执行修复操作的存储装置的制作方法

本公开涉及一种执行修复操作的存储装置。

背景技术：

1、存储装置执行利用正常存储单元来替换故障存储单元的修复操作。修复操作包括利用正常字线来替换耦接至发生故障的存储单元的字线的行修复操作以及利用正常列线来替换耦接至发生故障的存储单元的列线的列修复操作。

技术实现思路

1、本公开的各种实施例涉及一种执行修复操作的存储装置。

2、在一个实施例中，一种存储装置可以包括：故障测试电路，其被配置为在执行测试时，基于从根据列地址选择的列线输出的内部数据来生成指示列线中是否检测到故障的故障标志，以及基于故障控制信号来控制故障标志以指示列线中检测到故障；以及修复信息生成电路，其被配置为基于故障标志从列地址生成用于修复列线的修复列地址。

3、在另一个实施例中，一种存储装置可以包括：存储体故障测试电路，其被配置为当执行测试时，基于从第一存储体的列线输出的第一内部数据来生成指示第一存储体中是否检测到故障的第一故障存储体标志，以及基于第一故障控制信号来控制第一故障存储体标志以指示第一存储体中检测到故障；以及激活行区域信息输出电路，其被配置为基于第一故障存储体标志来输出第一存储体激活行区域信息作为用于修复列线的激活行区域信息，第一存储体激活行区域信息是当在第一存储体中执行激活操作时生成的。

4、在另一个实施例中，一种存储装置可以包括：修复信息锁存电路，其被配置为基于故障标志从与列线相对应的列地址生成用于修复列线的修复列地址，以及基于故障标志从指示存储块的位置的内部块地址生成锁存块地址；以及块地址选择电路，其被配置为基于模式寄存器命令，通过选择指示存储块的位置的锁存块地址和外部块地址中的一个来生成用于修复列线的修复块地址。

5、根据一些实施例，当执行用于修复被检测为故障的列线的测试时，存储装置可以调整测试的结果以修复可能发生故障的列线，从而通过修复检测到故障的列线的修复电路来修复可能发生故障的列线。

6、此外，存储装置可以调整每个存储体的测试结果，使得为每个存储体生成的关于行区域的信息在激活操作期间被选择性地传输至修复电路，从而对于每个行区域修复可能发生故障的列线。

7、此外，存储装置可以接收关于可能发生故障的列线所属的存储块的信息，以及基于命令将接收到的信息输入到修复电路。因此，存储装置可以选择和修复可能发生故障的列线所属的存储块。

技术特征：

1.一种存储装置，包括：

2.根据权利要求1所述的存储装置，其中，所述故障测试电路：当在所述测试期间所述内部数据的模式与预设模式不同或者所述故障控制信号被激活时，生成指示所述列线中检测到故障的所述故障标志。

3.根据权利要求2所述的存储装置，其中，所述修复信息生成电路：当所述故障标志指示所述列线中检测到故障时，锁存所述列地址并将锁存的地址输出作为所述修复列地址。

4.根据权利要求1所述的存储装置，其中，所述修复信息生成电路：基于所述故障标志和模式寄存器命令，通过选择指示存储块的位置的外部块地址和内部块地址中的一个来生成用于修复所述列线的修复块地址，其中，所述存储块包括与所述列地址相对应的列线。

5.根据权利要求4所述的存储装置，还包括：

6.根据权利要求4所述的存储装置，其中，所述修复信息生成电路包括：

7.根据权利要求1所述的存储装置，其中，所述故障控制信号包括第一故障控制信号和第二故障控制信号，

8.根据权利要求7所述的存储装置，其中，所述故障测试电路：当所述第一故障控制信号和所述第二故障控制信号中的至少一个被激活时，控制所述故障标志以指示所述列线中检测到故障。

9.根据权利要求8所述的存储装置，其中，当所述故障标志指示所述列线中检测到故障时，所述修复信息生成电路：

10.根据权利要求7所述的存储装置，还包括行控制电路，所述行控制电路：当执行激活操作时，基于存储体地址、行地址和行熔丝数据来激活字线，并且生成所述第一存储体激活行区域信息和所述第二存储体激活行区域信息，

11.根据权利要求7所述的存储装置，其中，所述故障测试电路：当在所述测试期间所述第一故障控制信号被激活或者从所述第一存储体输出的内部数据的模式不同于预设模式时，输出所述第一存储体激活行区域信息作为所述激活行区域信息。

12.根据权利要求11所述的存储装置，其中，所述故障测试电路：当在所述测试期间所述第二故障控制信号被激活或者从所述第二存储体输出的内部数据的模式不同于预设模式时，输出所述第二存储体激活行区域信息作为所述激活行区域信息。

13.一种存储装置，包括：

14.根据权利要求13所述的存储装置，其中，所述存储体故障测试电路：当在所述测试期间所述第一内部数据的模式不同于预设模式或者所述第一故障控制信号被激活时，生成指示所述第一存储体中检测到故障的所述第一故障存储体标志。

15.根据权利要求14所述的存储装置，其中，所述激活行区域信息输出电路：当所述第一故障存储体标志指示所述第一存储体中检测到故障时，输出所述第一存储体激活行区域信息作为所述激活行区域信息。

16.根据权利要求13所述的存储装置，其中，所述存储体故障测试电路：在执行测试时，基于从第二存储体的列线输出的第二内部数据来生成指示所述第二存储体中是否检测到故障的第二故障存储体标志，以及基于第二故障控制信号来控制所述第二故障存储体标志以指示所述第二存储体中检测到故障，

17.根据权利要求16所述的存储装置，还包括行控制电路，所述行控制电路：当执行所述激活操作时，基于存储体地址、行地址和行熔丝数据来激活字线，并且生成所述第一存储体激活行区域信息和所述第二存储体激活行区域信息，

18.一种存储装置，包括：

19.根据权利要求18所述的存储装置，其中，当所述故障标志指示所述列线中检测到故障时，所述修复信息锁存电路：

20.根据权利要求18所述的存储装置，其中，所述外部块地址是从所述存储装置外部的装置施加的，以及其中，所述块地址选择电路：

技术总结
本公开涉及一种存储装置，该存储装置包括故障测试电路，其被配置为在执行测试时，基于从根据列地址选择的列线输出的内部数据来生成指示列线中是否检测到故障的故障标志，以及基于故障控制信号来控制故障标志以指示列线中检测到故障。该存储装置还包括修复信息生成电路，其被配置为基于故障标志从列地址生成用于修复列线的修复列地址。

技术研发人员：金容善,黄美显
受保护的技术使用者：爱思开海力士有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12