试模式的多个命令信号EXT_CMDs和地址EXT_ADDs经由测试沟道CH_T和测试控制单元220被施加至第一沟道CH_0至第四沟道CH_4。第一存储块210_0至第四存储块210_3响应于经由相应的沟道施加的信号CMDs和ADDs而被设置成测试模式。要在测试中使用的测试数据T_DATA可以经由测试沟道CH_T和测试控制单元220施加至第一沟道CH_0至第四沟道CH_4，以及可以储存在第一存储块210_0至第四存储块210_3中。测试数据T_DATA可以具有用以轻松执行测试的特定模式。
[0034]在将存储器件设置成测试模式之后，可以从外部输入与写入命令或读取命令相对应的多个命令信号EXT_CMDs。测试控制单元220可以接收多个命令信号EXT_CMDs且以命令信号CMDs之中的第一命令信号WEB在第一沟道CH_0至第四沟道CH_4具有不同值的方式将多个命令信号CMDs施加至第一沟道CH_0至第四沟道CH_4。
[0035]例如，在从外部输入的多个命令信号EXT_CMDs表示读取命令的情况下，测试控制单元220可以将与从外部输入的命令信号EXT_CMDs相同的命令信号CMDs传输至第一沟道CH_0和第三沟道CH_2，但可以通过仅使第一命令信号WEB的值不同来将命令信号CMDs传输至第二沟道CH_1至第四沟道CH_3。
[0036]在这种情况下，由于传输至第一沟道CH_0和第三沟道CH_2的命令信号CMDs与读取命令对应，所以第一存储块210_0和第三存储块210_2执行读取操作且输出数据DATA和读取选通信号RDQS。第一存储块210_0和第三存储块210_2输出的数据DATA可以是储存在第一存储块210_0至第四存储块210_3中的用于测试的测试数据T_DATA。
[0037]另外，由于传输至第二沟道CH_1和第四沟道CH_3的命令信号CMDs对应于写入命令，第二存储块210_1和第四存储块210_3分别接收从第一存储块210_0和第三存储块210_2输出的数据DATA和读取选通信号RDQS。从第一存储块210_0和第三存储块210_2输出的读取选通信号RDQS变成第二存储块210_1和第四存储块210_3的写入选通信号WDQS。第二存储块210_1和第四存储块210_3将输入数据DATA与储存在它们中的测试数据T_DATA相比较，且储存比较结果。
[0038]在从外部输入的多个命令信号EXT_CMDs表示写入命令(与上述的读取命令相反)的情况下，第一存储块210_0和第三存储块210_2执行写入操作，以及第二存储块210_1和第四存储块210_3执行读取操作。由此，第二存储块210_1和第四存储块210_3的测试数据T_DATA被输入至第一存储块210_0和第三存储块210_2，且第一存储块210_0和第三存储块210_2储存将储存在它们中的测试数据T_DATA与输入的测试数据T_DATA相比较的结果O
[0039]如果上述的过程完成，则可以将储存在存储器件的第一存储块210_0至第四存储块210_3中的测试数据T_DATA的比较结果T_RESULT1至T_RESULT4输出至存储器件的外部。作为参考，在测试中，存储块210_0至210_3可以与时钟CK同步操作。
[0040]通过参照比较结果T_RESULT1至T_RESULT4，在储存在存储块210_0至210_3中的测试数据T_DATA与当相应的存储块210_0至210_3执行写入操作时输入的测试数据T_DATA相同的情况下，其表示存储块210_0至210_3的数据发送操作和数据接收操作没有问题。换言之，可以确定，存储块210_0至210_3的相应的数据发送与接收单元211_0至211_3操作正常。
[0041]结果，即使在存储器件包括多个存储块的情况下，可以通过使用最小数量的沟道来同时测试全部存储块。因此，可以减少测试时间和成本。
[0042]图3是第一存储块210_0的配置图。
[0043]如在图3中所示，第一存储块210_0可以包括命令接收单元301、地址接收单元302、数据接收单元303、数据发送单元304、时钟接收单元305、指令解码器306、模式设置单元307、内部测试控制单元308、选通发生单元309、电池阵列控制单元310以及单元阵列311。第一存储块210_0还可以包括选通信接收单元312、选通传输单元313和数据比较单元314。作为参考，上述的第一数据发送与接收单元211_0可以包括数据接收单元303和数据发送单元304。第一存储块210_0的部件301至304中的一个或多个可以与时钟CK同步操作。
[0044]以下将参照图3来描述第一存储块210_0。
[0045]命令接收单元301可以接收多个命令信号CMDs，地址接收单元302可以接收地址ADDs，数据接收单元303可以接收数据DATA，数据发送单元304可以输出内部数据，以及时钟接收单元305可以接收时钟CK。多个命令信号CMDs、地址和数据DATA可以包括多比特位信号。另外，选通接收单元312可以接收与在写入操作中写入的数据一起输入的写入选通信号WDQS，以及选通发送单元313可以将选通发生单元309产生的读取选通信号RDQS与读取操作中的读取数据一起输出。
[0046]命令接收单元301可以包括焊盘C_PAD和接收器RXl。地址接收单元302可以包括焊盘A_PAD和接收器RX2。
[0047]数据接收单元303经由焊盘DQ_PAD接收数据DATA，以及数据发送单元304经由焊盘DQ_PAD输出数据DATA。数据接收单元303可以包括接收器RX3和响应于写入选通信号WDQS而锁存输入的数据的锁存部LAT。数据发送单元304可以包括发送器TXl和选择部SEL1。选择部SELl可以当测试使能信号TEST_EN被去激活时将单元阵列311输出的数据传输至发送器TX1，以及可以当测试使能信号TEST_EN被激活时将从内部测试控制单元308输出的数据传输至发送器TXl。
[0048]选通接收单元312可以包括焊盘WDQS_PAD1和WDQS_PAD2、接收器RX4和RX5以及延迟部DELAY。选通接收单元312还可以包括选择部SEL2，选择部SEL2当测试使能信号TEST_EN被去激活时将接收器RX4的输出传输作为写入选通信号WDQS，且当测试使能信号TEST_EN被激活时将接收器RX5的输出传输作为写入选通信号WDQS。延迟部DELAY可以将从接收器RX5输出的信号延迟预定的延迟值。
[0049]选通发送单元313可以包括焊盘RDQS_PAD和发送器TX2。选通发送单元313可以在读取操作中发送读取选通信号RDQS。时钟接收单元305可以包括焊盘CK_PAD和接收器RX6，以及可以接收从外部输入的时钟CK。
[0050]命令解码器306可以对经由命令接收单元301输入的多个命令信号CMDs进行解码，以及可以产生激活命令ACT、预充电命令PRE、写入命令WT、读取命令RD和模式设置命令MODE0命令解码器306可以激活这些命令ACT、PRE、WT、RD和MODE之中的与输入命令信号CMDs的组合相对应的命令。
[0051]当模式设置命令MODE被激活时，模式设置单元307可以响应于多个命令信号CMDs和地址ADDs而设置存储器件的操作模式。当存储器件被设置成测试模式时，模式设置单元307可以激活测试使能信号TEST_EN，以及当存储器件不处于测试模式时可以去激活测试使能信号TEST_EN。
[0052]模式设置单元307可以设置延迟。延迟可以表示响应于命令而开始操作的等待时间，即，从命令输入至操作开始的时间。例如，读取命令被施加至第一存储块210_0之后直到读取数据开始经由数据发送单元304从第一存储块210_0输出花费了等待时间，这被称作为读取延迟。写入命令被施加至第一存储块210_0之后直到写入数据开始经由数据接收单元303输入至第一存储块210_0花费了等待时间，这被称作为写入延迟。模式设置单元307可以输出关于设置的读取延迟和写入延迟的信息RL和WL。
[0053]内部测试控制单元308可以储存从测试控制单元220发送的测试数据T_DATA，以及可以当读取命令RD被输入而测试使能信号TEST_EN被激活时，输出储存在其中的数据DATA_0UT1。另外，内部测试控制单元308可以当写入命令WT被输入而测试使能信号TEST_EN被激活时，输出储存在其中的数据DATA_0UT2，且可以储存将输出的数据DATA_0UT2与输入的数据DATA相比较的结果T_RESULT。当测试完成时，内部测试控制单元308可以将储存的比较结果T_RESULT输出至存储器件的外部。比较结果T_RESULT可以经由数据发送单元304或独立提供的信号发送单元(未示出)被输出至存储器件的外部。
[0054]在测试模式下的写入操作中，数据比较单元314比较经由数据接收单元303输入的数据DATA与从内部测试控制单元308输出的数据DATA_0UT2、产生比较结果T_RESULT且将比较结果T_RESULT输出至内部测试控制单元308。
[0055]在自读取命令RD激活起经过与读取延迟RL对应的时间之后，选通发生单元309激活读取选通信号RDQS。读取选通信号RDQS经由选通发送单元313输出至存储器件的外部。
[0056]单元阵列311包括多个字线、多个位线以及连接在它们之间的多个存储器单元。由于单元阵列311的结构在现有技术中是熟知的，所以将省略其详细说明。
[0057]单元阵列控制单元310响应于命令ACT、PRE、RD和WT而在单元阵列311中写入数据或读取储存在单元阵列311中的数据。单元阵列控制单元310响应于激活命令ACT而激活与地址ADDs (行地址)相对应的字线。此外，单元阵列控制单元31