一种三态内容可寻址存储器的测试电路及其方法与流程

技术特征：
1.一种三态内容可寻址存储器的测试方法，其特征在于：包括一测试电路，该测试电路主要包括扫描链、向量生成电路、TCAM阵列模块、优先级编码器、测试结果分析电路和修复电路，其中：扫描链将测试图形输入到优先级编码器输入端；向量生成电路提供各种测试图形给TCAM阵列和优先级编码器；测试结果分析电路通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和故障定位；修复电路则根据测试结果分析电路得出的故障定位信息来修复失效的单元；其方法包括如下步骤：步骤一：利用扫描链电路完成优先级编码器的测试：向量生成电路生成各种测试激励，由SI通过扫描链串行输入，并施加到优先级编码器的输入端，测试结果分析电路通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和故障定位；步骤二：在确保优先级编码器没有失效后，完成搜索不匹配时的测试和修复：利用向量生成电路生成各种测试激励，作为搜索数据施加到TCAM芯片，该数据与TCAM内部存储的数据都不匹配，通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和修复工作；步骤三：完成搜索匹配时的测试和修复：利用向量生成电路生成各种测试激励，作为搜索数据施加到TCAM芯片，该数据与TCAM内部存储的数据匹配，通过分析优先级编码器是否有错误的输出来完成测试和修复工作。2.根据权利要求1所述的一种三态内容可寻址存储器的测试方法，其特征在于，上述步骤二中搜索不匹配时的测试和修复方法具体包括如下步骤：(1)首先用写命令将阵列初始化，使每个字具有相同值；(2)搜索数据，使搜索的数据与阵列中存储的值有1比特不匹配，此时理论上应该没有数据匹配，如果有匹配，则说明有错误；错误的单元行地址就是优先级编码器输出的地址，列地址就是搜索的数据中不匹配的那个比特；根据该地址，可以选择合适的修复方式对该失效单元进行修复；修复完成后，重复搜索操作，确保该不匹配的搜索线上没有失效单元；(3)重复上述步骤(2)，直至所有的搜索数据的每个比特都被测试及修复；(4)重复步骤(1)到(3)，此时将初始值写成与步骤(1)中完全相反的值。3.根据权利要求1所述的一种三态内容可寻址存储器的测试方法，其特征在于，上述步骤三中搜索匹配时的测试和修复方法具体包括如下步骤：(1)首先用写命令将阵列初始化，使每个字具有相同值；(2)搜索数据，使搜索的数据与阵列中存储的值相同，此时理论上应该匹配，优先级编码器应该返回优先级最高的地址；如果返回的匹配地址符合预期，则说明该地址的字没有错误，则将该字的有效位置0，使其不再参与搜索，使下次搜索时优先级编码器返回次高优先级的地址；如果返回的匹配地址不符合预期，则说明该预期地址的字有错误，需要被修复，此时已经能够修复该行；如果是列修复，还需要确定失效的列地址；(3)在确定失效的列地址时，先简单判断该字是否能够被列修复来节省时间，将该字的所有位都设为匹配，搜索数据的所有位也都为匹配，此时理论上应该返回预期的匹配地址；如果没有返回预期的地址，说明不能被列修复；如果返回地址符合预期，说明能够被列修复，需要在下述步骤(4)中确定具体的列地址；(4)通过将该字的比特单元逐次屏蔽来确定是哪一位或哪几位失效；将该字的一个或几个比特写成X,其余比特是步骤(1)中写入的初始值，搜索数据与该字是一致的；如果优先级编码器返回符合预期的地址，则说明该比特错误，对其进行列修复；如果优先级编码器返回地址不符合预期，则说明不是该比特错误，继续下一批比特的测试；在所有比特都被测试并修复后，将该字写成步骤(1)中的初始值，搜索该字，检查是否返回了正确的地址，确定修复是否成功；(5)重复步骤(2)至(4)直至所有的字地址都被优先级编码器逐次编码；(6)重复步骤(1)到(5)，此时将初始值写成与步骤(1)完全相反的值。