一种矢量线型快速擦除方法
【专利摘要】一种矢量线型快速擦除方法，根据擦除路径，对显示的线型进行擦除，只需擦除路径划过待擦除线型，通过计算待擦除线型的像素的不透明度，判断待擦除线型的有效性，进而判断是否删除整个线型的显示，实现一次性快速擦除。本发明针对矢量线型，采用对于线交错点识别的方法来实现文字和线的擦除，可以快速、准确的擦除文字和线类型。
【专利说明】一种矢量线型快速擦除方法
【技术领域】
[0001]本发明属于图像处理【技术领域】，涉及矢量线型的快速擦除，为一种矢量线型快速擦除方法。
【背景技术】
[0002]目前在各种电子显示设备，如电脑、平板等操作环境下，对于文字和线的擦除形式都是以像素擦除方法为主，这种擦除方法效率低下，擦除一个文字或线需要反复进行擦除动作，逐步擦除对应的像素才可以完成，擦除速度慢，在擦除内容较多的情况下，还容易产生遗漏。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的问题是:现有电容屏幕在擦除文字或线时，需要对每个像素都进行擦除操作，效率低下。
[0004]本发明的技术方案为:一种矢量线型快速擦除方法，对于屏幕上的矢量线型，根据擦除路径，对与擦除路径相交的矢量线型进行一次性擦除，包括以下步骤:
[0005]I)依次遍历屏幕中所有矢量线型，对于其中的任意一条矢量线型，放大后都呈现为折线段，将所述折线段转折的像素点作为特征点，对两两特征点之间等间距划分，划分点即为关键点，特征点同时也作为关键点；
[0006]2)进行擦除动作:使擦除路径与待擦除的线型相交至少一次；
[0007]3)完成擦除动作后，对待擦除线型上的关键点的有效性进行判断，关键点与包围关键点的像素点作为一个判断点，对判断点的每个像素的alpha值进行判断，如果判断点中有任意一个像素的alpha值不为0，则该判断点对应的关键点有效，反之，该关键点无效；
[0008]4)判断待擦除线型是否有效:如果待擦除线型上的有任意一个关键点无效，则该待擦除线型无效，完整删除该待擦除线型的显示，完成对该擦除线型的一次性擦除。
[0009]对屏幕中矢量线型的遍历是自动进行的，对矢量线型的关键点数据进行保存，每当屏幕中矢量线型发生变化时，更新矢量线型及其关键点数据。
[0010]步骤I)中，等间距划分时的间距值为4-6个像素。
[0011]对于电容屏幕，以手指或电容笔的移动路径作为擦除路径。
[0012]步骤3)中，关键点为一个像素点,判断点为关键点及其周围8和像素点。
[0013]本发明针对矢量线型，采用对于线交错点识别的方法来实现文字和线的快速擦除，只需一条擦除路径即可一次性擦除所有涉及到的线型，相比现有技术的像素逐一擦除方法，可以快速、准确的擦除文字和线类型，特别是在一次性需要清除大量线型的情况下，用户只需简单画一条线擦除路径，即可清除所有划过的线型，且不会有像素遗留。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明方法的流程图。[0015]图2为本发明实施例中对线型进行擦除动作后的显示示意图。
[0016]图3为本发明实施例中对交叉线线型进行擦除动作后的显示示意图。
[0017]图4为本发明实施例中待擦除线型的线型放大图。
[0018]图5为本发明实施例中经过擦除动作的线型放大图。
[0019]图6为本发明实施例中待擦除线型的特征点的示意图。
[0020]图7为本发明实施例中待擦除线型的关键点的示意图。
[0021]图8为本发明实施例中待擦除线型的判断点的示意图。
【具体实施方式】
[0022]本发明根据擦除路径，对显示的线型进行擦除，包括以下步骤，如图1:
[0023]I)依次遍历屏幕中所有矢量线型，对于其中的任意一条矢量线型，放大后都呈现为折线段，将所述折线段转折的像素点作为特征点，对两两特征点之间等间距划分，划分点即为关键点，特征点同时也作为关键点；
[0024]2)进行擦除动作:使擦除路径与待擦除的线型相交至少一次；
[0025]3)完成擦除动作后，对待擦除线型上的关键点的有效性进行判断，关键点与包围关键点的像素点作为一个判断点，对判断点的每个像素的alpha值进行判断，如果判断点中有任意一个像素的alpha值不为0，则该判断点对应的关键点有效，反之，该关键点无效；
[0026]4)判断待擦除线型是否有效:如果待擦除线型上的有任意一个关键点无效，则该待擦除线型无效，完整删除该待擦除线型的显示，完成对该擦除线型的一次性擦除。
[0027]本发明在计算机或平板电脑上进行，对屏幕中矢量线型的遍历是自动进行的，对矢量线型的关键点数据进行保存，每当屏幕中矢量线型发生变化时，更新矢量线型及其关键点数据。
[0028]图1中，进行一次擦除操作之后，依次遍历屏幕上所有的可编辑线型，称之为可编辑循环，这些可编辑线型均为潜在的待擦除线型；对于任意一条可编辑线型，按照线型的画出顺序，依次找到线型转折处的点，称为关键点。按照线型的画出顺序，从头至尾，2个特征点作为一组特征点，上一组和下一组都有一个公共点。依次遍历线型上的所有特征点组，称为特征点循环。对于特征点组，在特征点组之间依次确定关键点，依次遍历特征点之间的关键点，称为关键点循环。
[0029]对于只有显示功能的屏幕，通过鼠标或绘板等画出擦除路径，对于电容屏幕，一般以手指或电容笔在电容屏幕上的的移动路径作为擦除路径，手指或电容笔离开屏幕时，当前擦除动作完成。此为计算机领域的常识，不再详述。
[0030]现有技术中虽然有一些选中某个线段然后实现整条线删除的操作，但这种方式并不适用于大量线型的快速擦除，在这种方式下，有多少需要擦除的线型就要进行多少次独立的选中操作，工作量大。而本发明只需简单画一条线作为擦除路径即可，速度快，且灵活度高。
[0031]下面通过一个具体实施例来说明本发明的实施。
[0032]以手指或者电容笔移动的路径作为擦除路径，路径的宽度为基准划定操作区域，此时将操作区域内的笔画像素全部清除，如图2所示。对于交叉线型也一样，因为本发明判断方法是以矢量线型为单位进行判断的，判断任意一条矢量线型的时候，与其它的线型无任何关系，判断当前笔画的时候，只关注当前笔画上的特征点和关键点。如图3所示，擦除的是线型交叉处。手指离开屏幕时，当次擦除动作结束。本说明中，笔画即指矢量线型。
[0033]分析笔画擦除数据，计算出本次需要被删除的线，将无效的线型完整删除，具体为:
[0034]获取待擦除线型的原始笔画，将原始笔画放大后，原始笔画呈现为折线段，如图4所示，每一条原始笔画本质上就是一条折线段，笔画绘制是在单独的一个图层，笔画经过处的像素的Alpha是1.0。经过擦除动作的原始笔画放大图如图5。
[0035]将所述折线段转折的像素点作为特征点，如图6中显示的点A1、A2，对两两特征点之间等间距划分，得到关键点，如图7，从Al开始，沿着Al到A2的矢量方向，等间距得到关键点，间距值可根据经验设置，以4-6个像素为宜，特征点同时也作为关键点。
[0036]判定关键点是否有效:如图8所示，以关键点B3为例，根据B3所在的像素点，得到其周围的8个像素,一共9个像素,作为判断点。依次判断判断点中每个像素的alpha值，如果其中任意一个像素的alpha值不为0，则该关键点依然有效；反之，该关键点无效。图8中，B1、B2点无效，B3点有效。
[0037]判断笔画是否有效:如果原始笔画上的有任意一个关键点无效，则该笔画无效，会被完整删除。也就是对于用户来说，只要擦除路径划过待擦除线型一次，整个线型就会被快速完整删除，实现一次性擦除的效果，无需再对线型的所有像素逐一进行擦除操作，这样也保证了擦除的完整性。
[0038]本发明尤其适用于快速擦除大量线型的场合，例如对于文本，一行文字只需I?2条画过此行文字的线条即可清除，无需再逐个字的擦除；在制图中，当需要清除某条线型或某几条线型时，只需在该线型上简单画一下完成擦除动作，即可清除整条线型，不影响其它线型，也不会产生像素遗留。
【权利要求】
1.一种矢量线型快速擦除方法，其特征是对于屏幕上的矢量线型，根据擦除路径，对与擦除路径相交的矢量线型进行一次性擦除，包括以下步骤: 1)依次遍历屏幕中所有矢量线型，对于其中的任意一条矢量线型，放大后都呈现为折线段，将所述折线段转折的像素点作为特征点，对两两特征点之间等间距划分，划分点即为关键点，特征点同时也作为关键点； 2)进行擦除动作:使擦除路径与待擦除的线型相交至少一次； 3)完成擦除动作后，对待擦除线型上的关键点的有效性进行判断，关键点与包围关键点的像素点作为一个判断点，对判断点的每个像素的alpha值进行判断，如果判断点中有任意一个像素的alpha值不为O，则该判断点对应的关键点有效，反之，该关键点无效； 4)判断待擦除线型是否有效:如果待擦除线型上的有任意一个关键点无效，则该待擦除线型无效，完整删除该待擦除线型的显示，完成对该擦除线型的一次性擦除。
2.根据权利要求1所述的一种矢量线型快速擦除方法，其特征是对屏幕中矢量线型的遍历是自动进行的，对矢量线型的关键点数据进行保存，每当屏幕中矢量线型发生变化时，更新矢量线型及其关键点数据。
3.根据权利要求1或2所述的一种矢量线型快速擦除方法，其特征是步骤I)中，等间距划分时的间距值为4-6个像素。
4.根据权利要求1或2所述的一种矢量线型快速擦除方法，其特征是对于电容屏幕，以手指或电容笔的移动路径作为擦除路径。
5.根据权利要求1或2所述的一种矢量线型快速擦除方法，其特征是步骤3)中，关键点为一个像素点，判断点为关键点及其周围8和像素点。
【文档编号】G11C16/10GK103578553SQ201310478592
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2013年10月14日 优先权日:2013年10月14日
【发明者】王进 申请人:江苏敏行信息技术有限公司