技术总结
芯片访存通路的高效分段测试系统、方法，计算机体系结构与处理器微结构设计技术领域。系统包括存储控制器和存储器；存储控制器在其内部设有测试存储器、微操作控制器、IO寄存器，测试存储器用于模拟存储器的读、写延迟行为。方法包括步骤S01,存储控制器发送维护访问请求或CPU访问请求给存储器，检测存储器的访存通路能正常访问，执行步骤S02,不能正常访问，执行步骤S03；步骤S02,存储控制器在测试模式下与测试存储器进行读写数据模式测试；步骤S03，IO寄存器触发微操作控制器工作，微操作控制器发送命令给存储器，用于测试并定位访存通路存在的问题。本发明便于定位芯片访存通路问题，加速芯片的访存通路调试过程，还可实现多种DDR4流程的调试工作。
技术研发人员：石嵩;许勇;刘骁;周玉瀚;吕晖;谭弘兵;张昆;孙红辉
受保护的技术使用者：无锡江南计算技术研究所
技术研发日：2019.09.09
技术公布日：2020.01.21