技术总结
一种三态内容可寻址存储器的测试电路及其方法，包括扫描链、向量生成电路、TCAM阵列模块、优先级编码器、测试结果分析电路和修复电路，扫描链将测试图形输入到优先级编码器输入端，向量生成电路提供各种测试图形给TCAM阵列和优先级编码器，测试结果分析电路通过分析优先级编码器的输出信号来完成测试和故障定位，修复电路则根据测试结果分析电路得出的故障定位信息来修复失效的单元，本发明还公开了利用上述测试电路来修复可寻址存储器的方法,通过插入向量生成电路，扫描链，分析优先级比较器的输出信号，先后完成优先级比较器测试，搜索不匹配测试和搜索匹配测试，并能对失效单元进行定位，完成电路的修复。
技术研发人员：王灿锋;杨昌楷;张建杰
受保护的技术使用者：苏州雄立科技有限公司
文档号码：201310240761
技术研发日：2013.06.18
技术公布日：2017.05.17