一种自适应M.2SSD电压的测试方法与流程

本发明涉及硬盘电压测试，具体为一种自适应m.2ssd电压的测试方法。

背景技术：

1、固态硬盘(solid state disk或solid state drive，简称ssd)，又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘；其中m.2接口是一种新的主机接口方案，可以兼容多种通信协议，如sata、pcie、usb、hsic、uart、smbus等。

2、在pci express m.2specification revision 4.0发布后，对m.2ssd的边带io引入了新的电平，在revision 3.0的3.3v基础上，还允许盘支持1.8v以降低功耗，增加pcb布局空间。而当前市场上的产品存在以下几个问题：当前针对m.2ssd的测试平台，不支持m.2ssd边带io电压的切换，对m.2的边带io电压固定为3.3v；且已有电路对电压的切换方式比较单一，或手动或自动，无法二者兼容，也无法通过上位机进行控制。目前已有电路输出仅为固定一种，无法完成兼容性测试，同时已有电路对电压自动切换的方式，存在延迟大，时序冲突等问题，不满足m.2边带io的时序要求；鉴于此，我们提出了一种自适应m.2ssd电压的测试方法。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种自适应m.2ssd电压的测试方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种自适应m.2ssd电压的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：

3、步骤s1、测试平台上电，载入寄存器r1和寄存器r2的初始值；

4、步骤s2、对测试模式进行选择，所述测试模式包括自动切换模式、上位机控制模式以及手动切换模式；

5、步骤s3、对m.2ssd进行电压进行测试。

6、可选的，所述s2中自动切换模式中包括如下步骤：

7、步骤s211、关闭链路一和链路二选择工作模式，默认为自动切换模式；

8、步骤s212、m.2ssd插入插槽，系统自动识别；

9、步骤s213、m.2ssd插入时，触发自适应io电压模块中断；

10、步骤s214、自适应io电压模块进入中断程序，检测vio_cfg电平状态；

11、步骤s215、自适应io电压模块将vio_cfg电平状态写入寄存器r1；

12、步骤s216、自适应io电压模块将vio_cfg电平状态取反写入寄存器r2；

13、步骤s217、自适应模块对寄存器r1以及寄存器r2状态与vio_cfg进行比较验证，判读[r1，r2]＝[vio_cfg，/vio_cfg]是否为真，如为否，则为验证失败；

14、步骤s218、验证失败时，寄存器r1和寄存器r2恢复默认值，重新进入步骤s213，失败次数累计到3次后，系统报警并退出测试；

15、步骤s219、验证成功后，自适应io电压模块由寄存器[r1:r2]值确定链路一和链路二的通断；

16、步骤s2110、自适应io电压模块上报链路状态；

17、步骤s2111、当m.2ssd拔出时，触发自适应io电压模块中断，寄存器恢复初始值；

18、步骤s2112、当m.2ssd再次插入时，重复步骤s212-s2110；

19、步骤s2113、测试完成并退出系统。

20、可选的，所述步骤s214包括：

21、当vio_cfg为低时，需要提供1.8v电源；

22、当vio_cfg为高时，需要提供3.3v电源。

23、可选的，所述s2中上位机控制模式中包括如下步骤：

24、步骤s221、测试平台上电，载入各寄存器初始值，选择工作模式为上位机控制模式；

25、步骤s222、m.2ssd插入插槽，此模式下，m.2ssd插入时，不会触发自适应io电压模块中断；

26、步骤s223、操作人员将配置状态写入寄存器r1和寄存器r2；

27、步骤s224、自适应模块对寄存器r1和寄存器r2状态验证，验证r1&r2是否＝0；

28、步骤s225、自适应io电压模块上报链路状态；

29、步骤s226、当m.2ssd拔出时，触发自适应io电压模块中断，寄存器恢复初始值；

30、步骤s227、当m.2ssd再次插入时，重复步骤s222-s225。

31、可选的，所述步骤s224进一步的包括：

32、如不为0，验证失败，r1，r2恢复默认值，系统提示用户配置错误并回退至步骤s223；

33、如为0，验证成功，提示配置情况，让用户确认。

34、可选的，所述自适应io电压模块由寄存器[r1:r2]值确定链路一和链路二的通断。

35、可选的，所述s2中手动切换模式下包括如下步骤：

36、步骤s231、测试平台上电，载入各寄存器初始值，选择工作模式为上位机控制模式；

37、步骤s232、m.2ssd插入插槽，m.2ssd插入时，不会触发自适应io电压模块中断；操作人员手动切换开关，选择边带电压值，触发自适应io电压模块中断；

38、步骤s233、自适应io电压模块进入中断程序，检测开关状态；

39、步骤s234、将开关状态写入寄存器r1和寄存器r2；

40、步骤s235、自适应模块对寄存器r1和寄存器r2与开关状态进行比较验证；

41、步骤s236、验证失败时，寄存器r1和寄存器r2恢复默认值，重新进入步骤s231；

42、步骤s237、验证成功后，自适应io电压模块由寄存器r1和寄存器r2值确定链路一和链路二的通断；

43、步骤s238、自适应io电压模块上报链路状态；

44、步骤s239、当m.2ssd拔出时，触发自适应io电压模块中断，寄存器恢复初始值；

45、步骤s2310、当m.2ssd再次插入时，重复步骤s233-s238。

46、可选的，所述步骤s236进一步的包括：失败次数累计到3次后，系统报警并退出测试。

47、与现有技术相比，本发明提供了一种自适应m.2ssd电压的测试方法，具备以下有益效果：

48、该自适应m.2ssd电压的测试方法，多种模式切换m.2ssd的边带电压，包括自动切换，上位机控制，手动切换；可以对m.2ssd进行边带电压的兼容性测试；电压切换时延低，成本低，无全开全闭风险。

技术特征：

1.一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述测试方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述s2中自动切换模式中包括如下步骤：

3.根据权利要求2所述的一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述步骤s214包括：

4.根据权利要求1所述的一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述s2中上位机控制模式中包括如下步骤：

5.根据权利要求4所述的一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述步骤s224进一步的包括：

6.根据权利要求5所述的一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述自适应io电压模块由寄存器[r1:r2]值确定链路一和链路二的通断。

7.根据权利要求1所述的一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述s2中手动切换模式下包括如下步骤：

8.根据权利要求7所述的一种自适应m.2ssd电压的测试方法，其特征在于：所述步骤s236进一步的包括：失败次数累计到3次后，系统报警并退出测试。

技术总结
本发明涉及硬盘电压测试技术领域，且公开了一种自适应M.2SSD电压的测试方法，所述自适应M.2SSD电压的测试方法包括如下步骤：步骤S1、测试平台上电，载入寄存器R1和寄存器R2的初始值；步骤S2、对测试模式进行选择，所述测试模式包括自动切换模式、上位机控制模式以及手动切换模式；步骤S3、对M.2SSD进行电压进行测试，该自适应M.2SSD电压的测试方法，多种模式切换M.2SSD的边带电压，包括自动切换，上位机控制，手动切换；可以对M.2SSD进行边带电压的兼容性测试；电压切换时延低，成本低，无全开全闭风险。

技术研发人员：杜甲印
受保护的技术使用者：鸾起科技（苏州）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/29