一种基于电流监测的3DNAND存储器辐照效应测试装置及方法与流程

本发明涉及一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置及方法，属于电子器件测试。

背景技术：

1、在现有的工程测试中，对3d nand存储器的电流监测主要采用外接的直流电源分析进行。然而，这种测试方法需要笨重的设备和高昂的价格，同时还需要复杂且混乱的线缆，给实际试验带来诸多不便。

2、在现有的工程测试中，对3d nand存储器的电流监测主要采用外接的直流电源分析进行。然而，这种方法需要使用笨重的测试设备和昂贵的测试仪器，同时还需要复杂的线缆连接，给实际测试带来了很多不便。此外，这种测试方法可能会影响被测设备的正常运行，增加测试误差和不确定性。因此，需要一种更加简便、高效且可靠的电流监测方法来满足工程测试的需求。

技术实现思路

1、本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种基于电流监测的3dnand存储器辐照效应测试装置及方法，通过实时监测3d nand存储器的电流变化，研究其在辐照环境下的电学性能变化。

2、本发明的技术解决方案是：一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，包括：

3、电源模块，接收外部输入电压并转为3d nand存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3d nand存储器供电；

4、电流监测模块，接收控制模块发送的信号，实时监测3d nand存储器的电流，并将采集的电流信号发送至数据处理模块；

5、数据处理模块，用于接收电流信号并对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3d nand存储器的电学参数变化；

6、控制模块，接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动。

7、进一步地，所述电源模块、电流监测模块、数据处理模块和控制模块集成在一个测试装置中。

8、进一步地，所述测试装置和上位机通过网线通信。

9、进一步地，所述控制信号包括控制电源模块输出不同电压值。

10、进一步地，所述电源模块输出四路不同的电压。

11、进一步地，所述实时监测3d nand存储器的电流的精度为ua级。

12、进一步地，当3d nand存储器的电流超过极限值时，上位机发出控制指令控制关闭电源模块。

13、根据所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置实现的3dnand存储器辐照效应测试方法，包括：

14、接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动；

15、接收外部输入电压并转为3d nand存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3d nand存储器供电；

16、接收控制模块发送的信号，实时监测3d nand存储器的电流；

17、对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3d nand存储器的电学参数变化。

18、一种计算机可读存储介质，所述的计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述的计算机程序被处理器执行时实现所述一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试方法的步骤。

19、一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述的处理器执行所述的计算机程序时实现所述一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试方法的步骤。

20、本发明与现有技术相比的优点在于：

21、(1)实时监测：通过设计的硬件测试电路和电流监测模块，可以实时监测3d nand存储器的电流变化，从而能够及时、准确地掌握其在辐照环境下的电学性能变化。

22、(2)省去专门设备：与传统的直流电源分析仪相比，本发明的测试装置不需要专门的设备进行电流监测。这大大简化了测试过程，降低了成本，提高了测试效率。

23、(3)便携式设计：本发明将硬件测试电路和数据采集、处理模块集成到便携式的测试装置中，使得用户可以方便地携带和使用。此外，该设计还具有良好的散热性能和抗震能力，能够在各种环境条件下稳定运行。

24、(4)自动化控制和数据采集：通过软件编程，本发明的测试装置可以实现自动化控制和数据采集。用户只需通过简单的操作界面即可完成测试过程的各种操作，提高了测试的便捷性和效率。

技术特征：

1.一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述电源模块、电流监测模块、数据处理模块和控制模块集成在一个测试装置中。

3.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述测试装置和上位机通过网线通信。

4.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述控制信号包括控制电源模块输出不同电压值。

5.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述电源模块输出四路不同的电压。

6.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述实时监测3d nand存储器的电流的精度为ua级。

7.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置，其特征在于，当3d nand存储器的电流超过极限值时，上位机发出控制指令控制关闭电源模块。

8.根据权利要求1～7任一项所述的一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置实现的3d nand存储器辐照效应测试方法，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读存储介质，所述的计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述的计算机程序被处理器执行时实现如权利要求8所述方法的步骤。

10.一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于：所述的处理器执行所述的计算机程序时实现如权利要求8所述方法的步骤。

技术总结
在实际工程测试中，一般采用外接的直流电源分析仪来对器件的电流进行实时监测，体积笨重且价格昂贵，而且还需要外接复杂的线缆，杂乱无序，不利于实际试验的开展。为解决器件实际测试过程中遇到的工程问题，本发明提出了一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，并提供了完整的硬件实现电路，在设计硬件测试电路时新增一种电流监测模块，实时观测实验中3D NAND存储器的电学参数变化，可以省掉辐照实验中专门用于给3DNAND存储器电流监测的直流电源分析仪设备，使用简便，节约成本，提高测试效率。

技术研发人员：郑雪松,莫日根,王亚男,王博,吉俐,杨智博,张雷浩,王文炎,梅博
受保护的技术使用者：中国空间技术研究院
技术研发日：
技术公布日：2024/4/17