光学介质再现装置和光学介质再现方法与流程

本申请要求享有2013年8月14日提交的日本优先权专利申请JP2013-168484的权益，该专利申请的全部内容并入本文以供参考。
技术领域：
本公开内容涉及用于从诸如光盘之类的光学介质中进行再现的光学介质再现装置和光学介质再现方法。
背景技术：
：作为用于实现光盘上的高密度的方法，现有一种通过缩短信道位长(即，标记长度)来实现线密度方向上的高密度的方法。另一种方法是使轨道间距更窄的方法。然而，如果使得线密度方向上的密度更高，则会发生码间干扰增加的问题。此外，如果使得轨道间距更窄，则来自相邻轨道的信息泄漏(相邻轨道串扰)增加。已提出了用于减少相邻轨道串扰(此后在需要时简称为串扰)的方法。例如，在PTL1中描述了：通过将作为再现目标的轨道及位于所述轨道两侧的轨道的再现信号提供至自适应均衡器单元、并控制所述自适应均衡器单元中的抽头系数，来消除串扰。引用列表专利文献PTL1：JP2012-079385A技术实现要素：技术问题根据PTL1中描述的技术，需要三条光束从作为再现目标的轨道和位于所述轨道两侧的轨道中同时地读取数据。需要校准通过所述三条光束读取的再现信号的相位。也可以利用一条光束依次从三个轨道中再现数据，并同时形成再现信号。这就需要用于同时形成再现信号的存储器。因此，PTL1中描述的技术存在这样的问题：光学拾取头的构造变得复杂，相位校准变得复杂，并且电路规模变大。另外，对于PTL1中描述的技术，并未谈及提高线密度方向上的密度。因此，所希望的是提供一种能够通过使用一个轨道的再现信号消除串扰并且提高线密度方向上的密度的光学介质再现装置和光学再现方法。问题的解决方案本公开内容是一种从其上形成有多个轨道的光学介质执行光学再现的光学介质再现装置，所述光学介质再现装置包括：检测单元，配置为将从所述光学介质返回的光束的剖面划分为与径向方向上的外侧区域相对应的至少一个信道、与在切线方向上位置不同的区域相对应的至少一个信道、以及与其他区域相对应的一个信道，并且分别形成所述信道的检测信号；多输入均衡器单元，所述多输入均衡器单元配置为包括多个均衡器单元，所述多个信道的所述检测信号被分别提供到所述均衡器单元，所述多输入均衡器单元配置为对所述多个均衡器单元的输出进行计算，并输出结果作为等化信号；以及二值化单元，所述二值化单元对所述等化信号实施二值化处理，并获得二进制数据。本公开内容是一种从其上形成有多个轨道的光学介质执行光学再现的光学介质再现装置，所述光学介质再现装置包括：光滤波器，从所述光学介质返回的光束入射到所述光滤波器上，并且所述光滤波器形成以空间光学方式在线密度方向和/或轨道密度方向上具有不同频带的多个信号；以及多个电滤波器，通过所述光滤波器形成的多个信号被分别提供到所述多个电滤波器，其中，所述光学介质再现装置通过合并所述多个电滤波器的输出来获得再现信号。发明的有益效果根据本公开内容的一个方面，提供了一种再现装置，包括：检测单元，配置为：将从光学介质返回的光束的剖面划分为分别与第一和第二信道相对应的至少第一和第二区域，其中所述第一区域包括在所述光束的径向方向上的外侧区域，其中所述第二区域包括在所述光束的切线方向上的外侧区域，以及形成与所述各个信道相对应的检测信号；多输入均衡器部件，所述多输入均衡器部件包括均衡器单元，与所述信道相对应的所述各个检测信号被提供到所述均衡器单元，所述多输入均衡器部件配置为对所述均衡器单元的输出进行计算，并基于所述计算输出等化信号；以及二值化单元，所述二值化单元配置为对所述等化信号执行二值化处理，以获得二进制数据。根据本公开内容的一个方面，提供了一种方法，包括：将从光学介质返回的光束的剖面划分为分别与第一和第二信道相对应的至少第一和第二区域，其中所述第一区域包括在所述光束的径向方向上的外侧区域，其中所述第二区域包括在所述光束的切线方向上的外侧区域；形成与所述各个信道相对应的检测信号；将与所述信道相对应的所述检测信号提供到各个均衡器单元；使用包括均衡器单元的多输入均衡器部件对所述均衡器单元的输出进行计算，并基于所述计算输出等化信号；以及对所述等化信号执行二值化处理，以获得二进制数据。根据本公开内容的一个方面，提供了一种再现装置，包括：光滤波器，所述光滤波器配置为提供与从光学介质返回的光束的区域相对应的电信号，所述光束入射到所述光滤波器上，所述光束的所述区域对应于线密度方向和/或轨道密度方向上的不同频带；以及电滤波器，所述电滤波器配置为至少部分地基于由所述光滤波器提供的所述电信号来提供输出，其中，所述再现装置配置为通过合并所述电滤波器的输出来获得再现信号。附图说明[图1]图1是正在根据本公开内容的一实施方式的光盘装置的构造的方框图。[图2]图2是示出根据本公开内容的一实施方式的光学拾取头的构造的示意图。[图3]图3是一实施方式中的数据检测处理单元的示例的方框图。[图4]图4是所述数据检测处理单元中的多输入自适应均衡器的示例的方框图。[图5]图5是所述多输入自适应均衡器的示例的方框图。[图6]图6是等化误差计算单元的示例的方框图。[图7]图7是用于解释区域划分图案的多个示例的示意图。[图8]图8是表示关于图案R2的频率振幅特性的图表。[图9]图9A和9B是表示关于图案R2的抽头系数和频率相位特性的图表。[图10]图10是用于解释关于图案R2的散焦裕度的图表。[图11]图11是用于解释关于图案R2的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图12]图12是用于解释关于图案H3A和H4C的散焦裕度的图表。[图13]图13是用于解释关于图案H3A和H4C的盘径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图14]图14是用于解释关于图案H3A和H4C的盘切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图15]图15是表示关于图案H3A的频率振幅特性的图表。[图16]图16A和16B是表示关于图案H3A的抽头系数和频率相位特性的图表。[图17]图17是表示固定线密度和指标之间关系的图表。[图18]图18是用于解释散焦裕度的图表。[图19]图19是用于解释径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图20]图20是表示关于图案HT4A的频率振幅特性的图表。[图21]图21A和21B是表示关于图案HT4A的抽头系数和频率相位特性的图表。[图22]图22是示出区域划分的具体示例的示意图。[图23]图23是示出通过改变划分位置获得的径向彗形像差的裕度扩展的图表。[图24]图24A至24D是示出受到透镜移位影响的示例的示意图。[图25]图25是表示透镜移位对于径向彗形像差的影响的图表。[图26]图26A至26C是表示透镜移位对于径向彗形像差的影响的图表。[图27]图27A至27C是表示透镜移位对于径向彗形像差的影响的图表。[图28]图28A至28C是表示透镜移位对于径向彗形像差的影响的图表。[图29]图29A至29C是表示透镜移位对于散焦特性的影响的图表。[图30]图30A至30C是表示透镜移位对于散焦特性的影响的图表。[图31]图31A至31C是表示透镜移位对于散焦特性的影响的图表。[图32]图32A至32C是表示透镜移位对于径向彗形像差特性的影响的图表。[图33]图33A至33C是表示透镜移位对于散焦特性的影响的图表。[图34]图34A至34C是表示透镜移位对于径向彗形像差特性的影响的图表。[图35]图35A至35C是表示透镜移位对于散焦特性的影响的图表。[图36]图36是示出区域划分图案的具体示例的示意图。[图37]图37是用于解释径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图38]图38是用于解释径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图39]图39是用于解释衍射光的移位量的示意图。[图40]图40是示出调制传递函数(MTF)的空间频率特性的图表。[图41]图41是用于解释衍射光的移位的示意图。[图42]图42是用于解释衍射光的移位的示意图。[图43]图43是用于解释光滤波器的优化的示意图。[图44]图44是示出区域划分图案IVT4的示意图。[图45]图45是用于解释关于图案IVT4的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图46]图46是用于解释关于图案IVT4的散焦裕度的图表。[图47]图47是用于解释关于图案IVT4的球面像差裕度的图表。[图48]图48是用于解释关于图案IVT4的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图49]图49是用于解释关于图案IVT4的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图50]图50是示出为图案IVT4优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图51]图51是示出为图案IVT4优化的电滤波器的频率特性的图表。[图52]图52是示出为图案IVT4优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图53]图53是示出为图案IVT4优化的电滤波器的频率特性的图表。[图54]图54是示出区域划分图案NST6的示意图。[图55]图55是用于解释关于图案NST6的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图56]图56是用于解释关于图案NST6的散焦裕度的图表。[图57]图57是用于解释关于图案NST6的球面像差裕度的图表。[图58]图58是用于解释关于图案NST6的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图59]图59是用于解释关于图案NST6的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图60]图60是示出区域划分图案IVNST6的示意图。[图61]图61是用于解释关于图案IVNST6的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图62]图62是用于解释关于图案IVNST6的散焦裕度的图表。[图63]图63是用于解释关于图案IVNST6的球面像差裕度的图表。[图64]图64是用于解释关于图案IVNST6的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图65]图65是用于解释关于图案IVNST6的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图66]图66是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图67]图67是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的频率特性的图表。[图68]图68是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图69]图69是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的频率特性的图表。[图70]图70是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图71]图71是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的频率特性的图表。[图72]图72是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图73]图73是示出为图案IVNST6优化的电滤波器的频率特性的图表。[图74]图74是用于解释关于图案IVNST6的在改变抽头数的情形中的散焦裕度的图表。[图75]图75是示出关于图案IVNST6的在改变抽头数的情形中的抽头系数的示例的图表。[图76]图76是示出关于图案IVNST6的在改变抽头数的情形中的频率特性的图表。[图77]图77是示出区域划分图案IVTSP5的示意图。[图78]图78是用于解释关于图案IVTSP5的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图79]图79是用于解释关于图案IVTSP5的散焦裕度的图表。[图80]图80是用于解释关于图案IVTSP5的球面像差裕度的图表。[图81]图81是用于解释关于图案IVTSP5的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图82]图82是用于解释关于图案IVTSP5的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图83]图83是用于解释减少信道数的图案IVTSM4的示意图。[图84]图84是用于解释关于图案IVTSM4的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图85]图85是用于解释关于图案IVTSM4的散焦裕度的图表。[图86]图86是用于解释关于图案IVTSM4的球面像差裕度的图表。[图87]图87是用于解释关于图案IVTSM4的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图88]图88是用于解释关于图案IVTSM4的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图89]图89是示出区域划分图案IVNS5的示意图。[图90]图90是用于解释关于图案IVNS5的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图91]图91是用于解释关于图案IVNS5的散焦裕度的图表。[图92]图92是用于解释关于图案IVNS5的球面像差裕度的图表。[图93]图93是用于解释关于图案IVNS5的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图94]图94是用于解释关于图案IVNS5的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图95]图95是示出为图案IVNS5优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图96]图96是示出为图案IVNS5优化的电滤波器的频率特性的图表。[图97]图97是示出为图案IVNS5优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图98]图98是示出为图案IVNS5优化的电滤波器的频率特性的图表。[图99]图99是示出为图案IVNS5优化的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图100]图100是示出为图案IVNS5优化的电滤波器的频率特性的图表。[图101]图101是用于解释关于减少信道数的图案IVSP4的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图102]图102是示出径向方向上的彗形像差裕度的系数依赖性的图表。[图103]图103是用于解释关于图案IVSP4的散焦裕度的图表。[图104]图104是示出散焦裕度的系数依赖性的图表。[图105]图105是用于解释关于图案IVSP4的球面像差裕度的图表。[图106]图106是示出球面像差裕度的系数依赖性的图表。[图107]图107是用于解释关于图案IVSP4的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图108]图108是用于解释关于图案IVSP4的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图109]图109是用于解释关于图案IVSP4的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图110]图110是用于解释减少信道数的图案IVos4的示意图。[图111]图111是用于解释关于图案IVos4的径向方向上的彗形像差裕度的图表。[图112]图112是用于解释关于图案IVos4的散焦裕度的图表。[图113]图113是用于解释关于图案IVos4的球面像差裕度的图表。[图114]图114是用于解释关于图案IVos4的切线方向上的彗形像差裕度的图表。[图115]图115是用于解释关于图案IVos4的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图116]图116是用于解释关于图案IVos4的在其中图案在径向方向上移位的情形的图表。[图117]图117是示出区域划分图案HNST6的示意图。[图118]图118是示出区域划分图案HiNS5的示意图。[图119]图119是示出区域划分图案VT4的示意图。[图120]图120是示出区域划分图案VHT4的示意图。[图121]图121是示出区域划分图案VHi3的示意图。[图122]图122是示出区域划分图案NST6的示意图。[图123]图123是示出在使密度更高的情形中关于图案NST6的电滤波器的抽头系数的图表。[图124]图124是示出在使密度更高的情形中关于图案NST6的频率特性的图表。[图125]图125是用于解释本公开内容的方框图。[图126]图126是示出根据本公开内容另一实施方式的再现光学系统的示例的示意图。[图127]图127是示出分束器的反射特性的图表。[图128]图128是示出分束器的透视特性的图表。[图129]图129是示出包括附加分束器的光学系统的示意图。[图130]图130是示出根据本公开内容另一实施方式的电滤波器的抽头系数的示例的图表。[图131]图131是示出根据本公开内容另一实施方式的电滤波器的频率特性的示例的图表。[图132]图132是示出根据本公开内容另一实施方式的电滤波器的抽头系数的另一示例的图表。[图133]图133是示出根据本公开内容另一实施方式的电滤波器的频率特性的另一示例的图表。具体实施方式此后描述的实施方式是本公开内容的优选具体示例，并且具有技术上合乎需要的各种约束条件。然而，本公开内容的范围并不受限于这些实施方式，除非在随后的说明中特别声明一种实施方式对本公开内容作出限定。顺便一提，将按以下顺序说明本公开内容。<1.一种实施方式><2.其他实施方式><3.变型例><1.一种实施方式>“光盘装置”如图1所示，根据本公开内容的一种实施方式的光盘装置包括用于在用作光学记录介质的光盘100上记录和再现信息的光学拾取头101，和对所述光盘100进行旋转的主轴电机102。提供螺纹机构(进给电动机)103，以便沿着光盘100的径向方向移动光学拾取头101。作为光盘100，可以使用高密度光盘，比如BD(蓝光(注册商标)盘)。BD是一种在一面的单层上具有大约25GBytes的记录容量、以及在一面的双层上具有大约50GBytes的记录容量的高密度光盘。根据BD标准，光源波长被设置等于405nm，物镜的NA(数值孔径)被设为大到0.85，以便使得束斑直径较小。在CD标准中，光源波长是780nm，NA是0.45，光斑直径是2.11μm。在DVD标准中，光源波长是650nm，NA是0.6，光斑直径是1.32μm。在BD标准中，光斑直径可以变窄至0.58μm。另外，近年来，BDXL(注册商标)已经投入实际使用，在BDXL(注册商标)中，通过缩短BD(蓝光(注册商标)盘)的信道位长(即，标记长度)，并提高线密度方向上的密度，可实现三层中的100GB以及四层中的128GB的更大容量。另外，为了进一步增加记录容量，采用在槽轨和岸轨两者上记录数据的方法(在需要时称为岸/槽记录方案)的光盘是合乎需要的。顺便一提，日语中的“mizo”被称为凹槽，并且由凹槽构成的轨道被称为槽轨。凹槽被定义为用激光照射的部分。夹在相邻凹槽之间的区域被称为“岸”。由岸构成的轨道被称为岸轨。另外，在通过叠置多个信息记录层而形成的多层光盘中，可以进一步增加记录容量。如果将这种能够以高密度进行记录的光盘100装载到光盘装置上，则通过主轴电机102驱动光盘100，以便在记录/再现的时候以恒定线速度(CLV)或者恒定角速度(CAV)旋转。为了校准光盘100的径向方向上的摆动槽的相位，CAV或者区域CAV是合乎需要的。通过光学拾取头(光头)101读出在光盘100上的轨道上记录的标记信息。在将数据记录到光盘100上的时候，通过光学拾取头101，将用户数据作为相位改变标记或者色素改变标记记录在光盘100上的轨道上。在可记录型盘的情形中，在通过摆动槽形成的轨道上记录使用相位改变标记的记录标记。所述相位改变标记是通过使用RLL(1，7)PP调制方案(RLL；游程长度受限，PP：奇偶保持/禁止rmtr(重复最小跳转游程)等等记录的。在每层具有23.3GB的BD的情形中，所述相位改变标记是以0.12μm/信道位和0.08μm/信道位的线密度记录的。以同样的方式，在具有25GB/层的BD的情形中，所述相位改变标记是以0.0745μm/信道位的线密度记录的。在32GB/层的BDXL(注册商标)的情形中，所述相位改变标记是以0.05826μm/信道位的线密度记录的。在33.4GB/层的BDXL(注册商标)的情形中，所述相位改变标记是以0.05587μm/信道位的线密度记录的。以这种方式，依照盘分类，以与信道位长相对应的密度进行记录。假定信道时钟周期是“T”，标记长度在2T至8T的范围内。在仅仅专用于再现的盘的情形中，不形成槽，而是以压坑串(embosspittrain)的方式，记录通过使用RLL(1，7)PP调制方案以相同方式调制后的数据。在光盘100的内圆周区域等等上，例如通过压坑或者摆动槽记录盘的物理信息等等，以作为仅仅专用于再现的管理信息。这些种类的信息也是通过光学拾取头101来读出的。另外，作为槽轨道摆动而嵌入光盘100中的ADIP信息也是通过光学拾取头101读出的。在光学拾取头101中，提供了用作激光源的激光二极管、用于检测反射光束的光检测器、成为激光的输出端的物镜、和光学系统，所述光学系统利用激光经由所述物镜照射盘的记录面，并将反射光束引导至所述光检测器。在光学拾取头101中，通过双轴机构保持所述物镜，以使得所述物镜可在轨道方向和聚焦方向上移动。通过螺纹机构103，使得整个光学拾取头101可以在盘径向方向上移动。从激光驱动器113向光学拾取头101中的激光二极管提供驱动电流。所述激光二极管产生激光。通过光检测器检测来自光盘100的反射光束，依据所接收的光量而获得的生成电信号被提供到矩阵电路104。矩阵电路104包括电流电压转换电路和矩阵计算/放大电路，所述矩阵计算/放大电路与来自于用作光检测器的多个光感测元件的各输出电流相对应。矩阵电路104通过执行矩阵计算处理，产生需要的信号。考虑到信号传输质量，所述电流电压转换电路可以形成在所述光检测器元件内。例如，矩阵电路104产生与再现数据相对应的再现信息信号(RF信号)、用于伺服控制的聚焦误差信号、跟踪误差信号等等。另外，产生推挽信号，以作为与槽摆动有关的信号，即用于检测摆动的信号。从矩阵电路104输出的的再现信息信号被提供到数据检测处理单元105。所述聚焦误差信号和跟踪误差信号被提供到光学块伺服电路111。所述推挽信号被提供到摆动信号处理电路106。数据检测处理单元105对再现信息信号执行二值化处理。例如，数据检测处理单元105执行所述RF信号的A/D变换处理、使用PLL的再现时钟生成处理、PR(部分响应)等化处理、维特比解码(最大似然解码)等等，并通过使用部分响应最大似然解码处理(PRML检测方案：部分响应最大似然检测方案)获得二进制数据串。数据检测处理单元105将所述二进制数据串作为从光盘100中读出的信息，提供到后级编码/解码单元107。编码/解码单元107在再现的时候执行再现数据的解调处理，并在记录的时候执行记录数据的调制处理。换言之，编码/解码单元107在再现的时候执行数据解调、去交织、ECC解码、地址解码等等，而在记录的时候执行ECC编码，交织、数据调制等等。在再现的时候，通过数据检测处理单元105解码后的二进制数据串被提供到编码/解码单元107。编码/解码单元107对二进制数据串执行解调处理，并从光盘100中获得再现数据。换言之，例如，编码/解码单元107对已经过诸如RLL(1，7)PP调制之类的游程长度受限码调制并记录在光盘100上的数据执行解调处理，并执行用于纠错的ECC解码处理，从而从光盘100中获得再现数据。基于来自系统控制器110的指令，已由编码/解码单元107解码成为再现数据的数据被传送到主机接口108，并被传送到主机设备200。主机设备200例如是计算机或者AV(音频-视频)系统设备。当在光盘100上记录/再现的时候，执行对于ADIP信息的处理。换言之，从矩阵电路104输出的作为与槽摆动有关的信号的推挽信号，在摆动信号处理电路106中被转换为数字化摆动数据。通过PLL处理生成与所述推挽信号同步的时钟。通过ADIP解调处理单元116，所述摆动数据被解调为构成ADIP地址的数据流，并被提供到地址解码器109。地址解码器109对所提供的数据执行解码，获得地址值，并将所述地址值提供到系统控制器110。在记录的时候，从主机设备200传送来记录数据。所述记录数据经由主机接口108被提供到编码/解码单元107。编码/解码单元107执行纠错码添加(ECC编码)、交织、子代码添加等等，作为记录数据的编码处理。编码/解码单元107对已经过这些类型的处理的数据执行游程长度受限码调制，比如RLL(1-7)PP方案。由编码/解码单元107处理后的记录数据被提供到写入策略单元114。作为记录等化处理，写入策略单元114对记录层的特性、激光的光点形状、记录线速度等等执行激光驱动脉冲波形调整。然后，写入策略单元114将激光驱动脉冲输出到激光驱动器113。激光驱动器113基于已经过所述记录等化处理后的激光驱动脉冲，使一电流通过光学拾取头101中的激光二极管，并执行激光发射。结果，在光盘100上形成取决于记录数据的标记。光学块伺服电路111根据由矩阵电路104提供的聚焦误差信号和跟踪误差信号，产生聚焦、寻轨和螺纹的各种伺服驱动信号，并致使执行伺服操作。换言之，光学块伺服电路111根据聚焦误差信号和跟踪误差信号产生聚焦驱动信号和寻轨驱动信号，并通过驱动器118驱动光学拾取头101中的双轴机构中的聚焦线圈和寻轨线圈。结果，通过光学拾取头101、矩阵电路104、光学块伺服电路111、驱动器118和双轴机构形成寻轨伺服回路和聚焦伺服回路。另外，光学块伺服电路111关闭寻轨伺服回路，并响应于来自系统控制器110的轨道跳转指令输出跳转驱动信号，由此导致执行轨道跳转操作。另外，光学块伺服电路111基于作为跟踪误差信号的低频分量而获得的螺纹误差信号、以及来自系统控制器110的存取执行控制，生成螺纹驱动信号，并通过螺纹驱动器115驱动螺纹机构103。主轴伺服电路112执行控制，以使得主轴电机102执行CLV旋转或者CAV旋转。主轴伺服电路112获得通过PLL产生的用于摆动信号的时钟来作为主轴电机102的当前旋转速度信息，并通过将该时钟与预定的参考速度信息比较来产生主轴误差信号。另外，在数据再现的时候，在数据检测处理单元105中通过PLL产生的再现时钟成为主轴电机102的当前旋转速度信息。因此，通过将所述再现时钟与预定的参考速度信息比较而产生所述主轴误差信号。然后，主轴伺服电路112根据所述主轴误差信号输出主轴驱动信号，并使得主轴驱动器117执行主轴电机102的CLV旋转或者CAV旋转。主轴伺服电路112根据由系统控制器110提供的主轴启动/制动(kick/brake)控制信号来产生所述主轴驱动信号，并且还致使执行主轴电机102的诸如起动、停止、加速、和减速之类的操作。迄今为止描述的伺服系统以及记录和再现系统的各种操作是通过由微型计算机构成的系统控制器110来控制的。系统控制器110根据由主机设备200经由主机接口108给出的命令，执行各种处理。例如，如果由主机设备200给出写入指令(写入命令)，系统控制器110首先将光学拾取头101移动到将要写入数据的地址。然后，系统控制器110令编码/解码单元107对从主机设备200传送来的数据(例如，视频数据，音频数据等等)执行编码处理。然后，激光驱动器113根据编码后的数据，驱动激光发射。结果，执行了记录。另外，在其中例如从主机设备200提供了读取命令以请求传送记录在光盘100上的某些数据的情形中，系统控制器110首先执行以所指示的地址作为目标的查找操作控制。换言之，系统控制器110向光学块伺服电路111发出指令，以使得将由所述查找命令规定的地址设置为目标，执行光学拾取头101的存取操作。其后，系统控制器110执行将所指示的数据段中的数据传送到主机设备200所需要的操作控制。换言之，系统控制器110执行从光盘100中读出数据，令数据检测处理单元105和编码/解码单元107执行再现处理，并传送所请求的数据。顺便一提，图1中示出的示例被描述为连接到主机设备200的光盘装置。然而，对于光盘装置来说，不连接到其他设备的光盘装置的形式也是可行的。在该情况下，可提供操作单元和显示单元，并且输入的数据和输出的接口区域的构造变得不同于图1中所示构造。换言之，需要形成除了根据用户操作来执行记录和再现之外还用于输入和输出各种数据的终端单元。毫无疑问，还可以构思出除此以外的大量的光盘装置构造实例。“光学拾取头”现在将参考图2说明上述光盘装置中使用的光学拾取头101。光学拾取头101通过使用具有例如405nm的波长λ的激光(光束)，将信息记录到光盘100上以及从光盘100中再现信息。激光是从半导体激光器(LD：激光二极管)1发射的。激光穿过准直透镜2、偏振分束器(PBS)3、和物镜4，并且用所述激光照射光盘100。偏振分束器3具有分离面，所述分离面例如透射大约100％的p偏振光，并且反射大约100％的s偏振光。来自光盘100中的记录层的反射光通过相同的光路返回，并且入射到偏振分束器3上。通过插入λ/4元件(未示出)，入射激光被偏振分束器3大约反射100％。由偏振分束器3反射的激光经由透镜5而被会聚到光检测器6的光感测面上。光检测器6在所述光感测面上具有光感测单元，以对入射光执行光电转换。所述光感测单元被沿着光盘100的径向方向(盘径向方向)和/或切线方向(轨道方向)延伸的划分线划分为多个区域。光检测器6根据所述光感测单元的各个区域的光感测量，输出多个信道的电信号。顺便一提，稍后将描述用于划分区域的方法。顺便一提，图2中的光学拾取头101的构造示出了用于说明本公开内容的最少组件。省略了经由矩阵电路104输出到光学块伺服电路111的聚焦误差信号和跟踪误差信号、以及用于产生经由矩阵电路104输出到摆动信号处理电路106的推挽信号的信号。除此之外，除图2中所示构造以外的各种构造也是可行的。在本公开内容中，从光盘100返回的光束的光通量的剖面被划分为多个区域，并获得与所述各区域相对应的多个信道的再现信息信号。对于用于获得每一区域的再现信息信号的方法，可以使用除了划分光检测器6的方法以外的方法。例如，可以使用在穿过物镜4并引导至光检测器6的光路上设置光路转换元件以分隔多个区域、并将由所述光路转换元件分隔开的多个光束提供到不同的光检测器的方法。作为所述光路转换元件，可以使用诸如全息光学元件之类的衍射元件、或者诸如微透镜阵列或微棱镜之类的折射元件。“数据检测处理单元”如上所述，由光学拾取头101执行从光盘100中的再现，与各区域相对应的检测信号被提供到矩阵电路104，并获得与各区域相对应的多个信道的再现信息信号。正如图3所示出的，数据检测处理单元105包括A/D转换器11，从矩阵电路104提供的再现信息信号被提供到所述A/D转换器11。顺便一提，在图3和图4示出的示例中，例如，从光盘100返回的光束的光通量的剖面被划分为三个区域，并且从矩阵电路104获得三个信道的再现信息信号。通过PLL12形成用于A/D转换器11的时钟。从矩阵电路104提供的再现信息信号被A/D转换器11转换为数字数据。来自区域A至C的三个信道的数字化的再现信息信号由Sa至Sc表示。通过在加法电路17中将再现信息信号Sa至Sc相加而获得的信号被提供到PLL12。另外，数据检测处理单元105包括多输入自适应均衡器单元13、二值化检测器14、PR卷积单元15、和等化误差计算单元16。多输入自适应均衡器单元13对每一个再现信息信号Sa至Sc执行PR自适应等化处理。换言之，再现信息信号Sa至Sc被等化，以近似目标PR波形。等化后的输出被相加，并且输出等化信号y0。顺便一提，作为输入到PLL12的信号，可以使用所述多输入自适应均衡器单元的输出。在这种情形下，多输入自适应均衡器单元的初始系数被设置等于预定值。例如，二值化检测器14可设为维特比解码器。二值化检测器14对已经过PR等化的等化信号y0执行最大似然解码处理，并获得二进制数据DT。二进制数据DT被提供到图1中示出的编码/解码单元107，并且执行再现数据解调处理。对于维特比解码，使用如下维特比检测器：所述维特比检测器包括通过将以具有预定长度的连续位作为单位而形成的多个状态、以及通过各状态之间的迁移来表示的分支。所述维特比检测器配置为高效率地检测所有可能位字符串之中的期望位字符串。在实际电路中，为每一状态准备了两个寄存器，即路径量度寄存器和路径存储寄存器。路径量度寄存器是用于存储部分响应字符串和直到该状态为止的信号路径量度的寄存器。路径存储寄存器是用于存储直到该状态为止的位字符串流的寄存器。另外，为每一分支准备了称为分支量度单元的计算单元，所述计算单元计算该位处的部分响应字符串以及信号路径量度。在维特比解码器中，可以以一对一的对应关系，将各个位字符串与经过该状态的路径相关联。此外，通过将上述路径中包括的状态间迁移(即上述的分支中的分支量度)顺序相加，获得经过这些路径的部分响应字符串与实际信号(再现信号)之间的路径量度。另外，可以通过在将到达每一状态的两个或更少分支所具有的路径量度的大小进行比较时顺序选择具有更小路径量度的路径，来实现使路径量度最小化的路径的选择。通过将选择信息传送到路径存储寄存器，存储使用位字符串表示到达每一状态的路径的信息。路径存储寄存器中的值在被顺序更新的同时，最终收敛为使路径量度最小化的位字符串。因此，输出了结果。PR卷积单元15对二值化结果执行卷积处理，并产生如以下等式所示的目标信号Zk。所述目标信号Zk是通过对二值化检测结果进行卷积而获得的。结果，目标信号Zk是没有噪声的理想信号。例如，在PR(1，2，2，2，1)的情形中，每一信道时钟的值P变为(1，2，2，2，1)。约束长度是5。另外，在PR(1，2，3，3，3，2，1)的情形中，每一信道时钟的值P变为(1，2，3，3，3，2，1)。约束长度是7。在当激光波长λ＝405nm、物镜的NA＝0.85、轨道间距恒定为0.32μm时记录密度被提高至容量超过35GB的情形中，检测变得困难，除非部分响应的约束长度从5延长至7并且提高检测能力。顺便一提，在下文等式中，d表示二进制数据。(数学公式1)P＝(1，2，3，3，3，2，1)P＝(1，2，2，2，1)等化误差计算单元16根据从多输入自适应均衡器单元13提供的等化信号y0、以及目标信号Zk获得等化误差ek，并将等化误差ek提供到多输入自适应均衡器单元13以控制抽头系数。如图6所示，等化误差计算单元16包括减法器25和系数乘法器26。减法器25从等化信号y0中减去目标信号Zk。系数乘法器26将所述减法的结果乘以预定系数“a”。结果，产生了等化误差ek。正如图4所示出的，多输入自适应均衡器单元13包括自适应均衡器单元21、22和23和加法器24。上述再现信息信号Sa被输入到自适应均衡器单元21。再现信息信号Sb被输入到自适应均衡器单元22。再现信息信号Sc被输入到自适应均衡器单元23。示出了在区域划分的数目是三的情形中多输入自适应均衡器单元13的构造。提供了与区域划分的数目相对应的自适应均衡器单元。每一个自适应均衡器单元21、22和23具有FIR(有限脉冲响应)滤波器抽头的数目、计算精度(位分辨率)、和自适应计算的修正增益这些参数。为这些参数中的每一个设置最佳值。将等化误差ek作为用于自适应控制的系数控制值，提供到每一自适应均衡器单元21、22和23。通过加法器24，将自适应均衡器单元21、22和23各自的输出y1、y2和y3相加。其结果输出作为多输入自适应均衡器单元13的等化信号y0。多输入自适应均衡器单元13的输出目标变为通过将二值化检测结果卷积成为PR(部分响应)而获得的理想PR波形。自适应均衡器单元21包括例如图5所示的FIR滤波器。自适应均衡器单元21是具有n+1级抽头的滤波器，包括延迟元件30-1至30-n、系数乘法器31-0至31-n、和加法器34。系数乘法器31-0至31-n将各个时间点处的输入x分别乘以抽头系数C0至Cn。系数乘法器31-0至31-n的输出通过加法器34相加，并取出作为输出y。为了执行自适应型的等化处理，对抽头系数C0至Cn进行控制。为此目的，提供了计算单元32-0至32-n，等化误差ek和各个抽头输入被提供到计算单元32-0至32-n，并且计算单元32-0至32-n执行计算。此外，提供了用于对各计算单元32-0至32-n的输出进行积分的积分器33-0至33-n。在每一计算单元32-0至32-n中，例如计算-1×ek×x。计算单元32-0至32-n的输出分别通过积分器33-0至33-n积分。基于所述积分的结果，控制系数乘法器31-0至31-n的各自的抽头系数C0至Cn，以使其变化。顺便一提，执行积分器33-0至33-n中的积分，以调整自适应系数控制的响应性。在具有迄今为止所述构造的数据检测处理单元105中，减少了不必要的信号，比如串扰，然后对二进制数据进行解码。自适应均衡器单元22和23中的每一个也具有与自适应均衡器单元21的构造相似的构造。共用的等化误差ek被提供到自适应均衡器单元21、22和23，并执行自适应等化。换言之，自适应均衡器单元21、22和23对再现信息信号Sa、Sb和Sc的输入信号频率分量的误差和相位畸变进行优化，即执行自适应PR等化。换言之，根据计算单元32-0至32-n中的-1×ek×x的计算结果，调整抽头系数C0至Cn。这意味着，沿着等化误差消失的方向来调整抽头系数C0至Cn。以这种方式，在自适应均衡器单元21、22和23中，沿着实现目标频率特性的方向，使用等化误差ek对抽头系数C0至Cn执行自适应控制。通过在加法器24中将自适应均衡器单元21、22和23的各自的输出y1、y2和y3相加而获得的多输入自适应均衡器单元13的等化信号y0，成为在串扰等方面降低的信号。“区域划分图案”首先，将描述本说明书中的区域划分图案的范例。正如图7所示出，存在用于对从光盘100返回的光束的光通量的剖面区域进行划分的多种图案。现在将描述各个图案。顺便一提，示出的圆形表示光束光通量的剖面的周边。正方形表示例如用于检测的光检测器中的光感测单元的区域。顺便一提，区域划分图的上下方向对应于光通量的切线方向。横向方向对应于径向方向。另外，图7中示出的区域划分图案仅是示例。除图7中示出的图案以外的图案也是可行的。例如，划分线不受限于直线，也可以是曲线，比如圆弧。图案R2图案R2是其中光束被划分为两个区域的示例：通过沿切线方向延伸的两条划分线，在径向方向上划分为区域A和区域B(＝B1+B2)。取决于区域B1和B2中的光感测信号的电信号被加在一起，以产生一个信道的信号。图7中示出的示例是具有两个信道的示例，即内侧信道(区域A)和外侧信道(区域B1+B2)。这种区域划分被称为图案R2。图案R3在图案R2中，两个外侧区域被处理为具有不同信道的区域B和C。这种区域划分图案被称为R3。获得了与三个区域相对应的三个信道的信号。图案H3A在图案H3A中，图案R2中的区域A的上部分和下部分被沿径向方向延伸的划分线划分。在切线方向上，在上部分和下部分中形成区域C1和C2。剩余的中央区域被称为区域A。换言之，图案H3A是将光束剖面划分为三个区域的图案，即区域A、区域(B1+B2)、和区域C(C1+C2)。获得了与所述三个区域相对应的三个信道的信号。图案H4C在图案H4C中，图案H3A中的上和下部区域C1和C2中的每一个在切线方向上被划分为两个区域，形成区域D1和D2。换言之，图案H4C是将光束划分为四个区域的图案，即区域A、区域(B1+B2)、区域C(＝C1+C2)和区域D(＝D1+D2)。获得了与所述四个区域相对应的四个信道的信号。图案T3A图案T3A是通过延伸图案H3A中的上和下部区域C1和C2以分别覆盖区域B1和B2而获得的图案。图案T3A是将光束剖面划分为三个区域的图案，即区域A、区域(B1+B2)和区域C(＝C1+C2)。获得了与所述三个区域相对应的三个信道的信号。图案X4A在图案X4A中，图案H3A中的在切线方向上划分区域A的划分线被延伸，并形成四个区域B2、B3、C2和C3。图案X4A是将光束剖面划分为四个区域的图案，即区域A、区域(B1+B2+B3)、区域C(＝C1+C2+C3)、和区域D(D1+D2)。获得了与所述四个区域相对应的四个信道的信号。图案Hi3A图案Hi3A是其中将图案H3A中的切线方向上的划分线的数目设置等于一、并且不提供在上和下部区域C1和C2中包括的区域C2的图案。结果，中央区域A的中心位置在切线方向上从光束剖面的中心位置向下移位。获得了包括在切线方向上的中心位置不同的两个信道在内的三个信道的信号。图案Hi3B执行与图案Hi3A中相似的区域划分。然而，与图案Hi3A中相比，上部区域C1的宽度变宽。图案HT4A图案HT4A是其中图案H3A中的区域C2成为第四信道的区域D的图案。图案HT4A是将光束剖面划分为四个区域的图案，即区域A、区域(B1+B2)、区域C和区域D。获得了与所述四个区域相对应的四个信道的信号，并且所述四个信道包括在切线方向上的中心位置不同的三个信道。图案HTR5A图案HT4A中的在径向方向上位于外侧两个区域B1和B2被处理为不同信道的区域，并获得了五个信道的信号。图案T4A图案T4A是通过延伸图案HT4A中的上和下部区域C和D以覆盖区域B1和B2而获得的图案。图案T4A是将光束剖面划分为四个区域的图案，即区域A、区域(B1+B2)、区域C和区域D。获得了与所述四个区域相对应的四个信道的信号，并且所述四个信道包括在切线方向上的中心位置不同的三个信道。图案Hi4A图案Hi4A是其中在图案HT4A中的区域C下方、且邻近于区域C提供区域D的图案。结果，中央区域A的中心位置在切线方向上从光束剖面的中心位置向下移位。获得了包括在切线方向上的中心位置不同的三个信道在内的四个信道的信号。图案L6A分别在图案HT4A中的上部区域C的下方和下部区域D的上方、且分别邻近于区域C和D提供区域E和F。分别由区域A至F获得了包括在切线方向上的中心位置不同的五个信道在内的六个信道的信号。图案LR7A在图案L6A中，区域B1被设置为区域B，区域B2被设置为区域G。分别由区域A至G获得了七个信道的信号。此后，将基于上述图案的仿真结果来描述各个图案。仿真条件如下。Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE(稍后描述)标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声此外，通过使用当盘直径是120mm且轨道间距Tp＝0.32μm时的平面容量，来表示线密度。特别是，在表示为“低线密度”的情形中，LD35.18(GB)···0.053μm/信道位，且当Tp＝0.32μm时，平面容量成为35.18GB。在Tp＝0.225μm(在岸和槽的每一个中)的情形中，平面容量变为50.0GB，包括LD35.18GB。此外，在表示为“高线密度”的情形中，LD41(GB)···0.04547μm/信道位，且当Tp＝0.32μm时，平面容量成为41GB。在Tp＝0.225μm(在岸和槽的每一个中)的情形中，平面容量变为58.3GB，包括LD41GB。“图案R2中的自适应滤波器特性”作为本公开内容的比较例，现在将描述图案R2的在低线密度情形下的自适应滤波器特性。这里，径向方向上的区域划分位置被设置等于±0.55，其中光瞳半径是1.0。如上所述，在多输入自适应均衡器单元13中处理多个信道的再现信息信号。多输入自适应均衡器单元13具有与信道数目同样多的自适应均衡器单元。所述自适应均衡器单元具有FIR滤波器的构造，并且自适应性地控制各自的抽头系数。关于图案R2，图8中示出了仿真结果的频率振幅特性。特性L1是与外侧区域B相对应的信道的频率振幅特性。特性L2是与内侧区域A相对应的信道的频率振幅特性。顺便一提，所述特性是扰动原点处的示例性特性。这里，扰动原点表示这样的状态：其中所有散焦、盘歪斜等等位于所述原点，并且一般来讲，最佳结果基本上是在执行了自适应控制的情形中获得的。在所述频率振幅特性中，横轴表示n/(256T)(n：横轴上的值)。例如，在(n＝64)的情形中，得到(64/256T)＝(1/4T)。例如，在使用RLL(1，7)PP调制方案的情形中，标记长度在2T至8T的范围内，其中“T”是信道时钟周期。(1/4T)是在重复2T的标记的情形中的频率。在图8中示出的特性中，2T的标记是其中可以不执行再现的频率区域。3T的标记能够被再现。图9A示出图案R2中的各个信道的抽头系数。例如，FIR滤波器中的抽头数被设置等于31。图9B示出各个信道的频率相位特性。频率相位特性表示两个信道之间的相位差。正如图9B所示出的，两个信道之间的相位差变小。“再现性能”图10和图11中示出了关于图案R2的再现性能的仿真结果。这些图示出了在低线密度的情形中，图案R2中的区域划分的效果。通过使用当盘直径是120mm且轨道间距Tp＝0.32μm时的平面容量，来表示所述线密度。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位，且当Tp＝0.32μm时，平面容量成为35.18GB。在Tp＝0.225μm(在岸和槽的每一个中)的情形中，平面容量变为50.0GB，包括LD35.18GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声径向方向上的区域划分位置被设置等于±0.55，其中光瞳半径是1.0。在这种条件下，e-MLSE得到改善。在没有划分的情形中，满足e-MLSE≤15％的裕度宽度是零(通过e-MLSE表示的图表)。而另一方面，正如图10所示出的，散焦裕度W20变为总宽度0.21(对应于±0.18μm)。正如图11所示出的，径向彗形像差裕度W31变为总宽度0.25(对应于±0.44度)。图10中示出的图表的横轴是通过波长标准化后的散焦量。值0表示散焦量是0。在实际再现的时候，发生散焦。因此，需要具有对于散焦的裕度。在“标准化散焦量对比指标”的图表中，e-MLSE的值越小，再现性能越高。作为一个例子，最好是e-MLSE的值大约为0.15或者更小。因此，散焦裕度对应于其中e-MLSE的值变为大约为0.15或者更小的范围的宽度。所述宽度越大，散焦裕度越大。对于裕度来说，除所述散焦裕度之外，对于盘歪斜失真的裕度同样重要。图11示出与盘的径向方向上的歪斜失真相对应的三阶彗形像差W31(通过波长标准化后的像差系数)的裕度。作为一个例子，最好是e-MLSE的值大约为0.15或者更小。因此，彗形像差裕度对应于其中e-MLSE的值变为大约为0.15或者更小的范围的宽度。所述宽度越大，径向盘歪斜裕度越大。图10和图11中示出的图表的纵轴是用于表示再现性能的指标。例如，作为所述指标，i-MLSE的值是已知的。MLSE(最大似然序列差错)是这样一种指标：该指标对应于通过使用在利用维特比检测数据而设置的目标级别与实际信号的级别之间的差值而计算的差错概率。在BDXL(注册商标)的情形中，通过使用i-MLSE方法，对易于导致差错的一些数据模式进行加权，并进行计算。顺便一提，在其中记录密度与BDXL(注册商标)相比提高的情形中，易于导致差错的数据模式变得不同。结果，从前作为信号指标值的i-MLSE的差错将成为问题。因此，在本公开内容中，对于在更高线密度下增高信号指标值的精度所必需的新数据模式，使用不同于i-MLSE的信号评估值来解释效果。此后，精度增高的新指标值被称为e-MLSE。e-MLSE中增加的数据模式是以下三种。图案中的表示为1的位表明其中与检测图案相比在差错图案中出现位反转的位置。增加图案(1)：10111101增加图案(2)：1011110111101增加图案(3)：10111100111101顺便一提，在i-MLSE的精度足够胜任的与从前的BDXL(注册商标)相等的线密度下，e-MLSE和i-MLSE几乎彼此一致。在更高线密度下，出现与精度增高相对应的差异。在实际使用中变得重要的指标值相对于差错率的理论相关性在这两者之间变得相同。因此，尽管存在计算差异、以及所应用的线密度的范围差异，但是可以以相同的感觉来获得通过这两者表明的信号质量的评估值。顺便一提，在本公开内容中，还可以使用除e-MLSE以外的指标。在图案R2的情形中，原样地使用串扰分量原本具有的振幅相位特性。通过使用振幅特性的信道间平衡且几乎不改变信道间相位差，来改善信号特性。在图案R2中，光束剖面被划分为径向方向上的内侧区域和外侧区域。存在这样的效果：抑制在轨道间距变窄的情形中产生的来自相邻磁道的串扰。因此，在其中如在图案R2中那样仅仅在径向方向上进行区域划分的示例中，存在这样的问题：不能充分地解决由例如切线方向上的码间干扰所引起的信号恶化。此后描述的本公开内容将考虑到这一点。“进一步在切线方向上进行区域划分(图案H3A和H4C)”作为其中在切线方向上进一步进行区域划分的示例，图12、13和14中示出了图案H3A和H4C(参见图7)中的再现性能。图12是“标准化散焦量对比指标”的图表。图13是“径向方向上的标准化歪斜失真量对比指标”的图表。图14是“切线方向上的标准化歪斜失真量对比指标”的图表。这些图示出了在低线密度的情形中，切线方向上的划分的效果。仿真是在以下条件下进行的。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位Tp＝0.225μm(在岸和槽中的每一个中)，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声径向方向上的区域划分位置被共同设置等于±0.55，其中光瞳半径是1.0。切线方向上的区域划分位置被设置等于±0.65和±0.30。如果进一步在切线方向上进行区域划分，则与其中仅仅在径向方向上进行区域划分的图案R2相比，该图表的底部进一步下降，并且裕度扩展，如图12至14中所示。在这种条件下，如下所述地改善了图案H3A的裕度。散焦裕度W20变为总宽度0.27(对应于±0.23μm)。径向彗形像差裕度W31变为总宽度0.30(对应于±0.53度)。在这种条件下，如下所述地改善了图案H4C的裕度。散焦裕度W20变为总宽度0.275(对应于±0.235μm)。径向彗形像差裕度W31变为总宽度0.30(对应于±0.53度)。如上所述，通过除了径向方向之外还进一步在切线方向上进行区域划分，与仅仅在径向方向上划分相比，能够进一步增强再现性能。顺便一提，在本说明的描述中，假定自适应均衡器单元(FIR滤波器)中的抽头系数是被自适应性地控制的。然而，在找到最佳抽头系数作为仿真结果的情形中，可以使用具有固定抽头系数的均衡器单元。还可以使用除FIR滤波器以外的具有等效特性的模拟滤波器或者数字滤波器。在性能方面，自适应型是优秀的。然而，由于不是必需执行抽头系数的自适应控制，因此可以简化处理和硬件。此外，还可以将固定类型的均衡器单元用于部分信道，并且将自适应型的均衡器单元用于其他信道。“图案H3A中的自适应电光滤波器特性”现在将描述在低线密度情形下的图案H3A中的自适应电光滤波器特性。图15中示出了关于图案H3A(参见图7)的仿真结果的频率振幅特性。特性L1是与径向方向上的外侧区域B相对应的信道的频率振幅特性。特性L2是与切线方向上的外侧区域C相对应的信道的频率振幅特性。特性L3是与中央区域A相对应的信道的频率振幅特性。顺便一提，所述特性是扰动原点处的示例性特性。图16A示出图案H3A中的各个信道的抽头系数。例如，FIR滤波器中的抽头数被设置等于31。图16B示出各个信道的频率相位特性。所述频率相位特性表示三个信道中的两个信道之间的相位差。特性L11是与切线方向上的外侧区域C和径向方向上的外侧区域B分别对应的信道的再现信息信号之间的相位差。特性L12是与中央区域A和径向方向上的外侧区域B分别对应的信道的再现信息信号之间的相位差。特性L13是与切线方向上的外侧区域C和中央区域A分别对应的信道的再现信息信号之间的相位差。如上所述，H3A中的滤波器特性具有如下所述的特征。可以形成具有对于三个信道的每一区域在振幅和相位两方面都显著不同的频率特性的滤波器，并实现良好的再现信号再现。在对应于3T信号(在由虚线围绕的横坐标值43附近)的频带中，切线方向上的外侧区域C以及外侧区域B中的相位与中央区域相比移位180度。中央区域具有截取与4T信号(在由虚线围绕的横坐标值32附近)对应的频带的特性，并抑制了串扰导致的虚假信号。切线方向上的外侧应有助于短标记再现，并且截取与8T信号(在由虚线围绕的横坐标值16附近)相对应的频带。以这种方式，在每一区域形成高通滤波器、低通滤波器、带通滤波器、带阻(或者陷波)滤波器等等。实现了可能无法仅仅在光学上或者仅仅在电学上实现的滤波器特性。图17示出线密度和指标之间的关系(NA＝0.85，Tp＝0.225，PR(1233321)固定)。如果形成在切线方向上的中心位置不同的信道，则即使PR类别相同，也可以顺利地再现具有更高线密度的信号。还可以通过如在图案Hi3B中那样优化切线方向上的划分位置来改善特性。如果设置扰动中心处的e-MLSE≤10％，则可以使用图案R2和H3A直至LD38GB。而另一方面，可以使用Hi3B、HT4A和Hi4A直至LD41GB。“切线方向上的划分的更高线密度效果”图18和图19中示出了图案H3A、Hi3A、Hi3B、HT4A和Hi4A与图案R2和H3A(参见图7)相比的再现性能。图18是“标准化散焦量对比指标”的图表。图19是“径向方向上的标准化歪斜失真量对比指标”的图表。这些图表明在高线密度的情形中，切线方向上的划分的效果。仿真是在以下条件下进行的。LD41(GB)···0.04547μm/信道位Tp＝0.225μm(在岸和槽中的每一个中)，平面容量变为58.3GB包括LD41(GB)。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声径向方向上的区域划分位置被共同设置等于±0.55，其中光瞳半径是1.0。切线方向上的区域划分位置被设置等于±0.30和±0.65。如图18和图19中所示，在LD41GB的高密度下，在不具有切线方向上的中心位置不同的信道的图案R2和H3A中，e-MLSE在15％附近。而另一方面，在切线方向上的中心位置具有不同的信道的图案Hi3A、Hi3B、HT4A和Hi4A中，能够充分地确保满足e-MLSE≤15％的裕度宽度。特别是，在LD41GB时，图案HT4A具有与LD35.18GB时的图案H3A中的裕度宽度相等的裕度宽度。“图案HT4A中的自适应电光滤波器特性”现在将描述在高线密度情形下的图案HT4A(参见图7)中的自适应电光滤波器特性。图20中示出了关于图案HT4A的仿真结果的频率振幅特性。特性L21是与径向方向上的外侧区域B相对应的信道的频率振幅特性。特性L22是与切线方向上的外侧区域C相对应的信道的频率振幅特性。特性L23是与中央区域A相对应的信道的频率振幅特性。特性L24是与切线方向上的外侧区域D相对应的信道的频率振幅特性。顺便一提，所述特性是扰动原点处的示例性特性。图21A示出图案HT4A中的各个信道的抽头系数。例如，FIR滤波器中的抽头数被设置等于31。图21B示出各个信道的频率相位特性。所述频率相位特性表示与切线方向上的外侧区域C相对应的信道和与切线方向上的外侧区域D相对应的信道之间的相位差。HT4A中的滤波器特性具有如下所述的特征。以与图案H3A同样的方式，中央区域显示出类低通特性，切线方向上的外侧区域显示出类高通特性。(这里，使得在有助于信号再生的频带中包括的与较短标记相对应的频带通过的带通特性被相对称为类高通特性)。另外，在图案HT4A中，切线方向上的外侧区域变为两个独立的信道。在与3T和4T(在横坐标值43和附近)(如根据抽头系数所能理解的，它对应于两个时钟)相对应的频带范围内，所述两个区域形成具有在大约120至90度范围内的相位差的滤波器。结果，与使用简单的总和信号再现的振幅相比，变得能够以更高灵敏度检测短标记。即使对于短标记再现，也能够通过使用区域之间的相位差实现高线密度区域中的良好的再现信号特性。正如从上述的线密度依赖性的图表中可看出的，在如来自于图案Hi3A的图案Hi3B这样的情形下，能够通过改变划分位置，在不依赖于线密度的情况下改善特性，而在一些如HT4A和Hi4A这样的情形下，特性会依据线密度而反转。图22示出几个具体的区域划分示例。在其中根据系统确定而对线密度(平面容量)更为倚重的情形中，可以为此优化划分图案。“通过区域划分优化特性”现在将以各种划分图案提供良好特性时的低线密度为例描述划分优化。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位Tp＝0.225μm(在岸和槽中的每一个中)，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声图23示出通过改变划分位置获得的径向彗形像差的裕度扩展。所述划分位置在图案HT4A和H3A中是径向方向上的±0.55和切线方向上的±0.65。在图案T4A和T3A中，所述划分位置是径向方向上的±0.7和切线方向上的±0.6。所述划分形状还在四个拐角处改变。如从图23中可看出的，在图案HT4A中，径向彗形像差W31变为总宽度0.32(对应于±0.56度)。在图案T4A中，径向彗形像差W31变为总宽度0.34(对应于±0.60度)。在图案H3A中，径向彗形像差W31变为总宽度0.30(对应于±0.53度)。在图案T3A中，径向彗形像差W31变为总宽度0.32(对应于±0.56度)。“通过令径向划分得到的外侧区域独立而获得的效果”图24A至24D是其中仅仅在径向方向上进行划分以形成三个区域的图案。在一种伪方式中，示出了其中根据物镜的透镜移位(通过图24A至24D中的LS表示)来移动视野的情形。作为图案，假定R2(区域A，B1和B2)和R3(区域A，B和C)。假定在径向方向上发生0.2的透镜移位。(因为光束光通量的剖面的直径被假定是2.0，所以0.2对应于10％)。“通过令径向划分得到的外侧区域独立而获得的效果1”通过图25中的图表示出了关于这些图案的径向彗形像差裕度的仿真结果。正如图25中所示出的，图案R2中的的彗形像差裕度(LS0.2)降低。换言之，在进行径向方向上的划分的情形中，能够通过使得两个外侧区域独立来降低视野移动的影响。顺便一提，如稍后将描述的，存在其他技术来强力对抗视野移动。“在透镜移位时的径向彗形像差的裕度变化”图26A中示出了关于图案R3的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的径向彗形像差特性的变化。图26B示出0.2移位，图26C示出没有移位。如从图26A中可看出的，如果优化划分宽度，能够抑制由视野移动所引起的径向彗形像差的裕度宽度的变化。图27A中示出了关于图案T4A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的径向彗形像差特性的变化。图27B示出0.2移位，图27C示出没有移位。如从图27A中可看出的，能够确保由视野移动所引起的裕度宽度。然而，中心稍微移位。图28A中示出了关于图案T3A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的径向彗形像差特性的变化。图28B示出0.2移位，图28C示出没有移位。如从图28A中可看出的，由视野移动所引起的裕度宽度突然变窄。因此，在图案T3A的情形中，需要抑制视野移动量。“在透镜移位时的散焦裕度变化”图29A中示出了关于图案R3的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的散焦特性的变化。图29B示出0.2移位，图29C示出没有移位。如从图29A中可看出的，如果优化划分宽度，能够抑制由视野移动所引起的散焦裕度宽度的变化。图30A中示出了关于图案T4A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的散焦特性的变化。图30B示出0.2移位，图30C示出没有移位。如从图30A中可看出的，能够确保由视野移动所引起的聚焦裕度宽度。图31A中示出了关于图案T3A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的散焦特性的变化。图31B示出0.2移位，图31C示出没有移位。如从图31A中可看出的，由视野移动所引起的散焦裕度宽度突然变窄。因此，在图案T3A的情形中，需要抑制视野移动量。“强力对抗透镜移位的三个信道的图案”如可从图26A中示出的特性看出的，与图案T3A相比，图案R3采用三个信道且强力对抗透镜移位。换言之，在不存在透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为±0.125(对应于±0.44度)，而在具有0.2的透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为±0.125(对应于±0.44度)。作为强力对抗透镜移位的三个信道的图案，存在Hi3A。图32A中示出了关于图案Hi3A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的径向彗形像差特性的变化。图32B示出0.2移位，图32C示出没有移位。如可从图32A看出的，能够以与采用四个信道的图案T4A(参看图27A至27C)相同的程度，来确保由视野移动所引起的裕度宽度。换言之，在不存在透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为±0.16(对应于±0.56度)，而在具有0.2的透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为-0.155至+0.12(对应于-0.54度至+0.42度)。图33A中示出了关于图案Hi3A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的散焦特性的变化。图33B示出0.2移位，图33C示出没有移位。如可从图33A看出的，能够以与采用四个信道的图案T4A(参看图29A至29C)相同的程度，来确保由视野移动所引起的裕度宽度。换言之，在不具有透镜移位的情况下，散焦裕度变为0.25(对应于±0.21μm)，而在具有0.2的透镜移位的情况下，散焦裕度变为0.24(对应于±0.20μm)。“强力对抗透镜移位的四个信道的图案”如可从图27A中示出的特性看出的，与图案T3A相比，图案T4A采用四个信道且强力对抗透镜移位。换言之，在不存在透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为±0.17(对应于±0.60度)，而在具有0.2的透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为-0.17至+0.135(对应于-0.60度至+0.47度)。作为强力对抗透镜移位的四个信道的图案，存在X4A。图34A中示出了关于图案X4A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的径向彗形像差特性的变化。图34B示出0.2移位，图34C示出没有移位。如可从图34A看出的，几乎不存在由视野移动所引起的径向彗形像差的裕度变化。换言之，在不存在透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为±0.17(对应于±0.60度)，而在具有0.2的透镜移位的情况下，径向彗形像差裕度变为±0.16(对应于±0.56度)。图35A中示出了关于图案X4A的由伪视野移动(0.1移位和0.2移位)所引起的散焦特性的变化。图35B示出0.2移位，图35C示出没有移位。如可从图35A看出的，由视野移动所引起的散焦裕度宽度的变化很小。换言之，在不具有透镜移位的情况下，散焦裕度变为0.265(对应于±0.225μm)，而在具有0.2的透镜移位的情况下，散焦裕度变为0.25(对应于±0.21μm)。“通过令径向划分得到的外侧区域独立而获得的效果2”图36示出图案HT4A、HTR5A、L6A和LR7A。图37和图38中示出了这些图案的径向彗形像差特性。图37示出了在不进行区域划分、采用图案HT4A、采用图案HTR5A的情形中的径向彗形像差特性。图38示出了在不进行区域划分、采用图案LR7A、采用图案L6A的情形中的径向彗形像差特性。如可从图37和图38看出的，能够结合切线方向上的划分来扩展径向彗形像差裕度。如上所述，在通过缩短信道位长(即标记长度)以实现线密度方向上的更高密度以及通过缩窄轨道间距以实现轨道密度方向上的更高密度、并由此来实施光盘上的高密度的情形中，在信号记录表面上二维地布置记录标记。光盘中的再现信号用于检测由记录标记、槽等等的周期性结构所产生的衍射光束的重叠和干涉所引起的亮度变化。正如图39所示出的，当光瞳半径被设置为1时，在根据周期为p的周期性结构的±一阶衍射光束中，通过λ/(NA·p)来表示中心的移位量。另外，随着重叠增加，再现信号的振幅增加，而随着重叠减少，振幅减小。当没有重叠时，即当移位量变为λ/(NA·p)＝2时，振幅变为零。结果，MTF(调制传递函数)的空间频率特性与图40中示出的相同。根据λ/(NA·p)＝2，截止空间频率变为1/p＝2NA/λ，而在连续地布置具有更小周期的周期性结构的情形中，振幅变为零。如果这些被应用于上述的波长为405nm并且NA＝0.85的系统中，则根据1/p＝2NA/λ，周期变为p＝λ/(2NA)＝238nm，并且形成了具有238nm周期的最小可再现周期性结构。换言之，这表示在作为低线密度的一个例子给出的具有RLL(1，7)PP下的53nm/信道位的系统中，由于最短2T标记/间隔变为53nm×2×2＝212nm，所以频率超过截止空间频率，并且2T标记/间隔的连续性导致振幅为零。在对应于3T标记/间隔53nm×3×2＝318nm的周期性结构中，由于移位量变为λ/(NA·p)＝1.50，所以图41中的零阶光和±一阶光彼此重叠的区域有助于信号再生。类似地，在作为高线密度的一个例子给出的45.47nm/信道位的系统中，由于最短2T标记/间隔变为45.47nm×2×2＝182nm，所以频率超过截止空间频率，并且在对应于3T标记/间隔45.47nm×3×2＝273nm的周期性结构中，由于移位量变为λ/(NA·p)＝1.75，所以图42中的零-阶光和±一阶光彼此重叠的区域有助于信号再生。在根据PRML的其中2T标记/间隔的振幅变为零的密度下，尽管信号处理不失败，但短标记的再现质量是一个重要因素。如上所述，在图案H3A和HT4A的电光滤波器特性中，切线方向上的外侧区域变为使得与诸如3T或者4T之类的短标记对应的频带范围高频通过的滤波器，而中央区域变为使得与5T或更长的长标记对应的大量频带范围通过的类低通滤波器。通过比较图41和图42可看出，这表示有助于以空间光学方式再现与短标记对应的频带的区域和有助于再现与长标记对应的频带的区域被有效地分离；并且对于每一区域，通过与其他信号进行平衡，对其中会增加目标轨道的再现信号分量的比率的频率分量进行了强调，并且对其中会增加相邻轨道的再现信号分量的比率的频率分量进行了抑制、阻止或消除，从而能够改善目标轨道的再现信号的质量。此外，很清楚的是，在图案HT4A的情形中，允许来自切线方向上的两个外侧区域的信号具有相位差，从而与使用简单信号总和的再现振幅相比，能够以更高灵敏度检测短标记。然而，如通过比较图41和图42可看出的，在高线密度示例的情形中，由于有助于3T标记/间隔和2T标记/间隔的再现的区域变小，所以在使用简单总和信号进行再现极为不利的区域中，由于根据相位差的检测的高灵敏度，可抑制特性恶化。以这样的方式，为了以空间光学方式在线密度方向和/或轨道密度方向上将信号分离为具有不同频带的多个信号，在切线方向和径向方向上划分区域；并且将具有不同最佳特性的电滤波器，比如高通滤波器、低通滤波器、带通滤波器、带阻(或者陷波)滤波器，应用于来自各个区域的信号，然后组合这些信号，从而能够获得良好的再现信号，其中减少了码间干扰和泄漏以及来自相邻轨道的信号的插入。迄今为止，已经描述了在切线方向和径向方向上的简单区域划分的情形。然而，正如迄今为止所描述的，作为以空间光学方式对具有各种频带的区域的信号进行有效分离的滤波器，除了零-阶光的区域的信号(对应于根据轨道结构以衍射光形式的短标记再现，并且在图43中通过*表示)之外，还分离出根据轨道结构而与±一阶衍射光干涉的区域的信号(通过O表示)，从而能够将良好的e-MLSE保持在扰动中心位置，并且能够加宽径向彗形像差裕度和各种裕度。(图案IVT4)图44中示出的图案IVT4是存在4个信道的示例。换言之，光束被划分为径向方向上的外侧区域A(＝A1+A2)，中央区域B，切线方向上的上部区域C(C1+C2+C3)，和下部区域D(D1+D2+D3)。获得了与所述各个区域相对应的四个信道的信号。这里，径向方向上的区域划分位置被设置为±0.5和±0.7，其中光瞳半径是1.0。切线方向上的区域划分位置被设置为±0.45和±0.65，其中光瞳半径是1.0。将基于上述图案IVT4的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位，且当Tp＝0.32μm时，平面容量成为35.18GB。Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声“再现性能”图45至49中示出了关于图案IVT4的再现性能的仿真结果。这些图示出了在低线密度的情形中，图案IVT4中的区域划分的效果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图45示出与上文所述的其他图案HTR5A、LR7A和HT4A的径向彗形像差裕度W31相比，图案IVT4的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差。可以看出，当与其他图案相比时，图案IVT4的径向盘歪斜裕度更佳。图46示出散焦裕度，图46中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。值0表示散焦量为0。当实际再现时，发生散焦。因此，需要具有对于散焦的裕度。在“标准化散焦量对比指标”的图表中，e-MLSE的值越小，再现性能越高。作为一个例子，最好是e-MLSE的值大约为0.15或者更小。因此，散焦裕度对应于其中e-MLSE的值变为大约为0.15或者更小的范围的宽度。所述宽度越大，散焦裕度越大。图案IVT4具有足够的裕度。图47示出对于球面像差SA的裕度。图47中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。图案IVT4具有足够的球面像差裕度。图48示出切向彗形像差裕度。图48中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。图案IVT4具有足够的切向彗形像差裕度。图49示出在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图49中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。如上所述，作为伪视野移动，当通过仅仅包括方向的±0.1和±0.2来进行透镜移位LS时，图表中示出了在其他扰动为零的情形中的e-MLSE变化。可以看出，图案IVT4具有与T4A大致相等的移位裕度。“为图案IVT4优化的电滤波器”将描述为上文所述的图案IVT4优化的电滤波器。图52中示出了当W31＝0，即在图45中的扰动原点时的电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图53中示出了在设置了这种系数的情形中，与区域A至D相对应的各个信道的频率振幅特性。另外，图50中示出了当W31＝-0.16时电滤波器的31个抽头的系数值的示例。图51中示出了在设置了这种系数的情形中，区域A至D的各个信道的频率振幅特性。在所述频率振幅特性中，横轴表示n/(256T)(n：横轴上的值)。例如，在(n＝64)的情形中，得到(64/256T)＝(1/4T)。例如，在使用RLL(1，7)PP调制方案的情形中，标记长度在2T至8T的范围内，其中“T”是信道时钟周期。(1/4T)是在重复2T的标记的情形中的频率。在图51和53中示出的特性中，在与4T(在横轴上的值32附近)和3T(在横轴上的值43附近)相对应的频带中，不管是否存在径向彗形像差，信道C、D和A的频率振幅特性几乎保持为相同的形状，从而保持了期望的电光滤波器特性。当与其他图案相比时，图案IVT4得到的径向盘歪斜裕度更佳。(图案NST6)图54中示出的图案NST6是存在6个信道的示例。上述图案可以被认为是通过在径向方向上将图案T4A的中央区域进一步划分为三个区域而形成的图案。换言之，光束被划分为径向方向上的外侧区域A(＝A1+A2)，切线方向上的上部区域E，下部区域F，以及三个中央区域B、C和D。在中央部分的所述三个区域当中，接近于区域A1的区域变为区域B，接近于区域A2的区域变为区域D，最中央的区域变为区域C。获得了与所述各个区域相对应的六个信道的信号。这里，径向方向上的区域划分位置被设置为±0.3和±0.75，其中光瞳半径是1.0，并且切线方向上的区域划分位置被设置为±0.65(通过考虑到由于上文所述的图案T4A的区域划分、中央区域的划分等等而导致的各种特性变化，精细地调整了所述划分位置)。将基于上文所述的图案NST6的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位当Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声正如图14所示出的，可清楚看出，如在图案H4C中一样，如果上文所述的具有不同频带的图案H3A中的以空间光学方式在切线方向上(即在与线密度方向相对应的方向上)的划分区域增加了，则切向彗形像差裕度根据切线方向上的划分数目而扩展。将这种概念应用于径向方向便成为图案NST6。在划分图案NST6中，在径向方向上以空间光学方式具有不同频带的划分区域的数目增加了，并且尽管划分图案NST6与图案IVT4不同，但是同样检测到与根据轨道结构而和±一阶衍射光发生干涉的区域相对应的信号。因此，可以在扰动中心位置处保持良好的e-MLSE，并且可以加宽径向彗形像差裕度和各种裕度。“再现性能”图55至59中示出了关于图案NST6的再现性能的仿真结果。这些图示出了在低线密度的情形中，图案NST6中的区域划分的效果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图55示出图案NST6的径向彗形像差裕度，以及用来对比的上文所述的其他图案T4A和IVT4的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差W31。可以看出，尽管划分图案NST6与图案IVT4不同，但是通过增加在径向方向上以空间光学方式具有不同频带的T4A中的划分区域数目、并且通过检测与根据轨道结构而和±一阶衍射光干涉的区域相对应的信号，与图案T4A和IVT4相比，图案NST6的径向盘歪斜裕度更佳。图56示出散焦裕度，图56中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。值0表示散焦量是0。图57示出对于球面像差SA的裕度。图57中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。可以看出，当与所述图案IVT4相比时，图案NST6的球面像差裕度更佳。图58示出切向彗形像差裕度。图58中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。可以看出，当与所述图案IVT4相比时，图案NST6的切向彗形像差裕度更佳。图59示出在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图59中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。可以看出，当与图案IVT4相比时，图案NST6的移位裕度更佳。(图案IVNST6)图60中示出的图案IVNST6是存在6个信道的示例。图案IVNST6是上文所述的划分图案IVT4和NST6的良好构造的组合。换言之，在将图案IVT4视为参考时，类似于用于图案T4A的图案NST6，为了增加以空间光学方式在径向方向上具有不同频带的划分区域的数目，图44中的中央区域B被认为是在径向方向上进一步划分为三个区域。另外，在将图案NST6视为参考时，区域A1和A2可以被延伸至区域E和F；区域E的一部分(E2)以及区域F的一部分(F2)可以被视为插入到区域B中，区域E的一部分(E3)以及区域F的一部分(F3)可以被视为插入到区域B中。这里，径向方向上的区域划分位置被设置为±0.25，±0.5，和±0.7，其中光瞳半径是1.0，并且切线方向上的区域划分位置被设置为±0.45和±0.65。在图案IVT4中很显著的径向方向上的图案移位的恶化得到了抑制，并且实现了对于大部分特性的最佳方案。将基于上文所述的图案IVNST6的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位当Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声“再现性能”图61至65中示出了关于图案IVNST6的再现性能的仿真结果。这些图示出了在低线密度的情形中，图案IVNST6中的区域划分的效果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图61示出关于图案IVNST6、上文所述的图案NST6和图案IVT4的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差W31。可以看出，图案IVNST6的径向盘歪斜裕度是最佳的。图62示出散焦裕度，图62中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。可以看出，图案IVNST6的散焦裕度是最佳的。图63示出对于球面像差SA的裕度。图63中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。可以看出，图案IVNST6的球面像差裕度类似于图案NST6，是最佳的。图64示出切向彗形像差裕度。图64中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。可以看出，图案IVNST6的切向彗形像差裕度是最佳的。图65示出在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图65中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。可以看出，当与所述图案IVT4相比时，图案IVNST6的移位裕度更佳。“为图案IVNST6优化的电滤波器”将描述为上文所述的图案IVNST6优化的电滤波器。图68中示出了当W31＝0，即在图61中的扰动原点时的电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图69中示出了在设置了这种系数的情形中，与区域A至F相对应的各个信道的频率振幅特性。另外，图66中示出了当W31＝-0.16时电滤波器的31个抽头的系数值的示例。图67中示出了在设置了这种系数的情形中，区域A至F的各个信道的频率振幅特性。通过将示出扰动原点处的特性的图69与示出发生径向彗形像差的状态下的特性的图67相比可以看出，当发生径向彗形像差W31＝-0.16时，滤波器增强了中央部分中的三个信道B、C和D之中的信道C(最中心)，而削弱了信道B和D。另外，从图67和69可以看出，类似于图案IVT4，在与4T和3T相对应的频带中，不管是否存在径向彗形像差，信道E、F和A的频率振幅特性几乎保持为相同的形状，从而保持了期望的电光滤波器特性。因此，可以在图案IVNST6中实现最佳的径向盘歪斜裕度。图70中示出了当图62中的散焦特性W20为W20＝-0.16时，电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图71中示出了在设置了这种系数的情形中，A至F的各个信道的频率振幅特性。通过将示出扰动原点处的特性的图69与示出在发生散焦的状态下的特性的图71相比可以看出，当发生散焦W20＝-0.16时，滤波器削弱了中央部分中的三个信道B、C和D之中的信道C(最中心)，并且通过使8T附近具有互易(reciprocal)相位(所述互易相位能够由图70中的抽头系数而理解得出)而执行带通，并且滤波器增强了信道B和D。图72中示出了当图63中的球面像差SA的特性为W40＝-0.20时，电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图73中示出了在设置了这种系数的情形中，A至F的各个信道的频率振幅特性。通过将示出扰动原点处的特性的图69与示出在发生球面像差的状态下的特性的图73相比可以看出，当发生球面像差W40＝-0.20时，滤波器增强了中央部分中的三个信道B、C和D之中的信道C(最中心)。以这样的方式，通过根据扰动类型而独立地改变中央部分中的三个区域B、C和D的滤波器特性，实现了各种裕度的扩展。“电滤波器的优化：散焦特性和抽头数”图74示出上文所述的图案IVNST6的散焦特性的仿真结果。仿真条件与上文所述的相同。图74示出当如上所述FIR滤波器的抽头数是31的情形、以及抽头数是15的情形。如上所述，图70中示出了当W20＝-0.16时电滤波器的31个抽头的系数值的示例。图71中示出了A至F的各个信道的频率振幅特性。在所述频率特性中，滤波器削弱了中央部分中的三个信道B、C和D之中的信道C(最中心)，并且通过使得8T附近具有互易相位而执行带通，并且所述滤波器增强了信道B和D。而另一方面，图75中示出了当W20＝-0.16时电滤波器的15个抽头的系数值的示例。图76中示出了A至F的各个信道的频率振幅特性。所述频率特性不同于31个抽头的情形时的频率特性(图71)，因此可能无法实现期望的滤波器特性。对于信道C，滤波器变为低通滤波器，而不是互易相位带通滤波器。因此，当发生散焦时，发生依据抽头数而不同的裕度差异。此处，尽管作为一个例子示出了根据抽头数而不同的图案IVNST6的散焦裕度差异，但是也可以在其他图案及其他裕度中作出相同的构造。在RLL(1，7)PP的情形中，由于存在2T至8T的记录标记，所以在为了实现与8T标记/间隔相对应的频率的期望特性而使用FIR滤波器的构造的情形中，具有在16T宽度或更大范围内的抽头系数的构造是优选的。(图案IVTSP5)(通过保持特性减少信道数)如上所述，图60(图77)中示出的图案IVNST6实现了几乎每一特性的最佳方案。然而，在一些情况下，优选的是由于诸如功耗、输入插脚数目和信号处理电路的电路尺寸之类的约束条件，而减少信道数。图案IVTSP5是通过保持特性而将信道数从六个减少到五个的图案。这里，径向方向上的区域划分位置被设置为±0.25，±0.5，和±0.7，其中光瞳半径是1.0，并且切线方向上的区域划分位置被设置为±0.45和±0.65。作为减少信道数的方法，在图案IVNST6中的六个信道A至F之中，信道A、E和F被原样地使用，信道C的信号被分配给信道B和D，因此设置了五个信道。换言之，信道B的信号被设置为B+(Ks×C)，信道D的信号被设置为D+(Ks×C)。以这样的方式减少信道数的图案被称为图案IVTSP5。将基于上文所述的图案IVTSP5的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位当Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声“再现性能”图78至82中示出了关于图案IVTSP5的再现性能的仿真结果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图78示出关于图案IVTSP5s0.5、图案IVTSP5s1.0、上文所述的图案IVNST6和上文所述的图案IVT4的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差W31。IVTSP5s0.5表示当Ks＝0.5时的图案IVTSP5。IVTSP5s1.0表示当Ks＝1.0时的图案IVTSP5。图79示出关于图案IVTSP5s0.5、图案IVTSP5s1.0、上文所述的图案IVNST6和上文所述的图案IVT4的散焦裕度。图79中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。值0表示散焦量为0。当实际再现时，发生散焦。因此，需要具有对于散焦的裕度。在“标准化散焦量对比指标”的图表中，e-MLSE的值越小，再现性能越高。作为一个例子，最好是e-MLSE的值大约为0.15或者更小。因此，散焦裕度对应于其中e-MLSE的值变为大约为0.15或者更小的范围的宽度。所述宽度越大，散焦裕度越大。图80示出关于图案IVTSP5s0.5、图案IVTSP5s1.0、图案IVNST6和图案IVT4的对于球面像差SA的裕度。图80中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。图81示出关于图案IVTSP5s0.5、图案IVTSP5s1.0、图案IVNST6和图案IVT4的切向彗形像差裕度。图81中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。图82示出关于图案IVTSP5s0.5、图案IVTSP5s1.0、图案IVNST6和图案IVT4，在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图82中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。如可从上述特性看出的，如果区域之间的信号的比率Ks变化，则“散焦裕度和切向彗形像差裕度”与“径向彗形像差裕度和球面像差裕度”之间存在权衡关系。根据介质等等的差异，可以切换使用多种系数Ks。另外，在图案IVTSP5中，B、C和D的简单比率变为B：C：D＝1：2Ks：1。通过考虑图案IVNST6的上文所述的滤波器特性，当C相对较强时，径向彗形像差裕度或者球面像差裕度是良好的。因此，Ks＞0.5的构造对这两种裕度有利。可从Ks＝0.5和Ks＝1.0的图表中看出，通过仿真结果来表示这些。(图案IVTSM4)(通过保持特性减少信道数)尽管图案IVNST6改善了图案IVT4中的各种特性，但是可以通过与上文所述的将图案IVNST6转换为图案IVTSP5的构造相同的构造，来改善径向彗形像差裕度和球面像差裕度。将描述通过保持特性而将信道数从六个减少到四个的图案IVTSM4。正如图83所示出的，将光学或者电学加权因子应用于中央区域(B、C和D)是有效的。这里，径向方向上的区域划分位置被设置为±0.25，±0.5，和±0.7，其中光瞳半径是1.0，并且切线方向上的区域划分位置被设置为±0.45和±0.65。作为减少信道数的方法，在图案IVNST6中的六个信道A至F之中，信道A、E和F被原样地使用，信道C的信号被设置为C＝Ksm×B+Ksm×D。以这样的方式减少信道数的图案被称为图案IVTSM4。将基于上文所述的图案IVTSM4的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位当Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声“再现性能”图84至88中示出了关于图案IVTSM4的再现性能的仿真结果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图84示出关于图案IVTSM4s0.7和上文所述的图案IVT4的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差W31。IVTSM4s0.7表示当Ksm＝0.7时的图案IVTSM4。图85示出关于图案IVTSM4s0.7和图案IVT4的散焦裕度。图85中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。图86示出关于图案IVTSM4s0.7和图案IVT4的对于球面像差SA的裕度。图86中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。图87示出关于图案IVTSM4s0.7和图案IVT4的切向彗形像差裕度。图87中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。图88示出关于图案IVTSM4s0.7和图案IVT4的在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图88中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。可从这些特性看出，尽管径向彗形像差裕度和球面像差裕度得到了改善，但是散焦裕度和切向彗形像差裕度稍微变窄。然而，在图案IVT4中恶化显著的径向方向上的图案移位没有得到改善。在这种情形下，根据介质等等的差异，可以切换使用多种系数Ksm。(图案IVNS5)(通过保持特性减少信道数)当线密度不是太高时，即使是在切线方向上的中心位置不同的信道的情形中，也可以获得合乎需要的特性。换言之，正如图89所示出的，切线方向上的图案IVNST6的两个信道(E和F)被合并为一个信道(E)。信道F的区域F1、F2和F3被设置为信道E的区域E4、E5和E6。以这样的方式减少信道数的图案被称为图案IVNS5。这里，径向方向上的区域划分位置被设置为±0.25，±0.5，和±0.7，其中光瞳半径是1.0，并且切线方向上的区域划分位置被设置为±0.45和±0.65。将基于上文所述的图案IVNS5的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位当Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声“再现性能”图90至94中示出了关于图案IVNS5的再现性能的仿真结果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图90示出关于图案IVNS5、上文所述的图案IVT4和上文所述的图案IVNST6的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差W31。图91示出关于图案IVNS5、图案IVT4和图案IVNST6的散焦裕度。图91中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。图92示出关于图案IVNS5、图案IVT4和图案IVNST6的对于球面像差SA的裕度。图92中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。图93示出关于图案IVNS5、图案IVT4和图案IVNST6的切向彗形像差裕度。图93中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。图94示出关于图案IVNS5、图案IVT4和图案IVNST6的在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图94中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。可从这些特性看出，当线密度不是太高时，即使是在不具有切线方向上的中心位置不同的信道的情形中，也可以获得合乎需要的特性。“为图案IVNS5优化的电滤波器”将描述为上文所述的图案IVNS5优化的电滤波器。图97中示出了当W31＝0，即在图90中的扰动原点时的电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图98中示出了在设置了这种系数的情形中，与区域A至E相对应的各个信道的频率振幅特性。另外，图95中示出了当W31＝-0.16时电滤波器的31个抽头的系数值的示例。图96中示出了在设置了这种系数的情形中，A至E的各个信道的频率振幅特性。图99中示出了当图92中的球面像差SA的特性为W40＝-0.20时，电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图100中示出了在设置了这种系数的情形中，A至E的各个信道的频率振幅特性。通过将示出扰动原点处的特性的的图98和示出其中发生径向彗形像差的状态下的特性的图96相比较，并且将图98和示出其中发生球面像差的状态下的特性的图100相比较可以看出，在图案IVNS5的情形中，类似于图案IVNST6，中央部分被划分为三个信道B、C和D，因此能够扩展对于径向彗形像差和球面像差的裕度。在图案IVNS5的情形中，比图案IVNST6更加清楚，在扰动中心的状态下，C(最中心)处与B和D处的滤波器频率特性已经变得不同。另外，当径向彗形像差是W31＝-0.16或者当球面像差是W40＝-20时，C(最中心)处与B和D处的滤波器频率特性进一步改变。(图案IVSP4)(通过保持特性减少信道数)类似于基于图案IVNST6的图案IVTSP5的构造，可以基于图案IVNS5来构造图案IVSP4。换言之，通过以光学或者电学的方式共享中央区域C的方法，可以由于诸如功耗、输入插脚数目和信号处理电路的电路尺寸之类的约束条件，减少信道数。作为减少信道数的方法，在图案IVNS5(参看图89)中的五个信道A至E之中，信道A和E被原样地使用，信道C的信号被分配给信道B和D，因此设置为四个信道。换言之，信道B的信号被设置为B+(Ks×C)，信道D的信号被设置为D+(Ks×C)。以这样的方式减少信道数的图案被称为图案IVSP4。将基于上文所述的图案IVSP4的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位当Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声“再现性能”图101至109中示出了关于图案IVSP4的再现性能的仿真结果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图101示出关于图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s0.7、图案IVSP4s1.0、图案IVSP4s2.0、上文所述的图案IVNS5和上文所述的图案IVT4的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差W31。IVSP4s0.5表示当Ks＝0.5时的图案IVSP4。IVSP4s0.7表示当Ks＝0.7时的图案IVSP4。IVSP4s1.0表示当Ks＝1.0时的图案IVSP4。IVSP4s2.0表示当Ks＝2.0时的图案IVSP4。图102示出径向彗形像差裕度对于系数Ks的依赖性。沿着Ks减小的方向，径向彗形像差裕度极大地恶化。径向彗形像差裕度在Ks＝1附近是最佳的。图103示出关于图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s0.7、图案IVSP4s1.0、图案IVSP4s2.0、图案IVNS5和图案IVT4的散焦裕度。图103中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。图104示出散焦裕度对于系数Ks的依赖性。当Ks很小时，散焦裕度是良好的。图105示出关于图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s0.7、图案IVSP4s1.0、图案IVSP4s2.0、图案IVNS5和图案IVT4的对于球面像差SA的裕度。图105中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。图106示出球面像差裕度对于系数Ks的依赖性。当Ks很大时，球面像差裕度是良好的。图107示出关于图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s1.0、图案IVNS5和图案IVT4的切向彗形像差裕度。图107中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。图108示出关于图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s0.7、图案IVSP4s1.0、图案IVSP4s2.0、图案IVNS5和图案IVT4的在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图108中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。类似地，图109示出在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。与图108相比，延伸了纵轴(e-MLSE)，因此可以容易地识别各条曲线。如可从上述特性看出的，如果区域之间的信号的比率Ks变化，则“散焦裕度和切向彗形像差裕度”与“径向彗形像差裕度和球面像差裕度”之间存在权衡关系。根据介质等等的差异，可以切换使用多种系数Ks。(图案IVos4)(通过保持特性减少信道数)类似于图案IVSP4，通过以光学或者电学的方式共享图案IVNS5中的中央区域C的方法，可以由于诸如功耗、输入插脚数目和信号处理电路的电路尺寸之类的约束条件，减少信道数。作为减少信道数的方法，在图案IVNS5(参看图89)中的五个信道A至E之中，信道A和E被原样地使用，信道C的信号被分配给信道B和D，因此设置为四个信道。换言之，信道B的信号被设置为B+(Ks1×C)，信道D的信号被设置为D+(Ks2×C)(Ks1≠Ks2)。在(Ks1＝0，Ks2＝1)的情形中，进行图案划分，正如图110所示出的。以这样的方式减少信道数的图案被称为图案IVos4。这里，径向方向上的区域划分位置被设置为±0.25，±0.5，和±0.7，其中光瞳半径是1.0，并且切线方向上的区域划分位置被设置为±0.45和±0.65。将基于上文所述的图案IVos4的仿真结果来描述所述图案。仿真条件与上文所述的“低线密度”的情形相同，并且该仿真条件如下。LD35.18(GB)···0.053μm/信道位当Tp＝0.225μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为50.0GB。NA＝0.85PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.7存在盘噪声和放大器噪声“再现性能”图111至116中示出了关于图案IVos4的再现性能的仿真结果。在每一图中，e-MLSE表示在不进行区域划分的情形中的特性。图111示出关于图案IVos4、图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s1.0、图案IVNS5和图案IVT4的径向彗形像差裕度。类似于上文所述的其他图表，纵轴表示指标e-MLSE，横轴表示标准化的径向彗形像差W31。IVos4表示在(Ks1＝0，Ks2＝1)的情形下的特性。图112示出关于图案IVos4、图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s1.0、图案IVNS5和图案IVT4的散焦裕度。图112中示出的图表的横轴表示通过波长标准化后的标准化散焦量W20。图113示出关于图案IVos4、图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s1.0、图案IVNS5和图案IVT4的对于球面像差SA的裕度。图113中示出的图表的横轴表示标准化后的球面像差量W40。图114示出关于图案IVos4、图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s1.0、图案IVNS5和图案IVT4的切向彗形像差裕度。图114中示出的图表的横轴表示标准化后的切向彗形像差量W3-1。图115示出关于图案IVos4、图案IVSP4s0.5、图案IVSP4s1.0、图案IVNS5和图案IVT4的在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。图115中示出的图表的横轴表示标准化后的移位量。类似地，图116示出在其中图案在径向方向上移位的情形中的裕度。与图115相比，延伸了纵轴(e-MLSE)，因此可以容易地识别各个图表。可从这些特性看出，图案IVos4的一些特性优于图案IVSP4s0.5。根据介质等等的差异，可以切换使用多种系数Ks，或者可以改变系数Ks1和Ks2的等化。迄今为止，已经描述了从其中在径向方向上将图案IVT4的中央区域划分为三个区域的图案IVNST6，经由图案IVTSP5、图案IVTSM4、图案IVNS5和图案IVSP4，直至图案IVos4的流程。这些关系可以概述如表1中所列。(表1)IVT4IVNST6IVTSP5IVTSM4IVNS5IVSP4IVos4信道1AAAAAAA信道2B+C+DBB+Ks×CC+Ksm×B+Ksm×DBB+Ks×CB+Ks1×C信道3ECD+Ks×CECD+Ks×CD+Ks2×C信道4FDEFDE+FE+F信道5EFE+F信道6F在各个信道中，正如该表中的计算等式所表达的，无需作为独立的信号检测各个信号，而可以在由检测元件感测光束的时候通过相同的光感测单元检测所述信号。否则，在单独地感测所述信号之后，所述信号可能被电性计算。根据相同的考虑，可以考虑从其中在径向方向上将图案T4的中央区域划分为三个区域的图案NST6，经由图案TSP5、图案TSM4、图案NS5和图案SP4，直至图案os4的流程。另外，类似地，还可以考虑从其中在径向方向上将图案HT4的中央区域划分为三个区域的图案HNST6(图117)，经由图案HTSP5、图案HTSM4、图案HNS5和图案HSP4，直至图案Hos4的流程。这些可以概述如表2中所列。基础划分图案被原样地使用，并且可以通过考虑各种特性而适当地改变划分位置。(表2)T4NST6TSP5TSM4NS5SP4os4HT4HNST6HTSP5HTSM4HNS5HSP4Hos4信道1AAAAAAA信道2B+C+DBB+Ks×CC+Ksm×B+Ksm×DBB+Ks×CB+Ks1×C信道3ECD+Ks×CECD+Ks×CD+Ks2×C信道4FDEFDE+FE+F信道5EFE+F信道6F另外，还可以考虑从其中在径向方向上将图案Hi3的中央区域划分为三个区域的图案HiNS5(图118)，经由图案图案HiSP4和图案HiSM3，直至图案Hios4的流程。这些可以概述如表3中所列。(表3)Hi3HiNS5HiSP4HiSM3Hios4信道1AAAAA信道2B+C+DBB+Ks×CC+Ksm×B+Ksm×DB+Ks1×C信道3ECD+Ks×CED+Ks2×C信道4DEE信道5E另外，如果图案IVT4的构造被应用于图案T4系统、图案HT4系统和图案Hi3系统，则还可以考虑图案VT4(图119)、图案VHT4(图120)和图案VHi3(图121)。另外，还可以基于上述构造，考虑增加以空间光学方式在径向方向上具有不同频带的划分区域的数目。(图案NST6)(使密度更高的情形)图122示出划分图案NST6(类似于图54)。将描述使划分图案中的密度更高的情形。换言之，仿真条件如下。LD47(GB)···0.03967μm/信道位当Tp＝0.15μm(对于岸和槽中的每一个)时，平面容量变为100.3GB。NA＝0.91PR(1233321)评估指标：e-MLSE标记宽度＝Tp×0.6图123中示出了在这种情形下的电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图124中示出了在设置了这种系数的情形中，A至F的各个信道的频率振幅特性。在不使用光滤波器的情形中，e-MLSE变为38.6％；在使用光学滤波器(NST6)和电滤波器的情形中，e-MLSE被改善了8.6％。<2.其他实施方式>由于使得理想信号中在线方向上的密度更高而导致码间干扰增加、并且由于使得在轨道方向上的密度更高而导致来自相邻轨道的信号泄漏和插入增加，因此光盘的再现信号极大地偏离了理想信号。在现有技术中，该问题已经通过使用电滤波器来解决。例如，在BDXL(注册商标)中，实现了33.4GB/L。图125中示出了根据本公开内容的以高密度记录的再现信号的构造。换言之，再现信号被提供到光滤波器131，该信号被光滤波器131分离为以空间光学方式在线密度方向和/或轨道密度方向上具有不同频带的多个信号。多个分离信号，例如两个信号被分别提供到最佳的电滤波器132和133，并且通过对电滤波器132和133的输出求和，获得输出信号。在上文所述的实施方式的构造中，光滤波器被划分为多个区域，从各个划分区域获得的多个信道的信号被分别提供到电滤波器。在另一实施方式中，存在其中将分束器用作所述光滤波器的示例。如图126所示，利用来自光源121的激光束，经由用于传出/返回路径分离的分束器122和物镜123，照射盘124的表面。从盘124返回的光束在分束器122中反射，从而入射到用于光滤波器的分束器125上。另外，图126示出了说明所需要的最少光学元件。由分束器125反射的光束被光感测元件126A转换为一电信号，并且透过分束器125的光束被光感测元件126B转换为一电信号。分束器125具有入射角依赖性，因此通过使用该入射角依赖性，以空间光学方式分离光瞳。图127示出分束器125的反射特性。在图127中，纵轴表示反射率，横轴表示半径位置。半径位置是当光瞳半径被设置为1时在径向方向上的半径位置。可以从图127和图128看出，入射到分束器125(半径位置＝0)上的大部分激光束透射，并被引导到光感测元件126B。入射到半径位置(＝±1.0)上的大部分激光束被反射，从而被引导到光感测元件126A。以这样的方式，尽管光束被分离，但是与上文所述的实施方式不同，由光感测元件126A和126B引导的光束具有重叠部分。另外，在图126的构造中，可以在分束器125和光感测元件126B之间布置分束器127(参看图129)。分束器127具有入射角依赖性。分束器127按照与由光感测元件126A引导的光束和由光感测元件126B引导的光束相差90°的角度，来引导光束。换言之，在图126中，沿着从纸张的后表面至前表面的方向来引导光束，从而被光感测元件126C感测。“电滤波器的特性”如图126的“电滤波器的特性”所示，图130和131中示出了电滤波器的特性，分别由光感测元件126A和126B转换后的电信号被提供到所述电滤波器。图130示出所述电滤波器的31个抽头的系数值的示例。所述电滤波器由FIR滤波器构成。图131中示出了在设置了这种系数的情形中，反射光侧滤波器和透射光侧滤波器的频率振幅特性。另外，图132示出了非常适合于将图129的分束器与图126的构造相结合的两级构造的情形的电滤波器的31个抽头的系数的示例。A表示光感测元件126A的系数；B表示被提供了光感测元件126B的输出的滤波器的系数；C表示被提供了光感测元件126C的输出的滤波器的系数。图133中示出了在设置了这种系数的情形中，反射光侧滤波器和透射光侧滤波器的频率振幅特性。另外，尽管在上述的示例中使用了具有入射角依赖性的分束器作为光滤波器，但是也可以采用其中将光束入射到半波片上、并且将所述半波片的输出光束入射到偏振分束器上的构造。在这种情形下，半波片的光轴的取向在二维平面上具有不同的分布。结果，通过偏振分束器，根据半波片的入射位置不同而不同地进行偏振，并且可以将输入光束分离为两个光束。顺便一提，本公开内容还可以使用此后描述的构造。(1)一种再现装置，包括：检测单元，配置为：将从光学介质返回的光束的剖面划分为分别与第一和第二信道相对应的至少第一和第二区域，其中所述第一区域包括在所述光束的径向方向上的外侧区域，其中所述第二区域包括在所述光束的切线方向上的外侧区域，以及形成与所述各个信道相对应的检测信号；多输入均衡器部件，所述多输入均衡器部件包括均衡器单元，与所述信道相对应的所述各个检测信号被提供到所述均衡器单元，所述多输入均衡器部件配置为对所述均衡器单元的输出进行计算，并基于所述计算输出等化信号；以及二值化单元，所述二值化单元配置为对所述等化信号执行二值化处理，以获得二进制数据。(2)根据(1)所述的再现装置，其中所述多输入均衡器部件包括多输入自适应均衡器部件，所述多输入自适应均衡器部件配置为输出所述等化信号，以及其中所述装置还包括等化误差计算单元，所述等化误差计算单元配置为：至少部分地基于等化目标信号和所述等化信号获得等化误差数据，其中所述等化目标信号是至少部分地基于所述二进制数据获得的，以及将所述等化误差数据提供到所述自适应均衡器单元，以控制自适应等化。(3)根据(2)所述的再现装置，其中：所述多输入自适应均衡器部件配置为对与所述各个信道相对应的所述检测信号执行部分响应等化处理，用于获得所述二进制数据的所述二值化处理包括最大似然解码处理，所述等化目标信号是通过利用所述二进制数据执行卷积而获得的，以及所述等化误差计算单元配置为通过使用所述等化目标信号和所述等化信号进行计算来获得所述等化误差数据。(4)根据(1)所述的再现装置，其中所述检测单元包括光检测器，与所述区域对应地划分所述光检测器，并且所述光检测器配置为获得所述检测信号。(5)根据(4)所述的再现装置，还包括光路转换元件，所述光路转换元件配置为将从所述光学介质返回的所述光束分离到所述区域中，其中所述光路转换元件被设置在经由物镜直至所述检测器的光路中，并且其中通过所述光路转换元件分离的所述光束的所述区域被输入到各个检测器。(6)根据(1)所述的再现装置，其中所述光学介质包括交替的岸和槽，并且信息被记录在所述岸和槽两者上。(7)一种方法，包括：将从光学介质返回的光束的剖面划分为分别与第一和第二信道相对应的至少第一和第二区域，其中所述第一区域包括在所述光束的径向方向上的外侧区域，其中所述第二区域包括在所述光束的切线方向上的外侧区域；形成与所述各个信道相对应的检测信号；将与所述信道相对应的所述检测信号提供到各个均衡器单元；使用包括均衡器单元的多输入均衡器部件对所述均衡器单元的输出进行计算，并基于所述计算输出等化信号；以及对所述等化信号执行二值化处理，以获得二进制数据。(8)一种再现装置，包括：光滤波器，所述光滤波器配置为提供与从光学介质返回的光束的区域相对应的电信号，所述光束入射到所述光滤波器上，所述光束的所述区域对应于线密度方向和/或轨道密度方向上的不同频带；以及电滤波器，所述电滤波器配置为至少部分地基于由所述光滤波器提供的所述电信号来提供输出，其中，所述再现装置配置为通过合并所述电滤波器的输出来获得再现信号。(9)根据(8)所述的再现装置，其中所述光滤波器包括具有入射角依赖性的分束器。(10)根据(8)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域包括第一区域、第二区域和第三区域，所述第一区域包括所述光束在轨道密度方向上的一个或多个外侧部分，所述第二区域包括所述光束在线密度方向上的一个或多个外侧部分，所述第三区域包括所述光束的中央部分。(11)根据(10)所述的再现装置，其中所述第一区域的所述一个或多个外侧部分包括第一和第二外侧部分，所述光束的所述第二区域位于所述第一区域的所述第一和第二外侧部分之间。(12)根据(10)所述的再现装置，其中所述第二区域的所述一个或多个外侧部分包括第一和第二外侧部分，所述光束的所述第一区域位于所述第二区域的所述第一和第二外侧部分之间。(13)根据(10)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域进一步包括第四区域，所述第四区域包括所述光束的在线密度方向上位于所述光束的所述第二和第三区域之间的一个或多个部分。(14)根据(10)所述的再现装置，其中所述第二区域的所述一个或多个外侧部分包括所述光束的线密度方向上的第一外侧部分，并且所述第三区域进一步包括所述光束的线密度方向上的第二外侧部分。(15)根据(8)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域包括第一区域、第二区域、第三区域、和第四区域，所述第一区域包括所述光束在线密度方向上的一个或多个外侧部分，所述第二区域包括所述光束的中央部分，所述第三区域包括所述光束在轨道密度方向上的第一外侧部分，所述第四区域包括所述光束在轨道密度方向上的第二外侧部分，其中所述第三区域进一步包括所述光束的在轨道密度方向上邻近于所述光束的所述第一区域和所述第二外侧部分的一个或多个部分，所述第四区域进一步包括所述光束的在轨道密度方向上邻近于所述光束的所述第一区域和所述第一外侧部分的一个或多个部分。(16)根据(8)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，所述第一区域包括所述光束在轨道密度方向上的一个或多个外侧部分，所述第二区域包括所述光束在线密度方向上的第一外侧部分，所述第三区域包括所述光束的中央部分，所述第四区域包括所述光束在线密度方向上的第二外侧部分。(17)根据(16)所述的再现装置，其中所述第一区域的所述一个或多个外侧部分包括第一和第二外侧部分，并且所述光束的所述第二和第四区域位于所述第一区域的所述第一和第二外侧部分之间。(18)根据(16)所述的再现装置，其中所述光束的所述第一区域位于所述光束的所述第二和第四区域之间。(19)根据(16)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域进一步包括第五区域和第六区域，所述第五区域包括所述光束的在线密度方向上位于所述第二和第三区域之间的一部分，所述第六区域包括所述光束的在线密度方向上位于所述第三和第四区域之间的一部分。(20)根据(8)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域包括第一区域、第二区域、第三区域、第四区域和第五区域，所述第一区域包括所述光束在轨道密度方向上的第一外侧部分，所述第二区域包括所述光束在线密度方向上的第一外侧部分，所述第三区域包括所述光束的中央部分，所述第四区域包括所述光束在线密度方向上的第二外侧部分，所述第五区域包括所述光束在轨道密度方向上的第二外侧部分。(21)根据(8)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，所述第一区域包括所述光束在轨道密度方向上的一个或多个外侧部分，所述第二区域包括所述光束在线密度方向上的第一外侧部分，所述第三区域包括所述光束的中央部分，所述第四区域包括所述光束的在线密度方向上位于所述第二和第三区域之间的一部分。(22)根据(8)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域包括第一区域和两个或更多第二区域，所述第一区域包括所述光束在轨道密度方向上的一个或多个外侧部分，所述两个或更多第二区域包括所述光束在轨道密度方向上的一个或多个内侧部分，其中所述两个或更多第二区域相对于穿过所述光束中心的一条线不对称地布置，所述线是沿轨道密度方向伸展的。(23)根据(8)所述的再现装置，其中所述光束的所述区域包括第一区域、第二区域、第三区域、第四区域、第五区域、第六区域和第七区域，所述第一区域包括所述光束在轨道密度方向上的第一外侧部分，所述第二区域包括所述光束在线密度方向上的第一外侧部分，所述第三区域包括所述光束的中央部分，所述第四区域包括所述光束在轨道密度方向上的第二外侧部分，所述第五区域包括所述光束在线密度方向上的第二外侧部分，所述第六区域包括所述光束的在线密度方向上位于所述第二和第三区域之间的一部分，所述第七区域包括所述光束的在线密度方向上位于所述第三和第五区域之间的一部分。<3.变型例>迄今为止，已经具体描述了本公开内容的实施方式。然而，本公开内容不受限于上文所述的实施方式，基于本公开内容的技术理念的各种变型例都是可行的。例如，上文所述的激光源波长、轨道间距和记录线密度的数值都是示例，还可以使用其他数值。另外，作为用于评估再现性能的指标，还可以使用除上文所述的指标以外的指标。另外，本公开内容可以应用于仅仅进行光盘的记录和再现之一的光盘装置。此外，可以在不脱离本公开内容精神的情况下，对上述实施方式中的构造、方法、处理、形状、材料和数值进行组合。例如，可以组合上文所述的第一和第二实施方式。附图标记列表13多输入自适应均衡器单元14二值化检测器15PR卷积单元21～23自适应均衡器单元100光盘101光学拾取头105数据检测处理单元125，127分束器126A，126B，126C光感测元件当前第1页1 2 3