一种具有降噪功能的测试治具的制作方法

文档序号:17364709发布日期:2019-04-09 22:20阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种具有降噪功能的测试治具,其特征在于,包括:硬盘测试箱体(1),硬盘测试箱体(1)上设有走线孔(3)和多个通风孔,通风孔处设有降噪通风器(2);

硬盘测试箱体(1)上设有液冷降温装置(4)。

2.根据权利要求1所述的具有降噪功能的测试治具,其特征在于,

硬盘测试箱体(1)包括:内板(7)、外板(5)和夹层(6);

夹层(6)设置于内板(7)和外板(5)之间,夹层(6)采用聚乙烯醇缩丁醛制作;

内板(7)内壁上设有吸音涂层(8)。

3.根据权利要求1所述的具有降噪功能的测试治具,其特征在于,

降噪通风器(2)包括:降噪通风腔体、吸气口(206)、吸气扇、进气口(201)、间隔板(203)和多个长度不同的连通管(204);

降噪通风腔体通过降噪通风腔体前段和降噪通风腔体后段卡接而成,降噪通风腔体内壁设有吸音涂层(8);降噪通风腔体前段和降噪通风腔体后段通过间隔板(203)隔离成形状不规则的左通风室(202)和右通风室(205);间隔板(203)上呈阶梯状设有多个连通管(204),左通风室(202)和右通风室(205)通过连通管(204)连通;

进气口(201)设置于降噪通风腔体前段的左通风室(202)一侧,吸气口(206)设置于降噪通风腔体后段的右通风室(205)一侧,吸气孔设有吸气扇。

4.根据权利要求3所述的具有降噪功能的测试治具,其特征在于,

降噪通风器(2)的降噪通风腔体后段设置于硬盘测试箱体(1)内部,降噪通风器(2)的降噪通风腔体前段设置于硬盘测试箱体(1)外部。

5.根据权利要求3所述的具有降噪功能的测试治具,其特征在于,

降噪通风器(2)的降噪通风腔体后段设置于硬盘测试箱体(1)外部,降噪通风器(2)的降噪通风腔体前段设置于硬盘测试箱体(1)内部。

6.根据权利要求1所述的具有降噪功能的测试治具,其特征在于,

液冷降温装置(4)包括:吸热管道、蒸发器、压缩机、冷凝器和节流电磁阀阀;

吸热管道铺设于硬盘测试箱体(1)顶部,吸热管道出液口连接蒸发器的载冷剂进液口,蒸发器的载冷剂出液口连接吸热管道的进液口;蒸发器的蒸汽出口连接压缩机的进气口(201),压缩机的出气口通过冷凝器连接蒸发器的冷液进口;冷凝器与蒸发器之间的冷夜输送管上设有节流电磁阀。

7.根据权利要求1-6任一所述的具有降噪功能的测试治具,其特征在于,

还包括:微控制器和温度传感器;

温度传感器设置于硬盘测试箱体(1)内,温度传感器、吸气扇分别与微控制器连接。

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