一部分向第I跟踪受光区域(例如第5受光区域6e、206e)的方向衍射的第I衍射区域(例如第I跟踪区域E)、和使反射光18的一部分向第2跟踪受光区域的方向衍射的第2衍射区域(例如第2跟 踪区域F)中的至少一个衍射区域。位于同一跟踪细分区域中的第I衍射区域和第2衍射区域被至少一条跟踪规定分割线40分割，该跟踪规定分割线40是与光学记录介质11、211的磁道的切线方向平行的直线。并且，各跟踪规定分割线40的位置按照与跟踪细分区域相对应的光的类型配置。从而，即使多个光源12或多个光源12、51所在的位置不同，光拾取装置10、210也能防止射入第I跟踪受光区域(例如第5受光区域6e、206e)和第2跟踪受光区域(例如第
6受光区域6f、206f)的光的光强偏向第I跟踪受光区域(例如第5受光区域6e、206e)和第2跟踪受光区域(例如第6受光区域6f、206f)中的任一个跟踪受光区域。因而，光拾取装置10、210能够高精度地进行跟踪伺服。另外，根据本发明，所述跟踪受光区域包含多个受光区域(例如第5 第12受光区域6e 61)，该多个受光区域根据光源12或光源12、51所能射出的光的类型，选择性地接受经各跟踪区域38、238衍射后的光。从而，光拾取装置10、210能够使跟踪受光区域小型化。因而，光拾取装置10、210能够加快跟踪伺服的响应速度。本发明在不脱离其精神或主要特征的前提下，能够用其它各种方式来实施。因而，上述实施方式的所有内容都仅仅是例示，本发明的范围由权利要求的范围所示，不受说明书内容的任何限制。而且，属于权利要求范围的变形或变更全都在本发明的范围内。
权利要求
1.一种光拾取装置，其特征在于，包括 光源，该光源能够射出多种不同波长的光，用于对形成有多个磁道的光学记录介质进行照射； 受光元件，该受光元件上形成有聚焦受光区域和跟踪受光区域，其中，所述聚焦受光区域将所接受的光转换成用于对从光源射出的光的焦点进行控制的电信号，所述跟踪受光区域则将所接受的光转换成用于控制将从光源射出的光照射到光学记录介质的目标磁道上的电信号；以及 衍射元件，该衍射元件上形成有分割成聚焦衍射区域和跟踪衍射区域的衍射区域，其中，所述聚焦衍射区域使从所述光源射出并经光学记录介质反射的反射光向聚焦受光区域的方向衍射，所述跟踪衍射区域则使所述反射光向跟踪受光区域的方向衍射， 聚焦衍射区域和跟踪衍射区域被多条平行直线即平行分割线分割成细分区域，聚焦衍射区域所包含的细分区域由对应于光源所能射出的光的类型的聚焦细分区域构成，对应于不同光的类型的聚焦细分区域在与平行分割线正交的方向上彼此相邻配置，跟踪衍射区域所包含的细分区域由对应于光源所能射出的光的类型的跟踪细分区域构成，对应于不同光的类型的跟踪细分区域在与平行分割线正交的方向上彼此相邻配置， 聚焦衍射区域包括与光源所能射出的光的类型相对应的聚焦区域，跟踪衍射区域包括与光源所能射出的光的类型相对应的跟踪区域， 各聚焦区域由与各聚焦区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的聚焦细分区域构成，使所述反射光向同一聚焦受光区域衍射，各跟踪区域由与各跟踪区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域构成，使所述反射光向同一跟踪受光区域衍射， 在聚焦衍射区域与跟踪衍射区域之间的边界上，各聚焦细分区域和与各聚焦细分区域所对应的光的类型相同的光的类型所对应的跟踪细分区域相邻配置。
2.如权利要求I所述的光拾取装置，其特征在于， 所述衍射区域被与光学记录介质的记录面平行且与光学记录介质的磁道切线方向正交的直线即第I分割线分割成所述聚焦衍射区域和所述跟踪衍射区域， 所述平行分割线相对于第I分割线倾斜预先设定的角度。
3.如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于， 所述预先设定的角度在30度以上且在150度以下。
4.如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于， 在所述各细分区域中平行且周期性地形成有多道衍射刻槽， 当用与衍射刻槽正交的假想平面来切断一个细分区域时，假想平面中包含的衍射刻槽数为5道以上。
5.如权利要求I所述的光拾取装置，其特征在于， 所述跟踪受光区域包括第I跟踪射光区域、和与第I跟踪射光区域配置在不同位置上的第2跟踪受光区域， 所述各跟踪细分区域包括使所述反射光的一部分向第I跟踪受光区域的方向衍射的第1衍射区域、和使所述反射光的一部分向第2跟踪受光区域的方向衍射的第2衍射区域中的至少一个衍射区域，位于同一跟踪细分区域中的第I衍射区域和第2衍射区域被至少一条第2分割线分害IJ，该第2分割线是与光学记录介质的磁道切线方向平行的直线， 各第2分割线的位置按照与跟踪细分区域相对应的光的类型配置。
6.如权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于， 所述跟踪受光区域包含多个受光区域，所述多个受光区域根据光源所能射出的光的类型，选择性地接受经各跟踪区域衍射后的光。
全文摘要
本发明提供一种光拾取装置。聚焦衍射区域(21)所包含的细分区域由与光源(12)所能射出的光的类型相对应的聚焦细分区域构成，对应于不同光的类型的聚焦细分区域在与平行分割线(27)正交的方向上彼此相邻配置。跟踪衍射区域(36)所包含的细分区域由与光源(12)所能射出的光的类型相对应的跟踪细分区域构成，对应于不同光的类型的跟踪细分区域在与平行分割线(27)正交的方向上彼此相邻配置。
文档编号G11B7/1353GK102881298SQ20121022413
公开日2013年1月16日 申请日期2012年6月29日 优先权日2011年7月15日
发明者福本悟, 村上晋三 申请人:夏普株式会社