1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述使能参数将共享同一个控制信号的一列待测芯片的模式寄存器命令逐一使能，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述使能参数将共享同一个控制信号的一列待测芯片的模式寄存器命令逐一使能，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述老化板上的待测芯片包括多个控制信号，所述多个控制信号循环切换，所述遍历所述老化板上的各列待测芯片，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，n为控制信号数量l的整数倍或者非整数倍。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，遍历所述老化板上的各列待测芯片，包括：
7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述为各待测芯片配置使能参数，包括：
8.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述确定各待测芯片按照预设的电压调整步长，从所述默认值调整到目标值需要的调整步数，包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据各待测芯片的差值和电压调整步长，确定各待测芯片从测试电压的默认值调整到目标值需要的调整步数，包括：
10.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述电压调整信息为待测芯片的测试电压的默认值和目标值之间的差值。
11.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述电压调整信息为待测芯片的调整步数。
12.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述使能模块具体用于：
14.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述使能模块具体用于：
15.根据权利要求12-14任一项所述的装置，其特征在于，所述老化板上的待测芯片包括多个控制信号，所述多个控制信号循环切换，所述使能模块具体用于：
16.一种电子设备，其特征在于，包括：至少一个处理器和存储器；
17.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求1至11任一项所述的方法。